「the Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(61ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a luminous body with high speed of response and luminescence intensity, and to provide an electron beam detector, scanning electron microscope and mass spectroscope using the same.例文帳に追加

応答速度が速く、且つ発光強度が高い発光体と、これを用いた電子線検出器、走査型電子顕微鏡及び質量分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide an imaging method capable of observing one fluorescent coloring matter molecule with high time resolving power, an imaging device therefor and a total reflection type fluorescence microscope using the imaging device.例文帳に追加

蛍光色素分子1個の観察を高時間分解能で可能にする画像化方法及び装置、並びに、それを用いた全反射型蛍光顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

This plate inspection device includes a control unit, a stage having a flat plate 32 for supporting a plate 2 having a plurality of holes 2a formed thereto and a microscope provided with the stage.例文帳に追加

プレート検査装置は、制御装置と、複数の孔２ａが形成されたプレート２を支持する平板３２を有するステージと、ステージが設けられた顕微鏡とを含んでいる。 - 特許庁

To provide a sample table for an electron microscope causing no burying of a microstructure of a biological sample and damage of the sample, and having stable electric conductivity and surface roughness.例文帳に追加

生物試料の微細構造の埋没、試料損傷等の発生がなく、安定した導電性及び面精度を有する電子顕微鏡用試料台を提供する。 - 特許庁

To provide a photoelectron multiplication system that is so structured as to be able to measure even an extremely weak optical signal with a structurally simple means; and to provide a microscope having the system.例文帳に追加

極めて微弱な光信号であっても構造的に単純な手段によって測定可能に構成された光電子増倍システム及び該システムを有する顕微鏡。 - 特許庁

To provide a microwave resonator and a microwave microscope which are improved in measurement accuracy by improving the signal-to-noise ratio, and can carry out measurements over a wide microwave bandpass.例文帳に追加

S/Nを高くして測定精度を向上させると共に、広いマイクロ波帯域にわたり測定が可能なマイクロ波共振器及びマイクロ波顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a noncontact interatomic force microscope that can solve a variation problem of the sensitivity of each probe in a multiprobe and allows accurately to observe a sample surface.例文帳に追加

マルチプローブにおける各プローブ毎の感度のばらつきの問題を解決し、サンプル表面を正確に観察することができる非接触型原子間力顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To extract a frozen hydrated sample for TEM (transmission electron microscope) inspection, such as a vitrified biological sample, from a substrate and to attach the sample to a manipulator.例文帳に追加

ＴＥＭ（透過型電子顕微鏡）検査のために、例えばガラス化した生体サンプル等の凍結した含水サンプルを基板から抽出し、該サンプルをマニピュレータに取り付ける。 - 特許庁

To provide an illuminating system which enables obtaining of a bright microscopic image at all times to objective lenses from low magnification to high magnification and an inexpensive microscope, using the same.例文帳に追加

低倍率から高倍率の対物レンズに対して常に明るい顕微鏡画像を得ることの出来る照明装置と、それを用いた安価な顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for preparing a samaple for microscopic observation using a transmission type electron microscope facilitating the observation of a planar microstructure with a specific depth in a semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイス等における特定深さの平面的な微細構造の観察を容易にする、透過型電子顕微鏡観察用試料の作製方法を提供する。 - 特許庁

This scanning electron microscope irradiates an electron beam to a sample while keeping pressure in a sample chamber not less than 1 Pa, and detects generated ions to display images of the sample.例文帳に追加

走査電子顕微鏡は、試料室圧力を１Ｐａ以上に保持して試料に電子線を照射し、発生するイオンを検出して試料像を表示する。 - 特許庁

The microscope has symmetrically disposed double UV irradiation apparatus 20a and 20b and irradiation beam routes 10a and 10b are guided by a deflector 21.例文帳に追加

対称的に配されたダブル紫外線照射装置２０ａ、２０ｂを有していて、照明ビーム経路１０ａ、１０ｂは結合偏向装置２１によって案内される。 - 特許庁

To provide an electroconductive double-sided adhesive sheet for an electron microscope, hardly forming unevenness caused by air bubbles on the surface of an adhesive layer even performing vacuum sucking.例文帳に追加

真空引きしても、粘着剤層表面に気泡による凹凸が生じにくい電子顕微鏡用導電性両面粘着シートを提供するを提供する。 - 特許庁

This atomic force microscope (AFM) 102 for inspecting a sample 124 includes a probe assembly 106 including a first tip 302 and a second tip 304 directed respectively to a surface 131 of the sample 124.例文帳に追加

