「欠陥構造」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

埋設状態にあるコンクリート構造物の欠陥の検出に適用され、送受信されるＳＨ波の伝達効率に優れ、その欠陥を精度よく容易に検出できるコンクリート構造物の欠陥検出方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method of detecting a defect of a concrete structure which is applied to the detection of a defect of a concrete structure which is laid underground, and is excellent in the transmission efficiency of SH wave which is transmitted and received, and can detect the defect with high precision easily. - 特許庁

Ｘ軸方向に配置された複数のゲート線４ａ，４ｂ，４ｃ，４ｄと、Ｙ軸方向に配置された複数のデータ線３ａ，３ｂとが格子状に交差している構造を有してなるマトリクス構造１００の欠陥検出方法であって、点状欠陥１１を線状の欠陥にして検出することを特徴とする。例文帳に追加

The defect detection method of matrix structure 100 which has structure of grid-like crossing a plurality of gate lines 4a, 4b, 4c and 4d arranged in X-axis direction and a plurality of data lines 3a and 3b arranged in Y-axis direction, which detects point-like defects 11 as linear defects. - 特許庁

耐紫外線性のために水素分子を石英ガラス中に含有させても、構造欠陥をターミネートする効果があるのみで、構造欠陥の生成そのものを抑制することができない。例文帳に追加

To solve such a problem that even if hydrogen molecule is added to quartz glass for ultraviolet resistance, the addition has only a terminating effect on a structural defect but is incapable of suppressing the formation of structural defect. - 特許庁

半導体層を形成する半導体層の形成方法において、半導体層中の構造欠陥を抑制する構造欠陥抑制物質を、当該半導体層が形成される物質層の表面に供給する。例文帳に追加

With this method for forming a semiconductor layer, a structural defect suppressing substance which suppresses structure defects in the semiconductor layer is supplied to then top surface of a substance layer, where the semiconductor layer is formed. - 特許庁

さらに、透明電極層を形成した後に熱処理を施し、バッファ層ないし光吸収層、又は透明電極層の結晶構造中に存在する点欠陥等の欠陥を修復して元の結晶構造に復元する。例文帳に追加

Further, heat treatment is performed after the transparent electrode layer is formed to repair defects such point defects present in the crystal structure of a buffer layer, a light absorbing layer, or the transparent electrode layer for restoration of the original crystal structure. - 特許庁

例えば、前記線欠陥を挟む両側の格子点上の構造体の線欠陥中央側の側壁間の幅を、当該構造体の前記端からの距離が大きいほど狭くする。例文帳に追加

For instance, width between sidewalls on the linear defect center side of the structure on lattice points between both the sides holding the linear defects between them is gradually narrowed in accordance with the increase of distances from the end of the structure. - 特許庁

しかしながら、透過膜１にピンホール等の構造欠陥が存在する場合、ヘリウムは周壁部を透過するよりも先に構造欠陥部分を通じてガス流通経路３側に流出し、スニファープローブ６に入る。例文帳に追加

If the permeable membrane 1 has a structural defect such as a pinhole, helium flows out to the gas flow passage 3 side through the structural defect portion and reaches the sniffer probe 6 before it permeates the peripheral wall section. - 特許庁

被検体の無破壊試験で被検体の構造の欠陥の超音波によって生じる信号の処理のための回路装置において、被検体の構造の欠陥を高速度で、かつ改善された信号雑音比で検出すること。例文帳に追加

To detect defects on the structure of a test object speedily and with an improved signal noise ratio in a circuit device for processing signals which are generated from the defects on the structure of the test object by ultrasonic waves during the nondestructive test of the test object. - 特許庁

フォトニック結晶の導波路領域は第１の基本構造と第１の欠陥部を、モード変換領域は第２、第３の基本構造と第２の欠陥部を有する。例文帳に追加

The waveguide region of the photonic crystal has a first basic structure and a first defect part, the mode transformation region of the photonic crystal has second and third basic structures and a second defect part. - 特許庁

非破壊、簡便且つ短時間で、セラミック構造体の内部欠陥の位置や大きさが分かるだけでなく、内部欠陥の正確な位置や形状及び大きさも把握することができるセラミック構造体の検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide an inspection method for a ceramic structure, capable of not only knowing a position and a size of an internal defect of the ceramic structure but also grasping an accurate position, shape and size of the internal defect, nondestructively and easily in a short time. - 特許庁

