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欠陥構造の部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 860



例文

めっき液や水分が下地電極から内部に浸入するのを防止することができ、良好な耐湿性を有し、かつ構造欠陥を有さない積層セラミック電子部品を高効率で得ることができるようにする。例文帳に追加

To obtain with high efficiency a laminated ceramic electric component which can prevent a plating liquid or water from entering a ceramic raw body, has excellent humidity resistance, and does not have a structural defect. - 特許庁

これにより、乾燥に伴う体積収縮によって引き起こされる構造上の歪を乾燥が完了していない領域にとどめることができ人工結晶におけるクラックなどの欠陥の発生を効果的に防止する。例文帳に追加

Consequently, structural strain caused by a volume shrinkage due to the drying can be limited within an area where the drying is not completed to effectively prevent defects of artificial crystal such as a crack. - 特許庁

構造欠陥密度が低減され、真空紫外光照射時の透過率低下が少ないフッ化物単結晶の製造方法であって、結晶成長段階での精密制御を必要としない製造方法の提供を課題とする。例文帳に追加

To provide a manufacturing method of a fluoride single crystal little in the reduction of transmittance when an ultraviolet light is irradiated in vacuo by the reduction of the density of structural faults, and requiring no precision control in the stage of crystal growth. - 特許庁

本発明は、配列欠陥が少なく、規則性の高いコロイド粒子配列構造を簡便に作製するための方法および装置を提供することを課題とする。例文帳に追加

To provide a method for easily preparing a colloidal particle arrangement structure with few arrangement defects and high regularity, and an apparatus. - 特許庁

例文

各次数の回折光が小さい角度で生じる場合、特定の次数の回折光を検出する方法によらず、被検査物の周期構造欠陥を検出する装置を提供すること。例文帳に追加

To provide an instrument for measuring a defect of periodic structure in a inspected object, without depending on a method of detecting diffraction light of specified order, when the diffraction light of the each order is generated at a small angle. - 特許庁


例文

窒化物半導体積層体の結晶欠陥密度が低減可能な窒化物半導体の積層構造およびその製造方法並びに窒化物半導体装置を提供する。例文帳に追加

To provide a stacked structure of a nitride semiconductor that can reduce the crystal defect density of a nitride semiconductor stack, to provide a method of manufacturing the same, and to provide a nitride semiconductor device. - 特許庁

構造欠陥が改質されたことにより電荷輸送特性、およびエレクトロルミネッセンス素子特性が向上したアリレンビニレン系高分子材料を提供すること、更にそのような材料の改質方法を提供する。例文帳に追加

To provide an arylenevinylene-based polymeric material improved with its electric charge-transporting characteristics and elecrtoluminescent element characteristics by modifying its structural defects, and further a method for modifying such the material. - 特許庁

多層配線構造における再配線パターンに、段差による断線等の欠陥が生じないような半導体装置を製造する半導体装置の製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method of manufacturing a semiconductor device, the method manufacturing a semiconductor device which can prevent defect such as disconnection or the like caused by a step on a rewiring pattern in a multilayer wiring structure. - 特許庁

セルがタンデム型構造を有する場合においても短絡部を絶縁処理することが可能な薄膜光電変換モジュールの欠陥修復方法及び薄膜光電変換モジュールの製造方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a defect repair method of a thin film photoelectric conversion module where a shortcircuit part can be subjected to insulation treatment even if a cell has a tandem type structure, and a manufacturing method of the thin film photoelectric conversion module. - 特許庁

例文

セラミック部材の寸法に応じて最適の接合構造を採用することにより、接合部に切れや割れ等の欠陥が発生しにくく接合強度の高い金属−セラミック接合体を提供する。例文帳に追加

To provide a metal-ceramic joint body with high joint strength, hardly generating defects such as cuts or cracks by adopting optimum joint structure according to the size of the ceramic members. - 特許庁

例文

配線幅の変遷に影響されない、表面欠陥を実用可能なレベルよりさらに低いレベルまで低減できる基本的な結晶構造を具備したCu配線を有する半導体装置及びその検査技術を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor device which has a Cu wiring containing a basic crystal structure which is not affected by variation in wiring width and capable of reducing a surface defect to a level lower than a practicable level, and to provide its inspecting technique. - 特許庁

シートアタックなどの付随的な問題を伴うことなく、デラミネーションやクラック等の構造欠陥を抑止することができる、積層電子部品の製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a manufacturing method of a stacked electronic component capable of suppressing structural defects such as delamination and cracks without accompanying additional problems such as sheet attack. - 特許庁

