意味 | 例文 (864件) |
欠陥構造の部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 864件
熱を発する溶接構造物を対象として、遠隔操作によって溶接部における横割れの欠陥と縦割れの欠陥とを容易に判別して探傷可能とする。例文帳に追加
To enable inspection of flaws by readily discriminating lateral crack flaws and vertical crack flaws in a welded section by remote operation with respect to a heat emitting welded structure. - 特許庁
これらの配線間にショート欠陥42が存在すると、レーザビーム3により熱起電力発生構造21が照射された際に発生する熱起電力により電流がショート欠陥42を通じて流れる。例文帳に追加
If a short defect 42 is present between the wirings, a thermo- electromotive force developed when the thermo-electromotive force generating structure 21 is irradiated with a laser beam 3 allows a current to flow through the short defect 42. - 特許庁
アモルファス・セレン(a−Se)半導体厚膜形成時に潜在的に生成される構造欠陥と、欠陥の電荷捕獲中心への変化を最低限に抑えて、感度が劣化しない大面積X線検出器を提供する。例文帳に追加
To provide a large-area X-ray detector which minimizes the structural defects that are potentially generated at the formation of an amorphous selenium (a-Se) semiconductor thick film, minimizes the changes in defects, as nearing the charge trapping center, and the sensitivity of which will not deteriorate. - 特許庁
クラスタ生成部56では、2分探索木の構造を有し、それぞれが同一の欠陥に由来する欠陥要素の集合である複数のクラスタが生成される。例文帳に追加
A cluster generation part 56 has a binary search tree structure and generates a plurality of clusters each being a set of defect factors respectively deriving from the same defect. - 特許庁
駆動用トランジスタのゲートと有機EL素子のカソードとが画素内で電気的にショートしにくい配線構造を採用し、欠陥画素や線状の欠陥が発生しないようにすること。例文帳に追加
To prevent the generation of defective picture elements and the occurrence of linear defects by adopting a wiring structure wherein a gate of a drive transistor and a cathode of an organic EL device are hardly electrically short-circuited in a picture element. - 特許庁
2層構造のベローズであっても、迅速且つ簡便にベローズの腐食や傷等の欠陥を評価することが可能なベローズの欠陥評価方法及びこれに用いる渦流探傷装置を提供すること。例文帳に追加
To provide a flaw evaluation method of bellows capable of rapidly and simply evaluating the flaw such as corrosion or damage of the bellows even in the bellows having a two layered structure, and an eddy current flaw detector used therein. - 特許庁
評価対象部位そのものから採取したサンプルから得られた材料試験データを用いて精度よく欠陥裕度評価を行う炉内構造物の欠陥裕度評価方法を提供する。例文帳に追加
To provide a defect tolerance evaluation method for a structure within a reactor accurately carrying out defect tolerance evaluation by using material testing data obtained from a sample taken from an evaluation object portion itself. - 特許庁
検査装置7は、塗膜に欠陥があることを検出すると、欠陥のある積層構造製品が製造されていることを示す警報信号ASを出力する。例文帳に追加
The inspection device 7, upon detecting a defective coating film, outputs an alarm signal AS indicating that a defective laminated structure product is in production. - 特許庁
複雑な構造面を検査対象とする場合であっても、フィルタ設定に手間が掛からず、欠陥を高精度に検出可能な欠陥検出方法の提供。例文帳に追加
To provide a defect detection method capable of detecting defects with high accuracy, without having to require time or effort in setting filters, even when an object to be inspected is a complex structural surface. - 特許庁
不必要な欠陥検査を省いて欠陥検査を実施する時期を決定することにより、安全かつ経済的な原子炉の運転を実現した炉内構造物の検査時期決定方法およびその決定プログラムを提供する。例文帳に追加
To provide a method and a program for determining the inspection timing for in-vessel structures which realize safe and economical operation of a reactor by omitting unnecessary defect tests, to determine the time the necessary defect tests are to be carried out. - 特許庁