本発明による原子炉構造物の補修方法は、表面に亀裂状欠陥の発生している金属材料を有する原子炉構造物の補修方法であって、まず、該亀裂状欠陥表面に貴金属材料体を設ける。例文帳に追加

In this repair method of the reactor structure, which is a repair method of the reactor structure having the metal material on whose surface the crack defect is generated, first of all, a noble metal material is provided on the crack defect surface. - 特許庁

光波長程度の周期を持ち無欠陥或いは欠陥のあるフォトニック構造体として使用し得る屈折率周期構造体の簡易な製造方法である。例文帳に追加

To provide a method for easily producing a periodic index structure having a period nearly equal to light wavelength and usable as a defect-free or defective photonic structure. - 特許庁

構造欠陥のない積層セラミックコンデンサおよび構造欠陥の有る積層セラミックコンデンサについて、１ｋＨｚ以下の測定周波数たとえば１ｋＨｚの測定周波数でＱ値を測定する。例文帳に追加

A Q-value is measured at a measurement frequency of 1 kHz or lower, for example 1 kHz, for laminated ceramic capacitors with no structural defect and those with a structural defect. - 特許庁

液体中に存在する構造物の表面開口欠陥を、周辺を部分的に気中状態にすることなく簡易に観察できる構造物欠陥検出方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method of detecting structure defects capable of simply observing the surface opening flaw of the structure present in a liquid by turning the periphery not partially aerial. - 特許庁

光波長程度の周期を持ち無欠陥或いは欠陥のあるフォトニック構造体として使用し得る屈折率周期構造体、その応用機能素子、及びそれらの簡易な製造方法である。例文帳に追加

To provide a structure with refractive index period capable of being used as a photonic structural body without or with a defect having a period equal to that of an optical wavelength, its applied functional element and a simple method for manufacturing those. - 特許庁

一実施形態において、発光素子は、基板、基板上に配置された核形成層、核形成層の上方に配置された欠陥低減構造、及び、欠陥低減構造の上方に配置されたｎ型III族窒化物半導体層を含む。例文帳に追加

In one embodiment, this light-emitting element contains a substrate, a nucleating layer arranged on the substrate, a defect-reducing structure arranged above the nucleating layer, and an n-type group III nitride semiconductor layer arranged above the structure. - 特許庁

インバース構造において、欠陥ボリュームが制御された欠陥が導入された三次元フォトニック結晶などのための微粒子構造体、構造体全体の繰り返しを乱すことなく、局所的に欠陥が導入された周期的な微粒子構造体、このような三次元周期構造体を用いた導波路ならびに共振器を提供すること。例文帳に追加

To provide a particulate structure for a 3-dimensional photonic crystal or the like into which a defect, in which a defective volume is controlled, is introduced in an inverse structure, to provide a periodic particulate structure into which a defect is introduced locally without disturbing the global repetition of the structure and to provide a waveguide and a resonator using the 3-dimensional periodic structure. - 特許庁

配線工程で重要な要素である、配線抵抗、断線及びショート欠陥、およびスルーホールのプロセスを低コストで、欠陥レベルを評価し、検出した欠陥箇所の探索効率を向上するための最適なＴＥＧ構造を提供する。例文帳に追加

To provide a TEG structure optimal for evaluating the defect level in the important components of an interconnection process, i.e., interconnect resistance, open circuit and short circuit defect, and through hole process, at a low cost and enhancing the location efficiency of a detected defect. - 特許庁

欠陥深さを初期の段階で精度良く測定することができ、運転プラントにおける圧力容器や構造物等の健全性の評価、初期欠陥検出による欠陥の進展評価、残存寿命の推定を行うことができるようにする。例文帳に追加

To accurately measure a flaw depth in an initial stage so as to evaluate safety, flaw development based on initial flaw detection, and a remaining lifetime of a pressure vessel, a structural body, and the like in an operation plant. - 特許庁

検査対象構造物の表面に検出された欠陥の局部的範囲を走査し、欠陥の種別に応じた例えば亀裂の結晶粒界との一致度のような特徴的な特性量を計測し、この計測された検出信号をデータベースのデータと比較し欠陥種別を判定する。例文帳に追加

The defect inspection apparatus scans a local region of a defect detected on the surface of the inspected structure, measures the quantity of a characteristic property corresponding to a type of the defect such as the coincidence with a crystal grain boundary of the crack, compares a measured detection signal with a database data and determines a type of the defect. - 特許庁

試料の設計情報を用いて形成される回路パターンの配置や上下関係などの構造を解析し、解析結果をもとに欠陥画像から良品画像を作成し、比較検査により欠陥を検出することができる欠陥観察装置を提供する。例文帳に追加

