「Atom probe」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

COMPOSITION DISTRIBUTION STEREOSCOPIC DISPLAY ATOM PROBE AND SCANNING TYPE COMPOSITION DISTRIBUTION STEREOSCOPIC DISPLAY ATOM PROBE例文帳に追加

組成分布立体表示アトムプローブおよび走査型組成分布立体表示アトムプローブ - 特許庁

ATOM PROBE DEVICE AND SAMPLE PRE-PROCESSING METHOD THEREOF例文帳に追加

アトムプローブ装置及びその試料予備加工方法 - 特許庁

To facilitate making a sample for atom probe observation.例文帳に追加

アトムプローブ観察用の試料を容易に作製すること。 - 特許庁

To provide a laser atom probe system and a method for analyzing a specimen by laser atom probe tomography.例文帳に追加

優れたレーザーアトムプローブシステム、およびレーザーアトムプローブトモグラフィによって試料を分析するための方法を提供する。 - 特許庁

PROCESSING METHOD OF NEEDLE-LIKE SAMPLE FOR ATOM PROBE, AND FOCUSED ION BEAM APPARATUS例文帳に追加

アトムプローブ用針状試料の加工方法及び集束イオンビーム装置 - 特許庁

The atom position fixing device detects a change amount of a frequency of the probe 10 based on an inter-atomic force acting between the probe 10 and the atom 50 by vibrating the probe 10 or the atom 50 on the surface of the specimen in two directions parallel to the surface of the specimen.例文帳に追加

探針１０又は試料表面の原子５０を試料表面と平行な２方向に振動させ、探針１０と原子５０との間に作用する原子間力に基づく探針１０の周波数の変化量を検出する。 - 特許庁

PREPARATION METHOD OF SAMPLE FOR ATOM PROBE ANALYSIS BY FIB, AND DEVICE FOR EXECUTING THE METHOD例文帳に追加

ＦＩＢによるアトムプローブ分析用試料の作製方法とそれを実施する装置 - 特許庁

To provide an atom position fixing device and atom position fixing method suppressing deviation in relative position between a probe and a sample atom due to the influence of thermal drift and creep.例文帳に追加

熱ドリフト及びクリープの影響による探針と試料原子との相対位置のずれを抑制することができる原子位置固定装置及び原子位置固定方法を提供する。 - 特許庁

A probe 10 or an atom 50 on a surface of a sample is vibrated in two directions parallel to the surface of the sample, and a frequency variation amount of the probe 10 based on interatomic force acting between the probe 10 and the atom 50 is detected.例文帳に追加

探針１０又は試料表面の原子５０を試料表面と平行な２方向に振動させ、探針１０と原子５０との間に作用する原子間力に基づく探針１０の周波数の変化量を検出する。 - 特許庁

To provide an atom probe electric field ion microscope having such a function as an atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡などの機能を備えたアトムプローブ電界イオン顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

When the atom (40) of the tip end of a probe is made access to the atom (50) of the surface of a sample, an interaction acting between the tip end atom and the surface atom becomes large and a physical quantity Q based on the interaction is gradually changed (area A).例文帳に追加

作用針の先端原子（４０）を試料の表面原子（５０）に近づけると、先端原子と表面原子との間に作用する相互作用が大きくなり、相互作用に基づく物理量Ｑが徐々に変化する（領域Ａ）。 - 特許庁

Alternatively, the change amount of the frequency of the probe 10 based on the atomic force acting between the probe 10 and the atom 50 is detected by rotating the probe 10 or the atom 50 on the surface of the specimen on the plane parallel to the surface of the specimen.例文帳に追加

または、探針１０又は試料表面の原子５０を試料表面と平行な平面で回転させ、探針１０と原子５０との間に作用する原子間力に基づく探針１０の周波数の変化量を検出する。 - 特許庁

Alternatively, the probe 10 or the atom 50 on the surface of the sample is rotated on a plane parallel to the surface of the sample, and the frequency variation amount of the probe 10 based on the interatomic force acting between the probe 10 and the atom 50 is detected.例文帳に追加

