「DEFECT OR」に関連した英語例文の一覧と使い方(24ページ目) - Weblio英語例文検索

To solve a problem that a signal for correcting offset cannot be detected precisely because dust, a flaw or a defect is sometimes detected wrongly as a land pre-pit in the past.例文帳に追加

従来は、光ディスクのごみや傷や欠陥なども間違えてランドプリピットと検出することがあるので、オフセット補正用の信号を正確に検出することができない。 - 特許庁

To provide a fluid control valve which allows for accurate detection of leakage of a fluid in a seal part due to a defect in a seal member or a dimensional error in a housing part therefor.例文帳に追加

シール部材の不良やその収容部の寸法誤差等によるシール部での流体の漏洩を、正確に検出させることができる流体制御弁を提供する。 - 特許庁

That is, it is unnecessary that the edge 9a of the object to be welded 9 is scanned with the laser beam, and hence a weld defect due to the deviation or the fluctuation of a scanning position does not take place.例文帳に追加

すなわち、レーザ光を溶接対象物９の縁９ａに沿って走査させる必要がないため、走査位置のズレやブレによる溶接ミスが生じない。 - 特許庁

To provide an image processor and a control program of the image processor which correct the influence of a defect according to the kind of a document and inform a user that the influence cannot be corrected in such a case or make no wrong correction.例文帳に追加

原稿の種類に応じて欠陥の影響を補正し、補正をすることができない場合にその旨をユーザに知らせ、又は誤補正をしない。 - 特許庁

To reduce a defect fraction rate by preventing occurrence of a deformation, a disconnection or the like of a lead of a semiconductor device and to contribute to reductions in size and thickness of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置におけるリードの変形、断線等の発生を防止し、不良率を低減すること、及び半導体装置の小型化、薄型化に貢献すること。 - 特許庁

If there is a detect 3, such as foreign particle, damages, the light L, entering into the optical film 2, may be randomly reflected or scattered at a location of the defect 3.例文帳に追加

光学フィルムに異物・損傷等の欠点３がある場合、光学フィルム２に入射した光Ｌは、欠点３のある場所で、乱反射したり、散乱を起こしたりする。 - 特許庁

In the image exposure data, the defect or distortion of images is corrected by using the dark image offset data provided from the dark image and the reference data provided from the reference area.例文帳に追加

このとき、前記画像露光データは、暗画像から得られた暗画像オフセットデータと、基準領域から得られた基準データとを用いて、画像の欠陥や乱れが補正される。 - 特許庁

To provide an inspection device and method which inspects precisely and quickly a defect in an image display panel for displaying images in two or more of different directions.例文帳に追加

異なる２つ以上の方向に画像を表示する画像表示パネルの欠陥を高精度、かつ、高速に検出する検査方法、および、検査装置を実現する。 - 特許庁

This silicon wafer inspection is to inspect the defect that is an aggregate of micro-defects like a colony and the whole defective size is more 0.5 μm or more.例文帳に追加

シリコンウエーハを検査するにあたり、微小欠陥がコロニー状に集合しかつ全体の欠陥サイズが０．５μｍ以上である欠陥を検査することを特徴とする。 - 特許庁

The whisker is inhibited by taking-off the distortion or defect of a structure by heat treatment which occurs in an electrodeposition structure in the formation of the plating layer and causes the generation of the whisker.例文帳に追加

めっき層形成時の電着組織内に生じた、ウイスカの発生起因である組織の歪や欠陥を熱処理によって取り除くことでウイスカの抑制を図る。 - 特許庁

To avoid a defect due to misoperation and to make a portable telephone small in size by applying a telephonic or inserting withdrawal operation to a component mounted on the portable telephone so as to activate or inactivate a specific function of the portable telephone.例文帳に追加

装置に実装してある部品を伸縮あるいは挿抜操作し、装置の特定機能を有効にしたり無効にすることにより、誤操作による不具合を回避することおよび装置の小型化を可能にする。 - 特許庁

