「the Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(80ページ目) - Weblio英語例文検索

The confocal measuring system applies a measuring system 2 comprising a scanning trigger supply part 15 corresponding to a scanning cycle of a sample S by the Nieuwpoort disk 10 by detecting rotation of the Nieuwpoort disk 10 to the confocal microscope 1 acquiring a confocal image of the sample S generated by the Nieuwpoort disk 10 and an image acquiring device 20 for acquiring the confocal image of the sample S.例文帳に追加

ニポウ円盤１０によって生成される試料Ｓの共焦点像を取得する共焦点顕微鏡１に対し、ニポウ円盤１０の回転を検出し、ニポウ円盤１０による試料Ｓの走査周期に対応する走査トリガ信号を供給する走査トリガ供給部１５と、試料Ｓの共焦点像を取得する画像取得装置２０とを備える計測システム２を適用する。 - 特許庁

In the probe 10 of the scanning tunneling microscope and its manufacturing method, the probe 10 is formed from metal such as tungsten, a tip surface 12 of the probe 10 has a buffer layer such as a carbonization coating film, and a carbon nanotube 13 is extended from the buffer layer such as the carbonization coating film of the tip surface 12 of the probe 10.例文帳に追加

走査型トンネル顕微鏡の探針１０において、探針１０はタングステン等の金属で形成され、探針１０の先端表面１２は炭化コーティング膜等のバッファー層を有し、探針１０の先端表面１２の炭化コーティング膜等のバッファー層からカーボンナノチューブ１３が延設されている走査型トンネル顕微鏡の探針１０とその製造方法である。 - 特許庁

This electron microscope is provided with the visible light imaging part for imaging a visible light observation image which is attached to the sample table 33 movable at least on the XY plane, and the visible light imaging part is adjusted in a position and an angle in which the visible light observation image of the sample mounted on the sample table 33 is imaged in a state being attached to the sample table 33.例文帳に追加

この電子顕微鏡は、少なくともＸＹ平面上を移動可能な前記試料台３３上に装着される、可視光観察像撮像用の可視光撮像部を備え、可視光撮像部は試料台３３に装着された状態で、試料台３３上に裁置される試料の可視光観察像を撮像可能な位置及び角度に調整されている。 - 特許庁

In an image recording method of the laser scanning confocal microscope device, each of a plurality of laser lights having at least different wavelengths is scanned on a specimen as a spot light, light from the specimen based on the spot light is detected, and obtained image information is recorded by segmenting it.例文帳に追加

レーザ走査型共焦点顕微鏡装置の画像記録方法として、少なくとも波長の異なる複数のレーザ光の各々をスポット光として試料上に走査し、このスポット光に基づく試料からの光を検出し、得られた画像情報を切り分けて記録する、ようにする。 - 特許庁

To provide a vertical illumination optical system for a microscope having an adjusting function to adjust the image position of a light source to the rear focal position of each microscopic objective lens in response to replacement of the microscopic objective lens with a simple constitution, in a Koehler illumination system using a condenser lens array.例文帳に追加

集光レンズアレイを用いたケーラー照明系において簡単な構成で顕微鏡対物レンズの交換等に対応して光源の像位置を各顕微鏡対物レンズの後側焦点位置に調整する調整機能を有する顕微鏡用落射照明光学系。 - 特許庁

To make the state of samples observable from outside with a microscope while the observation samples are kept confined in a container at all times in a manner as to prevent the samples from spilling and leaking outside when dangerous microorganisms or very small underwater organisms are observed, cultured or transported.例文帳に追加

危険な微生物や微小な水中の生物を観察したり、培養したり或いは輸送したりする場合に、こぼれたりして外部に試料が漏れることがないように、終始入れ物の中に観察試料を閉じこめておきながら外部から試料の状態を顕微鏡で観察出来る様にする。 - 特許庁

This scanning probe microscope is characterized by therein storing observation data up to just before then as a history when a probe is caused to scan, each time setting the sampling interval in an X or Y direction based on the observation data/shape, and causing the probe to scan as far as a next sampling position.例文帳に追加