サンプル(124)の表面(131)にそれぞれ向けられる第１の先端部(302)及び第２の先端部(304)を含むプローブアセンブリ(106)を含む、該サンプル(124)を検査するための原子間力顕微鏡(AFM)(102)。 - 特許庁

To provide a scanning tunneling microscope emission converging apparatus having a higher light converging efficiency in a vacuum without impairing the high space resolution of an STM.例文帳に追加

ＳＴＭのもつ高い空間分解能を犠牲にすることなく、真空中でより高い集光効率をもった走査トンネル顕微鏡発光集光装置を提供する。 - 特許庁

To provide a Nipkow system confocal microscope improved so that the area of a sample is selectively illuminated and observed by using a DMD.例文帳に追加

ニプコウ方式の共焦点顕微鏡においてＤＭＤを用いて標本の領域を選択的に照明して観察することができる共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a slide image data preparing device capable of speedily and automatically generating slide image data obtained by photographing the necessary part of a sample by a microscope.例文帳に追加

試料の必要部分を顕微鏡により撮影したスライド画像データを高速かつ自動的に生成することができるスライド画像データ作成装置を提供すること。 - 特許庁

Concretely, software is employed to give marks such as rectangles, characters and lines on an image viewed with an electron microscope so that fast navigation can take place using the minimal information.例文帳に追加

具体的には電子顕微鏡の画像上にてソフトウェアにより矩形、文字、線等のマークを付けることにより、必要最小限の情報にて迅速なナビゲーションを行う。 - 特許庁

A scanning electron microscope 10 generates a microscopic image by emitting electron beams from an electron gun to a sample, and detecting secondary electrons generated from the sample.例文帳に追加

走査電子顕微鏡１０は、電子銃から電子線を試料に照射し、試料から発生した二次電子を検出することによって顕微鏡画像を生成する。 - 特許庁

To provide a cantilever holding mechanism which is suitable for an observation or the like in a liquid and by which a cantilever can be attached easily to a cantilever mounting base, and to provide a scanning probe microscope.例文帳に追加

液中観察などに適し、カンチレバをカンチレバ取付台に容易に取付けることができるカンチレバ保持機構および走査形プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To enhance both the near field light intensity and resolution in micro- opening type near field light emitting element, near field light recorder, and near field light microscope.例文帳に追加

微小開口型の近視野光発生素子、近視野光記録装置、および近視野光顕微鏡において、近視野光強度と解像度の両方を向上させること。 - 特許庁

A processor device 12 is provided with a part identifying unit 57 for identifying the kind of a part to be observed based on special-light image data obtained by photographing with an electron microscope 11.例文帳に追加

プロセッサ装置１２に、電子内視鏡１１による撮影で得られた特殊光画像データに基づき、被観察部位の種類を判別する部位判別部５７を設ける。 - 特許庁

Uniform illumination can be obtained by a simpler optical system than that in a conventional method of providing the illuminating light source 10 within a microscope, and accurate sample observation is possible.例文帳に追加

顕微鏡内に照明光源１０を備える従来の方法に比べて、単純な光学系で、明るい均一な照明が得られ、正確な試料観察ができる。 - 特許庁

To provide a microscope which has enhanced dust resistance by simple structure and enables the efficiency of maintenance work thereof to be improved without being influenced by an optical influence.例文帳に追加

簡単な構成で防塵性を高めることができ、しかも光学的影響を受けることなくメンテナンス作業性改善を可能にした顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a method for a nano-imprint superior in space contorollability using a single polymeric material as a transfer material and a specimen for conditioning the electron-microscope using it.例文帳に追加

単一の高分子材料を転写材として、厚さ制御性に優れたナノインプリント法及びこれを用いた電子顕微鏡調整用試料を提供することにある。 - 特許庁

To provide a general type confocal laser scanning microscope constituted so that a light source which is inexpensively acquired and operated can be used for the purpose of CLSM.例文帳に追加

獲得および運転が低コストであるような光源がＣＬＳＭ用途に使用されることもできるようにした一般的なタイプの共焦点レーザ走査顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a probe for a scanning probe microscope capable of simultaneously measuring the surface shape of a sample and a plurality of physical properties in a microregion.例文帳に追加

試料表面の形状、および微小領域での複数の物性を同時測定することが可能な顕微鏡用プローブ及び走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In the inverted microscope, each of optical paths is set so that an optical path P15 and an optical path P17 of an image forming optical system 202 are orthogonally intersect each other when viewed from above.例文帳に追加

倒立顕微鏡では、結像光学系２０２の光路P１５と光路P１７とが、上方から見たときに、互いに直交するように、各光路が設定されている。 - 特許庁

To provide a microscope apparatus that can observe into the interior of a specimen and that can apply an optical stimulus over a wide area within a short period of time.例文帳に追加

