「DEFECT OR」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD FOR SEARCHING DEFECT IN CONCRETE STRUCTURE OR BEHIND THE STRUCTURE例文帳に追加

コンクリート構造物中或いはコンクリート構造物背後の欠陥探査方法 - 特許庁

To process information to be managed in such a manner as to grasp abnormality or defect relating to manufacturing of a product even before the abnormality or the defect occurs.例文帳に追加

製品の製造に関する異常や不良が生じる前であっても、その異常や不良を把握できるように、管理する情報を加工する。 - 特許庁

purpura resulting from a defect in the capillaries caused by bacteria or drugs 例文帳に追加

バクテリアまたは薬によって起こる毛細血管の欠陥による紫斑病 - 日本語WordNet

To prevent image defect from being caused by fixing on cardboard paper, thin paper, or coated paper.例文帳に追加

厚紙，薄紙，コート紙の定着に起因する画像不良を防止する。 - 特許庁

To test simply and surely defect or the like of a semiconductor memory and to relieve it.例文帳に追加

半導体メモリの欠陥等を簡単且つ確実に検査し救済する。 - 特許庁

Defect candidates having an area equal to or larger than a defect area determined values, based on the area of a defect having a minimum error size, are extracted from the defect candidates as actual defects selected corresponding to errors.例文帳に追加

そして、選別された各欠陥候補に対して、その面積がエラーとなる最小サイズの欠陥の面積に基づく欠陥面積判定値以上のものを真にエラーに対応する欠陥として抽出する。 - 特許庁

When a defect has been found, either a defect mark such as a punch for providing a physical mark on the paper sheet near the defect, or an electronic apparatus capable of transmitting an accurate defect position to a printing part is used.例文帳に追加

欠陥が発見された場合、本発明は、欠陥の近くの紙に物理的な印をつけるパンチ等の欠陥印か、欠陥の正確な位置を印刷部に伝達できる電子装置のいずれかを使用する。 - 特許庁

After first defect inspection processing (step S11) for inspecting whether there is a defect on a wafer or not is performed, a defective chip is determined by the defect detected by the first defect inspection processing (steps S12, S13).例文帳に追加

ウェハ上に欠陥があるか否かを検査する第１の欠陥検査処理（ステップＳ１１）を実行した後、その第１の欠陥検査処理にて検出された欠陥により、不良チップを判定する（ステップＳ１２，Ｓ１３）。 - 特許庁

To provide a technique capable of simultaneously reducing a hole related defect and a powder related defect upon the casting of a low carbon steel or the like.例文帳に追加

低炭素鋼等を鋳造するに際し、ホール性欠陥とパウダー性欠陥を同時に低減できる技術を提供する。 - 特許庁

To prevent a series of works from being made defficient by a mask defect by reliably detecting the presence or absence of a defect in the mask.例文帳に追加

マスクの欠陥の有無を確実に検出し、マスクの欠陥により、一連のワークに不具合が発生するのを防止すること。 - 特許庁

To improve convenience of a defect review device or an inspection system user by shortening the time required to create a report on defect review.例文帳に追加

欠陥レビューのレポート作成に要する時間を短縮し、欠陥レビュー装置あるいは検査システムユーザの利便性を向上する。 - 特許庁

Or, it is registered to a secondary defect list to which the address of the defect found while recording information and the alternating address are registered.例文帳に追加

または、情報を記録中に発見された欠陥のアドレスとその交替アドレスとを登録する二次欠陥リストに登録する。 - 特許庁

The thermal oxide film is formed in a shape surrounding a defect in the silicon layer and reflecting or transcribing the defect.例文帳に追加

熱酸化膜は、シリコン層内の欠陥を取り囲み、当該欠陥を反映した又は転写した形状として形成される。 - 特許庁

The continuous line for correcting the defect in the color filter is provided with a defect inspecting device 11 to inspect presence or absence of any defect with respect to a color filter substrate colored in a coloring step 100 and a defect correcting device 14 to correct a defective part in the case the defect is present in the color filter substrate as a result of inspection with the defect inspecting device 11.例文帳に追加

着色工程＃１００で着色されたカラーフィルタ基板に対して、欠陥の有無を検査する欠陥検査装置１１と、欠陥検査装置１１で検査した結果、カラーフィルタ基板に欠陥がある場合に、その欠陥部分を修正する欠陥修正装置１４とを備えるカラーフィルタ欠陥修正一貫ラインである。 - 特許庁

To restrain with high precision the warpage or adhesion defect of a manufactured cardboard sheet.例文帳に追加

製造された段ボールシートの反り、接着不良を高精度に抑制すること。 - 特許庁

To easily detect a defect due to a residual substance of a semiconductor or an insulating material.例文帳に追加

