「the Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(60ページ目) - Weblio英語例文検索

To obtain a probe microscope not causing the collision of a probe with a sample and high in operation speed and a data recording and reproducing apparatus.例文帳に追加

本発明は探針と試料の衝突が生じず、かつ動作速度の速いプローブ型顕微鏡及び情報記録再生装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a stereoscopic microscope constituted so that direct-viewing observation can be facilitated, in addition to the observation of an observation part through an objective optical system.例文帳に追加

本発明の目的は、対物光学系を介した観察部位の観察に加えて、直視での観察を容易に行い得る実体顕微鏡を提供することである。 - 特許庁

The charged-particle optical system 100, such as an electron microscope, has a vacuum chamber 102 with a space 104 for storing a specific one from among numerous specimens in operational use.例文帳に追加

たとえば電子顕微鏡のような荷電粒子光学系(100)は、操作用に多数の試料のうちの特別な1つを収容するための空間(104)を備えた真空チャンバ(102)を有する。 - 特許庁

To provide an operation by which a focus is not moved in a useful area of a sample or an observation field is not moved, when the sample is inclined in a transmission electron microscope.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡において、見本を傾斜させる時、見本の有益領域では焦点が動かない、または観測分野が動かない動作を提供する。 - 特許庁

To increase the precision of image processing by taking a high-quality sample image with reduced noise components by use of a scanning type charged particle microscope.例文帳に追加

走査型荷電粒子顕微鏡で撮像して得られる試料の画像について、ノイズ成分を低減させた高品質な画像を取得して画像処理の精度を向上させる。 - 特許庁

To enable reliable measurement high in S/N in a scanning probe microscope measuring the surface state or surface vol. distribution of a sample.例文帳に追加

試料２５の表面状態や表面の容量分布を測定する走査型プロ−ブ顕微鏡において、Ｓ／Ｎが高く信頼性のある測定ができるようにする。 - 特許庁

To provide a stereoscopic microscope simple in configuration and capable of observing an examinee in the presence of oblique lighting over a wide magnification range from a high magnification to a low magnification.例文帳に追加

簡単な構成で、高倍率から低倍率まで幅広い倍率範囲で、安定した偏斜照明で観察することが可能な実体顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope and a sample observation method capable of obtaining a stable scanning image by sufficiently reducing the influence of charge-up of a sample surface.例文帳に追加

試料表面のチャージアップの影響を十分に軽減し、安定した走査画像を得ることができる走査型電子顕微鏡及び試料観察方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image processing device capable of carrying out, in real time, preprocessing of an image, processing of the image, and displaying of its result, in an electron microscope.例文帳に追加

電子顕微鏡における画像の前処理、画像処理及びその結果の表示をリアルタイムで実行することができる電子顕微鏡用画像処理装置を提供すること。 - 特許庁

To make reduction in time for photographing images and high image quality photographing compatible in a scanning electron microscope for measurement, inspection, and defect review or the like of semiconductor wafers.例文帳に追加

半導体ウェーハの測定、検査、欠陥レビュー用などの走査電子顕微鏡において、画像を撮像する時間の短縮と高画質撮像の両立を実現する。 - 特許庁

To provide a user-friendly digital camera for microscope in which power consumption is reduced by achieving a sleep function for making a transition to the sleep state at an optimal timing.例文帳に追加

より最適なタイミングでスリープ状態へ移行するスリープ機能の実現により、使い勝手が良く且つ消費電力を低減した顕微鏡用デジタルカメラを提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope and a sample observation method capable of observing a sample with accuracy by making constant a potential of a conductive layer on a surface of the sample.例文帳に追加

試料表面の導体層の電位を一定にして精度よく試料を観察することのできる走査型電子顕微鏡及び試料観察方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an atomic force microscope for returning to a state, where a sample image can be observed again, as soon as possible even if a cantilever comes into contact with the sample.例文帳に追加

カンチレバが試料に接触しても出来るだけ短い時間で、再び試料像を観察できる状態に早く復帰させる原子間力顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a method of evaluating the dislocation density of a group III nitride crystal in a simple and convenient manner using an optical microscope by forming etch pits having a suitable diameter.例文帳に追加

適正な径のエッチピットを形成することにより、光学顕微鏡を用いて簡便にＩＩＩ族窒化物結晶の転位密度の評価ができる方法を提案する。 - 特許庁

To provide a microscope capable of negating a lens effect produced in a culture fluid of a sample, while adequately ensuring a space between a lighting optical system and the sample.例文帳に追加

照明光学系と標本との間のスペースを十分に確保しながら、標本の培養液に生じるレンズ効果を解消することが可能な顕微鏡等を提供する。 - 特許庁

To provide: a mode synchronous laser device that easily adjusts the repetition frequency of pulse light with simple and compact constitution; a pulse laser light source device; and a microscope device.例文帳に追加

