「DEFECT OR」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a defect inspection device capable of simply inspecting the defect such as a crack or the like of a solar cell on a definite decision level, and a flaw inspection method of the solar cell.例文帳に追加

太陽電池のクラック等の欠陥の検査を一定の判定レベルで簡単に行うことができる検査装置と方法を提供する。 - 特許庁

To remove the image quality defect due to writing deficiency, leak type bright spot defect or the like by improving a driving system of a pixel transistor and auxiliary capacitance.例文帳に追加

画素トランジスタ及び補助容量の駆動方式を改善して、書き込み不足やリーク性輝点欠陥などに起因する画質不良を取り除く。 - 特許庁

To improve the display quality of an E-ink display device by repairing a pixel unit of the E-ink display device, which has a bright point defect or a dark point defect.例文帳に追加

輝点欠陥又は暗点欠陥を有する電子インク表示装置の画素ユニットを修復し、電子インク表示装置の表示品質を向上させる。 - 特許庁

To provide a device for detecting/correcting a defect detecting and correcting a pixel defect changed by a use environment or the like with high accuracy.例文帳に追加

使用環境等で変化する画素欠陥を高い精度で検出及び補正することを可能にした欠陥検出補正装置を提供できるようにする。 - 特許庁

To provide a two-dimensional color solid-state imaging element capable of easily carrying out complement processing even on the occurrence of a longitudinal line defect or a lateral line defect.例文帳に追加

縦線欠陥や横線欠陥が発生した場合であっても、補完処理を容易に行うことができる二次元カラー固体撮像素子を得る。 - 特許庁

To provide a silicon wafer in which oxygen deposit is stably formed in dependent of crystal position or device process, a method of producing the same, and a method for evaluating the defect area of a silicon wafer whose pulling-up conditions and the defect area are unknown.例文帳に追加

結晶位置やデバイスプロセスに依存せずに安定して酸素析出が得られるシリコンウエーハおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of non-destructively and high-accurately inspecting a defect of a transparent substrate without using an expensive evaluation equipment or a microscope.例文帳に追加

高価な評価機器や顕微鏡を用いることなく、非破壊にて精度高く透明基板の欠陥を検査することができる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

A line sensor camera 5 for photographing the light beam having transmitted through a hole defect 2 or crack defect 3 of the steel strip 1 is installed above the steel strip 1.例文帳に追加

また鋼帯１の上方には、鋼帯１の穴欠陥２または割れ欠陥３を透過した光線を撮影するラインセンサカメラ５を設置した。 - 特許庁

To provide a traceability sensor for packaging which can easily detect the junction defect and know whether a cause of the junction defect is a trouble in a reflow furnace or not.例文帳に追加

接合不良を容易に発見でき、かつその原因がリフロー炉の不具合であるか否かを知ることができる実装用トレーサビリティーセンサーを提供する。 - 特許庁

The defect determination means determines whether a pixel of interest is a defect or not, on the basis of the pixel value of the pixel of interest and pixel values of peripheral pixels.例文帳に追加

キズ判定手段は、注目画素の画素値と複数の周辺画素の画素値とに基づいて、注目画素がキズであるか否かを判定する。 - 特許庁

A defect deciding part 310 decides whether or not any defect is included in the template image by comparing the maximum correlation value with a threshold.例文帳に追加

欠陥判定部３１０は、最大となった相関値と閾値とを比較することで当該テンプレート画像に欠陥が含まれているか否かの判定を行う。 - 特許庁

The defect determination circuit 14 determines whether a pixel of interest is a defect or not, on the basis of the pixel value of the pixel of interest and pixel values of peripheral pixels.例文帳に追加

キズ判定回路１４は、注目画素の画素値と複数の周辺画素の画素値とに基づいて、注目画素がキズであるか否かを判定する。 - 特許庁

A surface of the skin layer 2a is free from an ununiform defect of a spot-like protrusion or local hardened part generated when wet-film-formed, by removing the ununiform defect.例文帳に追加

スキン層２ａの表面には、湿式成膜時に生じたスポット状の凸部ないし局所的な硬質化部の不均質な欠点が除去されている。 - 特許庁

To provide a PTFE porous membrane composite material with less defect of a scuffing or the like on the surface and a suppressed conjunction defect of a joining part at an initial stage.例文帳に追加

表面に毛羽等の欠陥が少なく、初期の接合部分において接合不良が抑制されたＰＴＦＥ多孔質膜複合材を提供する。 - 特許庁

In the defect detecting method, the defect is detected by processing an image on a display surface of an LCD panel 1 or the like where bright spots 2 are regularly arranged on the display surface.例文帳に追加

表示面に輝点２が規則的に並んだＬＣＤパネル１等の表示面の画像を処理して欠陥を検出する欠陥検出方法である。 - 特許庁

To provide a stripe defect detection method and a device thereof capable of detecting a stripe defect highly accurately without detecting a bright point or a black point.例文帳に追加