To provide a device for observing defects capable of analyzing the arrangement and the hierarchical relationship of a circuit pattern formed using the design information of a sample, creating a non-defective image from a defective image based on the analysis results, and detecting the defects by comparison checking. - 特許庁

結晶欠陥がない垂直メサ構造のリッジストライプ構造を有するリッジ導波路型半導体レーザ素子の製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method of manufacturing a ridge waveguide type semiconductor laser device which has a vertical mesa ridge stripe structure without crystal defects. - 特許庁

干渉露光法で精度高く露光した周期的配列構造のパターン中の一部分が現像されるようにして、構造欠陥を導入すること。例文帳に追加

To introduce a structural defect by developing a portion in the pattern of the periodic array structure exposed with high precision by an interference exposure method. - 特許庁

このシステム（１０）は、音信号を構造（１２）の中に結合するトランスデューサ（１４）を含み、構造（１２）の中で音信号は、欠陥を加熱させる。例文帳に追加

This system 10 includes a transducer 14 for coupling a sound signal into a structure 12, and the sound signal heats a defect in the structure 12. - 特許庁

封口前のハニカム構造体の隔壁の欠陥を容易に検出できるハニカム構造体の検査方法及び検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method and device for inspection of a honeycomb structure capable of easily detecting defects of the partition wall in the honeycomb structure before sealing. - 特許庁

コンクリート構造物中或いはコンクリート構造物背後に存在する欠陥の有無を、明瞭に判定し得る方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a method for deciding the presence of a defect clearly in a concrete structure or behind the structure. - 特許庁

薄壁のハニカム構造体を乾燥しても、乾燥時にリブよれ等の欠陥の発生しないハニカム構造体の乾燥方法を提供する。例文帳に追加

To provide a process of drying a honeycomb structure free from defects such as being ribbed even at the time of drying a thin-walled honeycomb structure. - 特許庁

溶接欠陥による破断が生ぜず、しかも構造が簡単な鋼管柱とＨ形鋼製梁の接合構造及び接合方法を提供する。例文帳に追加

To provide a joining structure and a joining method for a steel pipe column and an H-steel beam which will not cause breakage due to a welding defect and is simple in structure. - 特許庁

亀裂の進展に関する構造物内部の残留応力を求め得る構造物の欠陥評価方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a defect evaluation method for a structure capable of obtaining a residual stress inside the structure relating to the growth of a crack. - 特許庁

セル壁で画成されたセルを備えたハニカム構造体の欠陥の検査方法であって、前記ハニカム構造体に入射され、該ハニカム構造体を伝播した音響信号の情報に基づいて前記欠陥を検出するハニカム構造体の検査方法。例文帳に追加

The inspection method of the honeycomb structure having a cell defined by a cell wall detects the defect on the basis of sound information incident to and propagated by the honeycomb structure. - 特許庁

この一時的欠陥管理領域には、最初の書き込みで、書き込みに成功したクラスタからなる欠陥領域リスト(1)、書き込みのリトライで、書き込みに成功したクラスタからなる欠陥領域リスト(2)、前記構造情報を含む最後のクラスタに含まれる欠陥領域リスト(3)の順に並べられている部分がある。例文帳に追加

The temporary defect management area includes a portion where a defective area list 1 constituted of clusters succeeded in first writing, a defective area list 2 constituted of clusters succeeded in writing retrial, and a defective area list 3 included in a last cluster including the structure information area are arrayed in order. - 特許庁

被覆金属層２０に存在する結晶構造上の欠陥２１を保護材で埋めることによって、欠陥２１に起因する水素透過膜の水素透過性能の低下を抑制または防止する。例文帳に追加

By burying a protective material in crystal structural defects 21 existing in the coating metallic layer 20, lowering of hydrogen permeability through the hydrogen permeable membrane caused by the defects 21 can be suppressed or prevented. - 特許庁

前記グラファイト状物質は６員環炭素が欠落した６つの炭素空孔からなる欠陥を有し、この欠陥に前記ダイマー分子が嵌め込まれた複合体構造を有する燃料電池用触媒。例文帳に追加

The catalyst for a fuel cell has a composite body structure where the graphite-like substance has a defect comprising six carbon vacancies with a missing six-membered carbocyclic ring, and the dimer molecules are fitted in the defect. - 特許庁

