「DEFECT OR」に関連した英語例文の一覧と使い方(20ページ目) - Weblio英語例文検索

When the granular foreign substances (x) of transparent or translucent synthetic resins are mixed into the liquid crystal layer 19 in a manufacturing process, a number of pieces of the granular foreign substances (x) aggregate and generates an aggregation defect X, and there is the possibility that this defect is a bright point defect to transmit light at all times, regardless of the orientation state of the liquid crystal.例文帳に追加

製造工程にて液晶層１９中に透明または半透明な合成樹脂の粒状異物ｘが混入すると、その粒状異物ｘが多数個凝集して異物凝集欠陥Ｘが生じ、そこが液晶の配向状態とは無関係に光を常時透過する輝点欠陥となる可能性がある。 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus and a defect inspection method, which enable potential failures and signs of abnormality to be discovered in order to prevent any defect from occurring in its market, by referring to history information in the inspection process, even in the case of an object to be inspected whose apparent operation is normal or whose characteristic meets a specification.例文帳に追加

検査時に履歴情報も参照することにより、見かけ上正常動作しているまたは規格値に入っている検査対象であっても、潜在的な故障や異常の兆候を発見できるようにして市場での不良発生を未然に防止することができる不良検査装置および不良検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide the subject film causing no whitening or breaking after heat sterilizing treatment when used as a label or cap of a food container and not also generating shrinkability defect even after long-term preservation.例文帳に追加

食品容器のラベルやキャップに用いたとき、熱殺菌処理後において白化や破断がなく、長期保存後も収縮性不良の発生のない熱収縮性ポリエステルフィルムを提供する。 - 特許庁

To provide a method for inspecting a container or its precursor capable of positively detecting even defects hard to detect visually such as an ungelled defect in an inspection of the container or its precursor.例文帳に追加

容器又はこの前駆体の検査において、上記した未ゲル欠陥のような目視では検知しにくい欠陥も確実に検知することができる容器又はこの前駆体の検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a woody molded product such as a woody floor material or the like enhanced in strength by mutually bonding wood materials by a thermosetting resin and improved in its defect such as easiness to stain or the like.例文帳に追加

木質材料同士を熱硬化性樹脂で接着することにより木質成形体の強度を向上させると共に汚れ易さ等の欠点を改善した木質床材等を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method, capable of obtaining the distribution or the trend of the electric resistance and electric capacity of the entire surface of a substrate in a short time in inspection of defect in a substrate, such as a semiconductor device or liquid crystal.例文帳に追加

半導体装置や液晶等の基板欠陥検査において、基板全面の電気抵抗および電気容量の分布や傾向を短時間に求めることが可能な検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a mounting structure of a private parts flushing nozzle unit tube capable of preventing the occurrence of damage in the tube repeating expansions and flexures or a defect such as water residue or the like and placing no restriction on a design.例文帳に追加

伸張や屈曲を繰り返すチューブに破損や水の残存等の欠陥の発生を防止し、設計上の制約も起こらない局部洗浄用ノズルユニット用チューブの取付け構造を提供する。 - 特許庁

According to this constitution, only defective pixels can be corrected surely, without requiring advance pixel defect test, even if the location of the pixel is varied or the number thereof is increased due to aging or temperature variation.例文帳に追加

この構成により、事前の画素欠陥試験を行なうことなく、また、経年変化や温度等で欠陥に位置が変ったり増えたりしても確実に欠陥画素だけを補正する事が可能になる。 - 特許庁

The method is to judge existence or nonexistence of the defect and its location by measuring incident EUV light scattered or diffused by an abnormality in a mask blank layer, normalizing and comparing with thresholds.例文帳に追加

マスク・ブランクの層における異常によって散乱又は拡散された入射ＥＵＶ光を測定、正規化、閾値との比較を行うことにより欠陥の存在の有無及びその場所を判定する。 - 特許庁

To directly and early detect a defect such as a thickness reduction and a crack occurring in piping or a device for composing a plant while the plant is operated, and to monitor the soundness of the piping or the device.例文帳に追加

プラントの運転中に、このプラントを構成する配管または機器に生じた減肉やき裂等の欠陥を直接的に且つ早期に検出して、配管または機器の健全性を監視できること。 - 特許庁

