「欠陥部分」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

所定の範囲を超えて他の部分と輝度が異なる部分を欠陥として特定できる。例文帳に追加

Thereby, a part having a luminance different from that of other parts over a predetermined range can be determined. - 特許庁

欠陥除去装置１４ａは、欠陥選択装置１５ａからの情報に基づき、欠陥部を含む領域を部分的に研削、あるいは切削により除去する。例文帳に追加

The regions including defective parts are removed by partially grinding or cutting on the basis of the informations from the defect selecting apparatus 15a with a defect removing apparatus 14a. - 特許庁

欠陥画素の存在する撮像素子において、細かい絵柄の被写体を撮像した場合にも、欠陥画素部分が周囲の画素と比較して不自然になることを防止する欠陥画素の補正方法及び装置を提供する。例文帳に追加

To provide a defective pixel correction method and apparatus for preventing a defective pixel portion from getting unnatural in comparison with surrounding pixels even when an object with a fine picture pattern is imaged in an imaging device in which a defective pixel is present. - 特許庁

これにより、光線が基板内を伝わり内部欠陥に遭遇した場合、欠陥部分に明点が形成され、イメージセンサモジュールがこの欠陥の位置を検出する。例文帳に追加

Thereby, because a bright spot is formed at the defect part when the light beam propagates inside of the substrate to encounter the internal defects, the image sensor module can detect the defect part. - 特許庁

マーキングエリアでの欠陥部分の位置の認識精度を向上させることで歩留りを下げることなく、かつ、目視検査の工数を削減できるフィルム用欠陥マーキング装置及び欠陥マーキング方法を提供する。例文帳に追加

To provide a defect marker and a defect marking method for films with improved accuracy in recognizing the location of a defect in a marking area, thus capable of preventing reduction of yield and reducing man-hours required for a visual inspection. - 特許庁

深層部分及び欠陥胴体部の欠陥検出が可能で、欠陥の識別及び評価を高精度に行うことが可能な渦電流探傷センサを提供する。例文帳に追加

To provide an eddy current flaw detection sensor capable of detecting a defect on a deep part and on a defective shell part, and discriminating and evaluating the defect highly accurately. - 特許庁

カラーフィルタの欠陥箇所にインクを塗布するためのカラーフィルタ欠陥修正用針であって、針先端の近くに撥水加工を施した部分が形成されているようにしたカラーフィルタ欠陥修正用針。例文帳に追加

The stylus for color filter defect correction is a stylus for color filter defect correction for applying ink to a defective place of a color filter and has a part, made water-repellent, nearby its tip. - 特許庁

欠陥画素の周囲の色が薄い場合や無彩色の被写体像を撮像した場合に、欠陥画素部分が有彩色になることを防止する欠陥画素の補正方法を提供する。例文帳に追加

To provide a defective pixel correcting method for preventing a defective pixel portion from being colored when the color around a defective pixel is pale or a colorless subject image is captured. - 特許庁

材料配置機械が欠陥部分に自動的に戻り、手動による欠陥修復を可能にするか、または、オペレータの介入なしに欠陥を修復することを可能にする、システムおよび方法を提供する。例文帳に追加

To provide a system and a method enabling repair of a defect manually or without operator intervention by automatic return of a material stationing machine to a defective part. - 特許庁

鋼板を圧延しながら鋼板に現れる表面欠陥を簡単且つ容易に検出でき、且つ欠陥部分を切断しなくてもコイルとして出荷された後で欠陥の種類とグレード及び欠陥の位置情報を確認できるようにすることにある。例文帳に追加

To provide a method and equipment capable of detecting simply and easily surface defects appearing in steel strip being rolled and confirming information on kinds, grades and positions of the defects without cutting the defective portions after the sheet steel has been shipped in the shape of a coil. - 特許庁

欠陥画像処理装置は、設計データから得られるレイアウト画像５２と、欠陥画像５３から欠陥領域部分を除去した画像と、を正規化相互相関により画像マッチングし、そのマッチング結果として、レイアウト画像＆欠陥画像５４を表示装置に表示する。例文帳に追加

A defect image processing device performs image matching by normalized cross correlation between the layout image 52 obtained from the design data and an image obtained by removing a defect region part from the defect image 53, and displays a layout image and defect image 54 as a matching result on a device. - 特許庁

このとき得られるデジタルな画像をもとに、評価部８１は赤外カットフィルタ１０の検査部分に欠陥があるか否かを評価し、欠陥がある場合には、その欠陥の位置、大きさ、形状などの欠陥の状態をＨＤＤ８２に記録する。例文帳に追加

