「DEFECT OR」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

To extend the life of a mold by properly preventing the occurrence of burr or a defect and to enhance the yield of a resin molded product.例文帳に追加

バリや欠損の発生を適切に防止して、型寿命を延ばし、樹脂成形品の歩留りを向上させる。 - 特許庁

To prevent electrode corrosion and soldering defect by using a simple cleaning process or without cleaning.例文帳に追加

簡単な洗浄工程もしくは無洗浄で電極の腐食およびはんだ不良を防止できるフラックスを提供すること。 - 特許庁

The presence or absence of an internal defect can be verified clearly according to the surface temperature distribution by the temperature change in the surface.例文帳に追加

その表面の温度変化による表面温度分布から、内部欠陥の存否を明確に確認することができる。 - 特許庁

Or, the region is assumed to a defective region and the information may be registered to a defect registering region on a record medium.例文帳に追加

あるいは、その領域は欠陥領域であると見なし、記録媒体上の欠陥登録領域に登録してもよい。 - 特許庁

A stripe shaped recess (16) is formed on a GaN substrate (10) having a low defect concentration of 10^6 cm^-2 or less by etching.例文帳に追加

欠陥密度が１０^6ｃｍ^-2以下と低いＧａＮ基板(10)に、エッチングによってストライプ状の凹部(16)を形成する。 - 特許庁

The inspection device 1 extracts a defect (dirt or chip) from the differences between the reference region image (am) and similar region images (bm).例文帳に追加

検査装置１は基準領域画像ａｍと類似領域画像ｂｍとの差異から、欠陥（汚れ、欠け）を抽出する。 - 特許庁

To provide an appearance inspection apparatus that allows a user to give precedence to either defect detection performance or throughput.例文帳に追加

ユーザが、欠陥の検出性能とスループットのどちらかを優先させることができる外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a glass bottle inspection device which can inspect a defect of two or more parts of an open part of the glass bottle with a high speed.例文帳に追加

ガラス瓶の瓶口の複数部位の不良を高速に検査することができるガラス瓶検査装置を提供する。 - 特許庁

Any defect or misassembling of each part can be detected if such part is opposed to the protector 70.例文帳に追加

また、プロテクター７０と対向する部品であれば、各部品の異常や誤組立も分解することなく発見できる。 - 特許庁

To prevent a breakage of an image, data of a patient or the like and a defect of the recording medium when a portable recording medium is removed.例文帳に追加

可搬記録媒体を抜去する際の画像や患者データ等の破壊を防止し、記録媒体の故障も防止する。 - 特許庁

DIAGNOSIS OR DETERMINATION FOR PARAMETER OF INSTALLATION DEVICE FOR DETECTING SURFACE DEFECT ON SURFACE OF COMPONENT BY LEACHING例文帳に追加

浸出によって部品の表面の表面欠陥を検出する据付装置のパラメータを診断または判定すること - 特許庁

To identify and separate unacceptable products from acceptable products or shut down a device by a computer system upon detection of a defect.例文帳に追加

欠陥の検出により、コンピュータシステムは、拒絶製品を識別して、良製品から分離し、もしくは、装置を止める。 - 特許庁

To provide a method for correcting non-uniform banding print quality defect in an image forming or printing process.例文帳に追加

画像形成又は印刷プロセスにおいて、不均一なバンディング印刷品質欠陥を修正する方法を提供する。 - 特許庁

On the basis of the said analysis, the monitoring device identifies a cycle unit that is not correctly operated, displays the conceivable causes of the defect or abnormality of the faulty cycle unit and provides an analysis report and the correction advice.例文帳に追加

そのコンピュータは、各個別サイクルユニットの各サイクルが開始したか、完結したかの情報を記録する。 - 特許庁

To avoid trouble due to a hardware fault which fixes a memory cell having a defect in a high-resistance state or a low resistance state.例文帳に追加