簡単かつ小型な構成でパルス光の繰り返し周波数を容易に調整することができるモード同期レーザ装置、パルスレーザ光源装置、及び顕微鏡装置を得る。 - 特許庁

A microscope 3 generates a plurality of oblique illumination sample images, having different brightness distribution, which are obtained by obliquely illuminating the sample S and imaging a predetermined sample area.例文帳に追加

顕微鏡３は、標本Ｓを偏斜照明して所定の標本領域を撮像した明るさの分布が異なる複数の偏斜標本画像を生成する。 - 特許庁

To provide a incident-light microscope easily operated to be focused and also realizing excellent observation free from the loss of light quantity even in dark field observation.例文帳に追加

ピント合わせ操作を容易に行なうことができ、しかも、暗視野観察においても光量損失のない良好な観察を行なうことができる落射顕微鏡を提供できる。 - 特許庁

If protein is collected on surface of the collection medium, which reacts with red detecting liquid to be colored into clear red, therefore it is easily identified under microscope.例文帳に追加

捕集媒体表面にタンパク質が捕集されていれば、赤色検出液と反応して、鮮明な赤色に着色するので、顕微鏡下で容易に識別できる。 - 特許庁

A reflection electron microscope 4 irradiates incident beams 15 on the surface of bio cells 12, and photographs continuous images as a two-dimensional intensity distribution of their reflected and scattered beams 21.例文帳に追加

反射型電子顕微鏡４は、バイオセル１２の表面に入射線１５を照射し、その反射散乱線２１の二次元強度分布である連続画像を撮影する。 - 特許庁

To provide a cross-section observation scanning electron microscope for allowing the bright view of an observed cross section.例文帳に追加

本発明は断面観察用走査電子顕微鏡に関し、観察断面が明るく見えるような断面観察用走査電子顕微鏡を提供することを目的としている。 - 特許庁

To adjust a positional relation between an aperture member and a modulator to gain superior contrast, in a microscope device which intensifies the contrast of a test piece to make observation.例文帳に追加

本発明は、試料のコントラストを高めて観察する顕微鏡装置に関し、絞り部材とモジュレータとの位置関係を調整し良好なコントラストを得ることを目的とする。 - 特許庁

To provide an optical member which is not equipped with an aperture part for rotating an optical element on a housing, and has no restriction on a rotating range, and a microscope having the same.例文帳に追加

筐体に光学素子を回転させるための開口部を有さず、回転範囲の制限のない光学部材と、これを有する顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a three-dimensional confocal laser microscope system capable of providing the super-depth image of a sample at a real time by scanning an objective lens at high speed.例文帳に追加

対物レンズを高速に走査することによって、リアルタイムで試料の超深度画像を得ることのできる３次元共焦点レーザ顕微鏡システムを実現する。 - 特許庁

To provide a microscope with a photographing function comprising an image-rotating function which is convenient by adequately moving an XY stage, in accordance with the movement of a screen.例文帳に追加

画面の移動に合わせてＸＹステージを適切に移動させることにより、使い勝手の良い、画像回転機能を備えた撮影機能付き顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope device with an inclined column capable of obtaining an inclined image having high resolution in the same level as that of a top-down image obtained using a vertical column.例文帳に追加

直立カラムを用いて得られるトップダウン像と同程度の高分解能の傾斜像を得ることのできる傾斜カラム付の走査電子顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

One or more microscope slides are positioned in an image acquisition device that scans specimens on the slides and makes two dimensional images at a medium or high resolution.例文帳に追加

１つ以上の顕微鏡スライドは、スライド上の試料を走査して中解像度又は高解像度で二次元画像を生成する画像捕捉デバイス内に配置される。 - 特許庁

The present invention can be applied to, for example, a case of processing an image with a massive data amount such as an image obtained by photographing a sample of pathological tissue through a microscope.例文帳に追加

本発明は、例えば、顕微鏡を介して、病理組織の標本を撮影した画像等の、膨大なデータ量の画像を処理する場合に適用することができる。 - 特許庁

To provide a disk scanning type confocal microscope in which a rotary disk can be replaced with the one suitable for an objective to be used without readjusting an optical system.例文帳に追加

光学系の再調整の必要なく、回転ディスクを、使用する対物レンズに適したものに交換可能なディスク走査型の共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope having a probe not receiving lateral force when scanning a sample surface, capable of high-speed measurement, and allowing reduction of abrasion of the probe.例文帳に追加

試料表面を走査するとき探針が横方向の力を受けず、高速測定が可能で、探針の磨耗を低減した走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

(1) The modified cross-sectional regenerated cellulose fiber characterized by having a degree of modification of 1.1 to 10 and a fiber surface roughness parameter Ra of 10 to 50 nm measured with an interatomic force microscope.例文帳に追加