探針を走査時に、直前までの観測データを履歴として記憶し、観測データ形状を元に、ＸまたはＹ方向のサンプリング間隔をその都度設定し、次のサンプリング位置まで探針を走査することを特徴とする走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The substrate for an information recording medium is characterized in that a cycle of the microscopic waviness falls within 2 μm to 4 mm, wa of the substrate main surface is 5 nm or less and Rmax is 12 nm or less, where a maximum height of this microscopic waviness is wa (95% PV value) and a maximum height measured by an atomic force microscope is Rmax.例文帳に追加

情報記録媒体用基板は、微小うねりの周期が２μｍ〜４ｍｍであって、この微小うねりの最大高さをwa（95％PV値）とし、原子間力顕微鏡によって測定した最大高さをRmaxとしたとき、該基板主表面のwaが5nm以下、Rmaxが12nm以下であることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a computer-readable recording medium storing a novel and improved data structure configured to form digitally scanned images, store the digitally scanned images in a tiled format for viewing the images without using a microscope, and allow a remote observer to observe the images.例文帳に追加

デジタル走査されたイメージを構築し、デジタル走査されたイメージを顕微鏡なしでビューするのに好都合なタイル化フォーマットで記憶し、かつ遠隔の観察者が観察できるように改良された新規のデータ構造を記憶したコンピュータ読み取り可能な記録媒体を提供すること。 - 特許庁

An alignment microscope 10 can be switched, for example, between a magnification ratio of three and a magnification ratio of ten, and a work mark WAM and a search mark which is higher in contrast to be easy to be seen than the work mark WAM are formed, on the work W, in a position predeterminingly located relatively to the work mark WAM.例文帳に追加

アライメント顕微鏡１０は例えば３倍の倍率と１０倍の倍率に切り替えが可能であり、ワークＷ上には、ワークマークＷＡＭと、ワークマークＷＡＭよりコントラストが高く見えやすいワークマークＷＡＭに対して所定の相対位置にある探索マークが設けられている。 - 特許庁

A photographing system is connected for communication with an information processor which makes a microscope having an autofocusing control mechanism, an offset lens control mechanism, a stage control mechanism to control the displacement of the stage holding samples of the observation object, and a photographing mechanism to perform multipoint time lapse photographing.例文帳に追加

本発明は、オートフォーカス制御機構と、オフセットレンズ制御機構と、観察対象の試料が載せられるステージの変位を制御するステージ制御機構と、撮影機構と、を備える顕微鏡装置に、マルチポイント・タイムラプス撮影を行わせる情報処理装置を、通信接続した撮影システムである。 - 特許庁

The cantilever for processing, for processing a micropattern by use of an atomic force microscope (AFM), has a great number of probes as cutting blades provided at the top end of a lever part of a cantilever, and has the probes integrally formed with a common base material.例文帳に追加

原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）を利用して微細パターンの加工を行うための加工用カンチレバーについて、切れ刃となるプローブ（探針）がカンチレバーの１本のレバー部先端に多数設けられていることであり、上記プローブが共通の基材と一体に形成されていること。 - 特許庁

To provide a CDSEM (Scanning Electron Microscope) capable of highly accurately evaluating and presenting the length measurement reproducibility of the device without being affected by fluctuations of a fine shape, which tend to increase with the miniaturization of semiconductor patterns, and provide a reproducibility evaluation method as a device.例文帳に追加

半導体パターンの微細化に伴なって増加傾向にある微細形状揺らぎに影響されずに、装置の測長再現性能を高精度で評価して提示することができるＣＤＳＥＭ（走査型電子顕微鏡装置）及び装置としての再現性能評価方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide information useful for the discrimination of a disease by standardizing an image analysis result liable to be unstable due to coloring or the setting condition of a microscope in blood application sample by using the analytical result of a cell other than a target cell.例文帳に追加

血液塗抹標本において、染色や顕微鏡の設定条件により不安定になりがちな画像解析結果を、非対象細胞の解析結果を用いることで基準化させることにより、より疾患鑑別に有用な情報を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a living body organ support device and method that significantly decrease the motion of living body texture in imaging of living bodies, will not damage the texture, and acquire a laminating image of the depth direction, using a confocal laser microscope.例文帳に追加

