「DEFECT OR」に関連した英語例文の一覧と使い方(16ページ目) - Weblio英語例文検索

To control the primary voltage and the secondary voltage, regardless of the defect (failure) of the voltage detecting function of a primary voltage sensor or a second voltage sensor.例文帳に追加

１次電圧センサ又は２次電圧センサの電圧検出機能の失陥（故障）に関わりなく、１次電圧又は２次電圧を制御する。 - 特許庁

To provide a means of preventing collected toner from stagnating or causing a clog and improving a defect in electrostatic charging of the collected toner without generating sound nor vibration for an electrophotographic type image forming apparatus.例文帳に追加

音や振動を生じることなく、回収トナーの滞留やつまりを防止するとともに、回収トナーの帯電不良を改善する。 - 特許庁

In this case, any defect which can not be classified by the core classifier or the specific adaptive classifiers can be classified by a complete classifier.例文帳に追加

コア分級機又は特定の適用可能な分級機によって分類されることができない欠陥は完全な分級機により分類される。 - 特許庁

And an electrode film 4 or the metal foil 3 is not damaged at the time of pressing because there is no particle in the defect correction paste 5.例文帳に追加

また、欠陥修正ペースト５には粒子は存在しないので、プレスにおいて、電極膜４あるいは金属箔３を傷つけることも無い。 - 特許庁

To produce a semiconductor substrate having a single crystal silicon layer in which defect, e.g. COP, caused by CZ bulk wafer is eliminated or suppressed drastically.例文帳に追加

ＣＺバルクウエハに起因するＣＯＰ等の欠陥のない、あるいは、非常に少ない単結晶シリコン層を有する半導体基板を作製する。 - 特許庁

To provide an imaging device which can correct noise or a clear defect using light shielding data and can shorten a shooting interval.例文帳に追加

遮光データを用いてノイズや白キズの補正を行う撮像装置であって、撮影間隔を短くすることができる撮像装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device capable of reducing noise for the position deviation of one pixel or less and detecting the defect of a fine lightness difference.例文帳に追加

１画素以下の位置ずれに対してノイズが少なく、かつ、微少な明度差の欠陥を検出できる方法および装置を提供すること。 - 特許庁

To fabricate a plurality of piezoelectric vibrating pieces while firmly preventing a defect, a crack, or a breakage from being brought about at a wafer in the midst of fabrication.例文帳に追加

製造途中でウエハに傷やクラック、割れが生じてしまうことを確実に防止しながら、複数の圧電振動片を製造すること。 - 特許庁

To provide a pulling eye for an optical cable which is free from the degradation in a waterproof effect or execution defect and relieves laying restriction in a small-diameter pipeline.例文帳に追加

防水効果の低下や施工不良がない、また細径管路での布設制限を緩和した光ケーブル用プーリングアイを提供すること。 - 特許庁

Since the optimum is thus applied to the thread 1, the thread 1 is fed smoothly, and a thread breakage or a sewing defect can be reduced.例文帳に追加

その結果、適度な張力が糸１に加わるために、滑らかに糸１が繰り出して、糸切れや縫い不良を減少させることができる。 - 特許庁

To provide a method of firing a ceramic formed body by which firing defect or the variation of characteristics are suppressed and the yield is improved.例文帳に追加

焼成不良や特性ばらつきを抑制して、歩留りを向上させることが可能なセラミック成形体の焼成方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a color solid-state imaging apparatus wherein a colored noise caused by a pixel defect or the like of a solid-state imaging device is reduced without causing an image blur.例文帳に追加

カラー固体撮像装置の固体撮像素子の画素欠陥等によリ発生する着色ノイズを画像ボケを伴わずに低減する。 - 特許庁

When a defect is detected, whether the inspected result is to be deleted as security processing corresponding to secret level information or not is judged (S38).例文帳に追加

一方、欠陥が検出された場合には、機密レベル情報に応じたセキュリティ処理として削除処理をするか否かを判定する（Ｓ３８）。 - 特許庁

To obtain an ink jet recording material having high ink absorptivity, no problem such as a surface defect such as a craze, a wave-like pattern made on and by wind or the like and high gloss.例文帳に追加

インク吸収性が高く、ひび割れ、風紋等の表面欠陥の問題の無い、高光沢のインクジェット用記録材料が得られる。 - 特許庁

To provide a test method and a test circuit, which can improve a failure detection rate for a delayed failure or a defect caused by a short circuit across signal lines.例文帳に追加

試験方法及び試験回路に関し、信号線間のショートによる不良又は遅延故障に対する故障検出率を向上させる。 - 特許庁

Then, a signal showing the signal intensity of the acquired image which is equal to or more than the detection threshold is determined as the defect in the desired inspection area.例文帳に追加

そして、取得された所望検査領域の像の信号強度が前記検出しきい値以上を示す信号を欠陥として判定する。 - 特許庁

To solve such a defect that piled areas of dried laver are difficult to be broken, when a food material is eaten after wrapped in or wound with the dried laver.例文帳に追加