(1) 繊維の異型度が１．１〜１０で、原子間力顕微鏡で測定した繊維表面粗度パラメータＲａが１０〜５０ｎｍである異型断面再生セルロース繊維。 - 特許庁

To provide a magnetic force microscope capable of conducting magnetic force observation at stable high resolution by magnetizing only the tip of a probe without using a dedicated provision.例文帳に追加

専用の設備を用いることなく、探針の尖端のみの磁化を行い、安定した高分解能能の磁気力観察を行うことが出来る磁気力顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To provide a microscope apparatus capable of improving a resolution by applying a technique using a microlens array, and arbitrarily changing the resolution.例文帳に追加

マイクロレンズアレイを用いた技術を適用したうえで、解像力を向上させることができ、且つ解像力を任意に変更させることができる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To illustrate, a sample 34 placed at the end 20 of a sample holder 7 can be maintained at a temperature of liquid nitrogen in a low temperature TEM (transparent electron microscope) as its embodimenet.例文帳に追加

例えば、低温ＴＥＭ（透視型電子顕微鏡）において、試料ホルダ７の末端２０に配置される試料３４が、例えば、液体窒素の温度に維持され得る。 - 特許庁

To provide an electron microscope endowed with functions of direct-image observation of a high throughput by defect inspection of a semiconductor wafer or the like and scanned image observation at a high resolution.例文帳に追加

半導体ウエハ等の欠陥検査による高スループットの直接写像観察と、高分解能での走査像観察機能を備えた電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a highly sensitive X-ray detector prevented from generating distortion of a secondary electron image caused by an astigmatism and the like, even when getting close to a sample inside an electron microscope.例文帳に追加

電子顕微鏡内の試料に近接させても非点収差等による２次電子像の歪みを起こさない高感度なＸ線検出器を提供することである。 - 特許庁

To obtain a three-dimensional image of a sample which is free of lightness unevenness in a short time by making better use of sectioning effect as a feature of the confocal microscope.例文帳に追加

本発明は、共焦点顕微鏡の特徴であるセクショニング効果をより生かして明るさむらの無い試料の３次元画像を無駄時間なく短い時間で構築する。 - 特許庁

To provide a slit-lamp microscope capable of obtaining good operability while achieving space saving and capable of observing a specific region under the optimum background illumination.例文帳に追加

本発明は、省スペース化を図りつつ良好な操作性を得ることができ、また、最適な背景照明の下で特定部位を観察できる細隙灯顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide an electron microscope apparatus and a brake mechanism capable of reducing vibration even when a stage moves at a high speed, reducing drift in stopping the stage, and positioning with high precision.例文帳に追加

ステージを高速移動しても低振動であり、ステージ停止時のドリフトが小さく、高精度の位置決めを行える電子顕微鏡装置およびブレーキ機構に関する。 - 特許庁

To provide a scanning confocal microscope that can prevent the occurrence of fringes by automatically adjusting a scanning zone of spot light and to thereby obtain proper observation images.例文帳に追加

スポット光の走査範囲を自動的に調整することで縞の発生を防止し良好な観察画像を得ることができるスキャン型コンフォーカル顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a laser microscope device that stably performs spectroscopy at high resolution over a wide band area while suppressing a decrease in the intensity of detected fluorescence.例文帳に追加

検出される蛍光の強度低下を抑制しつつ、広帯域かつ高分解能な分光を安定的に行うことができるレーザ顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

An image processing part 103 performs an image processing of correcting the exposure or white balance of an observation image by a microscope 1 picked up by an image pickup part 102.例文帳に追加

画像処理部１０３は、撮像部１０２によって撮像された顕微鏡１での観察画像の露出若しくはホワイトバランスを補正する画像処理を行う。 - 特許庁

To provide a miniaturized scanning electron microscope enabling observation of the optional position of a large sample, and capable of easily obtaining a three-dimensional image.例文帳に追加

大型試料の任意の位置を観察することを可能にし、また、三次元立体像を容易に得ることができ小型化された走査型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The technology comprises a microscope 10, an imaging apparatus 20, a computer 50 for performing an imaging control and a picked up image processing, an input apparatus 30 and a display apparatus 40.例文帳に追加

顕微鏡１０と、撮像装置２０と、撮像の制御および撮像された画像の処理を行うコンピュータ５０と、入力装置３０と、表示装置４０とを含む。 - 特許庁

To provide a revolver device that prevents wear of an biasing means and less likely causes deterioration in positioning precision of objective lenses, and to provide a microscope that has the revolver device.例文帳に追加

付勢手段の摩耗を抑制することができ、対物レンズの位置決め精度が悪化し難いレボルバ装置及びレボルバ装置を備える顕微鏡を提供する。 - 特許庁