「DEFECT OR」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

When defect information is given to an emulator 110, the emulator 110 performs emulation the operation of drive or player caused by defect of data of a disk (medium) side.例文帳に追加

エミュレータ１１０に対して欠陥情報が与えられると、エミュレータ１１０は、ディスク（メディア）側のデータの欠陥に起因するドライブ、プレーヤの動作のエミュレートを行う機能を有する。 - 特許庁

To provide an inspection device that detects a defect existing in a silicon carbide substrate or an epitaxial layer formed on the silicon carbide substrate and classifies the detected defect.例文帳に追加

炭化珪素基板又は炭化珪素基板に形成されたエピタキシャル層に存在する欠陥を検出し、検出された欠陥を分類する検査装置を実現する。 - 特許庁

To provide a new burnishing drill having machining accuracy equal to or more than that of a conventional burnishing drill and remarkably hardly generating a quality defect such as a galling defect.例文帳に追加

従来のバニシングドリルに比べて加工精度が同等以上であり、しかもカジリ不良等の品質不具合が格段に発生し難い新たなバニシングドリルを提供する。 - 特許庁

To identify a protruded or recessed shape of a detected defect, in a method for detecting the defect on a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウエハ上の欠陥を検出する方法において、検出された欠陥の形状が凸形状なのか、あるいは凹形状なのかを識別する方法を提供すること。 - 特許庁

To prevent the reduction of manufacturing yield and reliability due to a fatal defect (line display defect) generated when a short circuit is generated between a gate and a drain (or source) of a transistor.例文帳に追加

トランジスタのゲートとドレイン（またはソース）間に短絡が生じた場合に致命欠陥（線表示欠陥）となることによる製造歩留および信頼性の低下を防止する。 - 特許庁

(A) Defect warranty liability The user could either (a) terminate the contract, (b) demand for damages or (c) demand for repair of defect. 例文帳に追加

ａ）瑕疵担保責任等が適用される場合ユーザーはベンダーに対して、ア）契約解除、イ）損害賠償、ウ）瑕疵修補請求のいずれかを請求することが考えられる。 - 経済産業省

Further in the pattern forming apparatus 1, additional coating data 45 is formed by detecting the existence and the position of defects such as a white defect, a black defect or the occurrence of projecting part and additional coating is carried out on the defect position based on the additional coating data 45.例文帳に追加

また、パターン形成装置１は、基板上の白欠陥、黒欠陥、突起等の欠陥の有無及び位置を検出し、追加塗布データ４５を作成し、当該追加塗布データ４５に基づいて、欠陥箇所に追加塗布を行う。 - 特許庁

A control mechanism 103 performs signal processing relative to the intensity of a reflected wave signal obtained from defect DE-V, defect DE-H or the like, when scanning at an optional angle with the ultrasonic wave, to thereby detect a defect and measure a length.例文帳に追加

制御機構１０３は、超音波を任意の角度で走査したとき、欠陥ＤＥ—Ｖおよび欠陥ＤＥ—Ｈ等から得られる反射波信号の強度を、信号処理を行うことで欠陥の検出および長さ測定を行う。 - 特許庁

When the good item indicating button 8 or the garbage instruction button 9 is selected, the inspecting device recognizes that the defect corresponding to the button selected causes no problem, and the inspecting result of the defect is changed from the defect to the good item.例文帳に追加

良品指示ボタン８あるいはごみ指示ボタン９が選択された場合、検査装置は、選択されたボタンに対応する欠陥を問題なしと認識して、この欠陥についての検査結果を欠陥から良品に変更する。 - 特許庁

To surely resolve an image quality defect by sufficiently securing the amount of toner discharge from a developing device and allowing deteriorated toner, toner aggregates, or the like to be surely ejected in a situation that the image quality defect like a void defect has occurred.例文帳に追加

白抜けディフェクト等の画質欠陥に至った状況にて、現像装置からのトナー吐出量を十分に確保し、かつ、劣化トナーやトナー凝集体等を確実に排出可能とし、もって、画質欠陥を確実に解消する。 - 特許庁

The oxygen ion-implanted silicon substrate has preferably a void defect or COP crystal defect density of ≥1×10^5 cm^-3, and a maximum frequency of ≤0.12 μm in the crystal defect size distribution.例文帳に追加

酸素イオンが注入されるシリコン基板は、ボイド欠陥又はＣＯＰからなる結晶欠陥密度が１×１０^5ｃｍ^-3以上でありかつ結晶欠陥のサイズ分布の最大頻度が０．１２μｍ以下であることが好ましい。 - 特許庁

To accurately inspect a defect such as a hole opening defect penetrating to an internal space, a peeling defect occurring in a surface layer or a deep part, etc., in a method and an apparatus for inspecting shape defects of a plate material having the internal space.例文帳に追加

