「the Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(64ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an objective lens has the same outer diameter as an objective lens for bright-field observation, and enables dark-field observation by using an optical system for bright-field observation, and to provide a microscope that has the objective lens.例文帳に追加

対物レンズの外径が明視野観察用対物レンズと同等で、明視野照明光学系を用いて暗視野観察が可能な対物レンズ及び該対物レンズを有する顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In a microscope system 1, a supply arm 35 for supplying a slide glass SG to a stage 15 is made independent of an ejection arm 36 for ejecting the slide glass SG from the stage 15.例文帳に追加

顕微鏡システム１は、ステージ１５へスライドガラスＳＧを供給する供給アーム３５と、当該ステージ１５から当該スライドガラスＳＧを排出する排出アーム３６とを互いに独立させた。 - 特許庁

To provide an imaging apparatus for a microscope having an interlace scan system imaging device, which can perform an exposure over the range from a short-time exposure to a long-time exposure inexpebsively without increasing the number of component parts.例文帳に追加

インターレーススキャン方式の撮像素子を有する顕微鏡用撮像装置であって構成部品を増やすことなく安価に短時間露光から長時間露光を行うことのできる装置を提供する。 - 特許庁

The use of the microscope system 1 for surgery allows both an operator X and an assistant Y to perform surgeries watching stereoscopic images displayed on CRT displays 30A and 30B.例文帳に追加

手術用顕微鏡システム１を用いることにより、術者Ｘおよび助手Ｙの両方がＣＲＴディスプレイ３０Ａ，３０Ｂに表示された立体画像を見ながら手術を行えるようにした。 - 特許庁

To provide an electron microscope capable of always positioning a sample in a visual field of a camera, and of preventing the number of installation of various types of apparatuses in a sample chamber from being restricted by the camera.例文帳に追加

本発明は、常に試料をカメラに視野内に位置させることができると共に、カメラによる試料室内への各種機器の設置数を制限させることがない電子顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of providing a high-resolution image even if a sample is tilted when a surface of the sample is observed by a retarding method for applying a negative voltage to the sample.例文帳に追加

試料に負電圧を印加するリターディング法により試料表面の観察を行う際に、試料を傾斜させても高分解能像を得ることを可能にする走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning microscope which is universally usable, provides the advantages of various known scanning microscopes, does not require a position adjusting cost or reduces the position adjusting cost and can be post installed.例文帳に追加

普遍的に使用可能で、公知の種々の走査顕微鏡の利点を提供し、位置調整コストを要せずに、或いは位置調整コストを少なくして後付け可能な走査顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a system for measuring a signal-light by a near-field optical microscope that allows a user to find dependency of signal light, emitted from a sample by near-field light, on the distance between a probe and the sample.例文帳に追加

近接場光により試料から放射される信号光のプローブ・試料間距離依存性を調べることができる近接場光学顕微鏡の信号光測定システムを提供する。 - 特許庁

To provide a magnetic field applying device of an electron microscope wherein the application correcting angle of a sample can be increased without enlarging the device.例文帳に追加

本発明は電子顕微鏡の磁場印加装置に関し、装置を大型化することなく試料の印加補正角を大きくとることができる電子顕微鏡の磁場印加装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

This tissue piece treating device for manufacturing a microscope specimen of the tissue piece is characterized by being equipped with deterioration determination means 55, 84, 88, 102 capable of determining deterioration of the dehydrating agent solution.例文帳に追加

組織片の顕微鏡標本を作製するための組織片処理装置において、脱水剤溶液の劣化を判定することができる劣化判定手段５５，８４，８８，１０２を具備することを特徴とする。 - 特許庁

To detect the information of a phase delay even if a plurality of kinds of polymers are in rubber states, when analyzing a composite material including the plurality of kinds of polymers by using an atomic force microscope.例文帳に追加

複数種類のポリマーを含む複合材料を、原子間力顕微鏡を用いて解析する際、複数種類のポリマーがゴム状態にある場合でも位相遅れの情報を検出する。 - 特許庁

To provide a microscope device capable of illuminating the entire field of view, using a comparatively simple structure, even if objective lens is moved so as to have a component in a direction orthogonal to an optical axis of the objective lens.例文帳に追加