欠陥の入る位置によることなく、それら欠陥に起因する薄膜構造部の破壊耐量の低下を好適に抑制することのできる半導体センサを提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor sensor capable of inhibiting suitably lowering a proof amount against the destruction of a thin film structural part caused by defects regardless of positions of the defects. - 特許庁

欠陥の少ない微粒子配列構造体の製造方法、欠陥の少ない光学媒体の製造方法、及びこれらの製造に用いる製造装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a production method for particulate arrangement structure with little defect, a production method for optical media with little defect, and production apparatuses used for production thereof. - 特許庁

電気的に機能を共有する画素構造である場合、他の機能を共有する画素も欠陥画素となる可能性が高いことを考慮して欠陥画素を検出する撮像装置を提供する。例文帳に追加

To provide an imaging device that detects defective pixels in an electrically function-sharing pixel structure while considering that the probability that a pixel sharing another function is a defective pixel is high. - 特許庁

アモルファス・セレン（ａ−Ｓｅ）半導体厚膜形成時に潜在的に生成される構造欠陥と、欠陥の電荷捕獲中心への変化を最低限に抑えて、感度が劣化しない大面積Ｘ線検出器を提供する。例文帳に追加

To provide an X-ray detector with a large area which does not degree by suppressing a minimum structural defect latently produced during forming an amorphous-selenium (a-Se) semiconductor thick film and a variation in the defect to a charge capture center. - 特許庁

方法は、複合構造上の欠陥の場所を規定する位置データに電子的にアクセスするステップと、材料配置機械が位置データによって規定された欠陥の場所に自動的に戻るようにさせるステップとを含む。例文帳に追加

The method includes a step to electronically access position data specifying a place of defect on a composite structure, and a step to make the material stationing machine automatically returning to the place of defect specified by the position data. - 特許庁

さらに、フォトニック結晶欠陥導波路を構造の一部に有する電磁波伝送における分岐器、結合器および方向性結合器等のフォトニック結晶欠陥デバイス。例文帳に追加

Further, the photonic crystal defect device contains a turnout, a coupler and a directional coupler which have the photonic crystal defect waveguide on one part of the structure. - 特許庁

アンダーカット構造を持つレベンソン型位相シフトマスクの欠陥に対して、光量の低下が起こらないような高精度な欠陥修正を行う。例文帳に追加

To accurately eliminate a defect in a Levenson type phase shifting mask having an undercut structure in such a way as not to cause lowering of light intensity. - 特許庁

最大欠陥寸法を推定する際の安全率の設定基準を明確とし、所望の裕度を考慮した構造設計や強度評価が可能となる欠陥寸法推定方法及び装置を提供する。例文帳に追加

To provide a defective dimension estimating method an a device therefor in which the setting standard of safety factor is made clear when the maximum defective dimension is estimated, and structural designing and strength evaluation in consideration of desired tolerance are performed. - 特許庁

このフォトニック結晶構造は、複数の空孔９に挟まれて空孔９が存在しない線欠陥部１０を有し、線欠陥部１０が光導波路として機能する。例文帳に追加

The photonic crystal structure has a line defect portion 10 where no hole 9 is present, interposed by the plurality of holes 9, and the line defect portion 10 serves as an optical waveguide. - 特許庁

熱を発する溶接構造物を対象として、遠隔操作によって溶接部における横割れの欠陥と縦割れの欠陥とを容易に判別して探傷可能とする。例文帳に追加

To enable inspection of flaws by readily discriminating lateral crack flaws and vertical crack flaws in a welded section by remote operation with respect to a heat emitting welded structure. - 特許庁

これらの配線間にショート欠陥４２が存在すると、レーザビーム３により熱起電力発生構造２１が照射された際に発生する熱起電力により電流がショート欠陥４２を通じて流れる。例文帳に追加

If a short defect 42 is present between the wirings, a thermo- electromotive force developed when the thermo-electromotive force generating structure 21 is irradiated with a laser beam 3 allows a current to flow through the short defect 42. - 特許庁

アモルファス・セレン（ａ−Ｓｅ）半導体厚膜形成時に潜在的に生成される構造欠陥と、欠陥の電荷捕獲中心への変化を最低限に抑えて、感度が劣化しない大面積Ｘ線検出器を提供する。例文帳に追加

To provide a large-area X-ray detector which minimizes the structural defects that are potentially generated at the formation of an amorphous selenium (a-Se) semiconductor thick film, minimizes the changes in defects, as nearing the charge trapping center, and the sensitivity of which will not deteriorate. - 特許庁