「DEFECT OR」に関連した英語例文の一覧と使い方(13ページ目) - Weblio英語例文検索

This method for preventing the seed from causing the defect in germination and the rosette formation comprises leaving the seed of plant causing the defect in germination or the rosette formation when growing in a high-moisture content state in a low-temperature and dark condition and then carrying out drying treatment.例文帳に追加

発芽不良、または、生育時にロゼット化を起こす植物体種子を、高水分状態で低温・暗黒条件下に放置したのち、乾燥処理する種子の発芽不良・ロゼット化防止方法。 - 特許庁

To easily determine whether a defect left on a mask substrate after cleaning processing is carried out on the mask substrate is caused by the cleaning processing process or an internal defect of the mask substrate itself.例文帳に追加

マスク基板に対して洗浄加工を行なった場合の洗浄加工後にマスク基板に残る欠陥が洗浄加工プロセスによるものなのか、マスク基板自体の内部欠陥によるものなかを容易に判定する。 - 特許庁

Thus, the irradiation angle of the light to the lens 2 is varied and the lens 2 is imaged, so that the scattered light image of the defect can be clearly captured regardless of the shape, size, kind, or the like of the defect.例文帳に追加

このように、レンズ２に対する光の照射角度が変化されてレンズ２が撮像されるため、欠陥の形状や大きさ、種類等によらず、欠陥の散乱光像を明確に捉えることが可能となる。 - 特許庁

As a defect density in the silicon film cannot be reduced by irradiating the silicon film with the laser beam or the strong light, a defect density in the crystallized silicon film can be reduced by heat-treating the crystallized silicon film, following the crystallization of the silicon film.例文帳に追加

レーザ光又は強光を照射では、膜中の欠陥密度を減らすことができないため、つづいて加熱処理をすることで結晶化された珪素膜の欠陥密度を低減させることができる。 - 特許庁

Among a plurality of the pixels corresponding to a plurality of the pixel electrodes, at least a part of defective pixels as a bright defect (903) or the like is made to be a dark defect by covering it with a non-transparent material (910).例文帳に追加

複数の画素電極に対応する複数の画素のうち、輝点（９０３）等となる不良化した画素の少なくとも一部については、不透明材料（９１０）で覆われることによって黒点化されている。 - 特許庁

To facilitate a developer of a software specifying a defect part of the software and effectively conducting a defect analysis work in a short time even in a combined test or a real test.例文帳に追加

結合テストや本番テストを行う場合であっても、ソフトウェアの開発者が容易にソフトウェアの不具合箇所を特定することができ、不具合分析作業を短時間に効率的に行うことができるようにする。 - 特許庁

In this defect inspecting method, position information on an interval of a contact part to a cathode ray tube or the like of a member contacting with the cathode ray tube, which causes a defect, is stored in a member information storing device 26 for each of members in advance.例文帳に追加

欠陥Ｐ発生原因となる陰極線管に当接する部材の陰極線管への当接部間隔などの位置情報を、部材毎に予め部材情報記憶装置26に記憶させておく。 - 特許庁

When the determination reference electric current component i_leak obtained by measurement and included in electric current during charging the capacitor to be determined is compared with the good/defect determination condition, it is determined the capacitor to be determined is good or defect.例文帳に追加

次に、測定により得た判定対象コンデンサの充電時電流中に含まれる判定基準電流成分ｉ_leakを前記良否判定条件に照合することで、判定対象コンデンサの良否を判定する。 - 特許庁

To provide a defect detecting circuit which can detect, with high accuracy, defect existing in timing at which operation of an optical disk apparatus is switched from recording operation to reproducing operation or from reproducing operation to recording operation.例文帳に追加

光ディスク装置の動作が記録動作から再生動作へ、あるいは再生動作から記録動作へ切り替わるタイミングに存在するディフェクトを高精度に検出することが可能なディフェクト検出回路を提供する。 - 特許庁

In this recording medium, an information showing whether a linear substitution defect control substituting data on the excess area for a defect on the recording medium is used or not, is stored for recording the real time data in the recording area.例文帳に追加

本発明の記録媒体は記録領域にリアルタイムデータを記録するために、記録媒体上の欠陥を余裕領域のデータに置換する線形置換欠陥管理を使用するかどうかを示す情報を貯蔵する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for a thermal recording medium which is suitable, particularly, for use in medical image display etc., and which prevents a defect or uneven color development in printing by obtaining a uniform coating surface with no coating defect such as unevenness in the coating surface.例文帳に追加