欠陥のあるメモリセルを高抵抗状態または抵抗状態に固定するハード障害による不具合を回避する。 - 特許庁

A deciding part 44 discriminates whether or not the test concave and convex parts are a defect on the basis of the comparison results of the comparing part 42.例文帳に追加

判定部４４は、比較部４２の比較結果に基づいて、検査凹凸部が欠陥であるか否かを判定する。 - 特許庁

To prevent image defect caused by excessive or insufficient supply of a toner to a developing roller from a toner supply roller.例文帳に追加

トナー供給ローラから現像ローラに対するトナー供給過多又は供給不足による画像不良を防止する。 - 特許庁

To provide a heat treatment method capable of reducing any breakage or crystal defect arising on a semiconductor substrate.例文帳に追加

半導体基板の破損や半導体基板に発生する結晶欠陥を抑制できる熱処理方法を提供する。 - 特許庁

To prevent image defect resulting from paper powder from occurring even using recycled paper or imported paper including much loading material.例文帳に追加

填料を多く含む再生紙や輸入用紙を使用しても紙粉に起因する画像不良が生じないようにする。 - 特許庁

To solve the problem that, as the defect of austenitic stainless steel, when it is exposed to an environment containing chlorine, chloride or the like, pitting corrosion or abnormal corrosion, and, further, stress corrosion cracking or the like occur by applying a corrosion preventive film having corrosion resistance on the surface as a countermeasure therefor.例文帳に追加

オーステナイト系ステンレスの欠点として、塩素や塩化物などを含む環境にさらされると、孔食や異状腐食さらには応力腐食割れなどを発生する。 - 特許庁

In the seal defect prevention apparatus, a line back dancer section 33 (or 43) and a stretch section 34 (or 44) are arranged with a first seal forming section 32 (or a second seal forming section 42) between.例文帳に追加

シール不良防止装置は、ラインバックダンサ部３３（又は４３）と張設部３４（又は４４）とを第１のシール形成部３２（又は第２のシール形成部４２）を間にして配置する。 - 特許庁

To provide equipment or a chuck securing a thin and/or flexible substrate, and thereby sucking the substrate uniformly over the entire surface without a defect such as a warp or a bend.例文帳に追加

本発明は、薄くおよび／または可撓性のある基板を固定し、これにより反りや曲げの欠点なく基板を均一に全面的に吸引することができる装置またはチャックを提供する。 - 特許庁

Then, the defect detecting signal is produced and outputted, by detecting that the fluctuation components of the peak hold signal have become threshold or larger on the positive side, or have become the threshold or smaller on the negative side.例文帳に追加

そして、このピークホールド信号の変動成分が正側の閾値以上又負側の閾値以下となったことを検出することによって、欠陥検出信号を生成して出力する。 - 特許庁

The defect-determining part 52 determines that there are the defects on the back face R, an intermediate part I or the back face H, when the captured image is an abnormal image including the defect Df, Dr, Di on the front face H, the back face R or the intermediate part I and the defects appear at one, two or three locations.例文帳に追加

欠陥判断部５２は、取り入れた画像が表面Ｈ、裏面Ｒ及び中間Ｉの欠陥Df,Dr,Diの何れかを含む異常画像であるときに、これが一ヶ所、二カ所又は三ヶ所に出たときにそれぞれＲ、Ｉ又はＨに欠陥があると判断する。 - 特許庁

To provide a signal detecting circuit capable of detecting the defect at the same detection level even when the defect is detected on either the inner periphery or the outer periphery of a disk and also capable of detecting a mirror part even when the attenuation amount of an RF signal in the case of the mirror is less than that of a CD or DVD like the case of a DVD-R or DDCD.例文帳に追加

ディスクの内周においても外周においてもディフェクト検出の際に同じ検出レベルで検出することができ、また、DVD-RやDDCDのようにミラー時のRF信号の減衰量がCDやDVDよりも小さい場合にもミラー部を検出することができる信号検出回路を提供する。 - 特許庁