To provide an electrophotographic photoreceptor having high contamination resistance against a developer, a discharge product or the like, sufficiently high durability against a contact type charger, a cleaning blade or the like, and preventing generation of a coating defect during manufacturing.例文帳に追加

現像剤、放電生成物等に対する耐汚性、接触型帯電器、クリーニングブレード等に対する耐久性が十分に高く、製造中のコーティング欠陥の発生を防止できる電子写真受光体の提供。 - 特許庁

The light level value of each pixel in the 2nd chip area is compared with that of the corresponding pixel in the 1st chip area to decide whether or not there is a defect according to whether or not those light level values have a specific difference.例文帳に追加

そして、第２チップ領域における各ピクセルのライトレベル値を第１チップ領域における対応する各ピクセルのライトレベル値と比較し、そのライトレベル値に所定の差があるか否かによって欠陥の有無を判定する。 - 特許庁

To enable stress control on a channel region of a transistor without causing a defect or the like in a miniaturization process or in a device having both an Nch transistor and a Pch transistor.例文帳に追加

微細化プロセスにおいても、また、Ｎｃｈトランジスタ及びＰｃｈトランジスタの両方を持つデバイスにおいても、欠陥等を発生させることなく、トランジスタのチャネル領域に対する応力制御を行うことを可能にする。 - 特許庁

To provide an image reader capable of highly accurately detecting foreign substances such as dust stuck to a film independently of the sort of the film or the state of an image without incorrectly detecting an image defect due to scratches or the like formed on the film.例文帳に追加

フィルムの種類や画像の状態によらず、フィルムに付着したゴミや埃等の異物、フィルムに付いた傷等に起因する画像欠陥を誤検出なく高精度に検出できる画像読取装置を提供する。 - 特許庁

To provide a new bonding method in which materials are bonded to each other without producing a defect such as local deterioration or deformation due to heat so that a bonded layer has electrical or optical functions such as light receiving properties.例文帳に追加

材料接合の際に、熱による局所的な変質や変形等の欠陥を生じさせず、かつ接合層が受光性など電気的あるいは光学的機能性を有するような、新規接合法を確立する。 - 特許庁

To simplify an inspection method for distinguishably specifying whether a defect like a bright line or a dark line of a liquid crystal panel is caused due to the liquid crystal panel or an IC chip of a COF.例文帳に追加

液晶パネルの輝線、滅線といった不良が、液晶パネルに起因する不良であるか、ＣＯＦのＩＣチップに起因する不良であるか、ということを切り分けて特定するための検査方法を簡易化する。 - 特許庁

To provide a method of evaluating a surface or a surface layer of a semiconductor wafer capable of measuring a defect and contamination of the surface or the surface layer of the semiconductor wafer with high sensitivity and improving reliability of an evaluation result.例文帳に追加

半導体ウェーハの表面または表層の欠陥および汚染を高感度に測定し、評価結果の信頼性を高めることが可能な半導体ウェーハの表面または表層評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for producing a sputtering target that suppresses occurrence of new defect modes (giant dust particles or large concavities) when the new sputtering methods such as long throw sputtering or reflow sputtering are employed.例文帳に追加

ロングスロースパッタやリフロースパッタ等の新スパッタ方式でスパッタリングした際に発生する新たな不良モード（巨大ダストや大きな凹部）の発生を抑制することを可能にしたスパッタリングターゲットの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a detection device or the like such as a hybrid imaging apparatus connected by bonding bumps, which is superior in economic efficiency by eliminating a pixel defect and hardly causes damage on the body of a photodetector array or the like.例文帳に追加

接合バンプで接続されたハイブリッド型撮像装置などの検出装置等において、画素不良をなくし、経済性に優れ、かつ受光素子アレイ等の本体にダメージが生じにくい、検出装置等を提供する。 - 特許庁