輝点や黒点を検出することなく、筋状欠陥を高精度に検出することができる筋状欠陥検出方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a metal ring defect detector for improving efficiency and precision, when investigating the state, size, depth, or the like of a defect 9a in detail.例文帳に追加

欠陥９ａの状態や大きさ及び深さなどを子細に調査する際の効率と精度を改善した金属リング欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a wiring board which is hardly to generate a mounting defect of an integrated circuit chip and is hardly to generate the mounting defect to another board such as a mother board or the like, neither.例文帳に追加

集積回路チップの実装不良が生じ難く、かつマザーボード等の別基板への実装不良も生じ難い配線基板を提供する。 - 特許庁

Thereby, a defect signal DF is generated by logical operation (when a defect part is "Low active", AND, when it is "High active", OR) of an output of the comparator.例文帳に追加

これら、コンパレータの出力の論理演算により（ディフェクトの部分が”Low active”ならＡＮＤ（論理積）、”High active”ならＯＲ（論理和）をとる）ディフェクト信号ＤＦを生成する。 - 特許庁

To repair the pixel unit of an electronic ink display device, which has a white spot defect or a dark spot defect, and to improve the display quality of the electronic ink display device.例文帳に追加

輝点欠陥又は暗点欠陥を有する電子インク表示装置の画素ユニットを修復し、電子インク表示装置の表示品質を向上させる。 - 特許庁

The AV manager performs defect processing in which when data corresponding to the Defect RUB section is reproduced, the picture to be reproduced is frozen or a voice is muted.例文帳に追加

ＡＶマネージャは、DefectRUB区間に対応するデータを再生する場合には、その対象となる画像をフリーズ、または音声をミュートするディフェクト処理を行う。 - 特許庁

When a defect occurs in an edge subblock or a dummy subblock, a repair process is carried out with efficiency equal to that when a defect occurs in a main subblock.例文帳に追加

エッジサブブロックまたはダミーサブブロックに発生した場合、メインサブフロックで不良が発生した場合と同様の効率の救済処理を行うことができる。 - 特許庁

By this constitution, metal ions on the substrate of the package are gettered by the defect layer 2 on the side and/or the defect layer 2 on the reverse surface, and the Schottky barrier.例文帳に追加

この構成により、パッケージの基板上の金属イオンは、側面の欠陥層２及び／又は裏面の欠陥層２、ショットキー障壁によりゲッタリングされる。 - 特許庁

To provide a defect evaluating device by plasma or arc and an evaluating method that easily simulates an actual using condition of material exposed to plasma or arc, clarifies defect form and defect mechanism of this material, and contributes to improvement in arc resistance.例文帳に追加

プラズマやアークに曝される材料の実使用条件を簡単に模擬し、該材料の損傷形態および損傷メカニズムを明確化して耐アーク性の向上に寄与するプラズマ・アークによる損傷評価装置と評価方法を提供する。 - 特許庁

Furthermore, a step is added to an imaging sequence in order to take an image for display with another defect image acquisition device or with other imaging conditions based on a previously named rule in a course of taking defect images or after taking defect images.例文帳に追加

さらに、欠陥画像撮像中または欠陥画像撮像後に、予め指定した規則に基づいて別の欠陥画像取得装置や別の撮像条件により表示用の画像を撮像するためのステップを撮像シーケンスに追加する。 - 特許庁

To provide a device having a small device scale, allocating surely a defect of an observation object into a visual field of an electron microscope or the like, concerning a device for observing minutely by the electron microscope or the like, a defect detected by an optical defect inspection device or an optical appearance inspection device.例文帳に追加

光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を電子顕微鏡等で詳細に観察する装置において、観察対象の欠陥を確実に電子顕微鏡等の視野内に入れることができ、かつ装置規模を小さくできる装置を提供する。 - 特許庁

The printer recognizes a hole or an electronic signal, and the printer is enabled to skip the defect frame, or alternatively the image is reprinted.例文帳に追加

プリンタが穴または電子信号を認識し、プリンタをイネーブルにして、欠陥フレームをスキップするか、画像を再印刷する。 - 特許庁

To reliably detect the defect or the like of one type of or a plurality of types of patterns being formed on an object to be inspected.例文帳に追加

被検物体上に形成されている１種類、又は複数種類のパターンの欠陥等を確実に検出する。 - 特許庁

The size of the foreign substance or defect is calculated based on the result of the addition processing with weight or the equalization processing with weight.例文帳に追加

また、その重み付き加算処理又は重み付き平均化処理の結果から異物や欠陥の大きさを算出する。 - 特許庁

To provide a method for sorting a defect distribution which can accurately sort defect distributions on substrates, even when the positional displacement or size of a defect on a substrate to be inspected is changed with respect to a known defect distribution pattern as a sorting reference.例文帳に追加

