「DEFECT OR」に関連した英語例文の一覧と使い方(14ページ目) - Weblio英語例文検索

To stick a counter substrate and an element substrate together with sufficient fixing strength without producing a contaminant or causing a defect in alignment.例文帳に追加

汚染物質の発生、アライメントの不良を生じさせることなく、十分な固着強度で対向基板と素子基板とを貼り合わせる。 - 特許庁

To provide an infrared image inspection device inexpensively inspect a defect without disassebling or moving an inspection object.例文帳に追加

検査対象物を分解あるいは移動することなくより安価に欠陥を検査することができる赤外線映像検査装置である。 - 特許庁

To provide a visual external inspection apparatus for semiconductors capable of surely detecting a defect on a semiconductor wafer or a pellet at a high speed.例文帳に追加

半導体ウエハあるいはペレット上の欠陥を高速で確実に検出することができる半導体外観検査装置を提供する。 - 特許庁

Inspection units 10 and 20 performing macro defect inspection or line width measurement of a pattern are disposed in the indexer ID.例文帳に追加

マクロ欠陥検査やパターンの線幅測定等を行う検査ユニット１０および検査ユニット２０はインデクサＩＤの内部に配置している。 - 特許庁

To perform more detailed determination than hitherto with respect to the kind, the depth, the thickness or the like of a defect part in a concrete structure.例文帳に追加

コンクリート構造物内の欠陥部について、その種類、深さ又は厚み等の従来よりもさらに詳細な判定を行うこと。 - 特許庁

To eliminate electric contact defect due to the deflection or distortion of a prober frame and to prevent the adhesion of dust to the surface of a substrate.例文帳に追加

プローバフレームの撓みや歪みによる電気的な接触不良を解消すること、また、基板面へのダストの付着を防ぐこと。 - 特許庁

METHOD FOR SCREENING PRESENCE OF HEREDITARY DEFECT RELATED TO WEAK ANTICOAGULANT RESPONSE TO THROMBOSIS AND/OR ACTIVATED PROTEIN C例文帳に追加

血栓症及び／又は活性化プロテインＣに対する弱い抗凝血応答に関連した遺伝性欠陥の存在をスクリーニングする方法 - 特許庁

To provide stable cleaning performance by preventing the damage of a cleaning blade or occurrence of a cleaning defect when cleaning an almost spherical toner.例文帳に追加

略球形のトナーをクリーニングする際、クリーニングブレードの損傷やクリーニング不良の発生を防止し、安定したクリーニング性能を得る。 - 特許庁

LOCAL VASCULAR DELIVERY OF TRICHOSTATIN ALONE OR BY ITS COMBINATION WITH SIROLIMUS FOR PREVENTING RESTENOSIS AFTER VASCULAR DEFECT例文帳に追加

脈管の傷害後の再狭窄を防止するための単独またはシロリムスとの組み合わせにおけるトリコスタチンの局所的な脈管配給 - 特許庁

Thus, the defect peculiar for the photo via/laser via can be extracted while suppressing the canard to be easily issued at the position of through hole or photo via/laser via.例文帳に追加

これにより，スルホールやフォトビア・レーザビアの位置に出やすい虚報を抑えつつ，フォトビア・レーザビアに特有な欠陥を抽出できる。 - 特許庁

To provide a package forming support device which can solve a problem of defect of a device in the traditional technology or practically improve the traditional technology.例文帳に追加

従来技術の装置の欠点を克服するかまたは実質上改善し得る包装形成支援装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a processor of a paper sheet or the like, which sufficiently analyzes the cause of defect occurrence and immediately disposes paper determined as defective.例文帳に追加

不良発生原因の解析が十分可能であり、かつ不良判定紙を即時に処分し得る紙葉類処理装置を提供する。 - 特許庁

Accordingly, the local irregularity defect on the surface of the silicon wafer caused by the polishing can be reduced or eliminated.例文帳に追加

これにより、研磨に起因して発生したシリコンウェーハの表面の局所的な凹凸欠陥を縮小または消滅させることができる。 - 特許庁

The electron microscope 5 for observing a defect detected by the optical defect inspection device or the optical appearance inspection device has a constitution wherein an optical microscope 14 for re-detecting the defect is loaded, and a distribution polarization element and a space filter are inserted onto a pupil surface when performing dark field observation by the optical microscope 14.例文帳に追加

