「DEFECT OR」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an imaging device and an image defect correcting method, which can adequately correct an image defect in a radiological image so as not to cause a mistaken diagnosis or the like.例文帳に追加

誤診等を引き起こすことがないように、放射線画像の画像欠陥を、適切に補正することができる画像撮影装置及び画像欠陥補正方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a display device capable of detecting a defect in which the potential of the output line of a first or a second scanning driver is fixed and capable of restoring the defect.例文帳に追加

第１又は第２の走査ドライバの出力線の電位が固定される欠陥を検出し、その欠陥を修復することができる表示装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a method with which the plastically existing casting defect in the casting can be confirmed without relating to have experience or not in a casting worker at the classifying time of the casting defect in the casting.例文帳に追加

鋳物の鋳造欠陥を分類するに際し、鋳造者の経験の有無に関係なく鋳物中に実際に存在する鋳造欠陥が確認され得る方法を提供する。 - 特許庁

An SEM scanning of the region provides defect information (determining whether open or short, positions of the defect electrode) of the electrode patterns based on an SEM image light-dark arrangement state of the respective extension wirings.例文帳に追加

この領域をＳＥＭ走査して、各延伸配線のＳＥＭ像明暗配列状態から、電極パターンの欠陥情報（オープン・ショートの判定、欠陥電極の位置など）を得る。 - 特許庁

When there is a pixel having a pixel value equal to or higher than a predetermined threshold, on the basis of a created histogram, the defect candidate region decision part 43 decides the pixel as a defect candidate region.例文帳に追加

欠陥候補領域判定部４３は、作成されたヒストグラムに基づいて所定の閾値以上の画素値を有する画素がある場合には、これを欠陥候補領域として判定する。 - 特許庁

When a quality defect is generated, search in the intellectual database 20 is performed to select an open box having the same volume with the open box, wherein the defect is generated, or a combination of the open boxes.例文帳に追加

品質不具合が発生すると、知的データベース２０を検索して品質不具合が発生した無蓋ボックスと同一体積となる無蓋ボックスあるいはその組合せを選択する。 - 特許庁

To avoid occurrence of printing defect by informing the coming of a cleaning timing before the adhesive capacity of a cleaning roller is saturated, and to eliminate defect of wasteful consumption of a paper sheet or an ink ribbon.例文帳に追加

クリーニングローラの接着能力が飽和する前にクリーニング時期の到来を通知して、印刷不良の発生を回避し、用紙やインクリボンを無駄に消費する不具合も解消する。 - 特許庁

Next, in a defect index calculation step 14, a defect index of the grain boundary 24 is calculated on the basis of the diameter and density of the He bubbles and the occurrence or nonoccurrence of the intercrystalline crack 26.例文帳に追加

次に、欠陥指標算出工程１４は、Ｈｅバブルの直径および密度、並びに粒界割れ２６の発生の有無に基づいて、粒界２４の欠陥指標を算出する。 - 特許庁

To provide a laminated thermoplastic resin film having excellent transparency, little defect of extremely thin coating stripes and little optical defect due to a massive foreign substance having a diameter of 0.3 mm or more.例文帳に追加

優れた透明性を有し、極めて薄い塗布筋欠点および長径０．３ｍｍ以上の塊状異物による光学欠点の少ない積層熱可塑性樹脂フィルムを提供する。 - 特許庁

To detect surely a defect of an inspection object without depending on a defect shape of the inspection object, each different polishing line formed on each inspection object or the like.例文帳に追加

検査対象物における欠陥の形状や各検査対象物に形成されたそれぞれ異なる研磨筋等によらず、検査対象物の欠陥を確実に検出すること。 - 特許庁

None of the provisions shall exempt the seller from liability for the defect in the case the Goods (excluding rights to use a facility or to receive offer of services) have a hidden defect. 例文帳に追加

商品（施設を利用し及び役務の提供を受ける権利を除く。）に隠れた瑕疵がある場合に販売業者が当該瑕疵について責任を負わない旨が定められていないこと。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide a defect detection method of a plate-like body capable of detecting a defect of the transparent or translucent plate-like body highly accurately without reflecting a rear surface state of the plate-like body.例文帳に追加

透明又は半透明の板状体の欠陥を、板状体の裏面の状況を反映することなく高精度で検出できる板状体の欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To achieve both the prevention of a defect in image quality such as a white stripe or a black stripe caused by the soiling of an electrifying roll and the prevention of a defect in image quality such as a void caused by a discharge product.例文帳に追加

