「DEFECT OR」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

To draw or lithographically form an extremely fine linear pattern without any defect by using a liquid jet technology.例文帳に追加

液体噴射技術により極めて微細な線パターンを欠陥無く描画する。 - 特許庁

To correct an amplitude defect in a Mo/Si multilayer film or Mo_2C/Si multilayer film in an EUVL mask.例文帳に追加

EUVLマスクのMo/Si多層膜またはMo_2C/Si多層膜中の振幅欠陥を修正する。 - 特許庁

DEVICE FOR MEASURING DEFECT EXISTING IN LIGHT TRANSMITTING SINGLE LAYER BODY OR LAMINATE例文帳に追加

光透過性単層体又は積層体に存在する欠陥を測定する装置 - 特許庁

To precisely inspect a defect or nonconformity (for example, stuck seal) of a container such as a beer case.例文帳に追加

ビールケース等の容器の不具合（例えば、シールの付着）を高い精度で検査する。 - 特許庁

When a region for storing the pixel defect information is full or when the pixel defect information cannot be stored entirely, the pixel defect information is ranked and stored sequentially starting from one having the highest defect level or a latest detection time.例文帳に追加

また、画素欠陥情報を記憶する記憶領域が満杯、或いは追記しようとする画素欠陥情報のすべてを記憶しきれない場合には、欠陥レベルの大きいものから順位付けして或いは検出時期の新しいものから順位付けして上位のものから記憶させる。 - 特許庁

To provide an inspection method for a recording medium by which a defect actually causing a recording and reproducing defect or a tracking defect, etc., in the recording medium such as an optical disk or a magneto- optical disk is surely detected and the detailed factor causing the defect can be grasped.例文帳に追加

光ディスクや光磁気ディスクのような記録媒体における記録再生不良やトラッキング不良などを実際に生じさせる欠陥を確実に検出することができ、また欠陥の詳細な発生要因を把握することができる記録媒体の検査方法を提供する。 - 特許庁

Furthermore, in the scanning charged particle microscope for semiconductor test and semiconductor measurement, by using a pattern size measurement, defect detection, and defect classification or the like by using the image after image restoration, measurement precision improvement and high precision of defect detection and defect classification or the like become possible.例文帳に追加

さらに、半導体検査および半導体計測用の走査型荷電粒子顕微鏡において、画像復元後の画像を用いてパターン寸法計測、欠陥検出、欠陥分類等に用いることにより、計測精度向上や欠陥検出、欠陥分類の高精度化を可能とした。 - 特許庁

To provide an implant prosthesis for repairing a defect in an existing or latent tissue or muscular wall.例文帳に追加

既存のまたは可能性のある組織または筋壁の欠損を修復するための埋め込み型プロテーゼを提供する。 - 特許庁

To optically detect a streak-like defect 1 μm or less of the surface of a magnetic record medium such as a magnetic tape or the like.例文帳に追加

磁気テープ等の磁気記録媒体の表面の１μｍ以下の筋状欠陥を光学的に検出する。 - 特許庁

To provide a disk cartridge without lowering the functionality or hardly having the appearance defect, or furnished with high designing feature.例文帳に追加

機能性を損なわず、または外観不良の少ない、または意匠性の高いディスクカートリッジを提供する。 - 特許庁

METHOD AND COMPOSITION FOR TREATMENT AND REPAIR OF DEFECT OR LESION IN CARTILAGE OR BONE例文帳に追加

軟骨または骨における欠損または病変に対する治療および修復のための方法ならびに組成物 - 特許庁

an attempt to overcome a real or imagined defect or unwanted trait by overly exaggerating its opposite 例文帳に追加

実際のまたは想像上の欠陥、不必要な特徴を、反対を過剰に誇張することで克服する試み - 日本語WordNet

a disease caused by deficiency of niacin or tryptophan (or by a defect in the metabolic conversion of tryptophan to niacin) 例文帳に追加

ナイアシンまたはトリプトファンの欠乏（またはナイアシンへのトリプトファンの代謝転換の欠陥による）に起因する病気 - 日本語WordNet

Thereby, automatic start of read- out of a ROM is stopped at the time of occurrence of defect, and it can be determined whether a defect part exists in a read-out part of the ROM or in the other part depending on whether defect is caused or not.例文帳に追加

これにより、不良発生時にＲＯＭ読み出しの自動的な起動を停止させ、不良が発生するか否かにより不良個所がＲＯＭ読み出し箇所と他の箇所のいずれに存在するかを特定することができる。 - 特許庁