塗布面ムラ等の塗布欠陥がなく均一な塗布面を得ることにより、印画時に欠陥や発色ムラのない特に医療画像表示用途等に好適な感熱記録体の製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an imaging device in which effective pixel defect information can be prevented from being missed depending on conditions or the like when a pixel defect of an imaging element is detected and stored after a product is shipped.例文帳に追加

製品出荷後に撮像素子の画素欠陥を検出し記憶させる際に、その時の条件等によって有効な画素欠陥情報が消失することを防ぐことが可能な撮像装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device, an implant and a method, that obviate the need for asmixture of osteogenic protein with matrix, repairing bone deletion, cartilage defect and/or bone, cartilage defect.例文帳に追加

骨形成タンパク質とマトリクスとの混合物についての必要性を不必要にする、骨欠損、軟骨欠損、および／または骨軟骨欠損を修復するためのデバイス、移植片、およびその使用方法を提供すること。 - 特許庁

Since the more significant redundant memory cells only require 1 bit, the redundant memory cells of only 3 bits are required by storing, in the more significant redundant memory cells, information indicating whether a defect exists or not as well as positional information of the defect with respect to the least significant bit data.例文帳に追加

その際、上位の冗長メモリセルは１ビットのみでよいため、上位の冗長メモリセルに最下位の不良の有無／不良位置情報を格納させることで、冗長メモリセルとしては３ビットで済む。 - 特許庁

Thereafter, the similar processing is performed with plural recording/reproducing devices 106, 107, 108, and when the error occurs, the recording work is continued while judging whether the recording medium is defect or the recording/reproducing device is defect.例文帳に追加

以降、複数の記録再生装置１０６、１０７、１０８で同様な処理を行い、エラーが発生した場合は記録媒体が不良か記録再生装置が不良かを判断しつつ、書き込み作業を続行する。 - 特許庁

To provide a print pattern inspection method and an inspection device capable of suppressing pseudo defect detection by reducing an influence of meandering or expansion/contraction of a base material to be printed, and detecting a defect growing little by little.例文帳に追加

被印刷基材の蛇行や伸縮の影響を小さくして擬似不良検出を抑え、少しずつ成長するような不良の検出も可能な印刷絵柄検査方法及び検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for producing a hot dip plated metal strip by which the defect of buckling in a metal strip can be suppressed while preventing the defect of quality and the reduction of operation efficiency caused by the deposition of dross or the like.例文帳に追加

ドロス付着等による品質不良や操業効率低下を防止しつつ、腰折れ欠陥をも抑制することのできる溶融めっき金属帯の製造装置及び製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detecting device capable of detecting a defect on an optical disk accurately and speedily even immediately after the operation of the optical disk is changed over from recording to reproduction or from reproduction to recording.例文帳に追加

光ディスクの動作が記録から再生、あるいは再生から記録に切り替えられた直後であっても光ディスク上のディフェクトを正確かつ迅速に検出することが可能なディフェクト検出装置を提供する。 - 特許庁

The probe makes the ultrasonic waves expand and propagate radially inside the inspection object, whereby a defect inspection can be carried out by projecting the ultrasonic waves onto the defect S or the like existing inside the inspection object, even if the surface of the inspection object has irregularities or is made sloped.例文帳に追加

探触子は試験体内で超音波を放射状に拡大伝搬させるので、表面に凹凸や傾きが存在する試験体であってもその内部に存在する欠陥等Ｓへ超音波を照射し、その欠陥検査を行うことが可能である。 - 特許庁

In this device equipped with an illumination spot illuminance distribution data table for storing the illuminance distribution in the illumination spot, the coordinate position and the particle size calculation of the foreign matter or the defect are performed based on detection light intensity data from the foreign matter or the defect and the illumination spot illuminance distribution data table.例文帳に追加

照明スポット内の照度分布を格納する照明スポット照度分布データテーブルを備え、異物・欠陥からの検出光強度データと、この照明スポット照度分布データテーブルに基づいて異物・欠陥の座標位置および粒径算出を行う。 - 特許庁

Light is projected to the outer circumferential side face of a glass substrate or the end face at the mouth of a glass vessel and a component of the light diffuse reflected at a defect in the glass substrate or on the surface thereof and outgoing therefrom is detected thus detecting a defect of the glass substrate.例文帳に追加