表面に亀裂状欠陥が発生し、前記欠陥の内部に水,酸化物等の介在物を含む構造物、好適には原子炉炉内機器の補修方法を提供する。例文帳に追加
To provide a method for repairing a structure, suitable for equipment in a nuclear reactor developing cracking defect on the surface and containing inclusion, such as water, oxide, in the inner part of the above defect. - 特許庁
複雑な構造を有する軸物工具の表面における欠陥を検査することができる軸物工具表面の欠陥検査方法および装置を提供する。例文帳に追加
To provide a method and a device for inspecting defects on the surface of a shaft-like tool capable of inspecting defects on the surface of a shaft-like tool having a complex structure. - 特許庁
表示の際に点欠陥も線欠陥も発生させない、スイッチング素子アレイ基板の不良箇所(特に信号用配線の)の修復方法およびその基板構造を提供する。例文帳に追加
To provide a repairing method of a defective part (especially of a wiring for a signal) of a switching element array substrate by which neither a point defect nor a linear defect is generated when display is performed and to provide its substrate structure. - 特許庁
クラスタ生成部56では、2分探索木の構造を有し、それぞれが同一の欠陥に由来する欠陥要素の集合である複数のクラスタが生成される。例文帳に追加
A cluster-forming part 56 has a binary search tree structure and forms a plurality of clusters which are clusters of the defect elements, respectively derived from the same defect. - 特許庁
本発明に係る欠陥検知システム10は、検知対象である構造体2の表面に形成した発光膜1の発光を検出することによって、欠陥の有無を検知する。例文帳に追加
The defect detecting system 10 detects the existence of a defect by detecting light emission of a light emitting film 1 formed on the surface of the structure 2, i.e., a detection target. - 特許庁
超音波を構造物1内に伝播させ、内部欠陥からの回折波と反射波を含む受信波形4を受信して欠陥を検査する超音波検査方法。例文帳に追加
The ultrasonic inspection method is constituted so that an ultrasonic wave is transmitted through the structure and the received waveform 4 containing a diffracted wave and a reflected wave from the internal flaw of the structure 1 is detected to inspect the flaw. - 特許庁
これにより、構造欠陥と欠陥の電荷捕獲中心への変化が最低限に抑えられ、感度劣化の殆どないX線検出器を得ることができる。例文帳に追加
By this, the structural defect and the variation in the defect to the charge capture center is suppressed minimum and an X-ray detector with little sensitivity degradation can be obtained. - 特許庁
これにより、構造欠陥と欠陥の電荷捕獲中心への変化が最低限に抑えられ、感度劣化の殆どないX線検出器を得ることができる。例文帳に追加
Accordingly, this makes it possible to obtain an X-ray detector which minimizes structural defects and changes in defects, as nearing the charge trapping center and which hardly deteriorates in the sensitivity. - 特許庁
構造体の内部欠陥の大きさと深さを定量的かつ高精度に測定・評価できる欠陥の大きさと深さ評価方法および装置を提供することにある。例文帳に追加
To provide a method and device for evaluating size and depth of a defect wherein the size and depth of the internal defect of a structure are measured and evaluated quantitatively and accurately. - 特許庁
支持基板上に配列されている画素のうち常時消灯状態となる欠陥画素を検査により特定し、常時消灯状態の欠陥画素の光取り出し側の少なくとも一部に光透過性構造体を設ける。例文帳に追加
The defective pixel turned to the normally put-out state among the pixels arrayed on the support substrate is specified by an inspection, and the light transmissive structure is provided to at least a part of the light extraction side of the defective pixel in the normally put-out state. - 特許庁
スラブ型2次元フォトニック結晶における複数の直線状の格子列群から1列格子列を除いて線欠陥構造とし、格子点1列分の線欠陥幅よりも狭くなるように、線欠陥に近接する格子点列を移動させ、または、格子点上に配置された構造体を変形させ、導波路幅を0.7Wとした構造である。例文帳に追加