生体イメージングにおいて生体組織の動きを大幅に減少させることができるとともに組織に損傷を与えることがなく、共焦点レーザ顕微鏡を用いて深さ方向の積層イメージを得ることを可能とする生体臓器支持装置および方法を提供する。 - 特許庁

The semiconductive belt includes an elastic layer made of a semiconductive rubber and a surface layer, wherein the surface layer is composed of a resin layer, containing a polytetrafluoroethylene resin fine powder, and a hardness-corresponding peak voltage value of the surface layer measured by an SPM (scanning probe microscope) method is ≤-6.35 V.例文帳に追加

半導電性ゴムからなる弾性層と表面層からなり，表面層はポリ四フッ化エチレン樹脂微粉末を含有する樹脂層からなり，表面層のＳＰＭ法（走査型プローブ顕微鏡）で測定した硬度対応ピーク電圧値が−６．３５Ｖ以下である半導電性ベルトとする。 - 特許庁

In an atomic force microscope wherein an optical lever system is adopted, a light emitting element 8 is provided on the back side of a cantilever 5, and a light receiving device 9 is directly irradiated with light from the light emitting element 8, to thereby suppress decline of light receiving sensitivity of the light receiving device 9 caused by reflection of unintended light.例文帳に追加

光てこ方式を採用した原子間力顕微鏡において、発光素子８をカンチレバー５の背面側に設け、発光素子８から直接受光装置９に光を照射することで、意図しない光の反射による受光装置９の受光感度の低下を抑制する。 - 特許庁

This microscope device for surgery is provided with a visual field inside indicating controller 29 inputting an observation condition to an eyepiece part 8 for an operator and first and second rotation computing circuits 30, 31 changing the observation condition of an eyepiece part 9 for an assistant according to the condition inputted to the eyepiece part 8.例文帳に追加

術者用接眼部８に観察条件を入力する視野内表示コントローラー２９と、その条件に応じて助手用接眼部９の観察状態を変更する第１の回転演算処理回路３０および第２の回転演算処理回路３１とを設けたものである。 - 特許庁

A spherical part 38 disposed at one end of a support rod 36 is fitted into a receiving part 34 of a post-shaped part 32 screwed to an eyeball clip 22 attached to a support 6R on a side of the slit-lamp microscope 2, and a tweezers wiping cloth 20 is attached to the other end of the support rod 36.例文帳に追加

細隙燈顕微鏡２が側方に備える支柱６Ｒに取り付けた目玉クリップ２２にネジ止めした柱状部３２の受け部３４に、支持棒３６の一端に設けた球状部３８を嵌め、支持棒３６の他端にピンセット拭き取りようの布２０を取り付けてある。 - 特許庁

In the separator material for fuel cell, the Au plating layer 2-20 nm in thickness and 0.5-1.5 nm in arithmetic surface roughness (Ra) measured in a crystal grain of a metal substrate by an atomic force microscope is formed on a surface of the metal substrate.例文帳に追加

金属基材の表面に、厚み２〜２０ｎｍで、かつ前記金属基材の結晶粒内において原子間力顕微鏡により測定した算術表面粗さ（Ｒａ）が０．５〜１．５ｎｍであるＡｕめっき層が形成されている燃料電池用セパレータ材料である。 - 特許庁

To provide an inspection system for improving working efficiency by reducing a confirmation work load using a microscope by discriminating types of defects and deciding whether the types are appropriate, by processing the defective images with a plurality of thresholds for all the defects within a substrate.例文帳に追加

基板内の全ての欠陥に対して複数の閾値によって欠陥画像を処理して欠陥の種類の判別と良否判定を行う事により、顕微鏡による確認作業負荷を削減する事を可能とし、作業効率を向上させる検査システムを提供する。 - 特許庁

To provide an electron microscope with a magnetic image forming energy filter suitable for forming an energy-filtered object image or a diffraction image in a detector plane and suitable for forming a dispersion plane image in the detector plane for the parallel registration positioning of the energy spectrum.例文帳に追加

エネルギフィルタリングされた対象物像又は回析像を検出器平面内に結像するのに適しているのみならず、エネルギスペクトルのパラレルレジストレーション位置合せのため検出器平面内へ分散平面を結像するのにも適する磁気形結像エネルギフィルタを有する電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To quantitatively and accurately measure the carrier concentration of a measured sample such as a semiconductor substrate by a semiconductor measuring device using a scanning capacitance microscope, and to provide a method for measuring the carrier concentration inexpensively without increasing the scale nor cost of a measurement system.例文帳に追加

