「DEFECT OR」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an inspection method of an active matrix substrate capable of inspecting point defect, line defect, or brightness defect at the stage of the active matrix substrate.例文帳に追加

アクティブマトリクス基板の段階で、点欠陥、線欠陥または輝度不良を検査することができるアクティブマトリクス基板の検査方法を提供すること。 - 特許庁

METHOD FOR DISCRIMINATING DISCONNECTION OR CONNECTION DEFECT IN AUTOMATIC TEE-UP DEVICE例文帳に追加

自動ティアップ装置における断線、接続不良等の判別方法 - 特許庁

sightlessness (especially because of a structural defect in or the absence of an eye) 例文帳に追加

見えないこと（特に目の構造的欠陥または欠如のため、） - 日本語WordNet

birth defect in which there is partial or total webbing connecting two or more fingers or toes 例文帳に追加

2つかそれ以上の指またはつま先をつなげる部分的または全体の水かきがある先天的異常 - 日本語WordNet

To diagnose whether a defect of the mobile terminal is caused by the mobile terminal itself or a defect in a network.例文帳に追加

携帯端末の不具合が携帯端末自身の不具合なのか、ネットワークの不具合によるものかを診断する。 - 特許庁

To specify the exacter coordinate position of a picture element defect by inspecting the presence or absence of the picture element defect of a liquid crystal display panel.例文帳に追加

液晶表示パネルの絵素欠陥の有無を検査し、絵素欠陥のより正確な座標位置を特定する。 - 特許庁

STAINLESS STEEL MINIMIZED IN DEFECT OR SURFACE COATING LAYER OF STAINLESS STEEL MINIMIZED IN DEFECT AND FORMED ON SUBSTRATE例文帳に追加

欠陥の少ないステンレス鋼又は基体に形成されたステンレス綱からなる欠陥の少ない表面被覆層 - 特許庁

A processing control part 38 omits the secondary defect detection processing when a large defect is detected by the primary defect detection processing before start of the secondary defect detection processing, or finishes the secondary defect detection processing in the middle when a large defect is detected by the primary defect detection processing after start of the secondary defect detection processing.例文帳に追加

処理制御部３８は、２次欠陥検出処理の開始前に１次欠陥検出処理で大欠陥が検出された場合に２次欠陥検出処理を省略する、または２次欠陥検出処理の開始後に１次欠陥検出処理で大欠陥が検出された場合に２次欠陥検出処理を途中で終了する。 - 特許庁

In the defect detecting apparatus 13a, the extraction of the candidate parts of the defect is performed on the basis of a signal level or the like and informations such as the signal level of defect indicating part, the position of the indicated part and the indicated length of the defect are transmitted to a defect selecting apparatus 15a.例文帳に追加

欠陥検出装置１３ａでは、信号レベルなどに基づき、欠陥候補部の抽出を行い、欠陥選択装置１５ａに対し、欠陥指示部信号レベル、指示部位置、欠陥指示長さなどの情報を伝送する。 - 特許庁

To eliminate or reduce an operational defect of a speaker system caused by a magnet chip or the like.例文帳に追加

マグネットの欠けら等に起因するスピーカー装置の動作不良をなくす又は低減する。 - 特許庁

To provide a method for producing nanorods or nanowires, by which the crystal defect-free copper nanorods or nanowires can be obtained in a high yield.例文帳に追加

結晶欠陥のない銅ナノロッド若しくはナノワイヤーを高い収率で得る。 - 特許庁

To detect a defect inside a substrate or on its back regardless of the depth from the substrate surface, and to detect a defect on the substrate surface and discriminate it from the defect inside the substrate or on its back.例文帳に追加

基板の内部又は裏面の欠陥を基板の表面からの深さに関わらず検出し、かつ基板の表面の欠陥を検出して基板の内部又は裏面の欠陥と区別する。 - 特許庁

The implantable prosthesis 20 for an anatomical defect, such as a tissue or muscle defect, promotes tissue or muscle growth into the prosthesis and subsequently strengthens the area of the defect.例文帳に追加

プロテーゼ内への組織または筋肉の成長を促進し、その後に欠損領域を補強する組織または筋肉の欠損などの解剖学的欠損用の植込み型プロテーゼ２０。 - 特許庁

An implantable prosthesis (20) for an anatomical defect, such as a tissue or muscle defect, that promotes tissue or muscle growth into the prosthesis and subsequently strengthens the area of the defect.例文帳に追加

プロテーゼ内への組織または筋肉の成長を促進し、その後に欠損領域を補強する組織または筋肉の欠損などの解剖学的欠損用の植込み型プロテーゼ（２０）。 - 特許庁

To realize high-quality defect correction of a photomask without leaving a halo component or re-deposition in the mask defect correction using ion beams or the mask defect correction using electron beams.例文帳に追加