To output azimuth of a moving body which will not be influenced by offset or drift of an angular velocity sensor, even when GPS azimuth operation cannot be executed, caused by signal reception defect or the like from a GPS satellite.例文帳に追加

ＧＰＳ衛星からの信号受信不良等に起因して、ＧＰＳ方位演算ができなくなった場合でも、角速度センサーのオフセットやドリフトの影響を受けない、移動体の方位を出力する。 - 特許庁

To detect the presence or absence of a structural defect of one or more stacked permeable membranes of a body under test such as a fuel cell with a helium leak detector in a short time with high sensitivity.例文帳に追加

燃料電池のような透過膜を1段以上積層した被試験体の透過膜の構造欠陥の有無を、ヘリウムリークディテクタを用いて短時間で感度よく検出することができるように構成する。 - 特許庁

A underlying layer deposited on a semiconductor substrate is coated based on whether a solvent is absorbed or not, and the existence of the defect, or non-existence thereof is determined in a protection layer for the underlying layer.例文帳に追加

溶剤が吸収されたか否かを基にして、半導体基板上に堆積された下層を覆い、下層を保護する層に欠陥が存在するか、または、存在しないことを判断可能である。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a ceramic component whereby it is possible to prevent a defect such as swelling, a crack or the like, from being generated at a conductor pattern or a via hole conductor that constitutes a ceramic component, when manufacturing the same.例文帳に追加

セラミック電子部品を製造する際に、それを構成する導体パターンやビアホール導体に発生する膨れやクラック等の欠陥の発生を防止できるセラミック電子部品の製法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for inspecting accurately a defect formed on a ferromagnetic heat exchanger tube of a part of a baffle or a support provided outside the ferromagnetic heat exchanger tube such as a reactor, a heat exchanger or a boiler.例文帳に追加

反応器、熱交換器、ボイラー等の強磁性伝熱管の外部に設けられたバッフルまたは支持具の部分の強磁性伝熱管に形成された欠陥を精度良く検査する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a fiber-reinforced resin plate of a good and thick molding, which is impregnated with and diffuses a resin efficiently and has no or almost no defect such as unimpregnation, a void, or a pit, and a manufacturing method.例文帳に追加

樹脂を効率よく、含浸、拡散し、未含浸、ボイド、ピットなどの欠点がないか、ほとんど欠点がない良好な厚物成形品の繊維強化樹脂板および製造方法を提供する。 - 特許庁

A tilt angle T of the tilt stage 6 is switched in a plurality of ways according to the pitch of the patterns 23A and 23B for obtaining each image data, and at the same time, the logic OR of the information of the defect or the like at each tilt angle is obtained.例文帳に追加

パターン２３Ａ，２３Ｂのピッチに応じてチルトステージ６のチルト角Ｔを複数に切り換えてそれぞれ画像データを得ると共に、各チルト角での欠陥等の情報の論理和を求める。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor light emitting device in which the occurrence of crystal defect or dislocation based on the mismatching of lattice constant or the difference of thermal expansion coefficient is suppressed as much as possible and the crystal can be cleaved.例文帳に追加

格子定数の不整合や熱膨張係数の相違に基づく結晶欠陥や転位の発生を極力抑え、かつ、劈開することができる半導体発光素子の製法を提供する。 - 特許庁

To provide a new method and a device capable of observing with sufficient accuracy an internal defect or an internal structure of a sample without depending on the thickness or the material king of the sample.例文帳に追加

試料の厚さや材料種類などに依存することなく、前記試料の内部欠陥や内部構造を十分な精度で観察することができる新規な方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To prevent a characteristic defect caused by thermal deterioration resulting from soldering or welding by connecting a lead terminal to a polymer PTC element main body without directly imparting heat in soldering or welding thereto in the case of connection.例文帳に追加

ポリマーＰＴＣ素子本体にリード端子を接続する際、はんだ付けや溶接時の熱を直接与えないで接続することで、はんだ付けや溶接による熱劣化による特性不良を防止する。 - 特許庁

To provide a coordinate input/detecting device capable of preventing damage to the eyeball or the like of a person caused by light and preventing an operation defect or waste of energy based on a change with the passage of time.例文帳に追加