To achieve a defect inspection apparatus capable of accurately inspecting micro foreign matter or defect at a high speed for an inspection target substrate in which a repetitive pattern and a non-repetitive pattern are mixed.例文帳に追加

繰り返しパターンと非繰り返しパターンとが混在する被検査対象基板に対して、微小な異物または欠陥を高速で、しかも高精度に検査できる欠陥検査装置を実現する。 - 特許庁

To provide a thermocompression adhesive for connecting a flip chip, having a high connection reliability such as moisture resistance and heat resistance, and inhibited with the occurrence of void development defect or connection defect caused by resin curing.例文帳に追加

耐湿性および耐熱性の接続信頼性が高く、ボイド発生不良や樹脂硬化による接続不良の発生が抑制されたフリップチップ接続用熱圧接着剤を提供すること。 - 特許庁

As a result, even if an ejection defect occurs in at least one of a plurality of nozzles in the X-head 41X and/or the Y-head 41Y, the defect region becomes anisotropic.例文帳に追加

したがって、仮にＸヘッド４１Ｘ及び／またはＹヘッド４１Ｙにおける複数のノズルうちのうち少なくとも１つに吐出欠陥が発生していても、その欠陥領域は異方的となる。 - 特許庁

Logical sum of the defect map and mask data is then operated (ST15) and compared and then a decision is made whether a thin film having defects along the defect map can be utilized or not for a pattern along the mask data (ST16).例文帳に追加

次に、欠陥マップとマスクデータとろ論理和を演算処理して（ＳＴ１５）比較し、欠陥マップに沿った欠陥を有する薄膜がマスクデータに沿ったパターンに対して利用可能か判定する（ＳＴ１６）。 - 特許庁

A low resolution optical system is formed by arranging space low-pass filters (10a and 10b) which enlarge or average the image of a defect in an optical path, and the image of the defect is enlarged on a camera device.例文帳に追加

欠陥の画像を拡大又は平均化する空間ローパスフィルタ（１０ａ，１０ｂ）を光路中に配置して低解像度光学系を形成し、欠陥の画像を撮像装置上において拡大する。 - 特許庁

To provide a defect erasing apparatus for a semiconductor wafer capable of erasing a crystal defect existing in a surface layer without bringing about a new evil for bringing about a slip dislocation or the like.例文帳に追加

スリップ転位等が生ずる等の新たな弊害を生じさせることなく、その表層部分に存在する結晶欠陥を消去することができる半導体ウエハの欠陥消去装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detector for easily removing pseudo defect images generated by vibration, or the like and for preventing the erroneous detection of pseudo defects.例文帳に追加

本発明は、振動等により生じた擬似欠陥画像を容易に除去することが出来、擬似欠陥の誤検出を防止出来る欠陥検出装置を提供することを可能にすることを目的としている。 - 特許庁

To prevent a projection defect due to residual magnetic polisher slurry or a recess defect due to magnetic polishing slurry carried in a succeeding step, even when a substrate is subjected to local polishing using magnetic polishing slurry.例文帳に追加

磁性研磨スラリーを用いた局所研磨を基板に施しても、磁性研磨スラリーの残留による凸欠陥や、次工程への磁性研磨スラリーの持込みによる凹欠陥の発生を防止する。 - 特許庁

To provide a manufacturing device and a manufacturing method for a semiconductor single crystal by which a silicon single crystal having a desired defect region or a desired defect-free region can be easily manufactured in high yield.例文帳に追加

所望の欠陥領域あるいは所望の無欠陥領域を有するシリコン単結晶を容易に歩留まりよく製造できる半導体単結晶の製造装置及び製造方法を実現すること。 - 特許庁

In a static analysis device 10, a defect information generation part 12 extracts a place which is determined that it cannot be confirmed whether or not it is a defect because it includes an unconfirmed element, from a source program.例文帳に追加

静的解析装置１０において，欠陥情報生成部１２は，ソースプログラムから，未確定要素を含むために欠陥であるか否かを確定できないと判定された箇所を抽出する。 - 特許庁