走査型容量顕微鏡を用いた半導体測定装置において、半導体基板などの測定サンプルのキャリア濃度を定量的に正確に測定することができ、しかもこのようなキャリア濃度の測定を、測定システムの規模の増大やコストアップを招くことなく低コストで行う方法の提供。 - 特許庁

To perform the measurement of mm-class wide scanning with high reproducibility and measuring accuracy without causing such problems as probe wear excluding undesirable force to the sample surface being applied to the probe with a scanning probe microscope for observing a μm-class fine target.例文帳に追加

μｍ級の微小対象物の観察を行える走査型プローブ顕微鏡で、探針に加わる好ましくない試料表面に平行な力を除き、ｍｍ級の広域走査の測定を探針摩耗等の問題を起こすことなく高い再現性、測定精度で行えるようにする。 - 特許庁

To provide a microscope capable of optionally changing a filter transmission wavelength band without preparing an optical filter for every fluorescent wavelength even in the case of changing the fluorescent wavelength, filtering only the wavelength of an exciting laser beam and yielding a distinct fluorescent image without being influenced in terms of manufacture and environment.例文帳に追加

蛍光波長を変更する場合でも光学フィルタを各蛍光波長毎に用意することなくフィルタ透過波長帯域を任意に変更可能で、励起レーザビームの波長のみをフィルタリングでき、製造上及び環境上の影響を受けずに鮮明な蛍光画像を得ること。 - 特許庁

The scalpel for fabricating slices of various samples and/or for creating a surface of the highest quality, particularly the scalpel for fabricating laminas or sub-laminas using a microtome or ultramicrotome with a blade and a blade holder, preferably for electron microscope inspection, has its blade fabricated from synthetic diamond.例文帳に追加

種々の試料の切片製造用及び／又は最高品質の表面生成用メス、とりわけ、好ましくは電子顕微鏡検査のための、刃及び刃ホルダを有するミクロトーム又はウルトラミクロトームによる薄片ないし亜薄片製造用メスは、刃が、合成ダイヤモンドから製造されている。 - 特許庁

To provide a semiconductor process simulation device which adopts an impurity diffusion model under the consideration of a dislocation loop for reducing a time and labor required for extracting the physical quantity of the dislocation loop from a transmission electron microscope picture.例文帳に追加

転位の輪を考慮に入れた不純物拡散モデルを取り入れた半導体プロセスシミュレーション装置において、転位の輪の物理量を透過電子顕微鏡写真から抽出する時間と労力を低減した半導体プロセスシミュレーション装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The microscope comprises an observatory optical system 10 composed of an objective lens 11, an imaging lens 12 and an eyepiece 13, an index image projection section 30 projecting two index images and a half mirror 26 connecting an optical path of the index image projection section 30 with an optical path of the observatory optical system 10.例文帳に追加

顕微鏡は、対物レンズ１１と結像レンズ１２と接眼レンズ１３からなる観察光学系１０と、二つの指標像を投射する指標像投射部３０と、指標像投射部３０の光路を観察光学系１０の光路に結合するハーフミラー２６とを有している。 - 特許庁

The endoscopic observation system 2 is constituted of an endoscope imaging device 51, an endoscope unit 10 with a microscope imaging device 52 and an endoscope side observation device 13 which conducts a remote communication with the pathologic diagnosis system 4 by using an endoscope side remote communicator 12 through the remote communication circuit 3.例文帳に追加

内視鏡観察システム２は、内視鏡像撮像装置５１及び、顕微像撮像装置５２を設けた内視鏡装置１０と、遠隔通信回線３を介して内視鏡側遠隔通信機１２で病理診断システム４と遠隔通信する内視鏡側観測装置１３とから構成される。 - 特許庁

Regarding the optical microscope including a finite objective lens or a pair of infinite objective lenses and an imaging lens, by dividing an optical path behind the imaging lens into two and making a difference in optical path lengths, two images having different focuses are projected on the light receiving surface of an image acquisition apparatus such as a CCD camera.例文帳に追加