An evaluation part 81 evaluates the presence of the defect in the inspection portion of the infrared cut-off filter 10, based on a digital image obtained therein, and records a state of the defect such as a position and a size a shape of the defect, in an HDD 82, when the defect exists. - 特許庁

欠陥表示装置４は、目視検査装置３において目視検査を行う基板の基板ＩＤに基づいて自動欠陥検査装置２で取得された画像及び欠陥情報を記憶部４１から読み出して、画像に対して欠陥部分を強調表示する。例文帳に追加

A defect display device 4 reads the image and the defect information obtained by the automatic defect inspection device 2 from the storage part 41 on the basis of the substrate ID of a substrate to be visually inspected in a visual inspection device 3, and highlights a defect part with respect to the image. - 特許庁

特に、暗い背景にある暗い欠陥および／または明るい背景にある明るい欠陥などの欠陥を複合構造の照らされた部分の画像を捕捉することによって識別することのできるように光源を設けることで、複合構造内の欠陥を識別するための改良されたシステムを提供する。例文帳に追加

To provide an improved system for identifying defects in a complex structure, by providing a light source so that defects, such as dark defects at a dark background and/or bright defects at a bright background, can be identified by capturing an image at an illuminated part in the complex structure. - 特許庁

これによって、検査用電極手段６の孔６１に配設された部分に欠陥が存在する場合、その欠陥部で放電するため、欠陥が検査用電極手段６の孔６１に配設された圧電体チューブ３に存在することを特定できるとともに、欠陥部にマークをつけることができる。例文帳に追加

Thereby, when there exists a defect at the portion provided in the hole 61 of the inspection electrode means 6, discharge is made at the defective part, thereby a defect of the piezoelectric tube 3 provided at the hole 61 of the inspection electrode means 6 can be identified, and a mark can be made at the defective part. - 特許庁

巨大黒欠陥であっても効率的に修正することができ、特にグレートーンマスクの半透光部に発生した黒欠陥を欠陥部分の半透光膜にダメージを与えることなく好適に修正できるフォトマスクの欠陥修正方法を提供する。例文帳に追加

To provide a defect correction method of photomasks that efficiently corrects even huge black defect, and can suitably correct, in particular, a black defect occurring a transflective part of a gray-tone mask without damaging a transflective film in the defect part. - 特許庁

有機ＥＬ素子の欠陥除去方法および有機ＥＬ素子の製造方法であって、（１）上記有機ＥＬ層中もしくはその表面に存在する欠陥を検出する欠陥検出工程と、（２）上記検出された欠陥にレーザ光を照射して上記欠陥の近傍にある有機ＥＬ層構成物と共に上記欠陥を除去する欠陥除去工程とを少なくとも有することを特徴とする有機ＥＬ素子の欠陥除去方法を提供し、（３）上記有機ＥＬ層の除去された部分を再度形成する有機ＥＬ層二次形成工程とを少なくとも有する。例文帳に追加

The method for removing defects in an organic EL device and manufacturing it include at least processes of (1) detecting defects in the organic EL layer or its surface, (2) radiating a laser beam on the defects and removing them with the neighboring organic EL composition around it, for the removing method, and (3) a secondary formation process for making up the removed part of the organic EL layer. - 特許庁

欠陥部分を修正する工程は、フォトマスク上に再度レジスト膜を形成し、欠陥部分を含む所定領域に所定のパターン描画を行い、現像して修正用レジストパターンを形成し、該レジストパターンをマスクとしてエッチングを施して欠陥部分の余剰物を除去する。例文帳に追加

The step of correcting the defect portion includes forming a resist film on the photomask again, performing prescribed pattern drawing on a prescribed region including the defect portion, developing it to form a correction resist pattern, and removing the residual substance at the defect portion by performing etching using the resist pattern as a mask. - 特許庁

この方法によれば、ねじれ配向液晶フィルム３１を透過した光の直交成分同士間の位相差を小さくすることが可能となるため、偏光板１８ａ、１８ｂをクロスニコル配置すると、無欠陥部分と欠陥部分とのコントラストを大きくでき、欠陥部分の視認性を向上できる。例文帳に追加

Since the phase difference between each orthogonal component of light transmitted through the twist alignment liquid crystal film 31 can be reduced by the method, when polarizing plates 18a, 18b are crossed-Nichol arranged, a contrast between a nondefective part and a defective part can be enhanced, to thereby improve visibility of the defective part. - 特許庁