分類の基準となる既知の欠陥分布パターンに対して検査対象となる基板上の欠陥の位置ズレや大きさの変化が発生する場合であっても、基板上の欠陥分布を精度良く分類できる欠陥分布分類方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a defect detection optical system and a defect inspection device that can detect a defect at a high accuracy and have a simple structure without being affected by scratch in a substrate surface or directivity of scattered light on a chip defect.例文帳に追加

基板表面のスクラッチやカケ欠陥の散乱光の指向性に影響されることなく、欠陥検出が高い精度で検出でき、かつ構造が簡単な欠陥検出光学系欠陥検出光学系および欠陥検査装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a failure detecting device, a failure detection method, and an air conditioner, capable of determining whether a defect in motor operation is caused by phase interruption in a power supply line of a motor, such as a defect in wiring or by a defect in an inverter circuit, in the case of the occurrence of a defect in motor operation .例文帳に追加

モータの動作不良が生じた場合、その原因が配線不備などによるモータの通電線の欠相にあるのか、インバータ回路の不良にあるのかを判別できる故障検知装置、故障検知方法及び空気調和装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a defect marker for forming indentations easy to check by visual inspection independently of the existence or non-existence of rustproof oil or of defect detection performance on the fabricator side as to a processing line for winding up an aluminum sheet into a coil, a method of defect marking, and a defect-marked coil.例文帳に追加

アルミニウム板をコイルに巻き取る処理ラインにおいて、防錆油の有無及び加工メーカー側の欠陥検出性能に関らず、目視によって容易に確認可能な圧痕を形成することができる欠陥マーキング装置、欠陥マーキング方法及び欠陥マーキングされたコイルを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide manufacturing methods for a glass substrate for an electronic device and a mask blank with which no fine uneven surface defect occurs on a substrate surface or a failure rate is low, and a manufacturing method for a transfer mask free from a phase defect or a pattern defect caused by the fine uneven surface defect on the substrate surface.例文帳に追加

基板表面に微小な凸状、凹状の表面欠陥が発生しないか又は発生率の低い電子デバイス用ガラス基板及びマスクブランクスの製造方法、並びに基板表面に微小な凸状、凹状の表面欠陥が起因する位相欠陥やパターン欠陥のない転写マスクの製造方法を提供する。 - 特許庁

Then, the determination accuracy of the defect classification aggregate is not affected by the superiority or inferiority of the guessing ability of an operator, for example, in comparison with a method by which the operator guesses a defect and qualitatively or individually acquires and analyzes an aggregate characteristic value at each defect classification aggregate including the guessed defect classification.例文帳に追加

よって、例えば、オペレータが欠陥を推測し、推測した欠陥種別を含む欠陥種別集合毎に集合特徴値を定性的又は個別的に取得して解析する方法に比べて、欠陥種別集合の判別精度がオペレータの推測能力の優劣に影響を受けることがない。 - 特許庁

To make certainly discriminable a skip stitch and other defect of the fine line of single loop or double loop.例文帳に追加

単環や二重環の糸目の目飛びその他の糸目不良を確実に判別できるようにする。 - 特許庁

To eliminate problems such as color change or skin defect due to over spray to perform inexpensive coating.例文帳に追加

オーバスプレーによる色変化や肌不良の問題を解消しつつ、安価に塗装できるようにする。 - 特許庁

To detect a defect in the front surface of a specimen (glass plate) more accurately than that inside or in the rear surface of the specimen.例文帳に追加

被検体（ガラス板）の表面の欠陥を内部や裏面よりも高精度に検出する。 - 特許庁

A defect 300 is provided in either of the first 100 or the second gratings 200.例文帳に追加

第１および第２の回折格子１００，２００のいずれか一方に、欠陥部３００を有する。 - 特許庁

To provide powder capable of suppressing scattering at the molding time, or generation of a molding defect.例文帳に追加

成形時の飛散や成形欠陥の発生を抑制することができる粉体を提供すること。 - 特許庁

To reliably detect a defect or foreign matter in a halftone phase shifting mask.例文帳に追加

ハーフトーン型位相シフトマスクにおける欠陥或いは異物をより確実に検出できるようにする。 - 特許庁

To fablicate an optical waveguide superior in light transmittance by forming a core free from defect or distortion.例文帳に追加

欠陥や歪みのないコアを形成して、光透過率の良好な光導波路を作製する。 - 特許庁

Each defect on two or more spots on the surface of the press formed article 70 is imaged.例文帳に追加

またプレス成形品７０の表面の２箇所以上の部位それぞれの欠陥が撮像される。 - 特許庁

As a result, if there is an overlooked defect or the like (S7 and S8), evaluation values are calculated (S10).例文帳に追加

その結果、見逃し欠陥がある場合などには（Ｓ７、Ｓ８）、評価値を算出する（Ｓ１０）。 - 特許庁

To provide a medicine, beverage and foods for preventing or treating Alzheimer type defect of memory.例文帳に追加

アルツハイマー型記憶障害を予防あるいは治療する薬剤及び飲食品を提供する。 - 特許庁