または、探針１０又は試料表面の原子５０を試料表面と平行な平面で回転させ、探針１０と原子５０との間に作用する原子間力に基づく探針１０の周波数の変化量を検出する。 - 特許庁

To improve a function of an atom probe device capable of investigating an atom structure in a very minute region by directly measuring atoms one by one.例文帳に追加

原子１個１個を直接測定することで、非常に微細な領域の原子構造を調べることができるアトムプローブ装置の機能向上を図るものである。 - 特許庁

To provide an atom position fixing device and an atom position fixing method or the like by which deviation of the relative position between a probe and an atom of a specimen due to influence caused by thermal drift and creep can be suppressed.例文帳に追加

熱ドリフト及びクリープの影響による探針と試料原子との相対位置のずれを抑制することができる原子位置固定装置及び原子位置固定方法などを提供する。 - 特許庁

There is provided a particle density measurement probe which measures atom or molecule density in a plasma atmosphere through spectrophotometry.例文帳に追加

プラズマ雰囲気の原子又は分子密度を吸光分光により測定する粒子密度測定プローブである。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a test specimen for atom probe analysis to simply manufacture a test specimen for analyzing an analyzed domain by means of an atom probe, the analyzed domain comprising a conductor portion formed on an insulating substrate.例文帳に追加

絶縁基板上に形成された導体部分からなる被分析領域をアトムプローブによって分析するための検査試料を、簡便に製造できるアトムプローブ分析用検査試料の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inexpensive device with a simple structure and an easy operation capable of enlarging an analyzing area of sample and enhancing a resolving power of ion at an electric field evaporation position to an atom level in an atom probe or a scanning type atom probe in which an electric field ion microscope and an ion detector are combined.例文帳に追加

電界イオン顕微鏡とイオン検出器を組み合わせたアトムプローブあるいは走査型アトムプローブにおいて、試料の分析領域を拡大すると共にイオンの電界蒸発位置の分解能を原子レベルまで向上させ得る、簡素な構造で安価で操作が容易な装置を構成する。 - 特許庁

SAMPLE HOLDER-ELECTRODE HOLDER INTEGRATED UNIT, POSITIONING BASE, ATOM PROBE, AND ASSEMBLY METHOD OF SAMPLE AND ELECTRODE ONTO DEVICE例文帳に追加

試料ホルダ電極ホルダ一体化ユニット、位置調整台、アトムプローブ、並びに試料及び電極の装置への組付方法 - 特許庁

Then, the protective film 4 and the thin-film sample 2 located on a lower surface of the protective film 4 are set to be samples 5 to be sampled that are to be sampled for performing an analysis using the three-dimensional atom probe, thus making the sample for atom probe observation.例文帳に追加

そして、保護膜４および保護膜４の下面にある薄膜試料２は、三次元アトムプローブを用いた解析を行なうために採取される対象である採取対象試料５とされ、アトムプローブ観察用の試料が作製される。 - 特許庁

When a voltage is impressed on the two probes, and a sample 13 is brought close, electrons 14 emitted from the tipmost atom 12 of one probe are collected by the tipmost atom 12 of the other probe through the sample 13 to pass a tunneling current.例文帳に追加

この２本の探針に電圧を印加し、試料を近づけていくと、一方の探針の最先端の原子１２から出た電子１４を試料１３を通してもう一方の探針の最先端の原子１２で拾い、トンネル電流が流れる。 - 特許庁

In this manner, in the apparatus shown in Fig. 1, the cantilever in AFM is also used as the extraction electrode in the atom probe electric field ion microscope.例文帳に追加

このように、図１の装置では、ＡＦＭにおけるカンチレバーを、アトムプローブ電界イオン顕微鏡における引出電極として兼用している。 - 特許庁

When the analyzing area for the scanning atom probe(SAP) is selected, the tip of the extraction electrode for the SAP is used as a probe for a scanning tunneling microscope(STM), and the shape of the sample is plotted thereby, to select the analyzing area.例文帳に追加