The present invention also provides the method of repairing or regenerating a cartilage defect in a patient comprising the step of administering into the cartilage or into the area surrounding the cartilage the composition comprising a therapeutically effective amount of the morphogenic protein.例文帳に追加

本発明はまた、軟骨または軟骨周囲領域に治療有効量の形態形成タンパク質を含む組成物を投与する工程を含む、患者の軟骨を再生または生成する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device and a method thereof for highly accurately distinguishing noise or nuisance defects from real defects by unifying inspection results different from each other in lighting conditions or detection conditions.例文帳に追加

照明条件、もしくは検出条件の異なる検査結果を統合することで、ノイズやNuisance欠陥と真の欠陥を高精度に判別することができる欠陥検査装置及びその方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a signal processing apparatus such as an audio signal processing apparatus capable of efficient processing even on the occurrence of a defect or a biased operating rate or load in part of signal processing processors such as a part of DSPs.例文帳に追加

一部のＤＳＰ等の信号処理プロセッサに不具合や稼働率あるいは負荷の偏りが発生したような場合にも、効率的な処理を維持できる音声信号処理装置等の信号処理装置を得ること。 - 特許庁

To provide a development device, a process cartridge and an image forming apparatus free from abnormal images, such as a white stripe images, void images or a spot defect image, without producing toner aggregates or developer aggregates.例文帳に追加

トナーの凝集体や現像剤の凝集体が形成されることなく、白スジ画像、白抜け画像、ポチ点画像等の異常画像が生じることのない、現像装置、プロセスカートリッジ、及び、画像形成装置を提供する。 - 特許庁

By preparing a non-foamed skin layer in the whole periphery of a foamed layer, under having superior characteristics of the foamed plastic such as heat insulation, impact resistance and processability or the like, a defect such as a low strength part or the like is diminished on the surface.例文帳に追加

発泡層の外周面全体に無発泡のスキン層を設けると、断熱性、耐衝撃性、加工性などに優れる発泡プラスチックの特徴を有しながら、表面に低強度部分などの欠点が無くなる。 - 特許庁

Dispersion of the additive 21 in the rubber band 16 at packing or unpacking is prevented and the occurrence of a surface defect such as a cissing failure or the like at coating in the next process caused by the additive 21 can be restrained.例文帳に追加

ゴムバンド１６中の添加剤２１が梱包時や開梱時に飛散することがなくなり、添加剤２１に起因する次工程での塗布時におけるハジキ故障等の面状欠陥の発生が抑えられる。 - 特許庁

When a defect such as leak pass or the like is present in the internal pads and peripheral circuits thereof, leak current is generated by the signal of the H-level or L-level supplied from the test resistors 12 and 13 to the internal pads.例文帳に追加

内部パッドまたはその周辺回路にリークパス等の欠陥が存在する場合には，テスト用レジスタ１２，１３から内部パッドに供給されるＨレベルまたはＬレベルの信号によってリーク電流が発生する。 - 特許庁

To provide a light emitting element capable of suppressing occurrence of a crystal defect such as a dislocation or the like by alleviating a strain generated between a clad layer and a guide layer or a strain generated between a contact layer and the clad layer.例文帳に追加

クラッド層とガイド層との間に生じる歪み、またはコンタクト層とクラッド層との間に生じる歪みを緩和し、転位などの結晶欠陥の発生を抑制することができる発光素子を提供する。 - 特許庁

The system also includes a defect classifier which receives at least one image and operates so as to mutually classify each defective candidate, due to cutting of or excessive material and/or distinguish it from any other types.例文帳に追加

また、少なくとも１つの画像を受け取り、切削による欠陥候補若しくは余分な材料による欠陥候補を互いに、且つ／又は他のタイプの欠陥候補と区別するように動作する欠陥分類器とを備える。 - 特許庁