イオンビームを用いたマスク欠陥修正や電子ビームを用いたマスク欠陥修正に対して、ハロー成分や再付着のない高品位なフォトマスクの欠陥修正を可能にする。 - 特許庁

Also, defect inspection is carried out at a linear recording density equal to or lower than 1/(2 to 4) of a defect size impossible to be error-corrected at the magnetic disk device, and a defect size targeted for acceptance/rejection determination in defect inspection.例文帳に追加

また、磁気ディスク装置でエラー訂正不可能な欠陥サイズであって且つ欠陥検査で合否判定の対象とする欠陥サイズの１／（２〜４）以下の線記録密度で欠陥検査を行うこと。 - 特許庁

The print output method is constituted so as to lower the concentration of the ink of the defect of a defect-containing image or the concentration of the ink of the defect and a region other than the region in the vicinity of the defect to perform print output.例文帳に追加

欠陥を含む画像において、前記欠陥または前記欠陥とその近傍の領域以外の領域のインキ濃度を下げてプリント出力するようにしたプリント出力方法。 - 特許庁

A control device determines whether or not the same defect is registered repeatedly into at least two defect detection data, based on position information of each defect registered in the defect detection data respectively, and acknowledges that a defect acknowledged to be registered repeatedly is a repeated defect.例文帳に追加

制御装置が、欠陥検出データの各々に登録されている欠陥の位置情報に基づいて、同一の欠陥が少なくとも２つの欠陥検出データに重複して登録されているか否かを判定し、重複して登録されていると認定される欠陥を重複欠陥と認定する。 - 特許庁

To make detectable a defect uniformly thicker or thinner than a reference value, a fine change, or a fine defect with high precision.例文帳に追加

基準値に対して一様に太く、または一様に細い欠陥、微小な変化や微小な欠陥でも高精度に検出できるようにする。 - 特許庁

In the case where the representative value R becomes a threshold value Th1 or higher, the pixel value of a defective pixel having a defect grade of defect grade N or higher is corrected.例文帳に追加

代表値Ｒが閾値Ｔｈ１以上となる場合に、欠陥グレードＮ以上の欠陥グレードの欠陥画素の画素値を補正する。 - 特許庁

To correct inner and/or external defect in an image capture process.例文帳に追加

画像取込みプロセスの内部および／または外部欠陥を補正すること。 - 特許庁

To inspect whether or not a defect such as disconnection is caused in a speaker line.例文帳に追加

スピーカラインに断線等の異常が生じていないかを検査する。 - 特許庁

absence of the mammary glands (either through surgery or developmental defect) 例文帳に追加

乳腺が欠如していること（外科手術、あるいは発達異常のため） - 日本語WordNet

congenital defect of having one or more extra chromosomes in somatic cells 例文帳に追加

体細胞に1つ以上の余分な染色体を持つ先天的欠陥 - 日本語WordNet

To detect an existing defect on a substrate or a panel, a defect confirmed after a mounting process, or a possible future defect, and to correct them according to detected defect modes, in an active matrix substrate or an active matrix liquid crystal display panel.例文帳に追加

アクティブマトリクス基板、又はアクティブマトリクス液晶パネルにおいて、基板又はパネルに発生している欠陥、実装工程後に確認される欠陥、或いは将来欠陥となる恐れのある欠陥を検出し、検出した欠陥モードに応じた修正を行う。 - 特許庁

The presence or absence of a defect in a wiring pattern is confirmed by visual observation, image processing, or the like; defect information on the position, coordinates, size, or the like is confirmed, and the type of the defect is determined; when the defect is detected; and a machining method and machining conditions are set according to the type and state of the defect (step S1).例文帳に追加

目視又は画像処理等により配線パターンの欠陥の有無を確認し、欠陥を検出した場合は、その位置、座標及び大きさ等の欠陥情報を確認すると共に欠陥の種類を判定し、欠陥の種類及び状態に応じて加工方法及び加工条件を設定する（ステップＳ１）。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for manufacturing an optical film which has no defect or little defect and has a large area with a continuous process.例文帳に追加

連続工程で、欠陥なく又は少なく、大面積に光学フィルムを製造可能な製造方法を提供する。 - 特許庁

To realize a defect inspection device by which a vertical or horizontal defect of fine line width such as a CD error can be detected.例文帳に追加

ＣＤエラーのような微細線幅の縦長又は横長の欠陥を検出できる欠陥検査装置を実現する。 - 特許庁

Additionally a defect transfer property onto the exposure substrate of defect seed generated at a pattern connection section or the like can be reduced.例文帳に追加