有限系対物レンズ、あるいは、一対の無限系対物レンズと結像レンズを備えた光学顕微鏡において、結像レンズ以降の光路を二つに分け、光路長に差を与えることにより、二つの焦点の異なる像をＣＣＤカメラ等の画像取得装置の受光面に投影する。 - 特許庁

A previously selected reference pattern region is measured at a certain timing during measurement of a measurement region of sample characteristics with a scanning probe microscope, and the displacement of a probe is corrected while necessarily specifying the displacement in an XYZ axis from a measured image of the reference pattern.例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡による試料特性の測定領域を測定中のあるタイミングで予め選択されたリファレンスパターン領域の測定を行い、リファレンスパターンの測定像から適宜ＸＹＺ軸方向の位置ずれ量を特定して探針の位置ずれ補正を行う。 - 特許庁

To provide a stereoscopic microscope which can obtain light observation images on both a main and a subordinate observation side, holds a main and a subordinate observation lens barrel at a proper distance to obtain the sufficient degree of freedom of the subordinate observation side, and holds the proper height and shift of an eye point.例文帳に追加

主観察側及び副観察側ともに明るい観察像を得ることができ、しかも、主観察鏡筒と副観察鏡筒とが適切な距離を保ち、副観察側の自由度を十分保ち、かつ、適切なアイポイントの高さ及びシフトを保つことが可能な実体顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To obtain an optical microscope apparatus where a plurality of optical devices are selectively arranged on an optical path, and where a plurality of optical devices in accordance with various observation methods are arranged and set by flexible and easy operation while avoiding the complication and the scale increase of the device.例文帳に追加

複数の光学素子を選択的に光路に配置する光学顕微鏡装置において、装置の複雑化及び大型化を避けつつ各種観察法に応じた複数の光学素子の配置設定を柔軟かつ容易な操作により行うことができるようにする。 - 特許庁

Of the electron source used for an electron-optical equipment, such as, electron microscope and electron-beam lithographic apparatus, an electron-emitting section part consists of a surface-layer part and a base material part, of which the surface-layer part is of transition metal carbide, and the base material part is made of diamond single crystal.例文帳に追加

電子顕微鏡、電子ビーム描画装置等の電子光学機器に使用される電子源であって、電子放出部分は表層部と基材部からなり、該表層部は遷移金属炭化物であり、該基材部はダイヤモンド単結晶であることを特徴とする電子源により解決される。 - 特許庁

This steel sheet has 80% or less of a ratio of Si-containing oxide occupying in 10 μm length of the steel sheet surface in an average measured on arbitrarily selected five places, when a cross section in the transversal direction to the steel sheet surface is observed with an electron microscope at a magnification of 50,000 times or higher.例文帳に追加

鋼板表面と直交する方向の断面を電子顕微鏡にて倍率５００００倍以上で観察したときに、鋼板表面長さ１０μｍに占めるＳｉ含有酸化物の割合が、任意に選択される５箇所の平均で８０％以下となるようにする。 - 特許庁

To solve the problem that a stage device of a conventional microscope is not easy to use since an operation handle moves as a top plate stage where an object to be observed is mounted moves and then the operation handle is searched for without turning an eye away from an ocular when a hand is put away from the operation handle.例文帳に追加

従来の顕微鏡のステージ装置は、観察対象物を載置した上板ステージが移動すると、同時に操作ハンドルもその方向へ移動してまい、操作ハンドルから手を離した場合には、接眼レンズから目を逸らさずに探し出しているため、使い勝手が悪い。 - 特許庁

To provide a scanning laser microscope which prevents second laser light from impinging on a light detection system of a first scanning optical system to efficiently detect fluorescence excited by the laser light of the first scanning optical system in the case a plurality of scanning optical systems are used.例文帳に追加

複数の走査光学系を使用した場合においても、第２のレーザ光が第１の走査光学系の光検出系に進入することを防ぎ、第１の走査光学系のレーザ光により励起された蛍光を効率良く検出することが可能な走査型レーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In this evaluation method of the porous aggregate, a liquid whose refractive index difference from a refractive index of components is below 1 is impregnated into the porous aggregate formed by aggregating the plurality of components, and then observed by a microscope, to thereby confirm existence of a component larger than 0.4 μm.例文帳に追加