光による人の眼球などへのダメージを防止するとともに、経年変化に基づく動作不良や無駄なエネルギの浪費を防止することが可能な座標入力／検出装置を提供する。 - 特許庁

(i) the defect in such product could not have been discovered given the state of scientific or technical knowledge at the time when the manufacturer, etc. delivered the product; or 例文帳に追加

一　当該製造物をその製造業者等が引き渡した時における科学又は技術に関する知見によっては、当該製造物にその欠陥があることを認識することができなかったこと。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide an optical disk recording and reproducing device accurately capturing audio data by detecting and correcting each defect of data such as the data deviation or data transformation of main data or sub-code Q in the buffering process.例文帳に追加

バッファリング処理時のメインデータまたはサブコードＱのデータズレまたはデータ化け等の各データ不良を検出して補正し、オーディオデータが正確にキャプチャできる光ディスク記録再生装置を提供する。 - 特許庁

The circuit design of a product mask is analyzed, and a conventional test defect structure is modified in such a manner as to simulate the product mask and incorporate one or more isolated features or other features including product mask circuit features with high possibility of causing processing image induced defects into the test defect structure.例文帳に追加

製品マスクの回路設計を分析するとともに、製品マスクを模擬して、プロセス画像誘起欠陥を引き起こす可能性が高い製品マスク回路フィーチャを含む、１つ以上の分離したフィーチャまたは他のフィーチャを検査欠陥構造に組み込むように、従来の検査欠陥構造を変更する。 - 特許庁

The method includes: a step of directing radiation at the object, the radiation having a wavelength that is substantially equal to twice the optical depth of the recess; a step of detecting radiation that is re-directed by the object or by a defect on the object; and a step of determining the presence or absence of a defect from the re-directed radiation.例文帳に追加

この方法は、凹部の光学的深さの２倍に実質的に等しい波長を有する放射をオブジェクトへ誘導するステップと、オブジェクト又はオブジェクト上の欠陥によって再誘導された放射を検出するステップと、再誘導された放射から欠陥の存在又は不在を判定するステップとを含む。 - 特許庁

To provide a process cartridge and an image forming apparatus capable of highly precisely uniformizing and optimizing a gap between an image carrier and a developer carrier in the longitudinal direction without causing a defect of damaging the image carrier or a defect that the image carrier or the developer carrier cannot be positioned in the longitudinal direction.例文帳に追加

像担持体を傷つける不具合や、像担持体や現像剤担持体の長手方向の位置が定まらない不具合、を生じさせることなく、像担持体と現像剤担持体とのギャップが長手方向にわたって高精度に均一化かつ適性化される、プロセスカートリッジ、及び、画像形成装置を提供する。 - 特許庁

This inspection device is provided with an imaging device 11 for imaging the plurality of transmission surfaces, and an image processing part 16 for processing an image imaged by the imaging device to detect a foreign matter or a defect, in order to inspect a foreign matter or a defect on the plurality of transmission surfaces in a specimen including the plurality of laminated transmission surfaces.例文帳に追加

積層された複数の透過部材を含む被検物における複数の透過面の異物または欠陥に関して検査するために、前記複数の透過面を撮像する撮像装置１１と、前記撮像装置にて撮像した画像を処理して前記異物または欠陥を検出する画像処理部１６とを設ける。 - 特許庁

If a defective program is delivered to a user in exchange for payment, the Vendor is responsible for the defect. Under the Civil Code, the Vendor will be either claimed for (A) defect warranty liability (Article 570［Sales Contract］or Article 634［Work Contract］of the Civil Code); or (B) non-performance of the main obligation (Article 415 of the Civil Code). 例文帳に追加

ユーザーから対価を受け取りながら、瑕疵のあるプログラムを提供した場合は、その責任はベンダーに帰することとなり、民法上の責任としては、ア）瑕疵担保責任（民法第５７０条（売買の場合）、第６３４条（請負の場合））又はイ）債務不履行責任（同法第４１５条）のいずれかが問われることになる。 - 経済産業省

To provide a modifying method and a thin film formation method of a diamond thin film in which strain, defect, color or the like which exists in an independence diamond thin film (foil or plate) which removes a gas phase diamond thin film or a substrate formed on the substrate is removed or decreased effectively, or which can carry out modification to an orientation polycrystal or single crystal object.例文帳に追加