To provide an inspection method for detecting a wiring disconnection or defect and a connection defect in conduction aging image inspection of a liquid crystal module.例文帳に追加

液晶モジュール通電エージング画像検査において配線断線不具合、接続不具合を検出する構成の検査方法を提供する。 - 特許庁

To correct a white defect having a phase effect in a halftone phase shift mask or to correct a recessed phase defect in a Levenson type phase shift mask.例文帳に追加

ハーフトーン型位相シフトマスクの位相効果を持つ白欠陥修正やレベンソン型位相シフトマスクの凹型の位相欠陥修正を可能にする。 - 特許庁

As the defect echo length, 22 mm can be obtained from a reference value 25% of the defect echo height determined beforehand by a test piece or the like.例文帳に追加

予めテストピースなどによって定める欠陥エコー高さの基準値２５％から、欠陥エコー長さとして２２ｍｍを得ることができる。 - 特許庁

To achieve an inspection correction device for efficiently performing various processing even when defect inspection or a defect correction object substrate is large-sized.例文帳に追加

欠陥検査又は欠陥修正される基板が大型化しても、各種処理を効率よく行うことができる検査修正装置を実現する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device that can efficiently detect an actual defect by removing a false defect due to unevenness caused by the growth of crystal grains or the like generating on the circuit pattern of a semiconductor integerated circuit, and to provide a defect inspection method.例文帳に追加

半導体集積回路の回路パターン上に発生する結晶粒成長等によって生じる凹凸による疑似欠陥を除去し、実欠陥を効率よく検出する欠陥検査装置、および、欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

When a defect is developed in the cathode ray tube, information on a position of the defect or the like is inputted from a defect information input device 25, and an operation device 27 compares information on the defect and information on each of the members.例文帳に追加

陰極線管に欠陥Ｐが生じた場合、この欠陥Ｐに関する発生位置の情報等を欠陥情報入力装置25から入力して、この欠陥Ｐに関する情報と各部材に関する情報とを演算装置27で比較する。 - 特許庁

Periodic defect detecting parts 27 determine whether defects periodically occur or not.例文帳に追加

周期性欠陥検出部２７により、欠陥が周期的に発生するか否かを判定する。 - 特許庁

The defect determination circuit 55 determines the presence or absence of defects, based on the maximum intensity information.例文帳に追加

欠陥判定回路５５は、最大強度情報に基づいて、欠陥の有無を判定する。 - 特許庁

To provide an inspection system that can automatically inspect a defect or feature in a product.例文帳に追加

自動的に物品の欠陥または特徴を検査できる、検査システムを提供する。 - 特許庁

To accurately detect a defect irrespective of experience or physical condition of an inspector.例文帳に追加

検査員の熟練度や体調に関係なく、正確に欠陥を検出することができる。 - 特許庁

To provide computer-implemented methods for performing one or more defect-related functions.例文帳に追加

１つ又は複数の欠陥関連の機能を遂行するコンピュータ実行方法を提供する。 - 特許庁

To provide a carbon nanotube working device where a defect or a hole can be controllably introduced into the wall face of a carbon nanotube.例文帳に追加

ディフェクトや孔をカーボンナノチューブ壁面に制御して導入できるようにすること。 - 特許庁

To provide a micro-cuvette that removes or minimizes any known defect.例文帳に追加

本発明は、周知の欠点を除去する、若しくは最小化するマイクロキュベットに関する。 - 特許庁

To highly precisely inspect the defect of the surface of a tire or a tire configuring member.例文帳に追加

タイヤやタイヤ構成部材の表面の欠陥を高精度に検査することを可能とする。 - 特許庁

Therefore, occurrence of discharge breakdown or expansion of image defect can be suppressed.例文帳に追加

従って、放電破壊や、画像欠陥の拡大を引き起こすことを抑制することができる。 - 特許庁

To obtain an alternative foaming agent which overcomes a defect of chlorodifluoromethane or a pentane itself.例文帳に追加

クロロジフルオロメタン又はペンタン単独の欠点を克服する代替発泡剤を提供する。 - 特許庁

To correct phase defect in a Mo/Si multilayer film or Mo_2C/Si multilayer film of the blanks of an EUVL mask.例文帳に追加

EUVLマスクのブランクスのMo/Si多層膜またはMo_2C/Si多層膜中の位相欠陥を修正する。 - 特許庁

To provide a method and a device for detecting a defect or the deterioration of an elevator rope.例文帳に追加

エレベータロープの欠陥や劣化を検出するための方法および装置を提供する。 - 特許庁

Then, the discriminated defect of the short-circuit type or the disconnection type is repaired as required.例文帳に追加