光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を観察する電子顕微鏡5において、欠陥を再検出する光学顕微鏡14を搭載し、この光学顕微鏡14で暗視野観察する際に瞳面に分布偏光素子及び空間フィルタを挿入する構成とする。 - 特許庁

To provide a method for correcting a defect of a photomask capable of acquiring an excellent cross-sectional shape at the edge part of a pattern of an absorption layer or a light blocking layer after dark defect correction, a method for manufacturing a photomask using it, and a photomask defect correction device for performing the method.例文帳に追加

本発明は、黒欠陥修正後、吸収層または遮光層のパターンの端部にて良好な断面形状が得られるフォトマスクの欠陥修正方法、およびそれを用いたフォトマスクの製造方法、それを実施するためのフォトマスクの欠陥修正装置を提供することを主目的とする。 - 特許庁

To provide a defect position detecting device for a buried pipe detecting a defect of the old buried pipe and capable of accurately detecting a defect position even when the pipe is bent without particularly digging a hole in an inspection of the crack or the like of the buried pipe in particular.例文帳に追加

本発明は古くなった埋設配管の欠陥を検出する埋設配管欠陥箇所検出装置に係り、特に埋設配管の亀裂等の検査において特に穴を掘る必要もなく、例え配管が曲がっていても正確に欠陥個所を知ることができる埋設配管の欠陥箇所検出装置を提供するものである。 - 特許庁

The measurement of moisture is stopped when the moisture meter 31 is defective, and the defect is classified into a defect which can detect the presence or absence of the flow of the grains and a defect which cannot detect it.例文帳に追加

水分計３１への穀粒取り込み検知で乾燥穀粒の流れの有無を検出可能とする穀物乾燥機において、該水分計３１の異常によって水分測定を停止すると共に、この異常を穀物の流れの有無を検出できる異常と、検出できない異常とに区分けすることを特徴とする水分測定装置の構成。 - 特許庁

When a CD-MRW drive 2 receives a request for the defect management information by receiving a get defect table information command from a host computer 1, the drive reads the defect management information of a CD-MRW disk loaded therein out of the CD-MRW disk (or a RAM) and transfers the information to the host computer 1.例文帳に追加

ＣＤ−ＭＲＷドライブ２は、ホストコンピュータ１からゲットディフェクトテーブルインフォメーションコマンドを受信して欠陥管理情報の要求を受けると、装着されているＣＤ−ＭＲＷディスクの欠陥管理情報をＣＤ−ＭＲＷディスクから（あるいはＲＡＭから）読み出してホストコンピュータ１へ転送する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method of an optical film constituted such that adhesion of an adhesive on a mold releasing film or roughening of the surface of a mold releasing agent is inhibited during defect inspection of a part of the mold releasing film by peeling while remaining a part of the mold releasing film in the defect inspection of the optical film.例文帳に追加

光学フィルムの欠点検査において、離型フィルムの一部を残して剥離して欠点検査を行なう場合に、離型フィルムの剥離に際し、離型フィルムに粘着剤が付着したり、粘着剤表面が荒れることがないように構成した光学フィルムの欠点検査方法を提供することにある。 - 特許庁

It is especially preferable that the content of titanium dioxide in the titanium dioxide added resin layer having the oxygen defect is 0.5-50 wt.% or the ratio of the oxygen defect of titanium dioxide having the oxygen defect is 0.01-25% of the number of oxygen atoms in titanium dioxide.例文帳に追加

特に、酸素欠陥を有する二酸化チタン添加樹脂層における二酸化チタン含有率が０．５重量％から５０重量％である場合や、酸素欠陥を有する二酸化チタンの酸素欠陥の割合が、二酸化チタン中酸素原子の数の０．０１％から２５％である場合が好ましい。 - 特許庁

The surface defect detecting method and device is constituted so that whether it is defect or not is discriminated by using an optical system constituted of a belt like light source 1 used for both dark field lighting and bright field lighting and a light receiving element 3 for detecting the defect in the dark field and bright field and comparing the taken image with a prescribed value.例文帳に追加

