「DEFECT OR」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索

(1) Matters concerning the liability in the case the Goods (excluding rights to use a facility or to receive offer of services) have a hidden defect 例文帳に追加

一　商品（施設を利用し及び役務の提供を受ける権利を除く。）に隠れた瑕疵がある場合の責任に関する事項 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide a nonaqueous electrolyte cell that has few voltage defect problems due to shock or the like, and has superior low temperature discharge characteristics.例文帳に追加

衝撃などによる電圧不良の発生が少なく、かつ低温放電特性が優れた非水電解液電池を提供する。 - 特許庁

To manufacture an optical disk which has a bubble defect or uneven adhesion suppressed by preventing blocking at the time of sticking a substrate and a sheet to each other.例文帳に追加

基板とシートとの貼り合わせ時のブロッキングを防ぎ、気泡欠陥や接着ムラが抑制された光ディスクを製造する。 - 特許庁

The recognition operation includes identification of one or more causes of the defect as a function of the states recognized in the recognition operation.例文帳に追加

認識の動作は、認識の動作で認識された状態の関数として、１又はそれ以上の原因の特定を含む。 - 特許庁

To provide a method for producing a display substrate which can avoid a problem caused by the bleeding of a printing paste or a defect of a plate making.例文帳に追加

印刷ペーストの滲みや製版の欠陥に起因する不具合を抑制し得るディスプレイ基板の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a recording medium whereby an original or a copy can be discriminated without the need for intentional defect insertion so as to contribute to copy prevention.例文帳に追加

意図的に欠陥を挿入せずに、オリジナルかコピーかの判別が可能で、コピー防止に寄与できる記録媒体を提供する。 - 特許庁

To eliminate the occurrence of a transmitting defect at the time of facsimile transmitting or registration work at the time of facsimile receiving in an image filing device.例文帳に追加

画像ファイリング装置のファクシミリ送信時における送信不良やファクシミリ受信時における登録作業の発生をなくす。 - 特許庁

The defect management information 10 includes state information which shows whether the defective area is substituted by the substitute area or not.例文帳に追加

欠陥管理情報１０は、欠陥領域が交替領域に交替されているか否かを示す状態情報を含む。 - 特許庁

Thus, voltage stress is generated between the bit line BL1 and the peripheral circuit or the like, and a defect is made conspicuous.例文帳に追加

これにより、ビット線ＢＬ１と周辺回路等との間に電圧ストレスを生じさせ不良を顕在化させることができる。 - 特許庁

To provide an applicator and/or an applicator tip used for repairing a tissue by applying a biocompatible filler to a tissue defect.例文帳に追加

生体適合フィラーを組織欠損に適用し、組織の修復に用いるアプリケーターおよび／またはアプリケーターチップを提供すること。 - 特許庁

To avoid a failure even when a defect occurs within a crossbar bus circuit or a failure occurs during use.例文帳に追加

クロスバーバス回路内に欠陥が生じるか、あるいは使用している間に故障が生じても、故障を回避することを可能にする。 - 特許庁

To reduce interface level or crystal defect in interface of a single crystal semiconductor layer formed on insulator.例文帳に追加

絶縁層上に形成された単結晶半導体層の界面における界面準位または結晶欠陥を低減させる。 - 特許庁

As a result, the coordinates of each chip and data on the chip includes the defect or not are stored in a data base in each chip of the inspected semiconductor wafer.例文帳に追加

この結果検査した半導体ウェーハーのチップ毎に、その座標と欠陥を含むか否かがデータベースに蓄積される。 - 特許庁

The total reflection confinement type waveguide 120 has the same or approximately the same width as the width of the line defect section 113.例文帳に追加

全反射閉じ込め型導波路１２０は、その幅が線欠陥部１１３の幅と同一又は略同一の幅を有している。 - 特許庁

any of a number of diseases in which an inherited defect (usually a missing or inadequate enzyme) results in an abnormality of metabolism 例文帳に追加

遺伝性障害（通常欠損酵素あるいは酵素不足）が新陳代謝の異常をもたらす多くの疾患のいずれか - 日本語WordNet

After the production of a device, the defect accumulation region H is dissolved by heated KOH or NaOH to separate polygonal chips.例文帳に追加

デバイスを製作したのち加熱したＫＯＨ、ＮａＯＨで欠陥集合領域Ｈを溶かし多角形のチップに分離できる。 - 特許庁

To provide a surface inspection apparatus capable of easily changing the detection sensitivity of the defect or the like on the surface of a substrate.例文帳に追加

基板の表面の欠陥などを検出する感度を容易に変えることができる表面検査装置を提供すること。 - 特許庁

To suitably weld a filter to a base material by improving a welding strength and preventing a defect such as scorching, perforating or the like.例文帳に追加