半導体や絶縁物の残渣物質による欠陥の検出を容易とする。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR PREVENTING OR REPAIRING HOLE DEFECT IN LASER SPOT WELDING例文帳に追加

レーザスポット溶接における穴欠陥の防止または修復方法および装置 - 特許庁

To more accurately check the defect of an object to be checked of a semiconductor wafer or the like.例文帳に追加

半導体ウェハ等の検査対象の欠陥をより正確に検出する。 - 特許庁

METHOD FOR INSPECTING PRINTING DEFECT AND/OR PRINTING CONTAMINATION OF TRANSPARENT PLATE BODY例文帳に追加

透明板状体の印刷欠陥および／または印刷汚れの検査方法 - 特許庁

METHOD FOR INSPECTING PRINT DEFECT AND/OR PRINT CONTAMINATION OF TRANSPARENT PLATE-LIKE BODY例文帳に追加

透明板状体の印刷欠陥および／または印刷汚れの検査方法 - 特許庁

DEFECT CORRECTION METHOD FOR PHOTOMASK BY USING TRANSFER OR LIGHT INTENSITY SIMULATION例文帳に追加

転写もしくは光強度シミュレーションを用いたフォトマスクの欠陥修正方法 - 特許庁

To judge existence or nonexistence of a defect in an extreme ultraviolet rays (EUV) light mask blank.例文帳に追加

極紫外線（ＥＵＶ）光マスク・ブランクにおける欠陥の有無を判定する。 - 特許庁

a defect in brain development resulting in small or missing brain hemispheres 例文帳に追加

小さい脳半球あるいは脳半球の欠落をもたらす脳発展の欠陥 - 日本語WordNet

To uniformly etch an aluminum film or its alloy film without generating residue, unevenness or defect in the etching.例文帳に追加

アルミニウム膜またはその合金膜をエッチング残渣、エッチングムラまたはエッチング不良なく、均一にエッチングする。 - 特許庁

The frequency-based measures are used to detect defect regions on the hard disc and/or classify defect regions as being due to either thermal asperity (TA) or drop-out medium defect (MD).例文帳に追加

この周波数に基づく評価量は、ハードディスク上の欠陥領域を検出し、かつ／または、欠陥領域を熱凹凸（ＴＡ）もしくはドロップアウト・媒体欠陥（ＭＤ）のいずれかの原因に分類するのに使用される。 - 特許庁

To provide an inspection method of a pattern defect capable of stably detecting a target defect in various processes by reducing the misdetection of grain or morphology or the effect of interference light intensity irregularity, and an inspection device of the pattern defect.例文帳に追加

グレインやモホロジーの誤検出や干渉光強度ムラの影響を低減して、様々なプロセスにおけるターゲット欠陥を安定に検出できるパターン欠陥検出方法及びその装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a material for repairing a tissue defect which is capable of rapidly healing the defect site of the tissue or organs without requiring extracorporeal cell culture in repairing and healing of the tissue defect part.例文帳に追加

組織欠損部分の補修治癒において、体外での細胞培養を必要とせず、組織又は臓器の欠損部位を速やかに治療できる組織欠損補修用材料を提供する。 - 特許庁

To provide a dark field illumination device and a defect detection device capable of observing and detecting a defect in preferable conditions by a simple adjustment corresponding to the kind of an inspection sample or the direction of the defect.例文帳に追加

検査試料の種類や欠陥の方向に応じて、簡単な調整でその欠陥を好条件で観察、検出できる暗視野照明装置、及び、欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

Since adjustment of an optical system or fine correction by signal processing becomes possible, positional accuracy of defect inspection and accuracy of defect level (defect size) can be improved.例文帳に追加

本発明により、光学系の調整や信号処理による微細な補正が可能になるため、欠陥検出の位置精度および欠陥強度（欠陥寸法）の精度を向上させることができる。 - 特許庁

To recognize whether a reflector reflecting an ultrasonic wave has a defect due to a crack or a defect other than a defect due to rust, when a reflected wave is obtained in ultrasonic inspection of a low-pressure steam turbine wheel.例文帳に追加

低圧蒸気タービンホイールの超音波検査において、反射波が得られた場合に、超音波の反射体が割れ等の欠陥なのか錆等の欠陥以外のものかを識別する。 - 特許庁

This defect repairing method comprises a first process of eliminating a part or the whole of impurities existing inside a defect, and a second process of sealing the defect.例文帳に追加