乾海苔を使用して食材を包んだり、巻いたりして食するとき、重なった乾海苔が破断されにくかった事を解消する。 - 特許庁

Namely, the information recording medium having the defect is effectively used without depending on the recording form such as the DRAW type or the rewritable type.例文帳に追加

すなわち、追記型、書き換え型などの記録形式に依存せず、欠陥を有する情報記録媒体を有効利用することが可能となる。 - 特許庁

By this, a flat electrochemical cell can be provided with displacement in assembling curtailed, and with little inner short circuit or sealing defect.例文帳に追加

これによって、組立時の位置ズレが少なくなり、内部短絡や封止不良の少ない平面型電気化学セルを提供できるようになった。 - 特許庁

To eliminate the defect that black floating or the like is generated, even though display of a liquid crystal display panel is controlled so as to be black display.例文帳に追加

液晶表示パネルの表示を黒表示にするように制御するにもかかわらず黒浮き等が生じてしまうという不具合をなくす。 - 特許庁

The formed donor cell is injected into and transplanted to the system for the purpose of treating the defect, the disease, or the injury of the central nervous system.例文帳に追加

そして生成されたドナー細胞は、中枢神経系の欠陥、疾病、または損傷を治療するために注入して移植される。 - 特許庁

A step S309 determines presence or absence of a linear defect on the test object based on a result of comparing the corrected additional value with a threshold value.例文帳に追加

ステップＳ３０９では、補正後の加算値と閾値を比較した結果に基づいて、検査対象物上の線状欠陥の有無を判定する。 - 特許庁

Thus, the internal defect or hole of the piezoelectric element is filled up with the insulating liquid 304, preventing a decline in piezoelectric characteristics of the piezoelectric element.例文帳に追加

このように圧電素子の内部欠陥や孔に絶縁性液剤３０４が充填されているので、圧電素子の圧電特性が低下しない。 - 特許庁

When there is the first reception signal whose crest value is equal to or larger than the threshold, the determination unit determines the first reception signal as a defect candidate signal.例文帳に追加

判定部は、波高値が閾値以上の第１受信信号がある場合、第１受信信号を欠損候補信号として判定する。 - 特許庁

To solve a defect such as the labor hour of input or an input mistake accompanied by article management processing, and to improve the preciseness of article management.例文帳に追加

物品管理処理に伴う入力の手間や入力ミス等の欠点を解消するとともに、物品管理の正確性を向上させる。 - 特許庁

To unevenly distribute the internal defect to the inner peripheral wall side when a hollow member composed of an aluminum or an aluminum alloy is manufactured with centrifugal casting.例文帳に追加

アルミニウム又はアルミニウム合金からなる中空部材を遠心鋳造によって設ける際、内部欠陥を内周壁側に偏在させる。 - 特許庁

A defect analysis memory 8 writes an output of the OR circuit 7 corresponding to the input data S1 to an address corresponding to the input data S1.例文帳に追加

不良解析メモリ８は入力データＳ１に対応するオア回路７の出力を、入力データＳ１に対応するアドレスに書き込む。 - 特許庁

The ratio among the components M, Ir and P is basically 1:1:1, but when the composition is varried by a lattice defect or the like, its composition variation range is allowed.例文帳に追加

（但し、各成分M：Ir：Pの比率は基本的には1：1：1であるが、格子欠陥等により組成変動がある場合に、その組成変動範囲を含む） - 特許庁

METHOD AND SYSTEM OF PATTERN DEFECT INSPECTION BY USING ELECTRON BEAM INSPECTION DEVICE AND MIRROR ELECTRON PROJECTION TYPE OR MULTIPLE BEAM TYPE ELECTRON BEAM INSPECTION DEVICE例文帳に追加

電子線検査装置を用いたパターン欠陥検査方法及びそのシステム、並びに写像投影型又はマルチビーム型電子線検査装置 - 特許庁

To solve the problem that a conventional organism adhesive for a living body has a defect in the aspect of toxicity or adhesive strength to a living body.例文帳に追加

従来の生体組織用接着剤は生体に対する毒性や接着強度の面において、そのいずれかに欠点をもっている。 - 特許庁

To provide a lamp wick breakage detection device capable of identifying a component defect caused by water intrusion or high humidity.例文帳に追加

水浸入あるいは高湿度が原因で発生する部品不良を特定できる灯火断芯検出処理装置を提供することである。 - 特許庁

The resist of the resist mask used is prepared by adding an absorbent which absorbs light at 365 or 248 nm wavelength corresponding to the probe light for the defect inspection.例文帳に追加

欠陥検査プローブ光である波長３６５ｎｍあるいは２４８ｎｍの光を吸収する吸光剤をレジストに入れたレジストマスクとする。 - 特許庁

She's a healthy 12yearold girl with a bum knee, not an i.v. drug user or someone with a congenital heart defect.例文帳に追加

彼女は 膝を痛めただけの 健康な12歳の少女よ 静脈注射の薬物常用者でもないし 生まれつきの心臓障害でもない - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

To provide a conductive paste capable of efficiently manufacturing a laminated ceramic electronic component without having any structural defect such as delamination or crack.例文帳に追加