暗視野照明及び明視野照明を兼用する帯状光源１と、暗視野及び明視野で欠陥を検出する受光素子３とから構成した光学系を用い、取り込んだ画像を所定値と比較して欠陥か否かを判定するようにした表面欠陥検出方法及び装置。 - 特許庁

Consequently, while a transfer defect due to a contact defect between an image carrier such as the photosensitive drum 1 and the paper conveyance belt 10 (or transfer paper P) as a recording body holding belt is suppressed, a transfer defect and lift of the front end of transfer paper P due to extremely tight contact between the both can be suppressed.例文帳に追加

これにより、感光体ドラム１等の像担持体と、記録体保持ベルトたる紙搬送ベルト１０（又は転写紙Ｐ）の密着不良による転写不良を抑えつつ、両者を極度に強く密着させることに起因する転写不良や転写紙Ｐ先端の浮きを抑えることができる。 - 特許庁

To provide an apparatus for detailed observation of defects detected by an optical defect inspection apparatus or by an optical visual inspection apparatus capable of placing a defect to be observed into the field of view of an electronic microscope or the like, without fail, and reducing the size of the apparatus.例文帳に追加

光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を電子顕微鏡等で詳細に観察する装置において、観察対象の欠陥を確実に電子顕微鏡等の視野内に入れることができ、かつ装置規模を小さくできる装置を提供する。 - 特許庁

To provide a polishing treatment agent which eliminates defect wherein, after washing, the original color or given color of fiber is paled and the luster and gloss are lost and defect wherein, after car washes, the paint color or given color of the car is paled and the luster and gloss are lost.例文帳に追加

洗濯すると繊維の元の色、着色した色が薄くなり艶出しや光沢がなくなる欠点があったり、車を洗車すると車の塗料の色、着色した色が薄くなり艶や光沢がなくなる欠点があったりするが、これらの欠点のない艶出し処理剤を提供すること。 - 特許庁

The method for detecting the pixel defect of the solid state imaging element comprises the step of detecting whether the defect is generated or not in the element imaging any of the spectral lights in response to a compared result of video signals obtained by imaging and outputting the same imaging position or near imaging position at each spectral light.例文帳に追加

分光光毎に同一撮像位置もしくは近傍撮像位置で撮像し出力した映像信号どうしを比較した結果に応じて、分光光のうちいずれの分光光を撮像した撮像素子で画素欠陥が発生しているか否かを検出する。 - 特許庁

The predetermined judgment conditions are, for example, such conditions that a defect shown by the inspection result is a serious defect, such conditions that the same defects continuously arise, and such conditions that the same defects arise discontinuously or different defects continuously or discontinuously arise.例文帳に追加

予め定める判定条件は、たとえば、検査結果が示す不良が、重欠陥であるという条件、同じ不良が連続して発生しているという条件、および同じ不良が不連続にまたは異なる不良が連続してもしくは不連続に発生しているという条件である。 - 特許庁

To provide a gas barrier film for an electronic display medium whereby an excellent image display can be obtained, because even if it has a defect such as a dark spot or the like, the visibility of the defect is low, or it has a wide angle of visibility.例文帳に追加

本発明は、ダークスポット等の欠陥がある場合であってもその欠陥の視認性が低く、あるいは、広視野角性を有することにより、良好な画像表示を得ることが可能である電子表示媒体用ガスバリア膜を提供することを主目的とするものである。 - 特許庁

To observe a defect efficiently in a short time without lowering a detection rate by improving a processing procedure of detect detection or the like so that a reutilization rate of a recorded reference image is raised, when inspecting in detail by enlarging a defect portion or the like.例文帳に追加

欠陥部分を拡大するなどして詳細に検査するときに、記録した参照画像の再利用率があがるように欠陥検出の処理手順などを改良することで、検出率を下げずに短時間に効率よく欠陥を観察することができるようにする。 - 特許庁

The depth of a material removed from a substrate capable of transmitting light is controlled in accordance with the depth of ion implantation of a light absorbing material such as gallium, arsenic, boron, phosphorus, antimony or a compound of these into a defect on the substrate and/or a region surrounding the defect.例文帳に追加