構成要素が複数集合した多孔性集合体に、該構成要素の屈折率に対して屈折率差が１以下の液体を含浸させた後、顕微鏡で観察することにより、０．４μｍ以上の構成要素の有無を確認することを特徴とする多孔性集合体の評価方法。 - 特許庁

This substrate for information recording medium is characterized in that the period of the microscopic waviness is in 2 μm to 4 mm, wa of the substrate main surface is 5 nm or less and Rmax is 12 nm or less, where a maximum height of this microscopic waviness is wa (95% peak value) and a maximum height measured by an atomic force microscope is Rmax.例文帳に追加

情報記録媒体用基板は、微小うねりの周期が２μｍ〜４ｍｍであって、この微小うねりの最大高さをwa（95％PV値）とし、原子間力顕微鏡によって測定した最大高さをRmaxとしたとき、該基板主表面のwaが5nm以下、Rmaxが12nm以下であることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a three-dimensional membrane structure measuring method of a scanning probe microscope capable of measuring the surface shapes of respective layers at every manufacturing process in a manufacturing process of a semiconductor device having a multilayered structure to synthesize the measurement results and capable of analyzing and evaluating those measuring results using the data of a multilayer.例文帳に追加

多層構造を有する半導体デバイスの製造プロセスで、各層の表面形状を製造工程毎に計測し、それらの計測結果を合成し、多層のデータを用いて解析・評価することができる走査型プローブ顕微鏡の立体膜構造測定方法等を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope optical system capable of improving workability in micromanipulation without the need of the change of magnification performed by the rotation of an objective lens by a revolver by disposing a high magnifying power observation optical system to face oppositely to a low magnifying power observation optical system.例文帳に追加

低倍率の観察光学系と高倍率の観察光学系を対向させて配置することにより、レボルバでの対物レンズの転換による倍率の変換を行う必要がなく、マイクロマニピュレーションでの作業性の向上が図れる顕微鏡光学系を提供する。 - 特許庁

To provide a surface plasmon fluorescence microscope for visual confirmation with strong fluorescent intensity by configurating a light receiving member to receive the fluorescence enhanced by surface plasmon, and to provide a method of measuring the fluorescence excited by the surface plasmon.例文帳に追加

本発明は、表面プラズモンにより増強された蛍光を受光するように受光部品を構成することにより、強い蛍光強度で視認できる表面プラズモン蛍光顕微鏡、および表面プラズモンにより励起された蛍光を測定する方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a scanning charged-particle microscope in which distortion of measurement, even of an insulator pattern, in the field of view can be suppressed by suppressing the impact of charging due to primary charged-particle beam irradiation during photographing, and suppressing change in the detection rate of secondary charged-particles.例文帳に追加

絶縁体パターンであっても，撮影中一次荷電粒子線照射起因帯電の影響を抑制し，二次荷電粒子の検出率の変化を抑制することにより視野内の計測歪みを抑制することのできる走査型荷電粒子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a liquid immersion apochromatic microscope objective lens which can maintain the flatness of an image plane over the entire part of a visual field and is to be well corrected in various aberrations while maintaining a magnification of about 60 times and a large NA of 1.4 without forming a lens group of the extreme image side to a Gauss type.例文帳に追加

最も像側のレンズ群をガウスタイプにすることなく、倍率が６０倍程度で１．４という高ＮＡを維持しつつ、視野全体にわたって像面の平坦性を維持でき、かつ諸収差が良好に補正される液浸系アポクロマート顕微鏡対物レンズを提供すること。 - 特許庁

A measuring implement 3 having a position indicator 32 is installed so that it can rotate integrally with the test object 5, and enlarged images of the position indicator 32 formed by a microscope 1 at a plurality of points of time in a process of rotation of the test object 5 are picked up respectively by an image capturing camera 17.例文帳に追加

位置指標３２を有する測定用治具３を被検体５と一体的に回転し得るように設置し、被検体５が回転する過程の複数の時点において、顕微鏡１により形成される位置指標３２の拡大像を撮像カメラ１７によりそれぞれ撮像する。 - 特許庁