走査型アトムプローブ（ＳＡＰ）の分析領域を選定する際、該ＳＡＰの引出電極の先端を走査型トンネル顕微鏡(ＳＴＭ)の探針として用い、試料の表面形状を描き出させて分析領域を選定する。 - 特許庁

The antibody protein 11 of a measuring probe is substituted with a free amino residue (NH_2) 12 and treatment for providing an atom group 13 for blocking the free amino residue is applied thereafter.例文帳に追加

測定用プローブの抗体タンパク１１に対して遊離のアミノ残基（ＮＨ_2）１２を置換して、その後に封止のための原子団１３を設ける処理が施されている。 - 特許庁

The position of the probe 10 or the atom 50 in the two directions is controlled so that frequency components in the two directions of the detected change amount of the frequency become zero (a first method : Figure 1(a)).例文帳に追加

そして、検出した周波数の変化量の２方向の周波数成分がゼロとなるように探針１０又は原子５０の２方向の位置を制御する（第１の方法：図１（ａ））。 - 特許庁

A probe electrode is provided in a quantum bit circuit, while a bias so as to pull out a quasi current in the probe electrode is applied, by coupling the quantum bit circuit with an electrical resonator, the single artificial-atom maser excited by current injection is constituted.例文帳に追加

量子ビット回路にプローブ電極を設け、当該プローブ電極に準電流を引き出すようなバイアスを与えると共に、当該量子ビット回路を電気的共振器と結合することにより、電流注入型単一人工原子メーザを構成する。 - 特許庁

The analysis method is at least one method selected from the group consisting of transmission electron microscope, scanning electron microscope, electron probe microanalysis, Auger electron spectroscopy, atom probe, infrared spectroscopy, laser Raman spectroscopy, inductive coupled plasma spectroscopy, liquid chromatography, and gas chromatography.例文帳に追加

該分析方法は、透過型電子顕微鏡、走査型電子顕微鏡、電子プローブマイクロアナリシス、オージエ電子分光、２次イオン質量分析、アトムプローブ、赤外分光、レーザーラマン分光、誘導結合プラズマ、液体クロマトグラフ、ガスクロマトグラフからなる群より選択される少なくとも一つの方法である。 - 特許庁

The optical material comprises resin, containing a sulfur atom showing less than 6.5×10^-5 coefficient of linear expansion measured by a TMA penetration method (under the conditions of 0.5 mm diameter of the probe top and 5°C/minute temperature increase rate).例文帳に追加

ＴＭＡペネトレーション法（ピン先０．５ｍｍφ、昇温速度５℃／分）で測定した樹脂の線膨張係数が、６．５×１０^−５未満である硫黄原子含有樹脂からなる光学材料。 - 特許庁

To three-dimensionally search for a structure while complementing it with missing atoms by a simple method not requiring a large resource complicated in processing, as to a method of analyzing three-dimensional atom probe structure data.例文帳に追加

３次元アトムプローブ構造データ解析方法に関し、処理が複雑で大きなリソースが要求されない簡便な方法で欠落している原子を補完して３次元的に構造を探索する。 - 特許庁

Then, a position of the probe 10 or the atom 50 on the plane is controlled such that frequency components in a direction parallel to the plane of the detected frequency variation become zero (a second method: Fig.1(b)).例文帳に追加

そして、検出した周波数の変化量の平面と平行な方向の周波数成分がゼロとなるように探針１０又は原子５０の平面における位置を制御する（第２の方法：図１（ｂ））。 - 特許庁

A probe for use in this assaying system comprises a pair of peptides containing the amino acid sequence of a substrate to be specifically recognized by an enzyme and differing in molecular weight by ≥3 from each other with one of them incorporated with deuterium atom-containing functional groups and the other with hydrogen atom-containing functional groups.例文帳に追加

酵素によって特異的に認識される基質のアミノ酸配列を含む１対のペプチドであって、一方に重水素原子含有官能基、他方に水素原子含有官能基が導入されて互いに３以上の分子量差を有するペプチド対から成る酵素活性検知用プローブとそれを用いる酵素活性検知方法。 - 特許庁