A linear defect structure is made by eliminating one lattice row from a plurality of linear lattice row groups in a slab type two dimensional photonic crystal, the lattice point row adjacent to a linear defect is so moved to make the width narrower than the linear defect width equivalent to one row of lattice of points, or a structure arranged on the lattice points is deformed and the waveguide width becomes 0.7W. - 特許庁
システムの構造上の欠陥とチェックの見落としが重なり招かれた障害であると言えます。メールで書く場合 例文帳に追加
It can be said that the combination of a fault in the system structure and an oversight during the checking process has caused this problem. - Weblio Email例文集
結晶の欠陥からの回折効果は、完全な構造に対する逆格子点に対応する回折波bの組に限定されない。例文帳に追加
Diffraction effects from crystal imperfections are not confined to the set of diffracted beams, b, which correspond to the reciprocal lattice points for the perfect structure. - 科学技術論文動詞集
結晶欠陥の少ない窒化ガリウム系化合物半導体の結晶エピタキシー構造及びその製造方法を提供する。例文帳に追加
To provide a crystal epitaxy structure for a gallium-nitride compound semiconductor which reduces crystal defects, and to provide its manufacturing method. - 特許庁
欠陥や斑のない、精確な微細構造を有する電鋳金型用マスターを製造する方法を提供すること。例文帳に追加
To provide a method of manufacturing a master for an electroforming mold, free from defects or mottles and having exact fine structure. - 特許庁
構造欠陥を有するカーボンナノホーン19の存在下において,炭化水素化合物を熱分解して,水素を生成させる。例文帳に追加
Hydrocarbon compounds are thermally decomposed in the presence of carbon nanohorns 19 with structural defects to produce hydrogen. - 特許庁
グラファイト構造の乱れや欠陥が少ない高強度のポリアクリロニトリル(PAN)系炭素繊維を提供する。例文帳に追加
To provide a highly strong polyacrylonitrile (PAN)-based carbon fiber which scarcely has the turbulence and defects of graphite structure. - 特許庁
次に、システマティック欠陥を最小にするために、構造識別子及び重み係数に基づいてルータ設定を修正する。例文帳に追加
Then, the router settings are modified based on the structural identifier and the weighting factor so as to minimize systematic defects. - 特許庁
陽極酸化により作製される細孔の乱れや欠陥を少なくし、より規則的なナノ構造体の製造方法を提供する。例文帳に追加
To provide a method for manufacturing a more regular nanostructure by lessening the disorder and defect made by anodic oxidation. - 特許庁
欠陥ページバッファーからのデータ伝送が遮断されるワイヤードオア構造の不揮発性半導体メモリ装置例文帳に追加
NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE WITH WIRED-OR STRUCTURE IN WHICH DATA TRANSMISSION FROM DEFECTIVE PAGE BUFFER IS BLOCKED - 特許庁
本発明は、複雑な製造物及び表面を有する異方性構造内の欠陥を容易に測定できる方法を提供する。例文帳に追加
To provide a method capable of easily measuring defects, present in anisotropic structures having complicated articles and surfaces. - 特許庁
端面発光型半導体レーザにおいて、導波路内に結晶欠陥を発生させることなく、有効な端面窓構造を形成すること。例文帳に追加
To form an effective edge window structure without generation of crystal defect within waveguide in a face emitting type semiconductor laser. - 特許庁
配線の断線によるライン状欠陥の発生を防止するとともに、画素の高開口率化が容易な構造を提供する。例文帳に追加
To provide a structure which prevents generation of line defects due to disconnection of wiring and also to facilitate a high aperture ratio of pixels. - 特許庁
欠陥が少なく、特性が優れたp−i−n構造の非晶質薄膜発光ダイオードを提供する。例文帳に追加
To provide an amorphous thin film light emitting diode of p-i-n structure having excellent characteristics and reduced defects. - 特許庁
コンクリート構造物内の欠陥部について、その種類、深さ又は厚み等の従来よりもさらに詳細な判定を行うこと。例文帳に追加
To perform more detailed determination than hitherto with respect to the kind, the depth, the thickness or the like of a defect part in a concrete structure. - 特許庁
簡単な構造で、金属イオンの受光部への侵入を抑制し、画像欠陥等の発生を抑制することができる半導体装置を提供する。例文帳に追加
To provide a semiconductor device having a simplified structure and capable of suppressing metal ions from entering an light reception section and image defects or the like from occurring. - 特許庁