さらに、パターンつなぎ部などに生じた欠陥種の露光基板上への欠陥転写性を低減することができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device having a structure that can detect a short-circuit defect and an opening defect of a through electrode in a chip or a wafer.例文帳に追加

貫通電極のショート不良およびオープン不良をチップまたはウェハ状態で検出可能な構造とする。 - 特許庁

To provide a method that guarantees a defect or occurrence of a defect on a semiconductor wafer to be recognized at an early time.例文帳に追加

半導体ウェーハ上のディフェクト又はディフェクト発生を早期に認識することを保証可能とする方法の提供。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus and an inspection method for simultaneously detecting a phase defect and a pattern defect or a foreign substance.例文帳に追加

位相欠陥と、パターン欠陥または異物とを、同時に検出可能な検査装置および検査方法を提供する。 - 特許庁

Consequently, occurrence of a bridge defect or icicle defect between adjacent electrode leads 6 can be suppressed.例文帳に追加

これにより、隣り合う電極リード６の間にブリッジ不良またはツララ不良が発生することを抑制することができる。 - 特許庁

Timing of additional registration itself is basically optional provided that it is after the defect detection even when it is before or after defect compensation.例文帳に追加

追加登録タイミング自体は欠陥補償の前でも後でも、欠陥検出以後なら基本的には任意である。 - 特許庁

To perform the control made to correspond to dust or a defect by discriminating dust (a mote, a scratch) on the surface of a disk from the defect on a recording surface.例文帳に追加

ディスク表面のゴミ（埃、傷）と記録面のディフェクトを識別して、ゴミ、ディフェクトに対応した制御を行う。 - 特許庁

To provide a defect patch device and method that patches a defect in the heart or other cardiovascular tissue.例文帳に追加

心臓又はその他の心管系組織にある欠損部にパッチを当てる欠損部パッチ用の装置及び方法の提供。 - 特許庁

To detect a defect caused by a manufacturing process or a manufacturing device and to specify the process causing the defect.例文帳に追加

製造プロセス又は製造装置に起因した不良の検出を可能とし、不良の原因となったプロセスを特定する。 - 特許庁

equipment failure attributable to some defect in a circuit (loose connection or insulation failure or short circuit etc.) 例文帳に追加

回路の若干の欠陥に起因している器材故障（接続不良、絶縁不良または短など） - 日本語WordNet

To provide a defect inspection device having unprecedented high accuracy, in a defect inspection device of a manufacturing process of a semiconductor device; and to provide a defect inspection (or evaluation) method.例文帳に追加

半導体デバイスの製造過程の欠陥検査装置において従来にはない精度の良い欠陥検査装置及び検査（或いは評価）方法を実現する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and an inspection device determining quickly whether a defect on a disk is a circumferential flaw or an island defect.例文帳に追加

ディスク上の欠陥について円周疵か、島状欠陥かの判定を高速に処理することが可能な欠陥検査方法および検査装置を提供することにある。 - 特許庁

In this system and method, upon the detection of a defect, the printer is enabled to skip the defect area, or alternatively an image influenced by the defect is reprinted.例文帳に追加

本発明のシステムおよび方法において、欠陥が検出された場合、プリンタをイネーブルして欠陥領域をスキップさせるか、欠陥の影響を受けた画像を再印刷する。 - 特許庁

To provide a substrate inspecting method for detecting whether the defect of the substrate is a backside defect produced in the front stage of the inspection process or the backside defect produced during inspection.例文帳に追加

検査プロセスの前段階で生じた裏面欠陥なのか、もしくは検査時に生じた裏面欠陥なのかを検出することができる基板検査方法を提供する。 - 特許庁

Crystal growth is conducted under a condition that the central part of the crystal becomes a defect-free zone, an oxidation inducement stacking defect-formed zone or an infrared scattering defect-formed zone.例文帳に追加

結晶中心部が無欠陥領域、酸化誘起積層欠陥発生領域又は赤外散乱欠陥発生領域となる条件で結晶育成を行う。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of certainly detecting a defect such as foreign matter or the like having mixed in an object to be detected without being affected by the shape of the object to be detected or the position of the defect.例文帳に追加

検出対象の形状や、欠点の位置に影響されず、検出対象に混入している異物等の欠点を確実に検出することができる欠点検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a glass substrate defect inspection device or a glass substrate defect inspection method or a glass substrate defect inspection system attaining accurate inspection by securing flatness over the entire surface of a separated glass substrate.例文帳に追加

分ガラス基板の全面亘って平坦性を確保し、精度よく検査できるガラス基板欠陥検査装置またはガラス基板欠陥検査方法あるいはガラス基板欠陥検査システムを提供する。 - 特許庁