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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Appearance Inspectionの意味・解説 > Appearance Inspectionに関連した英語例文

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Appearance Inspectionの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 524



例文

To simultaneously detect the lead positions of a plurality of faces of an electronic component with high accuracy in external appearance inspection of the electronic component.例文帳に追加

電子部品の外観検査において、電子部品の複数の面におけるリード位置を、同時に精度良く検査すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor chip with which appearance visual inspection after a completion of a wire bonding process is facilitated, using a simple configuration.例文帳に追加

簡単な構成でワイヤボンディング工程終了後の外観目視検査を容易にした半導体チップを提供する。 - 特許庁

To provide a parallel processing method of image data which is proper for a semiconductor appearance inspection device for inspecting a chip of a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウエハのチップを検査する半導体外観検査装置に適した画像データの並列処理方式を提供する。 - 特許庁

To provide an appearance inspection device and method of high reliability for a fuel rod for a nuclear reactor free from a personal error by a determining person, exact and excellent in reproducibility.例文帳に追加

判定者による個人差がなく、信頼性が高く、厳密で再現性のある原子炉用燃料棒の検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁

例文

To provide an image input device capable of efficiently and speedily obtaining effective information by appearance inspection.例文帳に追加

外観検査によって有効な情報を効率良くかつ高速に得ることができる画像入力装置を提供する。 - 特許庁


例文

Further, since the inspection lid is hidden at the inside of the hatrack 32, appearance with high quality can be obtained in the state that the hatrack 32 is closed.例文帳に追加

更に、点検蓋がハットラック32内部に隠されることで、ハットラック32を閉じた状態では、上質な外観が得られることとなる。 - 特許庁

METHOD, PROGRAM, AND APPARATUS FOR APPEARANCE INSPECTION OF PRINTED CIRCUIT BOARD例文帳に追加

プリント回路基板外観検査方法、プリント回路基板外観検査プログラム及びプリント回路基板外観検査装置 - 特許庁

To provide an image processor for generating a contrast image whose characteristic extraction or appearance inspection is simplified even when a color difference between two colors to be discriminated is small.例文帳に追加

区別しようとする2色の色の差が小さい場合でも特徴抽出や外観検査が容易になる濃淡画像を生成する。 - 特許庁

To enable to perform the outside appearance inspection of a photosensitive film direct after the photosensitive film is formed without giving thermal adverse effect due to the leakage of drying air to a coating equipment or an outside appearance inspection equipment.例文帳に追加

感光塗膜の外観検査を感光塗膜の形成後に直ちに行うことが可能であり、かつ、塗布設備や外観検査設備が乾燥用エアの漏れ出しによる熱的な悪影響を受けることのない感光体ドラムの製造工程における乾燥設備を提供する。 - 特許庁

例文

To provide a tape carrier for a semiconductor device which can carry out appearance inspection for detecting the abnormality of electric wiring formed below a solder resist, and the detection of the abnormality due to the inclusion of a foreign matter of the solder resist or the like readily by an automatic appearance inspection device.例文帳に追加

ソルダレジストの下に形成された電気配線の異常を検出する外観検査と、ソルダレジストの異物混入などによる異常検出を、自動外観検査装置で容易に実施することができる半導体装置用テープキャリアを提供する。 - 特許庁

例文

To provide a reexamination method and an appearance inspection device for an implementation substrate having been judged as a defective product for a good-quality product due to the dissatisfaction judgement of an existing appearance inspection device, while maintaining the automation and laborsaving in an implementation line, for an implementation line implemented with electronic parts.例文帳に追加

電子部品が実装される実装ラインにおいて、実装ラインの自動化、省力化を維持しつつ、既存の外観検査装置の不満足な判定から、良品を不良品として判定してしまった実装基板の再検査方法及び外観検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

When the defective of the electronic component is detected by the appearance inspection part 8, the taping unit driving part transfers the taping unit body part 4 and the pocket in the appearance inspection position Q is returned to a housing and elimination position P to suck and hold the defective product and discharge it.例文帳に追加

テーピングユニット駆動部は、外観検査部8において電子部品の不良が検知された場合に、テーピングユニット本体部4を移送して、外観検査位置Qにあるポケットを収容除去位置Pまで戻すことにより、不良品を吸着保持して排出する。 - 特許庁

To provide a visual inspection apparatus, which can specify inspection object areas by bodies to be inspected and perform visual inspections suitable for the bodies to be inspected as an outward appearance inspecting device which inspects the visual appearance of a body to be inspected, such as a semiconductor wafer and a liquid crystal substrate through the use of its image.例文帳に追加