ガラス基板の外周側面、又はガラス容器の口部端面に光を入射させ、その光のうちの、該ガラス基板の内部又は表面の欠点で乱反射し、該ガラス基板の表面から出てくる光を検出することで、ガラス基板の欠点を検出する。 - 特許庁

This device has a configuration wherein, when detecting a foreign matter or a defect on the surface of the inspection object, a parameter for digital filtering is changed dynamically during inspection, and the foreign matter or the defect is discriminated by using a result acquired by removing a low-frequency changing component which is a noise component.例文帳に追加

そして、被検査体表面上の異物や欠陥を検出する際、デジタルフィルタリングのパラメータを検査中に動的に変化させ、ノイズ成分である低周波変動成分を除去した結果を用いて、異物や欠陥を弁別する構成とする。 - 特許庁

To provide an implantable prosthesis and a method of the same for repairing an anatomical defect, such as a tissue or muscle wall defect, by promoting tissue ingrowth thereto, while limiting the incidence of postoperative adhesions between a portion of the prosthesis and tissue or organs.例文帳に追加

プロテーゼと組織又は器官との間の術後癒着の発生を制限する一方、組織の内方成長を促進することにより、組織及び筋肉壁の欠陥等の解剖学的欠陥を修復するための埋め込み式プロテーゼと方法を提供する。 - 特許庁

To record data by physically evading a segment made into a defective segment in reusing an information recording medium used thus far by a format or writing system having a defect management function by a format or writing system not having the defect management function.例文帳に追加

欠陥管理機能を有するフォーマット又は書き込み方式で使用されていた情報記録媒体を、欠陥管理機能を有さないフォーマット又は書き込み方式で再使用するときに、物理的に欠陥部分となった部分を回避してデータを記録できるようにする。 - 特許庁

The wafer evaluation method is characterised in that a wafer to be evaluated is dipped in an etchant formed of ammonia and hydrogen peroxide for a long period of time, and thereafter, a defect corresponding to the pit cluster is evaluated using a light scattering-method particle counter or a defect of 0.3 μm or above is evaluated.例文帳に追加

被評価ウエーハをアンモニア−過酸化水素水からなるエッチング液に長時間浸漬し、その後、光散乱方式のパーティクルカウンターを用いピットクラスターに相当する欠陥を評価するか、または０．３μｍ以上の欠陥を評価するようにした。 - 特許庁

To prevent a forming method for an injection-formed material so as to restrain the occurrence of internal defect (particularly, gas defect) in the case of injection-forming molten light metal in the semi-molten state at a temperature less than the melting point or the molten state at a temperature equal to or just above the melting point.例文帳に追加

軽金属溶湯を融点未満の半溶融状態、又は融点乃至融点直上の溶融状態で射出成形する場合において、内部欠陥（特にガス欠陥）の発生が抑止されるような射出成形材の成形方法を提供する。 - 特許庁

To correctly and easily detect not only presence of a defect on a surface parallel to the inside and outside surfaces of a face part of a panel but also presence of an inside defect in the thickness direction of the face part to avoid complication of relief work for the defect due to incapability of three-dimensionally detecting the presence of the inside defect, and unreasonable disposal of the panel or a bulb.例文帳に追加

パネルのフェース部における内外表面と平行な面上の欠点の存在状況のみならず、該フェース部の厚み方向に対する内部欠点の存在状況をも正確且つ容易に検出可能とし、内部欠点の存在を三次元的に知得できないことによる欠点対策作業の繁雑化やパネル或いはバルブの不当な廃棄を回避する。 - 特許庁

When the maximum value ΔMAX is the defect determining level SL or more, the occurrence of a detect (melting damage) is determined, and a warning lamp is turned on (S6).例文帳に追加

最大値ΔＭＡＸが欠陥判定レベルＳＬ以上であれば、欠陥（溶損）の発生を判定し、警告灯を点灯する（Ｓ６）。 - 特許庁

As a result, the developer or the resist component is suppressed from being residual on the surface of the substrate to obtain a pattern in which the development defect is reduced.例文帳に追加

このため基板の表面に現像液やレジスト成分が残るのを抑えられて現像欠陥の少ないパターンを得ることができる。 - 特許庁

The inspection device 1 extracts a defect (dirt or chip) from the difference with a reference region relative to the divided small domain image after correction.例文帳に追加