対物レンズをこの対物レンズの光軸と直交方向の成分を持つように移動させても、比較的簡易な構成で、視野全体を照明することができる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

The prism-shaped oscillator measurement 13 is brought close to an optional sample surface as a probe and suitable to a probe for a scanning microscope observing the surface condition.例文帳に追加

振動子マス１３は四面体形状であり、その振動子マス１３を任意の試料表面にプローブとして近接させ、表面状態を観察する走査型力顕微鏡のプローブに適している。 - 特許庁

To provide a stereomicroscope, specially a microscope for surgical operation by which the other picture is displayed within a microscopic observation visual field at a required time and by a required display method without losing the brightness of a microscopic image.例文帳に追加

顕微鏡像の明るさを失わず必要なとき必要な表示方法で他画像を顕微鏡観察視野内に表示することの出来る実体顕微鏡特に手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The near-field optical microscope can obtain the high-resolution near-field optical image in a perfect near- field area by excluding optical signals from samples in a far-field area.例文帳に追加

このような近接場光学顕微鏡では、Far Field領域における試料からの光信号は除外されて、完全な近接場領域での高分解能の近接場光学像を得ることができる。 - 特許庁

In an operating room, operating tools, tool stands carrying the tools, and peripheral devices such as a drip, an electrocardiograph and a microscope for operation are existent in addition to the magnetic imaging apparatus for testing and a bed.例文帳に追加

手術室には、検査用の磁気共鳴イメージング装置と寝台の他に手術器具類やそれを搭載する器具台、点滴、心電計、手術用顕微鏡などの周辺機器などが存在する。 - 特許庁

To provide the inspecting method of semiconductor device which can measure in direct carrier distribution at the cross-section of a semiconductor testing sample using a scanning probe microscope without cutting out a thin semicoductor test sample.例文帳に追加

半導体試料を薄く切り出さずに、該半導体試料の断面におけるキャリア分布を走査型プローブ顕微鏡により直接測定することが可能な半導体装置の検査方法を提供する。 - 特許庁

To obtain a scanning microscope capable of simultaneously observing morphological information, etc., on the same observed area as fluorescent observation with the fluorescent observation and capable of obtaining both observed images in a short time.例文帳に追加

蛍光観察と同一の注目領域における形態情報等を蛍光観察と併せて同時観察でき、かつ、短時間で両者の観察画像を得ることができる走査型顕微鏡。 - 特許庁

To provide a fluorescent cube which prevents excitation light from being made incident to an observation light path and can separate the excitation light from fluorescent light more precisely, and to provide a fluorescent microscope provided with the fluorescent cube.例文帳に追加

励起光の観察光路への入射を妨げ、励起光と蛍光をより正確に分離できる蛍光キューブおよびその蛍光キューブを備えた蛍光顕微鏡を提供する事を目的とする。 - 特許庁

To provide a low-cost microscope device which can always hold the pupil of an objective and an aperture stop at optically conjugate positions and realize the best lighting effect.例文帳に追加

対物レンズの瞳位置と開口絞りの関係を常に光学的共役位置に保つことができ、最適な照明効果を期待できるとともに、コスト的にも安価にできる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

In particular, bacteria (cells) are brought into contact with a substance to be tested in solutions of the substance to be tested, having different degrees of dilution for ≤8 hours or 12 hours and the contact solutions are observed by a microscope.例文帳に追加

具体的には、細菌（細胞）と被験物質とを、希釈度の異なる被験物質の溶液中において８時間以下もしくは１２時間接触させ、当該接触液を顕微鏡観察する。 - 特許庁

When a microscope magnification by recognition of the magnification recognition device 100 is then discriminated to be more than X times, the controller 43 impresses voltage V0 for fine movement on a piezoelectric element 54 of a fine movement mechanism 44.例文帳に追加

その後、コントローラ４３は、倍率認識装置１００の認識による顕微鏡倍率がＸ倍以上であると判別すると、微動機構４４の圧電素子５４に微動用電圧Ｖ０を印加する。 - 特許庁

To provide a probe and a cantilever for realizing an AFM (Atomic Force Microscope) having high resolution, and a method for manufacturing the probe and the cantilever easily and surely.例文帳に追加