基板に形成した気相ダイヤモンド薄膜あるいは基板を除去した自立ダイヤモンド薄膜（箔又は板）に存在する歪み、欠陥、色などを効果的に除去又は減少させ、あるいは配向性多結晶又は単結晶体へと改質できるダイヤモンド薄膜の改質方法及び薄膜形成方法を提供する。 - 特許庁

A person aggrieved by: the omission of an entry from the Register; or an entry wrongly made in the Register; or an error or defect in an entry in the Register; or an entry wrongly existing in the Register; may apply to a prescribed court for an order to rectify the Register. 例文帳に追加

次の理由，すなわち，登録簿への記入の遺漏，又は登録簿への誤記入，又は登録簿の記入における誤り又は瑕疵，又は登録簿に誤って存在する記入，により被害を受けた者は，所定の裁判所に対し，登録簿の更正命令を申請することができる。 - 特許庁

If a defect is not generated under a state where both correction processing A and correction processing B are performed, content of the original image is simply approached even if any one of the correction processing A or correction processing B is reset and the possibility of generating a defect is low.例文帳に追加

補正処理Ａと補正処理Ｂの双方を実施した状態でディフェクトが発生していなければ、補正処理Ａと補正処理Ｂのいずれかを元に戻したとしても、それは原画像の内容に近づくだけであり、ディフェクトが発生する可能性は低い。 - 特許庁

To provide an inspection device capable of obtaining a focused and clear enlarged image of a surface of a metal mold for anti-glare treatment having surface unevenness, and thereby capable of detecting a defect and determining whether the metal mold is a defect or not, with high accuracy.例文帳に追加

表面凹凸を有する防眩処理用金型の表面について焦点の合った鮮明な拡大画像を取得することができ、もって、欠陥の検出および欠陥か否かの判別を精度良く行なうことができる検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a system for defect classification capable of shortening the work time of the visual examination of a product determined to be defective by an automatic inspection machine in a manufacturing process of a color filter or the like and capable of efficiently performing the input work of defect classification data.例文帳に追加

カラーフィルタ等の製造工程において、自動検査機で不良と判定された製品についての目視検査の作業時間を短縮するとともに、不良区分情報の入力作業を効率良く行うことができる不良分類システムを提供する。 - 特許庁

Also, a high speed defect inspection can be performed by configuring the system of these image processing parts with a task control part for performing the partition of an image and the task generation so as to perform the defect determination process in parallel or sequentially in accordance to the task.例文帳に追加

また、これらの画像処理部のシステム構成を、画像の分割，タスクの生成を行うタスク管理部とからなり、タスクに応じて並列もしくは時系列に欠陥判定処理を行う構成とすることにより，高速な欠陥検査を行えるようにした。 - 特許庁

To provide a defect detecting device for highly accurately detecting a defective pixel, even in a photographing state without camera shake or even for a subject having a high frequency component, without requiring a camera shake detector, and to provide a defect detection method.例文帳に追加

手振れ検出器を必要とせず、手振れがない撮影状態においても、また高周波成分を持った被写体に対しても、高精度に欠陥画素を検出可能な欠陥検出装置および欠陥検出方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To compensate a waste of information due to transient information as a defect of broadcasting media or too much information as a defect of print media by the optionality of information display by the Internet as other media and to release a user from the troublesomeness of URL input operation.例文帳に追加

放送メディアの欠点である一過性の情報、あるいは印刷メディアの欠点である情報過多による情報の無駄を、他のメディアであるインターネットによる情報表示の任意性で補い、かつ、ユーザをＵＲＬ入力操作の煩わしさから解放する。 - 特許庁

To avoid a failure due to a fact that a normal pixel erroneously detected from some reasons in the case of defect detection or a temporarily generated defective pixel are additionally registered as a defective pixel by realizing optimal control of additional registration regarding detected defect data.例文帳に追加

検出欠陥データに関する最適な追記登録制御を実現し、欠陥検出時に何らかの原因で誤って検出された正常画素あるいは一時的に生じた欠陥画素を欠陥画素として追加登録してしまうことによる不具合を回避する。 - 特許庁