半導体ウエハや液晶基板などの被検体の画像を用いて被検体の外観検査を行う外観検査装置に関し、検査対象領域を被検体毎に指定し、被検体に適した外観検査が行える外観検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a shape measuring method, an appearance inspection method, a shape measuring device, and an appearance inspection device, capable of suppressing an influence of deformation of a member, and measuring accurately a projection amount of a projection part which may be generated on the member.例文帳に追加

本発明は、部材の変形の影響を抑制して、部材上に発生した可能性がある突出部の突出量の正確な測定を可能ならしめる、外形測定方法、外観検査方法、外形測定装置、及び外観検査装置を提供する。 - 特許庁

An appearance inspection device inspects appearance abnormalities on the front and the side of a tablet 5 in a PTP film 6 after a cover film is attached to a film for packing.例文帳に追加

外観検査装置は、包装用フィルムにカバーフィルムが取着された後のPTPフィルム6において錠剤5の正面及び側面の外観異常を検査する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of an appearance inspecting apparatus and a resin molding article capable of improving accuracy in detecting a trace amount and of performing an appearance inspection and a UV irradiation in the same step, for improving the productivity of the resin molding article.例文帳に追加

打痕の検出精度を向上させ、外観検査と紫外線照射を同一工程で行い、樹脂成形品の生産性を向上させることができる外観検査装置及び樹脂成形品の製造方法を提供する。 - 特許庁

To extend the using condition in an appearance inspection device for inspecting the appearance of a cylinder or cylindrical article by use of image processing technique to facilitate the setting and also reduce the cost.例文帳に追加

画像処理技術を用いて円柱又は円筒形状の物品の外観検査を行う外観検査装置において、使用条件を広げ、その設置を容易とするとともに低コスト化を図る。 - 特許庁

When the call button 65 corresponding to the input box 64 of the appearance data is clicked, a pull-down menu due to the choices based on the appearance data registered in an inspection reference data base is displayed.例文帳に追加

この外観情報の入力ボックス64に対応する呼出ボタン65をクリックすると、検査基準データベースに登録されている外観情報に基づく選択肢によるプルダウンメニューが示される。 - 特許庁

This appearance inspection device 20 is for inspecting appearance of an inspecting base material 10 comprising pads 11a and 11b, and a plated layer 12 having a color different from that of the pads 11a and 11b.例文帳に追加

外観検査装置20は、パッド部11a、11bと、パッド部11a、11bと異なる色彩をもつめっき層12とを有する被検査基材10の外観を検査するものである。 - 特許庁

To provide an appearance inspection apparatus for a spherical body, capable of rotating the spherical body around its gravity center, regardless of the unevenness on the surface of the spherical body to stably and quickly inspect appearance of the spherical body.例文帳に追加

球状体表面の凸凹に影響を受けることなく球状体の重心を芯として回転させて安定して高速で外観検査できる球状体の外観検査装置の提供。 - 特許庁

This wire harness outward appearance inspection device has a touch screen 13 placed on a full-size drawing 11 wherein a harness full-size drawing 11b is displayed in the outward appearance inspecting process of a wire harness.例文帳に追加

ワイヤハーネスの外観検査工程でハーネス原寸図11bを表示する原寸図面11の上にタッチスクリーン13を載せるワイヤハーネス外観検査装置を使用している。 - 特許庁

To provide an additional review point generating apparatus 1, capable of determining an optimum additional review point for discriminating the cause of occurrence of poor appearance detected with an appearance inspection apparatus 2.例文帳に追加

外観検査装置2が検出した外観不良の発生原因を特定するために、最適の追加レビューポイントを決定できる追加レビューポイント生成装置1を提供する。 - 特許庁

Moreover, since the filling state of the solder 27 into the groove 24 of the electric component 21 can be inspected for external appearance from above that groove 24, the inspection of the external appearance of the junction state is facilitated.例文帳に追加

また、電子部品21の溝24内へのはんだ27の充填状態を当該溝24の上方から外観検査することができるので、接合状態の外観検査を容易とすることができる。 - 特許庁

To solve the problem in the appearance inspection of a ferrule with the combination of a subject microscope with an epi-illumination light source, that an appearance failure can be detected only when they are set to a specified angle and specified rotating angle range.例文帳に追加

フェルールの外観検査を行うに当り、実体顕微鏡と落射光源の組合せで行なうと特定の角度、特定の回転角範囲に合わせないと外観不良が検出できない。 - 特許庁

To provide a sponge member appearance inspecting apparatus for enabling an appearance inspection, without making an object to be inspected halt, if it is no possible to confirm the presence of defects in the object to be inspected object without deformations.例文帳に追加

変形させなければ欠陥の有無を確認することが不可能な被検査物であっても、被検査物を一旦停止させることなく外観検査を可能とするスポンジ部材外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a highly reliable tablet carrying device preventing appearance abnormalities such as cracks and chips from newly occurring in appearance of tablets to be inspected, on a supply passage of a tablet appearance inspection device incorporating the tablet carrying device.例文帳に追加