、標本の内部まで観察できるとともに、広範囲に渡る光刺激を短時間で行うことのできる顕微鏡装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The microscope control device includes: an evaluation value calculation unit for calculating an evaluation value for evaluating the presence or absence of a sample for each local area constituting one of a pair of phase difference images of the sample imaged by a microscope; and an area determination unit for determining an area in which the sample is imaged in the one of the phase difference images based on the calculated evaluation value.例文帳に追加

本発明に係る顕微鏡制御装置は、顕微鏡により撮像されたサンプルの一組の位相差像の一方について、当該位相差像の一方を構成する局所的な領域毎に、前記サンプルの有無を評価するための評価値を算出する評価値算出部と、算出された評価値に基づいて、前記位相差像の一方において前記サンプルが撮像されている領域を判定する領域判定部と、を備える。 - 特許庁

In a scanning probe microscope 10 for making a probe 16 provided for one end of the cantilever 15 scan along the surface of a sample 30 and measuring the height and a distribution of the physical state of the sample 30, the resonance frequency of the cantilever 15 is detected before and after the measurement of the sample 30 to detect the presence or absence of the adhesion of foreign matter to the tip of the probe 16.例文帳に追加

カンチレバー１５の一端に設けられたプローブ１６を試料３０の表面に沿って走査させて試料３０の高さ及び物理状態の分布を測定する走査プローブ顕微鏡１０において、試料３０の測定の前後にカンチレバー１５の共振周波数を検出してプローブ１６の尖端への異物の付着の有無を検知する。 - 特許庁

This electronic microscope having an electron source, an electronic lens and an electron beam deflecting unit, further comprises an electron beam pulsing means and an acoustic wave measuring means, the energy of electrons entering into the sample is 1000 eV or less, and the measurement and examination of the inside of the sample are performed on the basis of the scanning information of the electron beam and the information of the detected sound.例文帳に追加

電子源、電子レンズ、電子線偏向器を有してなる電子顕微鏡装置において、さらに電子線パルス化手段、音波測定手段を備え、試料中に入射する電子のエネルギを１０００ｅＶ以下とし、電子線の走査情報と検出音の情報から試料内部の計測・検査をおこなう。 - 特許庁

The illumination mechanism 30 has: a light guide part 32 having an illumination light irradiation part for irradiating out illumination light toward the observation field to the first end side, wherein the second end side is extended from the observation field to the outside of the optical microscope 13; and a light source 23 for supplying the illumination light to the second end side of the light guide part 32.例文帳に追加

照明機構３０は、第一端部側に観察視野に向けて照明光を照出する照明光照出部を有するとともに、第二端側が観察視野から光学顕微鏡１３外に延出するライトガイド部３２と、該ライトガイド部３２の第二端側に照明光を供給する光源２３とを有してなる。 - 特許庁

In a transmission electron microscope having a fluorescent plate 6 for image observing and a television camera 7, the transmission electron microscope comprises an electron beam detector 8 formed with a hole allowing the electron beam which is incident to the television camera 7, and a control means for controlling a shutter 4 based on the exposure time calculated from the exposure time of a film shot.例文帳に追加

像観察用の蛍光板（６）とテレビカメラ（７）とを備えた透過型電子顕微鏡において、テレビカメラ（７）に入射する電子線（２）を遮断しない孔を形成した電子線検出器（８）と、電子線検出器（８）で測定した電子線量によりフィルム撮影時の露光時間を算出し、算出した露光時間に基づいてシャッター（４）を制御する制御手段（９）とを備えるようにしたものである。 - 特許庁

The electron microscope is provided in which an excitation current or an impressing voltage to an objective lens or an acceleration cylinder for accelerating electron beams of the scanning electron microscope is cut off when the measuring object test piece is separated from underneath of the objective lens, or is made weak excitation compared with before separation for excitation current, or cut off or made to be lower voltage compared with before the separation for impressing voltage.例文帳に追加

上記目的を達成するために、走査電子顕微鏡の対物レンズ、或いは電子ビームを加速するための加速円筒への励磁電流、或いは印加電圧を、測定対象試料を対物レンズ下から離間させたときに、励磁電流をオフ、或いは離間させる前に比べて弱励磁、又は印加電圧をオフ、或いは離間させる前に比べて低電圧とする電子顕微鏡を提案する。 - 特許庁

To provide an upright microscope in which a sample is observed regardless of the thickness of the sample by suppressing the deviation of a conjugated relationship among a light source of a vertical illumination system, an aperture, an objective lens and a rear side focus at minimum without deteriorating the vertical illumination performance.例文帳に追加

