「DEFECT OR」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

Methods for repairing a tissue injury or defect using the tissue implants are also provided.例文帳に追加

この組織インプラントを用いて組織傷害或いは組織欠損部を修復する方法も提供する。 - 特許庁

To facilitate defect detection when a defect is present in a peripheral portion having a large luminance difference in an electronic display image quality inspection device detecting the display defect by picking up an image of the display defect in a display device such as a plasma display by a camera or the like, and binarizing an image obtained by differentiating the picked-up image by spatial differentiation processing or the like.例文帳に追加

プラズマディスプレイ等の表示装置における表示欠陥をカメラ等により撮像し、撮像画像を空間微分処理等により微分した画像を２値化することにより、表示欠陥を検出する電子ディスプレイ画質検査装置において、輝度差の大きい周辺部分に欠陥が有る場合の欠陥検出を容易にすることに有る。 - 特許庁

This optical recording medium can record and reproduce data by means of a laser beam and has a defect management prevent flag that is previously recorded in the prescribed area of a read-in area to show whether a defect management or the alternation processing is needed or not.例文帳に追加

レーザ光を用いてデータの記録、再生を行なえる光学的記録媒体たる光ディスクであって、予めリードイン領域の所定の領域に、ディフェクトマネージメント若しくは交替処理が必要であるか否かを示すディフェクマネージメントプリベントフラグ（Defect Management Prevent Flag）が記録されてなる光ディスク。 - 特許庁

To provide a printed wiring board, in which when the printed wiring board has an insulating defect or a slight insulation failure which may cause an insulating defect in future, the place of the insulation defect or insulation failure is easily specified and to provide a method of inspecting the same.例文帳に追加

絶縁不良が発生したプリント配線板、又は将来絶縁不良を引き起こすであろう僅かな絶縁欠陥を有するプリント配線板において、その絶縁不良個所や絶縁欠陥箇所を容易に特定できるプリント配線板及びその検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for correcting a defect part, by which a defect part is corrected and a flatness being the specification of a photomask is secured when a defect part such as a crack or chipped part is caused in the peripheral part of a glass substrate, in a glass substrate for a photomask formed of synthetic quartz or a photomask using the glass substrate.例文帳に追加

合成石英からなるフォトマス用のガラス基板や該ガラス基板を用いたフォトマスクにおいて、ガラス基板の周辺部にひび、欠けの欠陥部が生じた場合に、該欠陥部を修正でき、且つ、フォトマスクの仕様であるフラットネスを確保できる方法を提供する。 - 特許庁

To provide a surface treating method of a coating defect article which can perform the repairing work of the coating defect part of the coating defect article uniformly and independently of workers, in a short time, by generating no variation or irregularity and by generating no environmental problems or raising the cost as before.例文帳に追加

塗装不良品の塗装欠陥部の補修作業を、従来のような環境問題や高コスト化を引き起こすことなく、作業者によらず均一に、かつ短時間で、バラツキやムラを生ずることなく行うことができる塗装不良品の表面処理方法を提供する。 - 特許庁

To provide an edge sensor capable of certainly detecting a defect such as a chip or crack occurring in a transparent or translucent object.例文帳に追加

透明または半透明の物体に生じた欠けやひび割れ等の欠陥を確実に検出することのできるエッジセンサを提供する。 - 特許庁

When information is written or read with respect to the position of the detected defect, tracking servo or focus servo is held.例文帳に追加

検出された欠陥の位置に対し情報の書き込み又は読み出しが行われる際には、トラッキングサーボ及びフォーカスサーボがホールドされる。 - 特許庁

(iv) Damage was solely caused by a defect in the management of the aids to navigation or the signal facilities for traffic control by the state or a public entity. 例文帳に追加

四　専ら国又は公共団体の航路標識又は交通整理のための信号施設の管理の瑕疵により生じたこと。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