本発明の欠陥補修方法は、欠陥の内部に存在する不純物の一部あるいは全部を除去する第１の工程と、前記欠陥を封止する第２の工程とを有する。 - 特許庁

To automatically discriminate whether a defect is a short (short- circuit), open (disconnection) or the defect of contamination deposition (dust) in the case that the defect is present on a pattern formed on an inspected body surface.例文帳に追加

被検査体表面に形成されたパターンに欠陥が有る場合に、その欠陥がショート（短絡）、オープン（断線）、または異物付着の欠陥（ダスト）であるか否かを自動的に判別すること。 - 特許庁

To provide a nondestructive defect inspection system capable of detecting automatically the presence of a defect or a hole in an inside, and a position thereof, in the nondestructive defect inspection system using an X-ray.例文帳に追加

Ｘ線を用いた非破壊欠陥検査システムであって、内部の欠損や空孔の有無および位置を自動的に短時間で検出する非破壊欠陥検査システムを提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for visual examinination capable of clearly distinctly detecting whether a defect is a defect due to the same material as the stock or a defect due to a material different from the stock.例文帳に追加

素材と同じ材質による欠点であるのか、または素材と異なる材質による欠点であるのか、を明確に区別して検出することができる外観検査装置とする。 - 特許庁

In respective steps of a compiling procedure, a step for checking whether a defect is regenerated or not is prepared, and when the defect is regenerated, processing is returned to a step causing the generation of the defect and the processing is retried by a processing step including no defect.例文帳に追加

コンパイル手順の各ステップにおいて、不良が再現したかどうかを調べるステップを設け、不良が再現した場合、不良発生原因となったステップに戻り、不良を含まない処理ステップにて処理をやり直す。 - 特許庁

Brightness data of each pixel of a point defect or a strain defect having a smaller area than an irregular defect in the image data acquired in the inspection image acquisition process is replaced with an interpolation value based on brightness data of a peripheral pixel, to thereby repair the non-evaluation object defect species (point/strain defect repair process ST200).例文帳に追加

検査画像取得工程にて取得された画像データ中でムラ欠陥よりも面積が小さい点欠陥、シミ欠陥の各画素の輝度データを周囲の画素の輝度データに基づく補間値で置き換えてこの非評価対象欠陥種を修補する（点・シミ欠陥修補工程ＳＴ２００）。 - 特許庁

To relax a dot defect in appearance when a pixel is caused to be the dot defect due to pattern failure or the like in a liquid crystal display device.例文帳に追加

液晶表示装置において、画素がパターン不良等で点欠陥になった場合に、その点欠陥の見え方を緩和させる。 - 特許庁

When there is the second reception signal whose crest value is equal to or larger than the threshold, the determination unit determines the defect candidate signal as a defect signal.例文帳に追加

判定部は、波高値が閾値以上の第２受信信号がある場合、欠損候補信号を欠損信号として判定する。 - 特許庁

To prevent a high-resistance defect and an open defect of a via while reducing an element or a wiring arrangement area.例文帳に追加

本発明によれば、素子や配線の配置面積を縮小しつつ、ビアの高抵抗不良およびオープン不良が発生しないようにする。 - 特許庁

To effectively defect and evaluate the state of an internal defect of a material to be measured such as a bulk material or the like even at a deep position from its surface.例文帳に追加

バルク材料など被測定物の内部欠陥の状況を表面から深い位置であっても有効に検出し評価する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of observing individually an energy level of each crystal defect or each defect caused by a process.例文帳に追加

個々の結晶欠陥やプロセス起因欠陥のエネルギー準位を個別に見ることができる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To effectively prevent a dross defect or a ripple defect which occurs on a plated steel strip when hot-dip plating the steel strip continuously.例文帳に追加

鋼帯を連続溶融金属めっきする際、めっき鋼帯に発生するドロス欠陥あるいはさざ波欠陥を効果的に防止する。 - 特許庁

WATERPROOF SHEET OR EXTENSION SHEET, ITS DEFECT DETECTING METHOD, AND DEFECT DETECTING METHOD FOR JOINT BETWEEN WATERPROOF SHEET AND EXTENSION SHEET例文帳に追加

防水シート又は増し張りシート、及びその欠陥部検知方法並びに防水シートと増し張りシートとの接合部の欠陥部検知方法 - 特許庁

To provide a configuration enabling the selective repair, exchange, or the like of one portion related to a defect, when the defect occurs in one portion.例文帳に追加

一部に不具合が生じた場合に、その不具合に係る一部を選択的に修理、交換等することができる構成を提供する。 - 特許庁

To enhance the efficiency of a matching processing between a defect image obtained by a defect review device or the like and a layout image based upon design data.例文帳に追加

欠陥レビュー装置などで取得された欠陥画像と設計データに基づくレイアウト画像とのマッチング処理の効率向上を図る。 - 特許庁