This light emitter having a light-emitting layer comprising a nitride semi-conductor layer excited by the irradiation of electron beams or UV light to emit light is characterized in that the supper lattice structure of the nitride semi-conductor layer has regions having low defect concentrations and regions having high defect concentrations.例文帳に追加

電子線又は紫外線照射により励起されて発光する窒化物半導体層からなる発光層を含む発光体であって、該窒化物半導体層の超格子構造が、欠陥濃度の低い領域と欠陥濃度の高い領域を有する。 - 特許庁

To provide an oscilloscope for automobile inspection which can accurately measure an object to be inspected without depending upon the ability of an operator and easily specify an electric component where a defect is generated or electric component having a defect always in a short time.例文帳に追加

作業者の能力に依存することなく検査対象の的確な測定が可能で不良が発生した電気部品、或いは欠陥を持った電気部品が常に短時間で容易に特定できるようにした自動車検査用オシロスコープを提供すること。 - 特許庁

To provide a verifying method for verifying whether defect managing area(DMA) information is to be normally generated or updated after reinitialization while a defect list is removed without detection through disk recording/reproducing device and to provide a test device for performing the method.例文帳に追加

ディスク記録及び再生装置を通じ検定せずに欠陥リストを除去しつつ再初期化後に、欠陥管理領域（ＤＭＡ）情報を正常に生成または更新するかを検証するための検証方法及びこれを行うためのテスト装置を開示する。 - 特許庁

An in-plane distribution display result of a defect or foreign matter on a sample surface and haze distribution display are comparatively displayed on the same screen, and those of inaccurate size and depth are colored and displayed in the distribution in a defect screen, so that the accurately measured defects are clearly displayed.例文帳に追加

欠陥または試料表面の異物の面内分布表示結果と、ヘイズ分布表示を同一画面で比較表示させ、さらに、欠陥面内分布内でサイズと深さの不正確なものを色をつけて表示し、正確に計測された欠陥を明示する。 - 特許庁

To provide a method for diagnosing an internal defect in a large cast structure that can accurately detect the presence or absence of an internal defect in a cast article that is an initiation point of a fatigue crack, and to provide a method for extending the useful life of a large cast structure based on the diagnosis.例文帳に追加

疲労亀裂の発生起点となる鋳物内部欠陥の有無を精度よく検出することができる大型鋳造構造体の内部欠陥診断方法と、その診断結果に基づく大型鋳造構造体の使用寿命延長方法を提供する。 - 特許庁

By comparing an integral value by each prescribed block of a shade area with a reference value, a defect of the shade area is detected when there exists a block whose integral value is the reference value or over so as to set a photometric frame of a light receiving area on the basis of the position of the block whose defect is detected.例文帳に追加

遮光領域の所定ブロック毎の積分値と基準値を比較し、積分値が基準値以上のブロックがあった時に遮光領域の異常を検出し、異常が検出されたブロックの位置に基づいて受光領域の測光枠を設定する。 - 特許庁

The oxygen reduction catalyst includes a transition metal oxide the crystal lattice of which is expanded by introducing an oxygen defect independently in the crystal lattice or introducing the oxygen defect thereinto and substituting at least one of a carbon atom and a nitrogen atom for a part of oxygen atoms.例文帳に追加

酸素欠陥が単独で導入される、又は、酸素欠陥が導入されかつ酸素原子の一部が炭素原子及び窒素原子の少なくとも一方で置換されることにより結晶格子が膨張した遷移金属酸化物を含む酸素還元触媒。 - 特許庁

In the method of correcting a photomask defect, after making an electrical continuity in an isolated pattern by a metal deposition film 7 by use of an electron beam or a helium ion beam generating from a gas field ion source, the defect 3 is corrected; and after the correction, the metal deposition film 7 is physically removed by an AFM (atomic force microscope) scratch working probe 9.例文帳に追加

電子ビームまたはガスフィールドイオン源から発生するヘリウムイオンビームを用いた金属デポジション膜7で孤立したパターンに導通を作ってから欠陥3を修正し、修正後金属デポジション膜7をAFMスクラッチ加工探針9で物理的に除去する。 - 特許庁