検査装置１は補正後の分割小領域画像について、基準となる領域との差異から、欠陥（汚れ、欠け）を抽出する。 - 特許庁

To detect the presence, the location and/or the size of a defect on the inner peripheral face of a piping by injecting ultrasonic wave into the piping.例文帳に追加

超音波を配管内部に入射して、配管の内周面に存在する欠陥の有無、位置及び／又は大きさを検出する。 - 特許庁

To easily manufacture a mineral plate having a film including no defect such as foam, foam breakage or the like on a surface without using a special facility.例文帳に追加

表面に発泡、破泡等の欠陥のない塗膜を有する無機質板を特別な設備を用いることなく容易に製造する。 - 特許庁

To efficiently radiate heat from a heat generating component to the outside and to prevent a defect in operation due to the heated air or moisture.例文帳に追加

発熱部品からの熱を効率よく外部に放熱することができ、熱気や湿気による動作不良の発生を防止できること。 - 特許庁

To inspect the presence or absence of a defect in the outer surface of a glass tube quickly and accurately without depending on the shape of the outer surface of the glass tube.例文帳に追加

ガラス管の内表面の形状に依存することなく、ガラス管の外表面の欠陥の有無を短時間で正確に検査する。 - 特許庁

To provide a method for producing a semiconductor device, by which a fine pattern is formed even without using an assist pattern method or a phase shift mask and defect inspection on a mask is easily performed.例文帳に追加

補助パターン法や位相シフトマスクなどを用いずとも微細パターンの形成が可能で、かつマスクの欠陥検査を容易とする。 - 特許庁

To eliminate certainly crystal defect of a deep trench side wall which is formed in a distorted Si substrate without being accompanied by deformation of the trench or the like.例文帳に追加

歪Ｓｉ基板に形成された深い溝側壁の結晶欠陥を、溝の変形等を伴うことなく確実に除去する。 - 特許庁

To provide a method for forming a protective film which protects the surface of a mold and does not generate residue or defect when peeled.例文帳に追加

モールドの表面を保護する保護膜の形成において、剥離した時に残渣欠陥が生じない保護膜の形成を可能とする。 - 特許庁

The method for inspecting a stencil mask includes acquiring a differential image between the first image and the second image to inspect a foreign matter or a defect.例文帳に追加

また、第１の画像と第２の画像の差分画像を得ることで異物や欠陥を検査するステンシルマスクの検査方法を提供する。 - 特許庁

With regards to the other regions, the presence or absence of the defect is disregarded, by which a yield is improved and the processing time is shortened.例文帳に追加

その他の領域については欠陥の有無を無視することにより、歩留まりを向上させると共に処理時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a method for verifying a defect (a bug) of software difficult to detect by test data check or logic check from a mathematical standpoint.例文帳に追加

テストデータチェックやロジックチェックでは検出が困難なソフトウェアの不具合(バグ)を数学的見地から検証する方法を提供する。 - 特許庁

To guarantee high reliability for control information provided for relieving defect or the like of a plurality of on-chip circuit modules.例文帳に追加

複数のオンチップ回路モジュールに対する欠陥救済等のために配信される制御情報に対して高い信頼性を保証する。 - 特許庁

To improve recording and reproducing accuracy by reducing a reproduction error and/or recording error for a defect state of a reproduced signal of an optical disk.例文帳に追加

光ディスクの再生信号のディフェクト状態に対する再生エラー及び／又は記録エラーを低減し記録再生精度を向上する。 - 特許庁

To provide an inspection processor capable of accurately detecting a defect or the like existing over the photographing range of a plurality of cameras.例文帳に追加

複数のカメラの撮像範囲に跨って存在する欠陥等を正確に検出することができる検査処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for deciding the presence of a defect clearly in a concrete structure or behind the structure.例文帳に追加

コンクリート構造物中或いはコンクリート構造物背後に存在する欠陥の有無を、明瞭に判定し得る方法を提供すること。 - 特許庁

To obtain an image with a few out-of-focus and a few exposure defect without making a service user conduct a special procedure of a tag possession or the like.例文帳に追加

サービス利用者にタグの所持等の特別な手続きをさせることなく、またピンぼけや露出不良の少ない画像を得る。 - 特許庁