脱バインダ工程において外観構造欠陥の発生を防止することができる、積層セラミック電子部品の製造方法を提供する。例文帳に追加
To provide a manufacturing method for a multilayer ceramic electronic component, which can prevent the occurrence of defects in external appearance and structure in a debinding process. - 特許庁
配線形成時の平坦化及び加工性能を向上させ、欠陥のない、高い平坦性を有する埋込み配線構造が得られるようにする。例文帳に追加
To improve an interconnecting line in flatness and processability so as to obtain an embedded wiring structure which is free from defects and highly improved in flatness. - 特許庁
誘電率が高いだけでなく、焼結性に優れており、デラミネーションなどの構造欠陥が生じ難い、誘電体磁器組成物を提供する。例文帳に追加
To provide a dielectric ceramic composition not only having a high dielectric constant but also excellent in sintering properties, and hardly causing structural defects such as delamination. - 特許庁
ゲルキャスト法を用いて作成する積層型インダクタにおいて、横隙間、横クラック等の構造欠陥をなくする。例文帳に追加
To eliminate structural defects such as a horizontal gap, a horizontal crack, in a layered inductor formed using a gel-cast method. - 特許庁
アクティブマトリクス液晶表示装置において、ダミーデータライン等の構造的な付加を行うことなく、効果的に帯状の欠陥を除去する。例文帳に追加
To effectively remove belt-like defects without structural addition such as a dummy data line, with respect to an active matrix liquid crystal display device. - 特許庁
欠陥ページバッファーからのデータ伝送が遮断されるワイヤードオア構造の不揮発性半導体メモリ装置である。例文帳に追加
The nonvolatile semiconductor memory device has a wired-OR structure in which the data transmission from the defective page buffer is blocked. - 特許庁
構造欠陥を抑制し、静電容量の温度特性を向上させることができる積層セラミックコンデンサを提供する。例文帳に追加
To provide a layered ceramic capacitor which can prevent structural defects and improve the temperature characteristic of capacitance. - 特許庁
炭化ケイ素中の結晶欠陥を低減することができるプロセスならびにその結果得られる構造体およびデバイスを提供すること。例文帳に追加
To provide a process which can reduce crystal defects present in silicon carbide, and provide a structure and device obtained from the process resultantly. - 特許庁
半導体素子の構造内部に発生する結晶欠陥を抑制してしきい値電流、動作電流、製造歩留まりや信頼性等を向上させる。例文帳に追加
To improve a threshold current, operation current, production yield, and reliability, etc., by suppressing crystal defects which occur inside the structure of a semiconductor element. - 特許庁
特にSOIデバイス・ウエハ上の、浮動体効果による局在欠陥を検出することができる半導体デバイス・モニタ構造を提供する。例文帳に追加
To provide a semiconductor device monitor structure which can detect localized defects due to floating-body effects, particularly on SOI device wafers. - 特許庁
エピタキシャル成長層に結晶欠陥層が生じにくい、ヘテロ構造基板の製造方法を提供すること。例文帳に追加
To provide a manufacturing method of a hetero structure substrate wherein a crystal defect layer is hardly generated in an epitaxial growth layer. - 特許庁
シリコン層における構造的な欠陥を不活性化し、低接触抵抗である金属被着膜を実現すること。例文帳に追加
To realize a metal deposition film having a low contact resistance by inactivating structural defects in a silicon layer. - 特許庁
撮像素子の構造を変えることなく、OB画素領域の画素欠陥によって画質劣化が起きるような状況下においても、画質劣化を軽減する。例文帳に追加
To reduce image degradation even in a state where pixel defect in an OB pixel region causes image degradation without changing the structure of an image sensor. - 特許庁
レーザ光を照射して欠陥画素を効果的かつ安定的に修復できる構造を有する液晶パネルを提供することを目的とする。例文帳に追加
To provide a liquid crystal panel having a structure which can effectively and stably repair a defective pixel by irradiating with laser light. - 特許庁
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