Each atom position is adjusted until the calculated force reaches a prescribed threshold value or below to give a stable double strand structure and bond energy of the arbitrary probe is calculated by a bond energy analysis process (S62).例文帳に追加

そして、算出された力が所定の閾値以下となるまで各原子位置を調整して安定な二重鎖構造とし、その任意プローブの結合エネルギーを結合エネルギー解析処理（Ｓ６２）によって算出する。 - 特許庁

The position of the probe 10 or the atom 50 on the plane is controlled so that a frequency component in the direction parallel to the plane of the detected change amount of the frequency becomes zero (a second method : Figure 1(b)).例文帳に追加

そして、検出した周波数の変化量の平面と平行な方向の周波数成分がゼロとなるように探針１０又は原子５０の平面における位置を制御する（第２の方法：図１（ｂ））。 - 特許庁

This method for analyzing the sample is characterized by detecting the presence or absence of the formation of the nucleic acid probe-target nucleic acid hybrid product formed in a measurement sample obtained by reacting a sample with the probe carrier by the measurement of a halogen atom labeling the target nucleic acid with a flight time type secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS).例文帳に追加

プローブ担体に試料を反応させた測定用試料に形成された核酸プローブと標的核酸とのハイブリッド体の形成の有無を、標的核酸に標識したハロゲン原子を飛行時間型二次イオン質量分析法（ＴＯＦ−ＳＩＭＳ）によって測定することにより検出する。 - 特許庁

In the ceramic substrate containing Si, the concentration of silicon oxide and silicon complex oxides in the surface of the substrate is set to 2.7 Atom% or below by surface measurement using an electron probe microanalyzer.例文帳に追加

Ｓｉを含有してなるセラミックス基板であって、基板表面における酸化シリコン及びシリコンの複合酸化物の濃度が、電子プローブマイクロアナライザを用いた表面測定で２．７Ａｔｏｍ％以下に設定されていることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a firm sticking fixing procedure between a sample substrate and a block-shaped sample capable of enduring sufficiently a strong electrostatic attractive force at an AP analysis time, in a preparation method of the sample for atom probe analysis.例文帳に追加

本発明の課題は、アトムプローブ分析用試料の作製方法において、ＡＰ分析時の強い静電引力に十分耐えることができる試料基板とブロック状試料との強固な接着固定手法を提示することにある。 - 特許庁

After a resist film 11 is coated on the surface of a substrate 10 and a layer of atom 12 is formed on the resist film 11, atoms 12 is pulled out of the layer of the atoms 12 according to the designed pattern by the use of probe 13 of scanning tunneling microscope.例文帳に追加

基板１０の表面にレジスト膜１１を塗布し、次いで、前記レジスト膜１１上に原子１２の層を形成した後、走査型トンネル顕微鏡の探針１３を用いて設計パターン様に前記原子１２の層から原子１２を引き抜く。 - 特許庁

Based on an interatomic distance according to atomic level fine structure data on a specimen acquired by using a three-dimensional atom probe, the positions of atoms missing from the fine structure of an actual specimen are found without using reference data to complement it with atoms to the positions.例文帳に追加

３次元アトムプローブ装置を用いて取得した試料の原子レベル微細構造データにおける原子間距離に基づいて、参照データなしに実際の試料の微細構造から欠落している原子の位置を求め、前記位置に前記原子を補完する。 - 特許庁

When the surface of the semiconductor which is a measuring target is observed by a scanning tunnel microscope (STM), the STM image of the surface of the semiconductor by applying positive voltage to the semiconductor on the basis of a probe is compared with the STM image of the surface of the semiconductor obtained by applying negative voltage to the semiconductor on the basis of the probe to detect the impurity atom in the semiconductor.例文帳に追加

被測定対象物である半導体表面を走査型トンネル顕微鏡(STM)で観察する際に、探針を基準として半導体に正の電圧を印加して得られた半導体表面のSTM像と、探針を基準として半導体に負の電圧を印加して得られた半導体表面のSTM像とを比較することにより、半導体中の不純物原子を検出することを特徴とする半導体不純物原子検出方法である。 - 特許庁