従来ではクラックのような低コントラストの欠陥部分Ｋと模様Ｍとを識別することが困難であったのに対して、本実施形態では両者を判別して欠陥部分Ｋのみを検出することができ、従来よりも低コントラストの欠陥部分を安定して精度良く検出することができる。例文帳に追加

Even though it is difficult conventionally to discriminate the defective part K of low contrast such as a crack from a design M, this performing form can discriminate the both, detect only the defective part K and detect the defective part more stably and with higher accuracy than the conventional practice. - 特許庁

一方，正極板Ｐの一巻分と負極板Ｎの一巻分とのいずれかに欠陥部分Ｘが含まれている場合に，その欠陥部分Ｘを欠陥部分除去装置２２２１，２２２２により除去した後に，捲回電極体１００を製作する。例文帳に追加

When a defect part X is included in either of one turn of the positive electrode plate P or one turn of the negative electrode plate N, the defect part X is removed by the defect part removing devices 2221, 2222 before producing the wound electrode body 100. - 特許庁

撮影画像に対して空間フィルタを適用して輝度が変化する部分を強調し、当該強調した部分を２値化することによって近接した欠陥も重なることなく検出し、その検出した部分の特徴量を基に欠陥かノイズかを判別して欠陥個数を計数する。例文帳に追加

A spatial filter is applied to the photographed image for emphasizing a section where the brightness changes, the emphasized section is binarized for detecting close defects without any overlap, and it is judged whether the defect is a true defect or a noise based on the amount of feature at the detected section to count the number of defects. - 特許庁

ミニマムフィルタ処理によってＳＴＮ液晶ディスプレイの表示画像のギャップ部分を補正するギャップ補正手段１０３と、ＳＴＮ液晶ディスプレイの点欠陥部分を検出し、検出された点欠陥部分に面積強調処理を施す欠陥検出手段１０４とを設ける。例文帳に追加

This system is provided with a gap correcting means 103 for correcting a gap portion of a displayed image in the STN liquid crystal display by minimum filter processing, and a defect detecting means 104 for detecting the point defect portion in the STN liquid crystal display to be area-emphasis- processed in the detected point defect portion. - 特許庁

フォトマスクの電子ビーム黒欠陥修正部の透過率上昇部分の透過率を調整する。例文帳に追加

To adjust transmittance in a portion with an increased transmittance in a black defect corrected part by an electron beam of a photomask. - 特許庁

部分グリッドおよびＺピンの欠陥による過剰挿入を予測するための方法例文帳に追加

METHOD FOR FORECASTING EXCESS INSERTION OF PARTIAL GRID AND Z-PIN DUE TO DEFECTS - 特許庁

乾燥炉は，欠陥部分Ｗ１，Ｗ２に供給された補修液を乾燥させる。例文帳に追加

The drying furnace dries the repairing liquid supplied to the defects W1, W2. - 特許庁

補修液供給部は，検出された欠陥部分Ｗ１，Ｗ２に補修液を供給する。例文帳に追加

The repairing liquid supply unit supplies repairing liquid to the defects W1, W2 thus detected. - 特許庁

そして、得られた２つの画像のうち、異なる輝度値の部分のみを欠陥として検出する（Ｓ８）。例文帳に追加

Then, only a part having a different luminance value of two obtained images is detected as the flaw (S8). - 特許庁

欠陥の生じない表面処理を施してメタルセパレータの部分的な腐食などを防止する。例文帳に追加

To prevent the generation of partial corrosion in a metal separator by performing the surface treatment for preventing occurrence of a defect. - 特許庁

結晶欠陥１１のある部分は、レジスト膜１２は露光されないため、開口が形成される。例文帳に追加

Since the resist film 12 on a part having a crystal defect 11 is not exposed, an opening is formed. - 特許庁

コピー欠陥を回避し、又は最小にし得る定着器構成部分を提供することにある。例文帳に追加

To provide fixing device component parts which can avert or minimize copying defects. - 特許庁

このレシピが自動的に実行されて、荷電粒子ビームを用いて欠陥部分をカットする。例文帳に追加

The recipe is then automatically executed to cut a portion of the defect using a charged particle beam. - 特許庁

したがって、該差分画像を見れば、欠陥部分３ａの存在を簡単に知ることができる。例文帳に追加

Therefore, existence of the defect 3a can be simply detected from the appearance of the difference image. - 特許庁