溶着強度の向上と、焦げや穴明き等の欠損防止とを図りながらフィルタと基材とを好適に溶着させること。 - 特許庁

To provide an image correction apparatus and an imaging unit which enable eye-related defect such as red-eye portions or gold-eye portions in an image to be confirmed by a simple operation, as an image correction apparatus and an imaging unit for detecting eye-related defect such as red-eye portions or gold-eye portions in an image and correcting the detected defect.例文帳に追加

本発明は、画像中の赤目部分や金目部分などといった目の不具合を検出し、検出された不具合を修正する画像修正装置および撮像装置に関し、画像中の赤目部分や金目部分などといった目の不具合の確認が、容易な操作で実現される画像修正装置および撮像装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

(a) preventing, diagnosing, curing or alleviating a disease, ailment, defect or injury in persons; or (b) influencing, inhibiting or modifying a physiological process in persons; or (c) testing the susceptibility of persons to a disease or ailment. 例文帳に追加

(a) 人における疾病，軽い慢性的疾患，欠損又は傷害の予防，診断，治療又は緩和，又は (b) 人における生理学的過程について，影響を与え，抑制し又は変更を加えること，又は (c) 病気又は軽い慢性的疾患に対する人の羅病性を試験すること - 特許庁

To provide an image forming device making the image defect caused by the image density lowering or the like when S/D is lowered or even when rotary speed of an electrostatic latent image carrier is accelerated.例文帳に追加

Ｓ／Ｄを下げた時や静電潜像担持体の回転速度を上げた時等でも画像濃度低下等による画像不良が防止される画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To substantially overcome or at least improve one defect and more in a conventional process, with regard to embedding or detecting watermark information into an image.例文帳に追加

画像中への透かし情報の埋め込み又は検出に関する従来の処理における１つ以上の欠点を実質的に克服、或いは少なくとも改善する。 - 特許庁

During a test sequence, the output signal of a row test circuit is monitored, and whether the defect such as the short circuit or the like is likely to exist in a row or the row driver is identified.例文帳に追加

試験シーケンス中、行試験回路の出力信号を監視して、行又は行ドライバに短絡などの欠陥が存在していそうであるか否かを識別する。 - 特許庁

The image of the color A has smaller difference in brightness (or color) between a part corresponding to the defect of the workpiece W and the periphery of the part than the image of the color B (or the image of the color C).例文帳に追加

Ａ色画像はＢ色画像（あるいはＣ色画像）に比べて、ワークＷの欠陥に対応する部分と、その周囲との明るさ（あるいは色）の差が小さい。 - 特許庁

To materialize a structure for determining whether abnormality is caused or not based on a defect such as flaking or crack at a rolling contact part of an rolling bearing unit at low cost.例文帳に追加

転がり軸受ユニットの転がり接触部に、剥離、亀裂等の欠陥に基づく異常が発生しているか否かを判定する為の構造を、低コストで実現する。 - 特許庁

To prevent the generation of the short circuit, defect or the like of an electronic circuit caused by the contamination of a plating soln. and undesirable influences on a coating film without causing the contamination of the plating soln. or the like.例文帳に追加

メッキ液の汚染などを起こさず、メッキ液の汚染により発生する電子回路の短絡や不良などの発生、塗膜への悪影響を防止すること。 - 特許庁

Or the reason for refusal stated in the notice of reasons for refusal given to the other patent application may be a clerical error or other minor defect. 例文帳に追加

第50条の2の通知を行う際は、その通知中において、拒絶の理由が同一である他の特許出願の出願番号及び拒絶理由通知の起案日を記載する。 - 特許庁

A defect in the field is detected by comparing two or more images corresponding to two or more numbers in the different parameters.例文帳に追加

本方法は異なる値のうちの２又はそれを超える数の値に対応する像のうちの２又はそれを超える数の像の比較に基づいて、フィールド内の欠陥を検出する。 - 特許庁

To compensate for insufficient reproduction of data even when such a TA or a medium defect as increases retrying or disables reading a data part occur in AGC/PLL parts.例文帳に追加

本発明は、リトライの増加やデータ部の読み出しができなくなるようなＴＡや媒体欠陥が、ＡＧＣ／ＰＬＬ部に生じた場合であっても、データの再生を補償する。 - 特許庁

Thus, the moving picture distribution method can prevent or suppress a defect of deterioration in the quality of the downloaded moving picture data affected by the good or band reception state of the mobile phone 3.例文帳に追加

携帯電話機３の受信状態の良否に影響されてダウンロードした動画像データの品質が劣化するという弊害を防止あるいは抑制できる。 - 特許庁

To measure, effectively in a short time, an internal defect or a surface flaw generated in the diameter direction or the like by an ultrasonic inspection method relative to the side part of a rotor inspection object.例文帳に追加

回転体被検査物の側面部に対する超音波探傷方法で径方向等に生じた内部欠陥や表面傷を短時間で効率よく測定する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which has no distortion or defect such as lattice mismatch or crystal dislocation when crystal growth is made on a substrate, and also to provide a method for manufacturing the semiconductor device.例文帳に追加