その後、判別した短絡欠陥および断線欠陥を必要に応じて修正する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DETECTING DEFECT CIGARETTES AND/OR IRREGULARLY ARRANGED CIGARETTES AND EXCLUDING THE SAME例文帳に追加

欠陥煙草および／または不正配置煙草を探知し排除するための方法と装置 - 特許庁

When a defect (for example, operational defect of a starter 2 or the defect of a belt 5 leading to the breakage of the belt) is detected in this system, an economical running ECU performs the measures against these defects as follows.例文帳に追加

エコランＥＣＵは、本システムに異常（例えばスタータ２の作動異常、あるいはベルト切れに至る様なベルト５の異常等）が検出されると、その異常発生に対する以下の処置を実行する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method detecting automatically a defect wherein a foreign matter or the like is intermingled in an object having a plane, especially a defect of film thickness fluctuation on the plane caused by the foreign matter.例文帳に追加

平面を有する対象物に異物などが混入した欠陥、特に異物による平面上の膜厚変動の欠陥を自動的に検出することのできる、欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To analyze a defect distribution state based on defect data detected by an inspection apparatus and easily identify a defect reason due to an apparatus or a process in a semiconductor wafer manufacturing process.例文帳に追加

半導体ウェーハの製造工程において、検査装置によって検出された欠陥データに基づいて欠陥分布状態解析を行い、装置あるいはプロセス起因の不良原因の特定を容易にする。 - 特許庁

To provide an MLC display having no defect of a conventional technique or only the low level defect even if the defect is present, simultaneously having extremely high specific resistance value, and based on ECB and VA effects.例文帳に追加

従来技術の欠点を有していないか、または有していても小さい程度のみであり、同時に極めて高い比抵抗値を有する、ＥＣＢおよびＶＡ効果に基づくＭＬＣディスプレイを提供する。 - 特許庁

To provide a defect information management method which can collect information on the defect of a product in a store or the like timely, permitting to promptly grasp the product defect occurred in the market.例文帳に追加

販売店等における製品の不具合の情報をタイムリーに収集し、市場で発生している製品の不具合を迅速に把握することが可能な不具合情報管理方法を提供する。 - 特許庁

A defect identification determining part 21 obtains the times of defect detection by determining whether the defects detected by defect inspection devices arranged in a plurality of inspection processes are the same defects or not.例文帳に追加

欠陥同一判定部２１は、複数の検査工程に配置された欠陥検査装置によって検出された欠陥が同一欠陥であるか否かを判定して欠陥検出回数を求める。 - 特許庁

Judgment of defect is performed at the time without request of recording or readout, avoiding using of a recording position with possibility for generating the error repeatedly by temporary defect registration of a defect temporary registration means 4.例文帳に追加

ディフェクト仮登録手段４の仮のディフェクト登録によりエラーを繰り返し生ずる恐れのある記録場所の使用を避け、ディフェクトの判定を記録や読み出しの要求のない時に行う構成にした。 - 特許庁

The detection device detects from an obtianed imaged image, defect pixel candidates in each classification, by using each different detection condition in each classification of a point defect or a line defect detected from the imaged image.例文帳に追加

また、検出装置は、取得した撮像画像から、該撮像画像から検出する点欠陥又は線欠陥の種別ごとに異なる検出条件を用いて種別ごとに欠陥画素候補を検出する。 - 特許庁

When the data recorded by this recording method are erased, only a key part in a file including a deciphering key is physically set as a defect or registered as the defect by a defect management system.例文帳に追加

この記録方法により記録したデータを消去するとき、暗号を解くキーが含まれるファイル内のキー部分のみを物理的にディフェクトとし、又は、ディフェクト管理システムによりディフェクトとして登録する。 - 特許庁

Moreover, the device is equipped with a storage determination circuit 16 for determining if the defect information is stored or not in the defect information storing register 17, according to the information on the preset defect information storing method.例文帳に追加

また、予め設定された不良情報格納方法情報に応じて不良情報を不良情報格納レジスタ１７に格納するか否かを判定する格納判定回路１６を備えている。 - 特許庁

For example, in the case of the defect which is in communication with the bottom of the test object, the size of the defect is determined from appearances of the creeping wave, the mode transformed wave and the longitudinal wave or the transversal wave from the head edge section of the defect.例文帳に追加

例えば、欠陥が試験体の底に連通するものであり、クリーピング波、モード変換波及び欠陥先端部からの横波又は縦波の表れ方により欠陥の大きさを判別する。 - 特許庁