高い分解能を有するＡＦＭを実現し得るプローブ及びカンチレバーと、それらプローブ及びカンチレバーを簡易且つ確実に製造することが可能な製造方法とを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a mapping type electron microscope composed by relaxing restriction of a condition of a projection electron optical system to design of an illumination electron optical system to increase the degree of freedom of design of the illumination electron optical system.例文帳に追加

投影電子光学系の条件が照明電子光学系の設計の制約となることを緩和し、照明電子光学系の設計の自由度を増した写像型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a mapping type electron microscope in where a projection imaging optical system is provided with a zooming transfer lens system for improving the geometrical aberrations in low-magnification imaging and space-charge effect in the zooming range.例文帳に追加

投影結像光学系にズーム型トランスファー・レンズ系を用いて、低倍結像の幾何収差とズーム範囲での空間電荷効果とを改善する写像型電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To precisely and inexpensively measure the gas concentration of on a substrate surface in a micro-area under a microscope, as to the sublimable raw material gas.例文帳に追加

昇華性の原料ガスについて、顕微鏡下の微小な領域の基板表面の原料ガス濃度を高精度、かつ、安価に測定することができるガス濃度測定装置および方法を提供する。 - 特許庁

This tester is provided with a laser generating part 1, a laser scan part 2, a microscope 3, a current-voltage converter 13, and a front end amplifier 15 disposed between the sample 4 to be measured and the current- voltage converter 13.例文帳に追加

レーザー発生部１と、レーザー走査部２と、 顕微鏡３と、 電流−電圧変換器１３と、被測定試料４と電流−電圧変換器１３との間に前置増幅器１５とを備える。 - 特許庁

While a microscope is moved from a search start position to a search end position, an image of an area nearby an outline candidate point is extracted at sampling intervals and the contract value of the image is calculated.例文帳に追加

顕微鏡をサーチ開始位置からサーチ終了位置まで移動させながら、サンプリング間隔毎に輪郭候補点の近傍領域の画像を抽出し、この画像のコントラスト値を算出する。 - 特許庁

To provide a confocal microscope which is capable of obtaining an extended image by easily determining the take-in range of an observed image, without being conscious of the shape of a sample as an object to be observed.例文帳に追加

観察対象となる試料の形状を意識することなしに容易に観察画像の取込み範囲を決定してエクステンド画像を取得することが可能な共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

An optical microscope image of a two-dimensional measurement object region on a sample is displayed, and an analyst visually determines a difference or the like of tissues and designates a plurality of small regions (A, B, and C) regarded as the same tissue.例文帳に追加

試料上の２次元測定対象領域の光学顕微画像を表示し、分析者は目視で組織の相違等を判断し、同一組織とみなせる小領域を複数（Ａ、Ｂ、Ｃ）指定する。 - 特許庁

XY slow motion mechanisms 6, 12 of a scanning probe microscope are arranged on both the sample side and the cantilever side, both XY slow motion mechanisms 6, 12 are independently operated, and a probe 1a and a sample 2 are releatively scanned.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡のXY微動機構６、１２をサンプル側とカンチレバー側の双方に設け、双方のXY微動機構６、１２を独立に動作させて、探針１ａとサンプル２を相対的に走査させた。 - 特許庁

To provide a surgical microscope with which stereoscopic observation can be performed with a bright image, without vignetting a luminous flux with the opening of a surgical site, even when the surgical site whose opening is narrow and depth is large is observed.例文帳に追加

手術部位の開口部が狭く奥行きのある部位を観察する場合でも、光束が開口部によってけられることなく、明るい像の立体観察が可能な手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a measuring device and a confocal microscope for obtaining picture information obtained by an inside synchronous image pickup device in the minimum time, and for quickening the measuring time.例文帳に追加

内部同期式撮像装置により得られる画像情報を最小限の時間で取得することができ、測定時間の高速化が図られた測定器および共焦点顕微鏡を提供することである。 - 特許庁

To provide a sample holder capable of continuously observing a sample even if the sample is heated and reducing a temperature difference between the sample and a heater, in a transmission electron microscope, and a sample observation method.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡において、加熱しても試料を連続観察することができ、かつ試料とヒーターの温度差を減らすことができる試料ホルダーおよび試料観察方法を提供する。 - 特許庁