TVカメラ自体が有する画素分解能よりも高い分解能を有する映像を作成することにより、欠陥の視認性を向上させた検査画像を得構造物の検査装置及びその検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a structure inspection apparatus and inspection method therefor which provides an inspection image in which the visibility of a defect is improved by preparing a video image having a resolution higher than a pixel resolution that a TV camera itself has. - 特許庁

支持又は担時フランジの構造欠陥があっても単純で安全な方法で作業パネルあるいは適切な作業環境に組み込むことができる、フランジ無しのガラスセラミック容器を備えた上記タイプの調理台を提供する。例文帳に追加

To provide a kitchen table provided with a flangeless glass ceramic container, integratable into a work panel or into an appropriate work environment in a simple and safe way even in the presence of defects in the supporting or bearing flanges. - 特許庁

内部電極と外部電極の導通信頼性を損なうことなく、デラミネーションやクラックなどの構造欠陥の発生を防止することが可能な積層セラミック電子部品及びその製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a laminated ceramic electronic component in which the generation of any structural defect such as delamination or crack can be prevented without damaging the continuity reliability of an internal electrode and an external electrode, and a method for manufacturing this. - 特許庁

群屈折率が大きく、かつ、群屈折率の波長分散が一定若しくは小さい領域が実用レベルの帯域で保たれたフォトニック結晶による線欠陥導波路構造を有する光遅延素子を提供する。例文帳に追加

To provide an optical delay element having a line defect waveguide structure made of photonic crystal wherein a group refractive index is high and a region where wavelength dispersion is fixed or small of the group refractive index is kept as a band of practical level. - 特許庁

画像形成層が積層構造になっている感熱性ポジ型平版印刷版からの製版において、画像部に欠陥なく高鮮鋭で鮮明な画像を形成する方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for forming high sharpness clear images free from defects in the image area, in plate making from a thermosensitive positive planographic printing plate in which an image forming layer has a multilayer structure. - 特許庁

電子部品用生素体に構造欠陥が発生しにくく、かつ電子部品用生素体を焼成して得られる電子部品用素体が変形しにくい積層セラミック電子部品の製造方法を得る。例文帳に追加

To obtain a method for manufacturing a layered ceramic electronic component in which structure defects are hardly made in the material for the electronic part, and the material for an electronic part obtained by baking the material for the electronic part is hardly deformed. - 特許庁

比較的単純な積層構造で、十分な引張り歪みを有し、かつ結晶欠陥の少ない歪みSi層が形成された半導体ウェーハの製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method of manufacturing a semiconductor wafer which has a comparatively simple laminate structure and a sufficient tension strain, and in which few strain Si layers of a crystal defect are formed. - 特許庁

格子パターンのPDPリブやその他の微細構造体を製造するのに有用で、気泡の発生、パターンの変形等の欠陥を伴わないで高精度に製造できる可とう性成形型を提供すること。例文帳に追加

To provide a flexible molding die useful for manufacturing a microstructure body such as a PDP rib of a lattice pattern and capable of manufacturing in high accuracy without generating bubbles and without entailing any defects such as a pattern deformation. - 特許庁

被転写基板の形状の波長が大きく異なる反り及び表面突起(異物)の双方に同時に追従し、欠陥が少なく均一な転写を行うことができる新規な構造を有するナノインプリント用スタンパを提供する。例文帳に追加

To provide a nanoimprint stamper having novel structure capable of following simultaneously both a warpage and a surface protrusion (foreign matter) different in shape wavelengths of a substrate to be transferred, and allowing uniform transfer of reduced defect. - 特許庁

複合電極は、有機電子デバイスの構造における短絡のような欠陥の悪影響を軽減することができ、発光デバイス又は光起電デバイス中に含むことができる。例文帳に追加

The compound electrode can mitigate adverse effects of defects, such as short circuits in the construction of the organic electronic devices, and can be included in light-emitting devices or photovoltaic devices. - 特許庁

目封じ部にヒケ欠陥が発生したり、或いは目封じ部を貫通する穴が開いてしまう事態を有効に防止し得るハニカム構造体の製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for manufacturing a honeycomb structure which can effectively prevent the occurrence of a sink defect in a seal part or the opening a hole penetrating the seal part. - 特許庁

有効表示面内の誘電体塗布層表面に凹凸欠陥が発生することを抑制することができるプラズマディスプレイパネルの製造方法と電極構造を提供する。例文帳に追加

To provide a method of manufacturing a plasma display panel and an electrode structure of a plasma display panel capable of suppressing occurrence of unevenness defect on the surface of a dielectric coating layer in an effective display face. - 特許庁

微細な凹凸構造を持つ反射防止層に欠陥を生じさせない効率的な反射防止フィルムの製造方法及び製造装置を提供する。例文帳に追加

To provide an efficient method of manufacturing an antireflection film which does not cause a defect in an antireflection layer having a fine rugged structure and to provide a manufacturing apparatus. - 特許庁