内部空間を有する板材の形状欠陥検査方法及び装置において、内部空間にまで貫通する孔開き不良や、表層及び深部において発生する剥離不良などの高精度の欠陥検査を可能とする。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of detecting with high sensitivity the defects in a mixed mount wafer (system LSI, or the like), capable of detecting widely a defect species, and capable of enhancing a defect capturing rate, and to provide a method therefor.例文帳に追加

混載ウェハ（システムＬＳＩなど）などに対して欠陥を高感度に検出し、しかも欠陥種を幅広く検出して、欠陥捕捉率を向上することができるようにした欠陥検査装置及びその方法を提供することにある。 - 特許庁

The open box having the lowest frequency in generation of defect among the selected open boxes or combination thereof is replaced in the piling position of the open box, wherein the defect is generated, to reduce the defect generation ratio.例文帳に追加

選択された無蓋ボックスあるいはその組合せの内、最も不具合発生頻度の低いものと不具合の発生した無蓋ボックスとの積付位置を入れ替えることによって、次回からの不具合発生率を減少させることができる。 - 特許庁

In this case, the image data for inspection is converted in correspondence with the image state of the image for defect detection, and thus it is discriminated whether the abnormal position detected from the image for defect detection is a true defect or not.例文帳に追加

その際、検査用画像データを欠陥検出用画像の画像状態に対応させて変換することにより、欠陥検出用画像から検出される異常個所が、真の欠陥であるか否かを判定することができる。 - 特許庁

To specify a process of generating a defect, or to detect the defect, even in an area that is not formed with a repeeated pattern on a wafer surface, when detecting the defect appearing on the semiconductor wafer surface by visual inspection.例文帳に追加

外観検査により半導体ウエハの表面に現れる欠陥を検出する際に、欠陥を生じた工程を特定する、或いはウエハ表面に繰り返しパターンが成形されていない領域においても欠陥を検出する。 - 特許庁

The display panel with the point defect is specified, the coordinate of a defective pixel is specified, the luminance of the same coordinate corresponding to the point defect of the adjacent pixel of the defective pixel or other display panels is added, and the apparent point defect stops being able to be conspicuous easily.例文帳に追加

点欠陥のある表示パネルを特定し、欠陥画素の座標を特定し、欠陥画素の隣接画素、または他の表示パネルの点欠陥に対応する同座標の輝度を加算して、見かけ上点欠陥を目立ちにくくする。 - 特許庁

To provide a sensor including a defect-controlled nanotube for detecting a chemical or physical quantity, and a manufacturing method therefor.例文帳に追加

欠陥を制御されたナノチューブを含み、物理または化学量を検出するためのセンサの提供。 - 特許庁

If the result is out of the range, the device waits until the user determines whether to make the automatic correction of an image defect or not.例文帳に追加

範囲外であれば、画像欠陥の自動補正を行うか否か、ユーザの選択待ち状態とする。 - 特許庁

To prevent the generation of such a weld defect as a porosity, a blow hall, a crack, or the like in a keyhole welding with a laser beam.例文帳に追加

レーザによるキーホール溶接において、ポロシティ、ブローホール、割れ等の溶接欠陥の発生を防止する。 - 特許庁

COMPUTER-IMPLEMENTED METHOD FOR DETECTING AND (OR) SORTING DEFECT IN RETICLE DESIGN PATTERN例文帳に追加

レティクルの設計パターンにおける欠陥を検出し、かつ（あるいは）ソートするためのコンピュータに実装された方法 - 特許庁

Other part than the zigzag defect 15c is held at a temperature equal to or lower than the phase transition temperature of a smectic C phase.例文帳に追加

ジグザグ欠陥部１５ｃ以外は、スメクティックＣ相の相転移温度以下の温度に保持される。 - 特許庁

From the surface of this phosphor powder, a surface crystalline defect layer or a surface strain layer is removed.例文帳に追加

表面から表面結晶欠陥層あるいは表面歪み層が除去されている蛍光体粉末。 - 特許庁

The recess and/or protrusion is formed in the shape not allowing generation of any crystal defect to the semiconductor layers 11, 13.例文帳に追加

凹部及／又は凸部は半導体層１１、１３に結晶欠陥を発生させない形状とする。 - 特許庁

METHOD FOR DETECTING DEFECTS OF ACTIVE MATRIX SUBSTRATE OR ACTIVE MATRIX LIQUID CRYSTAL PANEL, AND DEFECT DETECTION DEVICE例文帳に追加

アクティブマトリクス基板又はアクティブマトリクス液晶パネルの欠陥検出方法及び欠陥検出装置 - 特許庁

To make a contribution to prevention of copying with a CD, etc., without insertion of physical information or deliberate defect.例文帳に追加