光透過可能基板上の欠陥またはその欠陥を取り囲む領域あるいはその両方へのガリウム、砒素、ホウ素、燐、アンチモン、またはこれらの化合物などの吸光材料のイオン注入の深さにより、基板から除去される材料の深さが制御される。 - 特許庁

The determination is carried out by discriminating an existence of a defect in the measurement position in accordance with whether or not the intensity of the P polarized light component is within the reference intensity range and whether or not the intensity of the S polarized light component is within the reference intensity range and discriminating the type when there is a defect.例文帳に追加

この判定は、Ｐ偏光成分の強度が基準強度範囲外であるか否かとＳ偏光成分の強度が基準強度範囲外であるか否かとに応じて、測定位置での欠陥の有無を判別し且つ欠陥がある場合にはその種類を判別することでなされる。 - 特許庁

This plate glass is sorted to make, as a defective, the plate glass having the maximum dimension of 30 μm or more of internal defect, and having the maximum depth or maximum height exceeding 0.1 μm with respect to a translucent face in a translucent partial area corresponding to a position of the internal defect, and to make the other plate glasses as nondefectives.例文帳に追加

内部欠陥の最大寸法が３０μｍ以上であり、かつ、内部欠陥の位置に対応する透光面一部領域の透光面に対する最大深さ又は最大高さが０.１μｍを超える板ガラスを不良品とし、それ以外の板ガラスを良品として選別する。 - 特許庁

To provide a method for correcting a display defect such as a display defect accompanying a smear or unevenness, sticking, or a decrease in voltage holding rate due to a chromato-phenomenon of impurities, originating from a material constituting a liquid crystal display device, on a surface of an alignment film.例文帳に追加

ネマチック液晶表示素子において、液晶表示装置を構成する材料由来の不純物の配向膜表面でのクロマト現象に起因するシミ・ムラ、焼き付き又は電圧保持率の低下に伴う表示不良などの表示不良を解決する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a coating method and a coating device of a resin composition, which reduces the generation of the soiling of the tip of a nozzle, the cobwebbing of the resin composition or coating shape defect due to the scattering, or the like, in a coating process of the resin composition to decrease unsoldering defect in the post process.例文帳に追加

樹脂組成物の塗布工程におけるノズル先端の汚れ、樹脂組成物の糸引き、飛び散り等による塗布形状不良の発生を低減し、後の工程における未はんだ不良等を低減させることができる樹脂組成物の塗布方法および塗布装置を提供する。 - 特許庁

To provide a recording/reproducing device capable of deciding optimal recording conditions by eliminating evaluation data (jitters, or modulation degree) affected by a defect even when the defect such as a flaw or a fingerprint is present in an OPC area.例文帳に追加

光ディスクの最適記録条件を求めるために、ＯＰＣ領域にＥＣＣブロック単位で記録条件を異ならせて記録したテスト信号の再生信号に基づく評価データを検出する場合、ＯＰＣ領域にディフェクトがあると最適な記録条件を求めることができない。 - 特許庁

The guide material 110 is equipped with at least one or more crown parts 112 for covering and attaching the defect part of the human body, and at least one or more support parts 114 which is fixed by covering the human body part next to the defect part and connected together with the crown part.例文帳に追加

ガイド部材１１０は、人体部位の欠損部に被せて装着する少なくとも１つ以上冠状部材１１２と、欠損部に隣接する人体部位に被せて固定し冠状部材と一体連結された少なくとも１つ以上の支持部材１１４とを備えて形成される。 - 特許庁

When reading data recorded in DVD-RAM at the time of rewriting the data to DVD-RAM 130, a disk driver 121 generates defect information presenting the position of the defect or the like on the recording plane of the DVD-RAM.例文帳に追加

ディスクドライバ１２１は、ＤＶＤ−ＲＡＭ１３０に対するデータの書換時において、ＤＶＤ−ＲＡＭに記録されたデータを読み出すときに、ＤＶＤ−ＲＡＭの記録面上の欠陥位置等を示す欠陥情報を生成する。 - 特許庁