錠剤搬送装置を組み込んだ錠剤外観検査装置における供給路において、検査対象である錠剤の外観に割れや欠け等の外観異常を新たに発生させることのない信頼性の高い錠剤搬送装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

It is preferable that the appearance situation inspection means is provided with an appearance number count part for counting the number of appearances of the predetermined sentence end expression for every document element; and the document element selection means selects each document element based on the count result of the appearance number count part.例文帳に追加

また、前記出現状況検査手段は、前記各文書要素ごとに、所定の文末表現の出現回数をカウントする出現回数カウント部を備え、前記文書要素選別手段は、当該出現回数カウント部のカウント結果をもとに、各文書要素を選別することも好ましい。 - 特許庁

This commodity providing system is provided with a production facility 1a for producing a commodity according to an order from a client, an appearance inspection device 1b capturing an image of the commodity as image data and inspecting an appearance of the commodity, and a server 4 providing the image data captured by the appearance inspection device 1b to the client through the Internet.例文帳に追加

顧客からの注文に基づいて商品を生産する生産設備1aと、商品の画像を画像データとして取り込んで商品の外観検査を行う外観検査装置1bと、外観検査装置1bにより取り込まれた画像データをインターネットを介して顧客に提供するサーバー4と備える。 - 特許庁

To provide a photomask appearance verification system for converting a coordinate value detected by a wafer inspection into a coordinate value to be used in a photomask inspection and for performing defect analysis of a photomask in an early stage.例文帳に追加

ウエハ検査で検出された座標値をフォトマスク検査で使用される座標値に変換し、フォトマスクの不具合解析を早期に行うフォトマスク外観検証システムを提供する。 - 特許庁

When the user completes the selection of the choices, the inspection reference data fitted to the selected appearance data is read from the inspection reference data base.例文帳に追加

ユーザーが選択肢の選択を完了すると、その選択された外観情報に適合する検査基準データが検査基準データベースから読み出される。 - 特許庁

Then the type of the plane plate is decided according to the number of pixels at the part overlapping with the black area by inspection lines and feature quantities of the appearance pattern, etc., of pixels overlapping with the black area by the inspection lines.例文帳に追加

そして、各検査線毎に黒色領域と重複する部分の画素数、各検査線毎に黒色領域と重複する画素の現出パターン等の特徴量に基づいて平面プレートの型式を判定する。 - 特許庁

To provide an automatic optical inspection system for automatically inspecting the appearance of the inspection object of film or tape form, formed continuously on the flexible printed circuit substrate unit.例文帳に追加

本発明はフレキシブル印刷回路基板ユニットが連続的に形成されたフィルムまたはテープ形態の検査対象物見掛けを光学的な方式を利用して自動検査する自動光学検査システムに関する。 - 特許庁

To provide video information having reliability, in which appearance inspection of defects in the welding parts of piping or the like used to be executed by visual inspection can be executed by video images, such as moving images and still images.例文帳に追加

本発明は、これまで、目視にて行われていた配管など溶接部の欠陥の外観検査を、動画や静止画などの映像にて行える信頼性を持つ映像情報を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection system for a hydrous ocular lens which can conduct appearance inspection for a hydrous ocular lens in an immersed state efficiently with keeping an aseptic condition and with favorable precision and workability.例文帳に追加

含水性の眼用レンズ材料の浸漬状態での外観検査を、無菌状態を維持しつつ、良好な精度と作業性をもって効率的に行うことの出来る、新規な構造の検査装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide an inspection device capable of consistently manufacturing a sample for appearance inspection of a semiconductor wafer in high speed and high resolution and for TEM observation or various analyses from an existing part of foreign matters or defects, with high positioning accuracy.例文帳に追加

半導体ウエハの高速で高分解能な外観検査と、異物や欠陥の存在部位からTEM観察や各種分析のための試料を高い位置精度で一貫して作製することのできる検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a tablet inspection apparatus and a PTP packaging machine for significantly improving the inspection accuracy, when inspecting the appearance of a tablet in a manufacturing process of a PTP sheet.例文帳に追加

PTPシートの製造過程における錠剤の外観検査に際し、検査精度の飛躍的な向上を図ることのできる錠剤検査装置及びPTP包装機を提供する。 - 特許庁

To provide a visual inspection method and a visual inspection device for inspecting an appearance of a tire by pattern matching without preparing a master image.例文帳に追加

タイヤの外観検査において、マスター画像を用意することなくパターンマッチングによりタイヤの外観を検査する外観検査方法及び外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a surface appearance inspection apparatus capable of surely detecting only a defect, even when both a density variation and the defect coexist on the surface of an inspection object.例文帳に追加