An observation region 306 and an entirely-white image 160' subsequent thereto are imaged by an image pickup device 200 while a sample is not disposed on the observation region 306 of the optical microscope 300.例文帳に追加

光学顕微鏡３００の観察領域３０６に試料が配置されていない状態で、撮像装置２００によりその観察領域３０６が撮像され全白画像１６０’が撮像される。 - 特許庁

To fix a cantilever not to be dislocated even if the cantilever is moved at high speed, and to fix/dismount simply the cantilever on/from a cantilever holding stand, in a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡において、カンチレバーを高速に移動させてもずれることがないようにカンチレバーを固定でき、かつカンチレバーをカンチレバー保持台に簡単に固定または外すことができるようにすること。 - 特許庁

To provide a microscope which can rapidly take a general view (overall picture) of an image or scan the image with high resolution advantageously in terms of a cost while selectively making such taking or scanning of the image possible.例文帳に追加

選択的に、画像の迅速な概観（全体像）、又は画像の高分解能な走査を可能にしつつ、しかもコスト的にも有利にこれを行なうことが可能な顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a laser microscope device for imaging a sample using terahertz vibrations of molecules in the sample, capable of performing high speed imaging while focusing on the specific molecular vibration.例文帳に追加

標本中の分子のテラヘルツ振動を利用して標本のイメージングを行うレーザ顕微鏡装置において、特定の分子振動に注目し、かつ高速にイメージングできるレーザ顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

The structure of a gate type supporting member having an integral rigid body is formed of a front-side support leg 22, a rear-side support leg 24 and a horizontal member 25, and the gate-type structure is fixed on an inverted microscope body 1.例文帳に追加

前側支持脚２２、後側支持脚２４及び水平部材２５により一体的な剛体を持つ門型支持部材の構造を成し、この門型構造を倒立顕微鏡本体１上に固定する。 - 特許庁

This microscope system 100 is constituted to sense the individual photons of a detected light beam 17 each as one event 50, and to provide an output signal in the form of a characteristic function 52.例文帳に追加

顕微鏡システム（１００）は、検出された光ビーム（１７）の個々のフォトンを各々一つの事象（５０）として知覚し、それから特性関数（５２）の形式に出力信号を提供するように、構成される。 - 特許庁

To provide an objective lens, whose service life is prolonged by suppressing photochemical reaction which is caused when microscope inspection and observation are performed by having deep ultraviolet-rays as a light source and preventing the deterioration in the optical performance.例文帳に追加

深紫外光を光源として顕微鏡検査・観察を行うときに起きる光化学反応を抑制して光学性能の低下を防止し、製品寿命の長い対物レンズを提供する。 - 特許庁

The magnetic domain observation microscope 1 includes an XY stage 3 and a rotary stage 4 for placing an observation target W having a magnetic domain and an optical system 10 is arranged at an upper portion of the observation target W.例文帳に追加

磁区観察顕微鏡１は、磁区を有する観察対象物Ｗを載置するＸＹステージ３及び回転ステージ４を有し、観察対象物Ｗの上方に光学系１０が配置されている。 - 特許庁

The cerium oxide comprises cubic polygonal particles having a length of one side of 5-200 nm, wherein images of the polygonal particles observed with a transmission electron microscope are cubic.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡による多角形粒子の観察像が矩形であり、一辺の長さが５ｎｍ〜２００ｎｍである立方体状の多角形粒子を含むことを特徴する酸化セリウムに関する。 - 特許庁

To provide a method for simply and correctly quantifying and evaluating the excystation capability of an oocyst as a method for evaluating the growth activity of a protozoan oocyst without relying on microscope observation.例文帳に追加

原虫オーシストの生育活性を評価する方法として、オーシストの脱嚢性を、顕微鏡観察によることなく簡便かつ正確に定量・評価するための方法を提供するものである。 - 特許庁

The emission microscope has a high-vacuum chamber 11 exhausted from an exhaust part 12 by a vacuum pump, and a lens body tube 1, a sample 8, and a sample stage 9 are arranged inside the high-vacuum chamber.例文帳に追加

エミッション顕微鏡は排気部１２から真空ポンプにより排気される高真空チャンバー１１を有し、高真空チャンバー１１の内部にはレンズ鏡筒１、試料８、試料ステージ９が配置されている。 - 特許庁