ナノメートル範囲の非常に高い分解能に対しても、基板に対し、可能な限り欠陥のない構造を付与することができる方法および装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method and a device which can apply structures as free of faults as possible to substrates, even for very high resolutions in the nanometer range. - 特許庁

半導体基板に結晶欠陥が発生することを抑制することができ、素子分離性能を十分に発揮する素子分離構造を形成できる半導体装置の製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method of manufacturing a semiconductor device that suppresses generation of a crystal defect in a semiconductor substrate and forms an element isolation structure sufficiently exhibiting element isolation performance. - 特許庁

半導体膜のピンホールや傷等の構造欠陥に対して、絶縁樹脂を選択的に充填することにより不良を極力抑えた光電変換装置及びその作製方法を提供する。例文帳に追加

To provide a photoelectric conversion device having defects suppressed as much as possible by selectively filling a structure defect such as a pin hole or a crack of a semiconductor film with an insulation resin, and a manufacturing method of the photoelectric conversion device. - 特許庁

鋳込み時においても十分な熱間強度を有し、ガス欠陥の低減効果に優れた鋳物を得ることが可能な鋳物製造用構造体を提供すること。例文帳に追加

To provide a structure for producing a casting, which has sufficient hot strength during casting and can produce a casting having an excellent effect of lessening gas defects. - 特許庁

量子井戸構造体を含むものであり、結晶欠陥の発生を抑制しつつ、感度を向上させることができる温度センサ、及びその温度センサの製造方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a temperature sensor containing a quantum well structure capable of improving sensitivity while controlling the generation of crystal defect, and to provide a method of manufacturing the temperature sensor. - 特許庁

従来構造のバッファ層を用いた場合よりも、結晶欠陥を低減しつつウェハの反りを極めて小さくでき、バッファ層上に形成されたGaN層も厚膜化できるエピタキシャルウェハを提供する。例文帳に追加

To provide an epitaxial wafer capable of greatly reducing wafer warpage while reducing a crystal defect, and increasing thickness of a GaN layer formed on a buffer layer, as compared to the case that uses the buffer layer of a conventional structure. - 特許庁

複合電極は、有機電子デバイスの構造における短絡のような欠陥の悪影響を軽減することができ、発光デバイス又は光起電デバイス中に含むことができる。例文帳に追加

The compound electrode can mitigate the adverse effects of defects, such as short circuit, in a structure of the organic electronic device, and can be included in a light-emitting device or photovoltaic device. - 特許庁

焼成後のクラックやノンラミネーション等の構造欠陥を有効に防止でき、かつ耐圧不良が改善された積層セラミック電子部品の製造方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a method of manufacturing a laminated ceramic electronic component, which effectively prevents structural defects such as cracking, non-lamination, etc., after being fired, and remedies breakdown voltage defects. - 特許庁

電子部品の構造欠陥を抑えることが可能な導電性ペーストおよびこの導電性ペーストから形成される内部電極層を有する電子部品の製造方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a conductive paste capable of suppressing a structural defect of an electronic component, and to provide a producing method for the electronic component having an inner electrode layer formed of the conductive paste. - 特許庁

本発明の課題は、微細な凹凸パターンの転写用の樹脂膜を、基板上に非常に薄く、かつ均一に形成することができ、欠陥の発生を低減した微細構造体の製造方法を提供することにある。例文帳に追加

To provide a method for producing a fine structure by which a resin film for transferring a fine uneven pattern is formed on a substrate very thinly and uniformly, and defects can be reduced. - 特許庁

スプレーコート法により、良好な多孔質構造を有し、膜欠陥や膜表面荒れといった外観上の問題がなく、低屈折率性等の機能性、耐久性に優れたシリカ系多孔質膜を安定に製造する。例文帳に追加

To provide a method for stably producing, by a spray coating method, a porous siliceous film having a good porous structure, free of problems on the appearance, such as film defects and film surface roughness, and showing excellent functionalities, such as a low refractive index and excellent durability. - 特許庁

液体中に配置された被検査構造物に発生した欠陥を、複数の振動子が線状に配列されたフェーズドアレイ探触子の電子制御により焦点位置を調整して非接触で検査する超音波探傷装置である。例文帳に追加

The ultrasonic flaw detection device inspects a flaw generated in an inspection target structure arranged in a liquid without contact by adjusting a focus position by an electronic control of a phased array probe for which a plurality of vibrators are linearly arrayed. - 特許庁

SOI基板を用いてトレンチ素子分離構造を適用した場合、トレンチ側壁の酸化時にトレンチコーナー部の酸化膜が薄膜化し、応力集中により素子領域の半導体層に達する結晶欠陥が発生する。例文帳に追加