To provide a method for evaluating photomask defect transfer characteristic which is capable of estimating the transfer characteristics with good accuracy and is eventually capable of distinctly discriminating whether the defect ought to be corrected or not and a method for manufacturing semiconductor device.例文帳に追加

転写特性を精度良く推測することが可能であり、ひいては欠陥を修正すべきか否かをはっきり判別できるフォトマスク欠陥転写特性評価方法及び半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an automatic inspection device for display panel which automatically inspects testing items such as point defect or line defect, while achieving an enhancement of precision in detection and judgment of display unevenness without requiring any difficult display unevenness detection/determination processing.例文帳に追加

自動的に点欠陥や線欠陥などの検査項目を検査するとともに、困難な表示ムラ検出・判定処理を必要とせずに表示ムラの検出・判定の精度を向上可能なディスプレイパネル自動検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspecting method using a scanning charged particle beam system, capable of precisely inspecting a defect over a short period of time, which exists on a surface of a sample to be inspected such as a semiconductor LSI or the like, by using a pattern matching technique.例文帳に追加

半導体ＬＳＩなどの被検査試料の表面に生じた欠陥の検査を、パターンマッチング技術を用いて高い精度で短時間に行なうことができる走査型荷電粒子ビーム装置を用いた欠陥検査方法 - 特許庁

To provide a method for masking a CCD defect from an examination target by including a means for automatically specifying a CCD defective pixel in a panel picture quality examination apparatus for examining a point defect corresponding to one pixel of a plasma display or the like.例文帳に追加

プラズマディスプレイ等の１画素相当の点欠陥を検査するパネル画質検査装置における ＣＣＤ 欠陥画素を自動特定する手段を有し、ＣＣＤ 欠陥を検査対象からマスクする方法を提供する。 - 特許庁

To obtain a MLC display based on an ECB effect, having only a small degree of defect of conventional technique or no defect at all, preferably an extremely high resistance value and a low threshold voltage at the same time.例文帳に追加

従来技術の欠点を小さい程度でのみ有するか、または全く有しておらず、好ましくは非常に大きい抵抗値および低いしきい値電圧を同時に有するＥＣＢ効果に基づくＭＬＣディスプレイを提供する。 - 特許庁

A signal pattern is discriminated from a center of gravity pixel and surrounding pixels in real-time processing, during photographing of video and a pixel having an extremely large or small level, as compared with surrounding pixels, is regarded as a defect, and pixel defect correction is performed.例文帳に追加

映像撮影中にリアルタイムの処理で重心画素とその周囲の画素から信号のパターンを判別し、周囲と比較して1画素だけ極端の大きいレベルや小さいレベルの画素を欠陥とみなし画素欠陥補正を行なう。 - 特許庁

To provide a method for evaluating a crystal defect of a silicon single-crystal wafer, evaluating a minute DSOD (Direct Surface Oxide Defect) or the like accurately and easily, without incurring wasteful cost, which is once evaluated only by a Cu deposition method.例文帳に追加

従来Cuデポジション法でしか評価できなかった微小なＤＳＯＤ等を簡便でかつ無駄なコストをかけることもなく、更に精度良く評価可能なシリコン単結晶ウエーハの結晶欠陥の評価方法を提供する。 - 特許庁

The image processing device 1 detects defect pixels by performing image processing on image data, and performs quality determination on the inspection target based on a first inspection condition C1 set based on either the number or positions of defect pixels.例文帳に追加

画像処理装置１は、画像データを画像処理することで欠陥画素を検出し、欠陥画素数または位置の何れか一方に基づいて設定された第１の検査条件Ｃ１によって、検査対象物の良否判定を行う。 - 特許庁

To provide a method by which an operator can select defects having the possibility of exerting a fatal influence upon the operation of an integrated circuit from many pieces of defect data of a wafer surface by his or her easy operation so as to display defect images of the selected defects.例文帳に追加

ウェーハ上の多数の欠陥データの中から集積回路の動作に致命的な影響を与える可能性のある欠陥を、オペレータの容易な操作で選択し、選択した欠陥の欠陥画像を表示できる方法の提供。 - 特許庁