物理的な変形や意図的な欠陥を挿入せずに、ＣＤ等でコピー防止に寄与できるようにする。 - 特許庁

To detect the presence or absence of a mask defect by comparing two detected images in a mask inspection apparatus.例文帳に追加

マスク検査装置において、２つの検出画像を比較してマスクの欠陥有無を検出可能とする。 - 特許庁

The two measures are then compared to determine whether the defect region corresponds to TA or MD.例文帳に追加

次に、２つの基準を比較して、欠陥領域がＴＡまたはＭＤに対応するかが判断される。 - 特許庁

To execute classification with good accuracy by ameliorating the classification defect by clogging, or the like, of materials having tacky adhesiveness.例文帳に追加

粘着性のある材料の目詰り等による分級不良を改善し、分級を精度よく行う。 - 特許庁

To reduce a possibility of the occurrence of erroneous detection or operational defect when detecting a polarity of a line.例文帳に追加

回線の極性を検出する際に、誤検出や動作不良が生じる可能性を低減する。 - 特許庁

Accordingly, any defect or scratch which causes the deterioration of a manufacturing yield of a semiconductor device is not be generated.例文帳に追加

よって、半導体装置の製造歩留りの低下を引き起こす、欠陥若しくはスクラッチが発生しない。 - 特許庁

To reduce a position detection error arising from stain on a scale or a defect in a grating by simple calculation.例文帳に追加

簡単な計算で、スケールの汚れや格子の欠陥により発生する位置検出誤差を低減する。 - 特許庁

Hereby, a defect on the power cable or on the accessory inside is detected from the photographed image.例文帳に追加

そして、上記撮影された画像より電力ケーブルあるいは付属品内部の欠陥を検出する。 - 特許庁

DEVICE FOR BLOOD TRANSFUSION, INFUSION OR HEMOCATHARSIS AND METHOD FOR DETECTING SUCTION DEFECT OF PUMP IN THE SAME例文帳に追加

輸血・輸液又は血液浄化用の装置及び当該装置におけるポンプの吸引不良検知方法 - 特許庁

To provide a novel and useful inspection device for detecting a kind or defect of a container such as a barrel.例文帳に追加

樽等の容器の種類又は不具合を検知する新規かつ有用な検査装置を提供する。 - 特許庁

The patterns on the referential substrate and on the test substrate are compared to decide whether the mask has a defect or not.例文帳に追加

参照基板およびテスト基板上のパターンを比較して、マスクに欠陥があるかどうか判断する。 - 特許庁

To detect presence or absence of a defect in a mask by comparing two detected images in a mask inspection apparatus.例文帳に追加

マスク検査装置において、２つの検出画像を比較してマスクの欠陥有無を検出可能とする。 - 特許庁

Phase shift or a phase defect part included in an original signal u(0) is made dull by the addition of the delayed signals.例文帳に追加

遅延信号の加算により元の信号ｕ（０）に含まれる位相ずれや位相欠損部が鈍化する。 - 特許庁

To enlarge a gap between a steel plate and sensors to a half or more of a detectable defect size.例文帳に追加

鋼板とセンサとの間のギャップを検出可能な疵サイズの１／２以上まで拡大できるようにする。 - 特許庁

To provide a method for surely discriminating a fault such as disconnection or connection defect in an electric circuit.例文帳に追加

断線や接続不良等の電気回路上の故障が確実に判別できる方法を提供する。 - 特許庁

To enable to realize a liquid drop discharge by which unevenness of film thickness (coating unevenness) and line defect or the like can be reduced.例文帳に追加

膜厚ムラ（塗布ムラ）やライン欠陥などを低減することができる液滴吐出を可能にする。 - 特許庁

To prevent a defect such as the deformation and breaking of a connection wire, or short circuit between wires.例文帳に追加

結線用のワイヤーの変形や断線、あるいは各ワイヤー同士の短絡等の不良を良好に防止する。 - 特許庁

The biocompatible tissue implants are provided for repairing a tissue injury or defect.例文帳に追加

組織傷害或いは組織欠損部を修復するための生体適合性組織インプラントを提供する。 - 特許庁

To solve the problem of a line head that a defect inherent to a nozzle is perceived easily as uneven density or streak in the print results.例文帳に追加

ラインヘッドの場合、ノズル固有の不良が濃度ムラやスジとして印刷結果で知覚され易い。 - 特許庁

To automatically and surely detect a deformation defect of a hit trace, flaw or warp generated on a hoop.例文帳に追加

フープ材に発生した打痕、きずまたは反りなどの変形不良を自動でかつ確実に検出すること。 - 特許庁