To solve the problem that when an SOI substrate is used and a trench element isolation structure is applied, an oxide film at a trench corner part becomes thin during oxidation of a trench sidewall to generate a crystal defect reaching a semiconductor layer in an element region owing to stress concentration. - 特許庁

探傷センサのセンサ面と被検査物の内周面との距離を簡単な構造で一定に維持して、前記内周面の表面及び内部の欠陥を高精度に検出できること。例文帳に追加

To detect the surface and inner flaws of the inner peripheral surface of an object to be inspected with high precision by keeping the distance between the sensor surface of a flaw detection sensor and the inner peripheral surface of the object to be inspected constant by a simple structure. - 特許庁

MHD対向流による鋳片のセンター部の表面欠陥発生率を効果的に減少させることができ、しかも構造が簡単でメンテナンスも容易な浸漬ノズル及びこれを用いた連続鋳造方法を提供する。例文帳に追加

To provide an immersion nozzle capable of effectively reducing the generation rate of surface defects in the center part of a cast slab, which are caused by MHD countercurrents, and of which the structure is simple and the maintenance is easy, and to provide a continuous casting method using the immersion nozzle. - 特許庁

有機発光素子を用いた表示装置において、点欠陥等の発生を抑えた良好な表示性能を確保し、かつ長期信頼性を高めることができる構造を提案する。例文帳に追加

To provide a structure in which an excellent display performance is secured by controlling generation of a point defect or the like and a long term reliability can be improved in a display device using an organic light emitting element. - 特許庁

第1高抵抗層22Aに存在する欠陥を第2高抵抗層22Bにより補完し、構造の均一性を向上させ、複数の記憶素子1の初期状態または消去状態の抵抗値のバラツキを低減する。例文帳に追加

Defects in the first high-resistance layer 22A are complemented by the second high-resistance layer 22B, to improve constitutional uniformity, and to reduce the irregularities in the resistance value in the initial state and the erased state of a plurality of storage elements 1. - 特許庁

研磨工程に起因するクラックなどの構造欠陥の発生が抑制された積層セラミックコンデンサなどの積層型電子部品を製造する方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a method for manufacturing a laminated electronic component such as a laminated ceramic capacitor in which structural defects such as cracks caused in a polishing step are suppressed. - 特許庁

第2の検査においては、偏光された光が、同じ構造によって90°回転され、その結果、ボトル内の応力の結果として回転された光のみが、偏光器を通過し、欠陥としてカメラ上に結像する。例文帳に追加

In a second inspection, the polarized light is rotated by 90° by the same structure, and only the rotated light is passed resultingly through the polarizers as a result of a stress on the inside of the bolt to be image-focused on the camera as a defect. - 特許庁

配線間のショート欠陥を容易に修理できるようにした有機電界発光表示装置の配線修理構造及びその修理方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a structure for repairing a line defect of an organic light emitting display, which easily repairs a short defect between wiring lines, and also to provide a method of repairing the structure. - 特許庁

セラミック塗料層が極薄層になった場合でも、構造欠陥のない高品質のセラミック電子部品を製造し得る製造方法および製造装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method for manufacturing a high-quality ceramic electronic component having no structural defect which can manufacture the electronic component, even in the case where a ceramic paint layer is changed into an extra-thin layer, and to provide a manufacturing device for the electronic component. - 特許庁

打音法と同等の利便性と実時間での欠陥有無の判別を可能とするとともに、衝撃弾性波法に匹敵する高精度さを併せ持つコンクリート構造物の診断方法を提供する。例文帳に追加

To provide a diagnosing method of a concrete structure having utility equal to that of a percussion method, capable of discriminating the presence and absence of a flaw in a real time and also having high-precision corresponding to an impact elastic wave method. - 特許庁

接合部にルート割れ等の接合欠陥が発生することを防止し、これにより高い強度的信頼性を有する突合せ継手構造を提供すること。例文帳に追加

To provide a butted joint structure having high strength reliability by preventing the generation of a joining defect such as a root crack in a joining part. - 特許庁

誘電体層の薄層化や多層化が進んでも、クラックなどの構造欠陥の発生が抑制された積層セラミックコンデンサなどの積層型電子部品の製造方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a stacked electronic component such as a stacked ceramic capacitor in which the occurrence of structural defects such as cracks is suppressed even when a dielectric layer is reduced in thickness or has an increasing number of layers. - 特許庁

例文

筒状構造を有する固体試料の仕上がり寸法の計測や、管内面の表面に存在する微小な表面欠陥の検出などの手段を提供する。例文帳に追加

To provide a means for measuring the finish dimension of a solid sample having a cylindrical structure or detecting a minute surface defect present on the inner surface of a tube. - 特許庁

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