帯電ロールの汚れに起因した白筋、黒筋等の画質ディフェクトの防止と、放電生成物に起因した白抜け等の画質ディフェクトの防止との両方を実現する。 - 特許庁

From the minimum values min (V1, V2) of the measured reflection echo height, the presence or absence of a defect and the size Lf the defect at the end of the joint interface 4 are discriminated.例文帳に追加

また、測定された反射エコー高さの最小値ｍｉｎ（Ｖ_１、Ｖ_２）から、接合界面４の端部における欠陥の有無及び欠陥の大きさＬ_ｆを判別するようにした。 - 特許庁

To provide the defect measuring device of a specimen capable of contriving the improvement of the attaching working of the specimen or a vibrator and the improvement of the precision of defect measurement without damaging the specimen.例文帳に追加

試料に損傷を与えることなく、試料又は振動子の取付け作業の向上及び欠陥測定の精度の向上が図れる試料の欠陥測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a precise three-dimensional image of a surface defect or an internal defect for an inspecting object in a liquid medium, using ultrasonic waves.例文帳に追加

超音波により液体媒質中の検査対象の表面欠陥や内部欠陥の３次元画像を精度良く得ることができる３次元超音波画像化装置を提供することである。 - 特許庁

To provide a defect-correcting technique of high transmittance and satisfactory phase controllability, in order to provide a phase shift mask consisting of ruggedness of glass or quartz with high-quality defect correction.例文帳に追加

ガラスまたは石英の凹凸からなる位相シフトマスクに対して高品質な欠陥修正を提供するためには、高い透過率で、位相制御性も良い欠陥修正技術が必要である。 - 特許庁

To provide an optical device defect inspection method and an optical device defect inspecting apparatus which is not affected by the difference in curvature or the position of an optical device, and which is high-speed and is low cost.例文帳に追加

曲率の違いや光学デバイスの位置に影響されない高速かつ安価な光学デバイス欠陥検査方法及び光学デバイス欠陥検査装置を提供すること。 - 特許庁

Whether the measured data recorded by the means 13 receiving the output refers to the internal defect or not is judged by a defect judgment means, and its result is output e.g. as image data.例文帳に追加

出力を受けたデータ記録手段１３が記録した計測データは、欠陥判断手段によって内部欠陥か否かの判定を行い、その結果を、例えば画像データとして出力する。 - 特許庁

To detect an occurrence of a defect such as an abnormal build up weld bead or arc, etc., during build up welding operation, and to prevent the occurrence of the defect.例文帳に追加

肉盛ビードやアークの異常などの不具合発生を肉盛溶接作業中に発見でき不良品の発生を防止できる、監視装置付き金属管内面肉盛装置を提供する。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus that hardly causes fixation of a paper or an image defect even when continuous or large-quantity printing using thick papers is carried out.例文帳に追加

厚い用紙で連続又は大容量プリントしても用紙の固着や画像不具合の発生しにくい画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To carry out the evaluation of the defect inspection or the like of a test piece having a pattern of a minimum line width of 0.2 μ or less by using a multiple beam at high throughput.例文帳に追加

最小線幅０．２ミクロン以下のパターンを有する試料の欠陥検査等の評価を、マルチビームを用いて高スループットで行なう。 - 特許庁

Consequently, the surface layer is heated at a temperature equal to or higher than 1,350°C and lower than the fusion point, so that the dislocation in the STI region is prevented to reduce or eliminate the polishing damage, the local unevenness defect of the wafer surface caused by polishing or a microcrystal defect.例文帳に追加

これにより、表層が１３５０℃以上融点未満で加熱されるので、ＳＴＩ領域の転位発生を防ぎ、研磨ダメージやウェーハ表面の研磨起因の局所的な凹凸欠陥あるいは微小結晶欠陥を低減または消滅できる。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of an optical recording medium which has no or less defect to the outermost periphery of a recording area, as a defect does not arise or being hardly generated even if a cleaning fluid permeates a protective layer which comprises inorganic materials.例文帳に追加

洗浄液が無機材料からなる保護層へ浸透しても欠陥が生じないか又は生じにくくなり、記録領域の最外周まで欠陥が無いか又は少ない光記録媒体の製造方法の提供。 - 特許庁

The salesperson knows its own characteristics (advantage and disadvantage) or defect on business operation by confirming the analysis results outputted to the sub PC 1C, and considers an improvement plan for developing the advantage or overcoming the defect.例文帳に追加