コピー欠陥を回避し、又は最小にし得る定着器構成部分を提供することにある。例文帳に追加

To provide a fuser component which can avoid or minimize defects in copies. - 特許庁

基準画像設定部８は、欠陥部がない部分の基準画像データを設定する。例文帳に追加

A reference image setting part 8 sets the reference image data of a part without any defective part. - 特許庁

むらのあるよこ糸部分の除去によって、欠陥の少ない布を製織する方法例文帳に追加

METHOD FOR WEAVING LOW FLAW CLOTH BY MEANS OF ELIMINATION OF WEFT THREAD SECTION WHICH HAVE IRREGULARITY - 特許庁

次に暴露したガラス部分6からFIB-CVD遮光膜8を成長させてハーフトーン欠陥を修正する。例文帳に追加

The FIB-CVD light shielding film 8 is then grown from the exposed glass part 6 to repair the halftone defect. - 特許庁

２つの測定方法で、欠陥部分と推定される部分を比較することで検証を行い、欠陥部分と推定したポイントを第１の検査装置２０のラマン分光法で検査する。例文帳に追加

A verification is conducted by comparing the portions estimated to be defective by the two measurement methods and the estimated defective points are inspected by a Raman spectrometric method in a first inspection device 20. - 特許庁

検査対象物を透過した光を受光して欠陥部分を判定する場合に、エッジ部分を誤って欠陥部分として判定してしまうことを抑止すること。例文帳に追加

To suppress erroneous determination of an edge part as a defect part, when determining the defect part by receiving light transmitted through an inspection object. - 特許庁

駆動回路１ａの欠陥部分に保護膜２１上からレーザ光Ｌｈを照射することにより、レーザ光Ｌｈが照射された位置の保護膜２１部分と欠陥部分とを除去するリペア工程を行う。例文帳に追加

A repair process for removing a protection film 21 portion corresponding to a position irradiated with laser light Lh and a defective portion by irradiating the defective portion of the driving circuit 1a with the laser light Lh from the surface of the protection film 21 is performed. - 特許庁

カラーフィルター等における着色パターンの欠陥修正時に、修正された欠陥部分が不均一となり未修正部分が出来たり、修正部分の突起高さが高くなったりする問題を解決する例文帳に追加

To settle problems that, in defect correction of a colored pattern of a color filter and the like, the corrected defect parts become uneven to cause unmodified parts, and projection height of the corrected parts becomes higher. - 特許庁

欠陥管理機能を有するフォーマット又は書き込み方式で使用されていた情報記録媒体を、欠陥管理機能を有さないフォーマット又は書き込み方式で再使用するときに、物理的に欠陥部分となった部分を回避してデータを記録できるようにする。例文帳に追加

To record data by physically evading a segment made into a defective segment in reusing an information recording medium used thus far by a format or writing system having a defect management function by a format or writing system not having the defect management function. - 特許庁

これによって、第１回転ドラム５および第２回転ドラム６に巻付けられた部分に欠陥が存在する場合、その欠陥部で放電するので、欠陥が巻付けられた部分の圧電体チューブ３に存在することを特定できる。例文帳に追加

In this way, if there is a flaw in the wound parts on the first rotation drum 5 and the second rotation drum 6, electric discharge occurs in the flaw part, and through this electric discharge, existence of the flaw in the wound part of the piezoelectric body tube 3 can be specified. - 特許庁

カラーフィルタの欠陥部の紫外線硬化性修正用インクによる修正時における正常な部分の紫外線焼けを防ぐとともに、該欠陥部周辺の正常な領域と該修正用インクの重なり部分も安定的に硬化させるカラーフィルタの欠陥修正方法を提供する。例文帳に追加

To provide a defect correction method of a color filter which prevents ultraviolet burn at a normal portion upon correction by ultraviolet curing ink for correction for a defect portion of the color filter and that stably hardens a portion where the ink for correction is overlapped with a normal area around the defect portion. - 特許庁

物体表面４を正反射方向Ａから捕らえたときに物体表面４の欠陥がない表面部分５と欠陥がある欠陥部分６とで結像状態の差が生じるように所定の像７が、像空間１５に形成される。例文帳に追加

A prescribed image 7 is formed in an image space 15 in such a way that a difference in an image-forming state occurs between a surface part 5 without defects and a defective part 6 with a defect in an object surface 4 at capturing of object surface 4 from the direction of regular reflection A. - 特許庁