INDUCTANCE SENSING CIRCUIT AND POSITION DETECTOR, TEST DEVICE FOR IDENTIFYING DEFECT OF CONDUCTIVE MATERIAL OR ITS PRESENCE OR ABSENCE, AND TORQUE SENSOR USING THE SAME例文帳に追加

インダクタンス検出回路及びそれを用いた位置検出装置及び導体の欠陥或いは有無の識別検査装置及びトルクセンサ - 特許庁

To estimate influence affected to another component or process by generation of a defect in a certain component or process in a stage (a product design stage or a design stage of a production process) before production, and to estimate an importance level of the defect to support a design of the production process.例文帳に追加

製造前の段階（製品設計段階や製造工程の設計段階）で、ある部品や工程における不良の発生が他の部品や工程に及ぼす影響を推定し、不良の重要度を評価して製造工程の設計を支援する。 - 特許庁

Next, a defect introduced in the single crystal silicon layer 33 or the polycrystalline silicon layer 34 or a defect between the polysilicon layer 34, the single crystal silicon layer 33, and the starting substrate 31 is repaired by thermal treatment or laser anneal treatment.例文帳に追加

次いで、単結晶シリコン層３３中または多結晶シリコン層３４中に導入された欠陥や、多結晶シリコン層３４、単結晶シリコン層３３および出発基板３１の間の欠陥を、熱処理やレーザーアニール処理によって回復させる。 - 特許庁

Compounds dispersed in the liquid are sensed by the probe, and a presence position of the impure substance or a defect is detected, and a concentration of the compounds is detected, and a kind of the compounds is detected, thereby observing the impure substance or the defect of the device.例文帳に追加

液中に拡散した化合物を探針で検知し、不純物または欠陥の存在位置の検出，化合物の濃度の検出，化合物の種類を検出し、デバイスの欠陥や不純物を観察する。 - 特許庁

A white defect in a halftone phase shift mask or a recessed phase defect in a Levenson type phase shift mask is corrected to match the phase by depositing an electron beam CVD film 6 having high transmittance and a high phase effect such as tetramethoxysilane or the like.例文帳に追加

透過率が高く位相効果のあるテトラメトキシシラン等の電子ビームCVD膜６でハーフトーン型位相シフトマスクの白欠陥やレベンソン型位相シフトマスクの凹型の位相欠陥を位相が合うように修正する。 - 特許庁

To detect only the projected defect of an inspection surface, on which a fine recessed part is present or can be present, with high accuracy and to avoid the damage of a master or magnetic transfer defectiveness caused by the projected defect of a disk to enable magnetic transfer.例文帳に追加

微細な凹部があるか凹部があり得る検査面を凸欠陥のみを高精度に検出できるようにし、併せてディスクの凸欠陥によるマスタのダメージや磁気転写不良を回避して磁気転写できるようにする。 - 特許庁

To provide a method and device for inserting an implant of synthetic material or healthy bone or cartilage into a bone or cartilage defect of unknown depth.例文帳に追加

深さが不明の硬骨または軟骨の欠損の中に、合成材料からなるインプラント、若しくは健康な硬骨または軟骨を挿入する方法および装置を提供する。 - 特許庁

A template 100 set for classifying the defect distribution of a certain substrate group and data groups 101 and 102 obtained by classifying whether or not the defect distribution of the substrate group is pertinent to a defect distribution pattern described in the template 100 are prepared.例文帳に追加

或る基板群の欠陥分布を分類するために設定されたテンプレート１００と、基板群の欠陥分布がテンプレート１００に記述された欠陥分布パターンに該当するか否かを分類して得られたデータ群１０１，１０２とを用意する。 - 特許庁

To provide a marking controller which marks a label with a pattern for identifying an inspecting device which has detected a defect in response to a plurality of defect detection signals in defect inspection of printed matter and attaches it onto the printed matter, or puts a mark on the printed matter.例文帳に追加