This invention provides this atom probe device characterized by including: an electric field ion microscope device; an electric field ion microscope image introduction device introducing an electric field ion microscope image imaged by the electric field ion microscope device; and an electric field ion microscope image analyzer analyzing the introduced electric field ion microscope image.例文帳に追加

本発明によれば、電界イオン顕微鏡装置と、電界イオン顕微鏡装置により撮像された電界イオン顕微鏡像を取り込む電界イオン顕微鏡像取込装置と、取り込まれた電界イオン顕微鏡像を解析する電界イオン顕微鏡像解析装置と、を有することを特徴とする、アトムプローブ装置が提供される。 - 特許庁

The ceramic substrate is formed by dividing a ceramic base material along a scribe line formed on one face of the ceramic material containing silicon nitride, and when the surface is measured using by an electron probe micro analyzer, the concentration of a silicon oxide and a composite oxide of silicon on the face is not more than 2.7 Atom%.例文帳に追加

窒化珪素からなるセラミックス母材の一面に形成されたスクライブラインに沿って該セラミックス母材を分割して形成されたセラミックス基板であって、前記一面における酸化シリコン及びシリコンの複合酸化物の濃度が、電子プローブマイクロアナライザを用いた表面測定において２．７Ａｔｏｍ％以下であることを特徴とする。 - 特許庁

To select an analysis region, using a technique capable of grasping the shape of a sample face by a scanning atom probe(SAP), to focus electric field in a small range formed between the sample and an extraction electrode, using an extraction electrode working technique capable of forming a micro fine funnel-like shape, and to analize only a specified protrusion in the sample.例文帳に追加

走査型アトムプローブ(ＳＡＰ)により、試料面の形状が把握できる技術によって、分析領域の選定を行い、微細な漏斗型形状の形成が可能な引出し電極加工技術で、試料と該引出し電極間に形成される電場を狭い範囲に集中し、試料の特定の突起のみを分析する走査型アトムプローブ装置を提供する。 - 特許庁

A preliminary processing method for a sample used on atom probe apparatus includes the steps of: cutting the desired observing part of the sample into a block using an FIB equipment; transferring the sample block onto a sample substrate and fixing the sample block in place; and processing the sample block fixed onto the sample substrate into a needle-point shape by FIB etching.例文帳に追加

本発明のアトムプローブ装置用試料の予備加工は、ＦＩＢ装置を用いて試料所望観察部位をブロック状に切り出すステップと、該ブロック状の切り出し試料を試料基板上に移送して固定するステップと、該試料基板上に固定されたブロック状の試料をＦＩＢエッチング加工によって針先形状に加工するステップとからなる。 - 特許庁

This preparation method of the sample for atom probe analysis has a step for preparing a ridged and grooved structure by performing etching machining of FIB onto both of a base needle 2 and an implantation sample piece 1, a step for bonding mutual members, and a step for sticking by deposition processing of FIB so that the ridged and grooved structure has an engaged form.例文帳に追加

本発明のアトムプローブ分析用試料の作製方法は、ベース針２と移植試料片１の双方にＦＩＢのエッチング加工によって凹凸構造を作製するステップと、互いの部材を接合させるステップと、前記凹凸構造が噛合い形態となるようにＦＩＢのデポジション加工によって接着するステップとを踏むものとした。 - 特許庁

The pre-processing of the sample for this atom probe device is composed of a step for cutting a sample desired observation region into a block shape using an FIB device, a step for transferring the block-shaped cut sample to a sample substrate to fix the same and a step for processing the block-shaped sample fixed on the sample substrate into a needle tip shape by FIB etching processing.例文帳に追加

本発明のアトムプローブ装置用試料の予備加工は、ＦＩＢ装置を用いて試料所望観察部位をブロック状に切り出すステップと、該ブロック状の切り出し試料を試料基板上に移送して固定するステップと、該試料基板上に固定されたブロック状の試料をＦＩＢエッチング加工によって針先形状に加工するステップとからなる。 - 特許庁