外交員は、サブＰＣ１Ｃに出力された分析結果を確認することにより自分の営業活動上の特性（長所と短所）や欠落点に気づき、その長所を伸ばしたり欠落点を克服するための改善案を考慮する。 - 特許庁

To eliminate such a defect that a building member comprising a metal or the like generates warpage, dew condensation or the like, the same defect generated when a decorative sheet is bonded and various defects generated in the decorative sheet.例文帳に追加

本発明においては、金属等の建築部材が、反り、結露等の欠点を有する点を解消し、また、化粧シートを貼った際の同様な欠点、および化粧シートに生じる種々の欠点を解消しようとすることを課題とする。 - 特許庁

That is to say, the existence or absence of the generation of the defect to communicate with the machining portion is predicted and determining by calculating the distance between the defect and the machining portion and by determining whether or not the distance is within a preset required value.例文帳に追加

すなわち、欠陥と加工部との距離を算出し、その距離が予め設定された所定値以下であるかどうかを判断することで、両者の間で接続が生じる不良の発生の有無を予測・判定している。 - 特許庁

To provide an appearance inspecting apparatus having the function of detecting an uneven defect and the function of detecting a pattern defect (minute defect) in a color filter or the like, from image data acquired by photographing a substrate such as the color filter or the like having a pattern shape by using an optics and a photographing system with high resolutions.例文帳に追加

カラーフィルタ等のパターン形状を有する基板を解像度の高い光学系と撮像系を用いて撮像した画像データより、カラーフィルタ等のパターン欠陥（微細欠陥）を検出する機能とムラ欠陥を検出する機能とを兼ね備えた外観検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

In response to the inquiry, the DB server 4 refers to a database 41 which has version information about the firmware in association with defect correction information showing the corrected defect in the version and specifies whether or not there is any firmware whose defect can be resolved, or specifies the version of the firmware when such firmware exists.例文帳に追加

ＤＢサーバ４は、それに対応し、ファームウェアのバージョン情報とそのバージョンで改修された不具合を示す不具合改修情報とを関連づけて有するデータベース４１を参照して、不具合を解決可能なファームウェアの有無および不具合を解決可能なファームウェアがある場合にはそのファームウェアのバージョンを特定する。 - 特許庁

To enable a user to rapidly specify the cause for a defect without visiting a facility where a speech reproduction system is arranged or making reappearance experimentation in case of the occurrence of such defect in this speech reproduction system by a fault or the like and to elucidate the process of falling into the defect.例文帳に追加

故障などにより音声再生システムに不具合が発生した場合に、当該音声再生システムが配置されている施設に赴いたり、再現実験を行ったりすることなしに、その不具合の原因を速やかに特定することができるようにするとともに、不具合に陥ったプロセスを判明することができるようにする。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for the inspection of a defect with reference to a film wherein the defect can be inspected quickly and with high accuracy from the film in which fillers such as particles or the like exist and information on the inspection of the defect is recorded or attached so as to be provided as a filmlike product and to provide the filmlike product.例文帳に追加

粒子などのフィラーが存在するフィルムの中から、迅速かつ高精度な欠陥検査を可能にし、該欠陥検査の情報を記録若しくは添付してフィルム状製品として提供するフィルム対する欠陥検査方法とその装置並びにフィルム状製品を提供することにある。 - 特許庁

A defect analysis memory retrieved section 3B of a defect analysis memory section 3A provided in a main body 3 of an IC tester continuously retrieves a changing point in data indicating whether each bit is defective or not, to obtain an address corresponding to the changing point from a defect analysis memory 3C.例文帳に追加

ＩＣ試験装置本体３に設けられた不良解析メモリ部３Ａの不良解析メモリ検索部３Ｂにより、各ビットの良否を表すデータの変化点を連続的に検索し、不良解析メモリ３Ｃから前記変化点に対応するアドレスを取得する。 - 特許庁

To provide a surface defect inspection device capable of freely setting an incident angle so as to form an optimum observation condition to each defect or pattern on a subject and further freely setting an incident direction to perform an accurate defect inspection.例文帳に追加