検査対象物の表面において濃淡ばらつきと欠陥とが混在する場合であっても、欠陥のみを確実に検出することができる表面外観検査装置を提供する。 - 特許庁

The inspection system 1 comprises an inspection device 100 which inspects the outward appearance of a printed board 10 mounted with electronic components and a repair assisting device 200.例文帳に追加

検査システム1は、電子部品が実装されたプリント基板10の外観検査をする検査装置100と、補修支援装置200とで構成される。 - 特許庁

To classify a defect detected by a SEM type appearance inspection into an electric defect (VC defect: Voltage Contrast) inside an inspection object and a surface defect.例文帳に追加

SEM式外観検査において,検出した欠陥を、検査対象内部の電気的欠陥(VC欠陥:Voltage Contrast)と表面欠陥とに分類する。 - 特許庁

Thus, no making is needed for the defective chip 2 in the probe inspection step or appearance inspection step, and the defective chip 2 can be recognized by a die bonding device.例文帳に追加

これにより、プローブ検査工程あるいは外観検査工程において不良チップ2にマーキングを行うことなく、不良チップ2をダイスボンド装置で認識できる。 - 特許庁

To provide an automatic optical inspection system and method for inspecting automatically an appearance of a film- or tape-shaped inspection object with flexible printed circuit board units formed continuously, using an optical system.例文帳に追加

本発明は、フレキシブル印刷回路基板ユニットが連続して形成されたフィルムまたはテープ形態の検査対象物外観を光学的な方式を利用して自動検査する自動光学検査システム及び方法に関する。 - 特許庁

A part feeder 31 for feeding out the quartz blank 1 and a feed mechanism 35 for feeding the quartz blank fed out of the part feeder 31 to the appearance inspection part 32 and the frequency inspection part 33 are provided.例文帳に追加

水晶ブランク1を送り出すパーツフィーダ31と、パーツフィーダ31から送り出された水晶ブランク1を外観検査部32及び周波数検査部33に搬送する搬送機構35とを設ける。 - 特許庁

To solve the following problem: it takes long time for preparation for an inspection and the inspection in a conventional probability detection method of appearance of air bubbles.例文帳に追加

解決しようとする問題点は、従来の気泡出現の可能性検出法では、検査のための準備及び検査に長い時間がかかるという問題があった点である。 - 特許庁

To provide an inspection method, inspection apparatus, and cleaning blade of a plate-like body that do not require expansion of an appearance device space or an excess capital expenditure.例文帳に追加

外観装置スペースの拡大や、余分な設備投資を必要としない板状体の板状体の検査方法、検査装置、およびクリーニングブレードを提供する。 - 特許庁

To easily obtain section of an inspection site that cannot be seen such as a BGA/CSP solder junction section in a packaging substrate for mounting BGA/CSP packages, a solder junction section on a double-sided packaging substrate, and the like by an optical appearance inspection apparatus.例文帳に追加

BGA/CSPパッケージを搭載した実装基板のBGA/CSPはんだ接合部や、両面実装基板上のはんだ接合部などの光外観検査装置で見ることができない検査部位の断層面を容易に得ること。 - 特許庁

The CPU 22 generates a battery pack production information 11 of a battery pack 1, based on an assembly information such as component production information 12, 13, welding condition or the like, inspection information such as an electrical inspection and an external appearance information or the like.例文帳に追加

CPU22は、部品製造情報12,13、溶接条件等の組立情報、電気検査、及び外観検査等の検査情報に基づき、電池パック1の電池パック製造情報11を生成する。 - 特許庁

A purchase terminal 5 controls an inspection apparatus 7 which inspects a farm product in inspecting the weight, appearance, and sugar content, or the like, of the farm product and transmits the inspection result to a management server 3.例文帳に追加

買取端末5は、農作物を検査する検査機器7を制御し、農作物の重さ、見栄え、糖度などを検査して、検査結果を管理サーバ3に送信する。 - 特許庁

To provide an appearance inspection system capable of acquiring an image of a molding being an object to be inspected having excellent contrast and a clear outline, even if the surface of the object is glossy, or even if the surface of an inspection table is like a mirror surface.例文帳に追加

検査対象物の表面が光沢を有していても、また検査台が鏡面状であってもコントラストが良好でありかつ輪郭が明瞭な成形物の画像が得られる外形検査システムを提供する。 - 特許庁

例文

To provide an appearance inspecting apparatus which accurately inspects the whole surface of an inspection object even when a tapered section exists on the outer peripheral surface of a cylindrical inspection object.例文帳に追加

筒状の被検査体の外周表面にテーパ部が存在しても、被検査体の表面全体を正確に検査できる外観検査装置を提供する。 - 特許庁

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