印刷物の欠陥検査において、複数の欠陥検出信号に対し、欠陥を検出した検査装置の判別が可能なパターンを、ラベルにマーキングし印刷物に貼付、あるいは印刷物にマーキングするマーキング制御装置を提供する。 - 特許庁

In the review SEM (defect observation apparatus), the importance degree of images or the like is judged from information such as the classified result of a picked-up defect image, a defect feature amount calculated from the image and the imaging state of the image, and is added to each image as incidental information.例文帳に追加

レビューＳＥＭにおいて、撮像した欠陥画像の分類結果、画像から算出された欠陥特徴量、画像の撮像状態などの情報から画像の重要度等を判定し、各画像に付帯情報として付加する。 - 特許庁

To provide an optical member inspecting method in which not only the quality point rating is performed with high accuracy to the defect factors classified in specified shapes or the defect factors located in specified areas, but also representing quality point rating to the defect factors of intermediate shapes and the defect factors located in intermediate areas.例文帳に追加

特定形状に分類される不良要因や、特定エリアに位置する不良要因に対する高精度な品質点数化を行うだけでなく、中間形状の不良要因や中間エリアに位置する不良要因にも対応した品質点数化を行う光学部材検査方法を提供すること。 - 特許庁

In the image display panel restoration method, whether a defect is being generated in pixels is inspected and, when a defect is being generated in the inspected pixels, the pixel having the defect is restored, by irradiating the part to be restored of the pixel having the defect with a circularly-polarized laser beam from the outside of a first polarizing plate or a second polarizing plate.例文帳に追加

画像表示パネルの修復方法は、画素に欠陥が生じているかどうか検査し、検査した画素に欠陥が生じている場合、円偏光のレーザ光を第１偏光板または第２偏光板の外側から欠陥が生じている画素の修復個所に向けて照射し、欠陥が生じている画素を修復する。 - 特許庁

A criterion of the cutting position previously set in accordance with the type of defect is stored in the arithmetic means, which decides, based on the type of defect outputted from the defect inspecting means and on the criterion, which is to be the cutting position, the tentative cutting position or the position of the defect outputted from the defect inspecting means.例文帳に追加

演算手段には、欠陥の種類に応じて予め設定された切断位置に関する判断基準が記憶されており、演算手段は、欠陥検査手段から出力された欠陥の種類と、判断基準とに基づき、仮の切断位置を切断位置とするか、或いは、欠陥検査手段から出力された欠陥の位置を切断位置とするかを決定する。 - 特許庁

To provide a method or automatically operating a welding robot by which the formation of a weld joint with a welding defect is preliminarily prevented.例文帳に追加

溶接不良となる溶接継手の形成を未然に防ぐ溶接ロボットの自動運転方法を提供する。 - 特許庁

To accurately recognize a defect even under presence of a part of different pattern or a partial shading part.例文帳に追加

パターンの違い部分や、部分的な濃淡部分の存在のもとでも、欠陥を正確に認識できるようにする。 - 特許庁

The formation of the crystalline defect is controlled, so as to preferably control the temperature of the substrate, layer or both.例文帳に追加

結晶欠陥の形成は、好ましくは、基板、層、又は両者の温度を制御することにより、制御される。 - 特許庁

To provide a substrate inspection method and apparatus in which the erroneous determination of a foreign material or a defect is sufficiently prevented.例文帳に追加

異物や欠陥の誤判定を十分に防止することができる基体検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To solve the problem of failures in search processing due to foreign matters sticking on a sample or a pattern defect in a template matching processing.例文帳に追加

テンプレートマッチング処理において、試料に付着した異物やパターン欠陥によってサーチ処理を失敗する。 - 特許庁

To cancel or reduce the appearance of the scanning time artifact of an original document including a defect in a recorded document.例文帳に追加

欠陥を含む原文書の走査時アーチファクトが、記録された文書に出現するのを解消又は低減する。 - 特許庁

Total area of defect removed portions to the whole area is 0.2% or less to the whole area of the polishing face P.例文帳に追加