To provide a low-profiled or downsized speaker that hardly causes a defect such as occurrence of abnormal sound or the like even when an input signal with a high amplitude is applied to a voice coil so as to reproduce preferable sound.例文帳に追加

振幅の大きい入力信号がボイスコイルに印加された場合であっても、異音を生じる等の不良が生じにくく、好ましい音声再生が可能な薄型化もしくは小型化されたスピーカーを提供する。 - 特許庁

To solve a defect that two or three ribs of containers internally mounted or externally sheathed are stuck together and are simultaneously moved, in a plastic container which can be easily taken out one by one separately from a condition that a plurality of pieces are piled, in relation to the plastic container molded in a mold for a plurality of pieces.例文帳に追加

複数個取りの金型で成型されるプラスチックス製容器に関し、複数個積重ねた状態から容易に一個ずつを取出すことのできる分離取出し易いプラスチックス製容器に関する。 - 特許庁

In the cavity, the reaction admixture is loaded with a high pressure sufficient to close the defect occurring by the reactive shrinkage and/or the thermal shrinkage and/or the air pocket by means of a pressure medium.例文帳に追加

キャビティ内でポリウレタン反応混合物に、圧力媒体によって反応性収縮及び／又は熱的収縮及び／又は空気ポケットによって生じる欠陥を閉じさせるのに十分高い圧力をかける。 - 特許庁

To provide a methyl methacrylate based polymerizable dental material which completely or partially avoids the defect of the conventional technique or improves its properties and is suitable for use in manufacturing a prosthetic plastic.例文帳に追加

従来技術の欠点を完全にもしくは部分的に回避するか、又はその特性が改善されている、補綴用プラスチックの製造に適した、メチルメタクリレートを基礎とする重合可能な歯科材料を提供する。 - 特許庁

To provide a disposal system capable of determining appropriately whether or not infectious waste has been sterilized properly and performing disposal work continuously even if a defect or failure part occurs to a disposer.例文帳に追加

感染性廃棄物が適正に減菌処理されたかどうを的確に判断することのでき、処理装置に不良あるいは故障箇所を生じても処理作業を継続して行うことのできる処理システムを提供する。 - 特許庁

To provide a magnetic disk which is excellent in heat resistance to prevent fly-stiction failure or corrosion defect even in an extremely low flying height of 10 nm or lower, is provided with a lubrication layer which is excellent in close contact and a lubrication layer which is excellent in temperature characteristics, and stably operates under broad-range temperature conditions.例文帳に追加

１０ｎｍ以下の極低浮上量においてもフライスティクション障害や腐食障害などが防止できる耐熱性が優れ、且つ密着性の高い潤滑層を備えた磁気ディスクを提供する。 - 特許庁

To provide an antistatic polypropylene resin composition capable of suppressing generation of a scattered gas at a high temperature such as molding and reducing troubles such as environmental pollution or molding defect without lowering an antistatic property or a slipping property.例文帳に追加

帯電防止性やスリップ性を低下させることなく、成形時など高温での飛散ガスの発生を低く押さえ、環境汚染、成形不良等のトラブルを低減できる帯電防止性ポリプロピレン樹脂組成物の提供。 - 特許庁

To realize a C-2-phase, at least having a contrast ratio of about 200:1 or higher with excellent reproducibility, by suppressing generation of zigzag defect and hairpin defect causing contrast ratio lowering in the manufacture of an active matrix drive ferroelectric liquid crystal display element.例文帳に追加

アクティヴマトリクス駆動強誘電性液晶表示素子の作製において、コントラスト比低下の原因となるジグ−ザグ欠陥及びヘアピン欠陥の発生を抑えて少なくともコントラスト比が２００：１程度またはそれ以上となるＣ−２一様相を再現性よく実現する。 - 特許庁

To provide a wet towel preparing apparatus capable of being promptly maintained even when it has supply defect or cutting defect of a sheet material, surely sending the sheet material to the downstream side of molding means and surely forming a rolled wet towel.例文帳に追加