基板上に結晶を成長させる際、格子不整合や結晶の転位などの歪みや欠陥がない半導体装置及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide design and test methodology for breaking a linear relation between a defect detecting range or test possibility and a design test or a cost related to production.例文帳に追加

欠陥検出範囲又はテスト可能性と、設計のテスト又は製造に関するコストとの間の線形的な関係をうち破る設計及びテスト方法論を得る。 - 特許庁

To easily find out a micro leak or a pin hole defect with simple constitution and high sensitivity without using a special equipment or device.例文帳に追加

特別な機械や装置を使用することなく簡単、かつ高い感度で微細な漏れ個所及び貫通欠陥を容易に見つけることができる有機溶剤漏洩検出具の提供。 - 特許庁

In the case where two or more detected defects exist adjacent to each other within a predetermined or less interval in the rolling direction of the body to be inspected, two or more defects are detected as one continuous defect.例文帳に追加

また、検出された二以上の欠陥が被検査体の圧延方向に所定間隔以下の範囲で隣接して存在する場合には、二以上の欠陥を一の連続した欠陥として検出する。 - 特許庁

To avoid a defect, while generating only a little impact, by providing a driving and/or reverse rotation element for a chain or a step chain or a pallet chain without having the polygonal effect.例文帳に追加

多角形効果を有さないチェーンまたはステップチェーンまたはパレットチェーン用の駆動および／または逆転要素を提供することであり、または僅かな衝撃しか発生せず、上記の欠点を回避すること。 - 特許庁

Article 2 (1) When damage to another person is caused because of a defect in the placement or administration of a road, river, or other public structure, the State or public entity shall assume the responsibility to compensate therefor. 例文帳に追加

第二条　道路、河川その他の公の営造物の設置又は管理に瑕疵があつたために他人に損害を生じたときは、国又は公共団体は、これを賠償する責に任ずる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

The peripheral equipment 1 collects states of respective parts and generates logs when the defect is detected during processing execution, transmits the logs to a DB server 4, and inquires whether or not there is any firmware whose defect can be resolved.例文帳に追加

周辺機器１は、処理実行中に不具合が検出された場合に各部の状態を収集しログを生成し、ログをＤＢサーバ４へ送信し不具合を解決可能なファームウェアの有無を問い合わせる。 - 特許庁

To measure the position of a defect by a device of a simple structure dispensing with the positioning of two cameras or calibration when measuring the thickness-wise position of the defect in a transparent plate-like body.例文帳に追加

透明性を有する板状体中の欠陥の、板状体の厚さ方向の位置を測定する際、２台のカメラの位置合わせやキャリブレーションを必要としない、簡易な構成の装置で欠陥の位置を測定する。 - 特許庁

Also, by having both a low resolution optical system and a high resolution optical system, both a circular or a rectangular pattern defect and a defect of fine line width such as an CD error can be detected simultaneously.例文帳に追加

さらに、低解像度光学系と高解像度光学系の両方を具えることにより、円形又は矩形のパターン欠陥とＣＤエラーのような微細線幅の欠陥の両方を同時に検出することができる。 - 特許庁

To provide a measuring method for inner defect size enabling measurement of a flaked defect size on an even flat plate or a laminated flat plate by using a flexuously-vibrating ultrasonic excited in a measuring body (RAM wave).例文帳に追加

被測定体中に励起される屈曲振動する超音波（ラム波）を用いて、一様平板や積層平板の剥離状欠陥寸法を測定できる内部欠陥寸法の測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of sheet heating element which can restrain generation of foaming in a material 3' of PTC heating element, and of discoloring defect or defect in setting of resistance value.例文帳に追加

ＰＴＣ発熱素子の生地３’に発泡が発生するのを抑えることができ、もって変色不良や抵抗値の設定不良が発生するのを抑えることが可能な面状発熱体の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a low-defect thin film which is extremely little in deposition defects such as particles attached or embedded in a film under growth and a low-defect deposition method which is a method for manufacturing the same.例文帳に追加

本発明は、成長中の膜に付着若しくは埋め込まれて成るパーティクルなどの成膜欠陥が極めて少ない低欠陥薄膜及びその製造方法である低欠陥成膜法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To prevent occurrence of a reading defect or a feeding defect by pressing originals of a plurality of thickness such as of thick paper and thin paper with a considerably difference in thickness on a glass surface of an image sensor with appropriate pressures.例文帳に追加

厚さに大きな違いがある厚紙、薄紙等の複数の厚さを有する原稿を、適切な押圧力でイメージセンサのガラス面に押し付けることができるようにし、読み取り不良や送り不良の発生を防止する。 - 特許庁

The method also includes determining whether each defect detected in the first die substantially possesses the same position in the die as a defect detected in the second die or not.例文帳に追加

加えて本方法は、第１のダイ内で突きとめられた個別の欠陥が、第２のダイ内において突きとめられた個別の欠陥と実質的に同一のダイ内ポジションを有しているか否かを決定することも含む。 - 特許庁