In a hard-disc drive, a defect region on the hard disc is classified as corresponding to either thermal asperity (TA) or media defect (MD) by generating two statistical measures.例文帳に追加

ハードディスクドライブにおいて、２つの統計的基準を生成することによって、ハードディスク上の欠陥領域がサーマル・アスペリティ（ＴＡ）または媒体欠陥（ＭＤ）のどちらに対応するかを分類する。 - 特許庁

Any of punctate superficial keratitis, corneal epithelial defect, conjunctival epithelial defect, corneal erosion, keratoconjunctivitis or corneal ulcer is preferable as the keratoconjunctive diseases caused by the dry eye.例文帳に追加

該ドライアイに起因する角結膜疾患としては、点状表層角膜症、角膜上皮欠損、結膜上皮欠損、角膜びらん、角結膜炎、又は角膜潰瘍のいずれかであることが好ましい。 - 特許庁

Based upon a result thereof, it can easily be determined whether a defect which cannot be removed through the cleaning processing is the defect in the substrate or caused owing to a problem of the cleaning processing process.例文帳に追加

その結果に基づいて洗浄加工によって除去できなかった欠陥が基板内部の欠陥であるのか、洗浄加工プロセスの問題によるものかを容易に判定することができるようになる。 - 特許庁

To obtain a surface inspection apparatus by which a defect is detected with high accuracy by detecting a patternlike scab defect having no remarkable uneven property such as a crack, a twist or a burr on a surface on a face to be inspected surely.例文帳に追加

被検査面における表面の割れや捩れやめくれ上がりのような顕著な凹凸性を持たない模様状ヘゲ欠陥を確実に検出して、高精度に欠陥を検出する。 - 特許庁

The inspection-nullifying state in the output circuit 39 means a state that the input of the inspection-nullifying state from the defect presence or absence-judging means C1 is nullified not to output the defect presence detection signal.例文帳に追加

出力回路３９における検反無効化状態は、欠点有無判定手段Ｃ１からの異常検出信号の入力を無効化して欠点有検出信号を出力しない状態である。 - 特許庁

To evaluate the absolute value of the height or the depth of an irregularity defect, to shorten simultaneously an inspection time, and to discriminate the defect irregularities.例文帳に追加

凹凸欠陥の高さあるいは深さの絶対値評価を行うことができるようにするとともに、その検査時間の短縮を同時に実現できるようにし、さらに欠陥の凹凸判別を行えるようにする。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of suitably and rapidly detecting a defect even when the manufacturing process is varied or the periodicity of images of an area to be inspected on a sample is low.例文帳に追加

製造プロセスが変動しても、また、試料から検査対象領域を撮像した撮像画像に周期性が少なくても、良好かつ迅速に欠陥検出できる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a mounting structure for an electronic component with a bump by which the generation of an open defect in a heat cycle test or the like is prevented, and by which a migration defect between electrode pads can be prevented effectively.例文帳に追加

本発明は、温度サイクル試験等におけるオープン不良の発生を防止し、電極パッド間のマイグレーション不良を有効に防止できるバンプ付電子部品の実装構造を提供することにある。 - 特許庁

To obtain a surface inspection apparatus by which a defect is detected with high accuracy by detecting a patternlike scab defect having no remarkable uneven property such as a crack, a twist or a burr on a surface as a face to be inspected surely.例文帳に追加

被検査面における表面の割れや捩れやめくれ上がりのような顕著な凹凸性を持たない模様状ヘゲ欠陥を確実に検出して高精度に欠陥を検出する。 - 特許庁

The defect is preferably detected by employing one or more of an image processing method, a leakage flux method, and an operational abnormality and defect detecting method as a detection means.例文帳に追加

前記欠陥検出手段としては、画像処理法、漏洩磁束法及び連続鋳造中の操業異常欠陥検知法の１以上の手段により欠陥を検出することが好ましい。 - 特許庁