シート材の送給不良或いは切断不良があったとしても、メンテナンスを速やかに行うことができると共に、前記シート材を確実に前記成形手段の下流側に送って確実に巻きおしぼりを成形することができる巻きおしぼり製造装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an illuminator for light sensor and a defect detector employing it in which even a small irregular defect can be detected at low cost through a simple arrangement without making strict the arranging angle, installation criterion, and the like, of camera or illuminator.例文帳に追加

カメラや照明装置の配置角度等、設置基準が厳しくなることなく、簡易な構成にて、しかも低コストで、小さな凹凸欠陥でも検出することができるラインセンサ用照明装置およびそのラインセンサ用照明装置を用いてなる欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

The defect correcting device correcting or removing a protrusion defect 53 is equipped with: a stage 14 holding a workpiece 13; a polishing unit carrying out polishing processing; and a moving means moving the polishing unit in a direction orthogonal to a traveling direction of a polishing tape 42 in regard to the workpiece 13 on the stage 14.例文帳に追加

突起欠陥５３を修正又は除去する欠陥修正装置であり、ワーク１３を保持するステージ１４と、研磨処理を行う研磨ユニットと、研磨ユニットを、ステージ１４のワーク１３に対して、研磨テープ４２の走行方向と直交する方向に移動させる移動手段とを具える。 - 特許庁

To provide a defect detection method can obtain existence or a kind of a defect of thread comprising a bundle of many continuous single fibers, on an online basis regardless of existence of twist of the thread, and performing speedily quality control of a thread package manufactured by a thread manufacturing process.例文帳に追加

多数の連続した単繊維の束からなる糸条の欠陥の有無や種類を、糸条の撚りの有無にかかわらずオンラインで把握できかつ糸条の製造工程により製造される糸条パッケージの品質管理を、迅速に行うことができる欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

The method includes: a process (4) to form defects in a semiconductor material (2) during formation of a defect region by mechanical action or by oxygen injection; and then performing heat treatment of the semiconductor material (2) during generation of a material precipitate in the defect region.例文帳に追加

機械的作用によって、または、酸素注入によって欠陥領域を形成する間に、半導体材料（２）内に欠陥を形成する工程（４）と、その後、欠陥領域内に材料析出物を生成する間に、上記半導体材料（２）の熱処理を行う工程とを含む。 - 特許庁

To provide a device in which a circuit performing read-out of a ROM is separated from the other circuit to determine which circuit has caused defect, or defective read-out of a ROM caused by drop of power source voltage is prevented, when defect is caused in operation of a device.例文帳に追加

装置の動作に不良が発生した場合、ＲＯＭ読み出し動作を行う回路と他の回路とを切り分けていずれに不良の原因があるかを特定し、あるいは電源電圧の低下によりＲＯＭ読み出しに不良が発生することを防止することが可能な装置を提供する。 - 特許庁

The defect information of a half-product is previously transmitted to a customer through the Internet, the customer judges whether the completion of a product is available or not on the basis of the defect information and a manufacturer receives a production command from the customer through the Internet and manufactures a product on the basis of the production command.例文帳に追加

あらかじめ半製品における欠陥情報を、インターネットを経由して顧客に送信し、該欠陥情報に基づいて顧客が製品化の可否を判断し、製品化指令をインターネットを経由して顧客から受信し、該製品化指令に基づいて製品にする。 - 特許庁

To provide a method and device for converting pattern data never causing the unexpected increase in data capacity even in the conversion of CAD data for a drawing machine to pattern data for a defect inspecting machine or the reduction in processing speed of the defect inspecting machine by an unnecessary region division.例文帳に追加

描画機用のＣＡＤデータを欠陥検査機用の図形データに変換してもデータ容量が不用意に増大したり不要な領域分割によって欠陥検査機の処理速度が低下したりすることのない図形データ変換方法およびデータ変換装置を提供すること。 - 特許庁