欠点が除去された箇所の合計の面積は、研磨面Ｐの全面積に対して０．２％以下である。 - 特許庁

If a defect is found, an inferiority signal is sent to a manufacturing packaging process of the package of the heat seal or the like.例文帳に追加

不良が認められると、不良信号をヒートシール包装体の製造包装工程などに発信する。 - 特許庁

To solve such problems that a display defect occurs under a specific drive condition or in a specific temperature range and hence the contrast degrades.例文帳に追加

特定の駆動条件や特定の温度範囲において表示欠陥が発生し、コントラストが低下する。 - 特許庁

To provide an exposure apparatus suppressing the occurrence of an exposure defect and/or the lowering of the throughput.例文帳に追加

露光不良の発生を抑制できる、及び／又はスループットの低下を抑制できる露光装置を提供する。 - 特許庁

To effectively magnetize a magnet with a simplified method without the occurrence of any defect such as crack or the like on the magnet.例文帳に追加

磁石にカケ等の欠陥を発生させることなく、簡単な方法で磁石の着磁を効率的に行う。 - 特許庁

To provide an electronic control circuit and an operating method for reducing or avoiding the defect of a conventional technique.例文帳に追加

従来技術による欠点を軽減または回避する電子制御回路と動作方法とを提供する。 - 特許庁

To improve picture recognition by preventing visible defect in a panel due to carets generated in scribing or suction holes.例文帳に追加

スクライブの際に発生するカレットや吸着孔によるパネル表示不良を防ぎ、画像認識を改善する。 - 特許庁

The presence of a recess or protrusion defect on the the copper coated surface within the micropore range is determined when exceeding the set value.例文帳に追加

超えていれば当該微孔範囲内の銅被覆表面に凹みまたは凸起欠陥があると判定する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a film and a porous film which suppresses the occurrence of dot defect, crack or the like.例文帳に追加

点欠陥、クラック等の発生を抑制できる膜および多孔性膜の製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a digital broadcast receiver that easily controls recording start and recording stop of a transport stream depending on an error or a defect of a digital signal.例文帳に追加

デジタル信号のエラーや不具合に応じてトランスポートストリームの記録開始、記録停止を容易にコントロールする。 - 特許庁

The clay is used for repairing the crack and defect generated in the earthenware in the course of manufacture or for shape modification thereof.例文帳に追加

この粘土を製作中の陶器に生じたひび割れ、欠損の補修又は造形変更に使用する。 - 特許庁

To provide a method of a laser beam welding for a steel plate by which an internal welding defect (crack or porosity) does not occur.例文帳に追加

鋼板をレーザ溶接において、内部溶接欠陥（割れ、気孔）の発生のない溶接法を提供する。 - 特許庁

To realize working, without overetching or insufficient shaping in defect correction on a mask using atomic force microscope techniques.例文帳に追加

原子間力顕微鏡技術を用いたマスクの欠陥修正でオーバーエッチや削り残しのない加工を実現する。 - 特許庁

To provide design driven inspection/metrology methods and apparatus in semiconductor wafer defect inspection or measurement.例文帳に追加

半導体ウエーハ欠陥検査又は測定における設計主導型の検査/測定方法および装置を提供する。 - 特許庁

Ultrasonic waves are transmitted and received by a probe 10, thereby detecting a defect S or flaws of the inspection object 100.例文帳に追加

探触子１０から超音波を送受信することで、試験体１００の欠陥Ｓまたはきずを検出する。 - 特許庁

The SW transistor 128_k is driven by time sharing in a light emission period without performing inspection or repair of the unlit defect.例文帳に追加

滅点の検査やリペアをせずに、発光期間において、ＳＷトランジスタ１２８_kを時分割で駆動する。 - 特許庁

To eliminate the need of rewriting firmware in order to correct a defect in a user interface or in order to provide an additional function.例文帳に追加

ユーザインタフェースの不具合の修正や機能追加のためにファームウェアの書き換えを必要としないようにする。 - 特許庁