被検体上の各欠陥やパターンに対して最適な観察条件となるように入射角度を自由に設定でき、又これに加えて入射方向を自由に設定でき、精度の高い欠陥検査が可能となる表面欠陥検査装置を提供すること。 - 特許庁

When a defect part X is included in either of one turn of the positive electrode plate P or one turn of the negative electrode plate N, the defect part X is removed by the defect part removing devices 2221, 2222 before producing the wound electrode body 100.例文帳に追加

一方，正極板Ｐの一巻分と負極板Ｎの一巻分とのいずれかに欠陥部分Ｘが含まれている場合に，その欠陥部分Ｘを欠陥部分除去装置２２２１，２２２２により除去した後に，捲回電極体１００を製作する。 - 特許庁

To provide a composition and the like useful for stably preparing an optical anisotropic layer in which defects or the like caused by an alignment defect are eliminated or reduced.例文帳に追加

配向欠陥に起因する欠陥等のないまたは軽減された光学異方性層を安定的に作製するのに有用な組成物等を提供する。 - 特許庁

To provide a casting method for obtaining a steel ingot or a casting free from an internal defect such as a blowhole or a center cavity, in a high Cr-containing steel.例文帳に追加

高Ｃｒ含有鋼において、ザクまたはセンターキャビティなどの内部欠陥の発生のない鋼塊または鋳片を得るための鋳造方法の提供。 - 特許庁

The subsets of the IO can include one or more redundant IOs of the plurality of redundant IOs (108g to h) which replace one or more main IOs (108a to f) each of which has a defect.例文帳に追加

IOのサブセットは、欠陥のある１つ以上の主IO(108a-f)を有効に置き換える複数の冗長IO(108g-h)のうちの１つ以上を含むことができる。 - 特許庁

To easily and precisely determine presence or absence of abnormalities such as a defect causing a flow channel of the biochemical reaction cartridge to be clogged or a fluid to leak.例文帳に追加

生化学反応カートリッジの流路の詰まりや、流体の漏れの原因となる不具合などの異常の有無を、簡単に精度良く検査できるようにする。 - 特許庁

The blocks of a prescribed brightness level or more are extracted to serve as defect candidates, and the candidates including the blocks of a prescribed number or more are excepted from the candidates.例文帳に追加

所定の輝度レベル以上のブロックを抽出して欠点候補とし、所定数以上のブロックを含む欠点候補を候補から除外する。 - 特許庁

To promote the prevention of damages to an insulator, withstand voltage defect, cross contact and deterioration in electric characteristics caused by pressure at the time of connector pressure contact, flexure or bending or the like during installation.例文帳に追加

コネクタ圧着時の圧力や布設時の曲げ、屈曲などによる絶縁体の損傷、耐圧不良や混触、電気特性の劣化の防止を図る。 - 特許庁

To provide an inspection device for plate glass or the like capable of detecting simply an edge and capable of detecting accurately a defect such as a flaw or a stain.例文帳に追加

エッジの検出を簡便に行うことができ、傷、汚れなどの欠点の検出を正確に行うことができる板ガラスなどの検査装置を提供する。 - 特許庁

To efficiently and effectively treat the periphery portion of a substrate having surface roughness or defect, or an unnecessary adhered material etc. becoming a pollution source which has occurred.例文帳に追加

表面荒れや欠陥、または汚染源となる不要な付着材などの発生した基板の周縁部を効率良くかつ効果的に処理すること。 - 特許庁

The distortion or the defect is caused by the planar or spacial disarrangement of the crystal structure and is taken-off by rearranging atoms in order.例文帳に追加

これら歪や欠陥は結晶組織の平面的或いは空間的秩序の乱れであり、原子を秩序正しく再配列することで取り除くことができる。 - 特許庁

To provide a chip-type electronic component with high reliability which does not cause a defect such as a crack or gap derived from the stress or tension during forming processing.例文帳に追加

フォーミング加工時のストレスや引張等に起因するクラックや隙間等の不具合が生じない信頼性の高いチップ型電子部品を提供する。 - 特許庁

To sample quickly a slice specimen processed for analyzing by observation, instrumental analysis or the like by means of TEM or STEM, a foreign matter or a defect existing on the surface of a semiconductor wafer or the like or inside thereof.例文帳に追加

本発明の目的は、半導体ウェハ等の表面や内部にある異物や欠陥などをＴＥＭもしくはＳＴＥＭで観察や分析など解析するために加工された薄片試料を迅速に採取することに関する。 - 特許庁