落射照明系の光源と開口絞りと対物レンズと後ろ側焦点との共役関係のずれを最小限に抑えて落射照明性能を劣化させずに、試料の厚みに拘らず試料を観察すること。 - 特許庁

To enhance efficiency for reviewing a defect to review the large number of defects in a short time, in the defect review for a semiconductor device capable of detecting the defect in a low magnification of SEM (Scanning Electron Microscope) image and capable of observing the defect in a high magnification of SEM image.例文帳に追加

低倍率のＳＥＭ像で欠陥を検出し、高倍率のＳＥＭ画像で欠陥を観察する半導体デバイスの欠陥レビューにおいて、欠陥レビューの効率をあげて短時間に多数に欠陥をレビューできるようにする。 - 特許庁

The microscope includes a light source 11, a condenser lens 12 for condensing light from the light source 11, an objective lens 13, a barrier filter 14 for extracting the fluorescent light from the light out of a sample 16, and an imaging device 18.例文帳に追加

光源１１と、光源１１からの光を集光させる集光レンズ１２と、対物レンズ１３と、標本１６からの光から蛍光を抽出するバリアフィルタ１４と、撮像素子１８を有する全反射蛍光顕微鏡である。 - 特許庁

To provide a grid for a transmission electron microscope capable of heating a sample of powder of the like at several hundred degrees C or higher in the degree of vacuum in the range of 10^-2-10^-3 Pa, and a grid holder capable of preventing pollution or damage of the grid.例文帳に追加

粉末などの試料に１０^−２〜１０^−３Ｐａ程度の真空度で数１００℃以上の加熱を行える透過型電子顕微鏡用グリッドと、グリッドの汚染や破損を防止できるグリッドホルダーを提供する。 - 特許庁

To project images while maintaining the characteristics of an interchangeable lens and an intermediate when projecting the image of a CCD on the receiving surface of an CDD for instance by mounting the intermediate such as an interchangeable lens and an interference filter in an optical system such as a microscope.例文帳に追加

顕微鏡などの光学系に交換レンズと干渉フィルタのような中間物を装着し、ＣＣＤなどの受光部に物体像を投影するとき、交換レンズと中間物の特性、特徴を生かしたままで投影する。 - 特許庁

An objective lens 51 of an erecting-type vertical-light fluorescent microscope 42 is arranged over the cone 61, and the state of the cells seeded on the test material, under liquid flow generated by a cone, is observed in real time by a monitor 60.例文帳に追加

コーン１６の上方に正立型落射蛍光顕微鏡４２の対物レンズ５１を配置し、試験材料上に播種した細胞のコーンによって生起された液体の流動下での状態をリアルタイムでモニタ６０により観察する。 - 特許庁

The standard sample for the charged particle beam containing different two samples for magnification or dimension calibration, and the charged particle beam device using the standard sample are formed, in a TEM, an STEM (scanning transmission electron microscope), or an SEM for observing a sample by using electrons transmitted through it.例文帳に追加

本発明では、上記目的を達成するために、倍率、或いは寸法校正のための異なる２つの試料が含まれている荷電粒子線用標準試料及びそれを用いる荷電粒子線装置を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope system that facilitates soak injecting/removing operation and prevents air bubbles from being mixed in the soak, when the type of objective lens is changed according to the presence or type of a soak during insertion/detachment of the objective lens into/from an optical path.例文帳に追加

対物レンズの光路への挿脱時に、浸液の有無／種類に応じた対物レンズの種別に変化がある場合、浸液の注入／除去作業がしやすく、かつ浸液への気泡混入を防止する顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

The problem is solved by an objective lens for the microscope including a first lens group and a second lens group in order from a sample face side, wherein, a light beam splitting means is disposed between the first lens group and the second lens group.例文帳に追加

上記課題は、標本面側から順に第１レンズ群と第２レンズ群を備え、前記第１レンズ群と前記第２レンズ群の間に光線分割手段を有することを特徴とする顕微鏡対物レンズによって解決される。 - 特許庁

To manufacture a scanning probe microscope whose S/N is insusceptible to noise generated in a post-stage of a photodiode when the noise generated in the post-stage of the photodiode is relatively larger than noise generated in a pre-stage of the photodiode.例文帳に追加

フォトダイオードの前段で発生するノイズに較べて、相対的にフォトダイオードの後段で発生するノイズの方が大きい場合に、Ｓ／Ｎがフォトダイオードの後段で発生するノイズに影響されにくい走査型プローブ顕微鏡を作る。 - 特許庁