デラミネーションやクラックなどの構造欠陥のない積層セラミック電子部品を効率よく製造することが可能な導電性ペーストを提供する。 - 特許庁

To suppress the generation of a defect or abnormal growth when for example, a diamond single crystal is synthesized from a gas phase and epitaxially grown.例文帳に追加

例えばダイヤモンド単結晶を気相から合成してエピタキシャル成長させていくときに、欠陥や異常成長が生じるのを抑制する。 - 特許庁

To deal with the problem of a defect caused by enlargement of area or an increment of faults in processing steps in a large-scale integrated circuit.例文帳に追加

大規模集積回路構成の、面積を大きくすることによる欠陥や製造過程で生じる不良個所の増大に対応すること - 特許庁

To provide a compression molding method which sufficiently restrains or prevents a defect from being generated owing to a cutter mark of a synthetic resin workpiece (34).例文帳に追加

合成樹脂素材（３４）のカッターマークに起因する欠陥の発生が充分に抑制乃至防止される圧縮成形方法を提供する。 - 特許庁

To provide a perimeter which enables a subject to easily recognize his or her own visual field defect concretely in the process of a visual field examination and clearly shows a result of examination.例文帳に追加

被検者が視野検査の過程で自らの視野欠損を具体的に容易に自覚でき、検査結果が分り易い視野計を提供する。 - 特許庁

The method is provided with a step which extracts the line defect from an image for defect extraction, a step which corrects line defection of the image for defection extraction, using the line defection information extracted, and a step which extracts a defect pixel using the corrected image for defect extraction, or a step which extracts pixel defection, without using the pixel value of the extracted line defects.例文帳に追加

欠陥抽出用画像より前記ライン欠陥を抽出するステップと、抽出された前記ライン欠陥情報を用いて欠陥抽出用画像のライン欠陥の補正するステップと、補正した欠陥抽出用画像を用いて欠陥画素を抽出するステップとを有するか、抽出された前記ライン欠陥にあたる画素値を用いずに画素欠陥を抽出するステップとを有することを特徴とする。 - 特許庁

The optical pickup using three beams is so constituted that a disk defect portion is discriminated by the output from a photodetection region of a photodetector irradiated with +lst order light or-1st order light or both thereof and that, in case of the presence of the disk defect, a focusing error signal or tracking error signal is held in a hold circuit.例文帳に追加

上記の課題を解決する手段として、３ビームを用いた光ピックアップにおいて、＋１次光あるいは−１次光もしくは両方が照射される光検出器の受光領域からの出力によりディスク欠陥部分を判別し、ディスク欠陥があった場合にはフォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号をホールド回路によりホールドするようにする。 - 特許庁

For this surface defect checking (S5), defect points on the magnetic disk are checked and registered by determing whether the thermal asperity phenomenon occurs or not based on a sense current applied to a magnetoresistive element included in the magnetic head.例文帳に追加

この表面欠陥検査（Ｓ５）では、ヘッドに含まれる磁気抵抗効果素子に印加されたセンス電流に基づいて、サーマルアスペリティ現象が生じたか否かを判断することで、磁気ディスクに生じている欠陥箇所を検査して登録する。 - 特許庁

To allow satisfactory image display with such a defect undisplayed as a flaw or a pinhole in image projection on a screen in spite of the presence of the defect on a polarizing plate when using the polarizing plate made of an inorganic material as an output side polarizing plate.例文帳に追加

出射側偏光板として無機材料の偏光板を用いる場合、偏光板に傷やピンホールが存在してもスクリーン上にその欠陥部が投影表示されることがなく、良好な映像表示が行えるようにすること。 - 特許庁

To accurately detect as a picture element corresponding to a defect only a pixel, showing the location where a defect actually exists from image data of a surface to be inspected to which a side arm is rectangular wave-like, or designs, such as, beveling are given.例文帳に追加

側辺が矩形波状であったり面取りなどの意匠が施されていたりする検査対象面の画像データから、実際に欠陥が存在する箇所を表す画素だけが、欠陥対応画素として、正確に検出されるようにすること。 - 特許庁

In the feature quantities for which the learning model A cannot specify the defect type "C1" or "C2", a learning model B is formed, by generating a plurality of partial feature quantity spaces for associating the group of the values of the feature quantity with the defect types "C1" and "C2".例文帳に追加

そして、学習モデルＡでは疵種「Ｃ１」、「Ｃ２」を特定できない特徴量について、当該特徴量の値の組と疵種「Ｃ１」、「Ｃ２」とを対応付けるための複数の部分特徴量空間を生成して学習モデルＢを形成する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a silicon wafer having excellent GOI characteristics by reducing faults due to a residual working caused defect or the like caused by mechanical working such as polishing and a residual crystal defect with an OSF used as a nucleus, and to provide the silicon wafer.例文帳に追加

ＯＳＦ等を核とした残留結晶欠陥、研磨等の機械的加工に起因する残留加工起因欠陥等による不良点を低減することにより、ＧＯＩ特性に優れたシリコンウェーハの製造方法及びシリコンウェーハを提供する。 - 特許庁