「DEFECT OR」に関連した英語例文の一覧と使い方(25ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a defect detecting method or the like capable of surely detecting only a defect of a substrate of an object to be inspected which has the substrate and a component disposed on the substrate and in which the component can be viewed through the substrate from the opposite side of the substrate surface having the component.例文帳に追加

基板と、該基板に配された構成部材と、を含み、該構成部材が配された側とは反対の側から該構成部材が基板を介して視認可能である検査対象物における基板の欠陥のみを確実に検出することができる欠陥検出方法等を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a single crystal, by which a value of V/G having a desired defect area and/or a desired defect-free area can be determined more precisely when the single crystal is pulled by controlling the value of V/G, and a desired quality single crystal can be pulled more exactly.例文帳に追加

Ｖ／Ｇ値を制御して単結晶を引上げる際に、より正確に所望欠陥領域及び／又は所望無欠陥領域を有するＶ／Ｇ値を決定することができ、より確実に所望品質の単結晶を引上げることができる単結晶の製造方法を提供する。 - 特許庁

In the method for correcting defects of an ITO film, an applying process in which a mixed solution obtained by dispersing a solid electroconductive material (electroconductive particles) in a solvent, is applied to the defect part of the ITO film, is performed one or more times at needed and a transparent electroconductive film is formed on the defect part of the ITO film.例文帳に追加

ＩＴＯ膜の欠損箇所に、固形の導電性材（導電性粒子）を溶剤中に分散させた混合溶液を、塗布する塗布工程を、必要に応じて１回以上行い、前記ＩＴＯ膜の欠損箇所に、透明、且つ、導電性の導電膜を配設する。 - 特許庁

Image data of longitudinal or transverse plural adjacent lines is read out from the image memory part 20 as a first image data, average data of a data level in a direction orthogonal to a reading-out direction is calculated, and a line-shaped defect in an image is detected by a defect detecting part 24.例文帳に追加

画像メモリ部２０から、第１の画像データとして縦方向あるいは横方向に隣接する複数ライン分の画像データを読み出し、読み出し方向と直交する方向のデータレベルの平均値を算出し、ライン状の画像欠陥を欠陥検出部２４で検出する。 - 特許庁

As a result, the errors due to the intrinsic defect signal can be reduced as far as possible and when the reproduced RF signal is inputted into the AGC circuit, the transient response of AGC generated due to a low-frequency or DC component before and behind the defect signal can be reduced.例文帳に追加

これにより、本来の欠陥信号によるエラーを極力低減することができ、ＡＧＣ回路に再生されたＲＦ信号が入力される場合、欠陥信号の前後の低域またはＤＣ成分が原因で発生するＡＧＣの過渡応答を抑制することができる。 - 特許庁

To inspect whether the defect of contact is produced or not in contact points applying cathode potential to conductor layers in substrates in a state where the substrates are set, and in the case the defect of contact is found, the substrates are reset, thus the yield can be improved.例文帳に追加

基板の導電体層に陰極電位を与える接点に接触不良が生じているか否かを、基板をセッティングした状態で検査し、接点に接触不良が生じていた場合は、基板を再度セッティングし直すことで、歩留りを向上させることができるようにする。 - 特許庁

When a defect 3 such as a lattice defect or the like in a material 2 to be measured is detected and evaluated by utilizing position annihilation for generating γ-rays from a positron as it annihilates, X-rays are radiated toward the material 2, and a pulse positron group is generated in the material 2.例文帳に追加

消滅する際のポジトロンがγ線を生じさせる陽電子消滅を利用して被測定物２内における格子欠陥などの欠陥３を検出し評価する際、Ｘ線を被測定物２に照射して被測定物２内にてパルスポジトロン群を発生させる。 - 特許庁

A defect determination means 19b recognizes as the absence area an area other than the the area of the content extracted by the content area extracting means 18, and determines the presence of the defect, based on whether the unnecessary object exists in the recognized absence area or not.例文帳に追加

欠陥判別手段１９ｂは、内容物領域抽出手段１８が抽出した内容物の領域以外の領域を不存在領域として認識し、この認識した不存在領域内に不用物が存在するか否かにより欠陥の有無を判別する。 - 特許庁

To restrain the influence of a defect such as faulty etching or deformation in a color selecting mechanism to the utmost even when the defect occurs in the color selecting mechanism in the case of radiating ultraviolet rays to the inner surface of a face panel through the color selecting mechanism in the fluorescent surface manufacturing stage of a cathode ray tube.例文帳に追加

陰極線管の蛍光面製造工程において、フェースパネル内面に色選別機構を介して紫外線を照射する場合に、その色選別機構にエッチング不良や変形等の欠陥があっても、その欠陥の影響を極力抑制できるようにする。 - 特許庁

To provide a round tooth for cutting, a tool for cutting and a cutting device of low costs providing a favorable tape edge cut in a cut part without producing a high edge defect or an unequal elongation defect in a cut surface when cutting a film like strip object such as a thin magnetic tape with a smooth surface.例文帳に追加

薄く表面の平滑な磁気テープのようなフィルム状の帯状物を切断するときに、その切断面にハイエッヂ不良及び片伸び不良が生じることはなく、切断部におけるテープエッヂ切れが良好でかつ低コストの切断用丸刃、切断用工具及び切断装置を提供する。 - 特許庁

The digital still camera 10 includes a CCD 12 wherein pixels whose values in each of three primary colors are detected through color filters are respectively placed to each of prescribed regions and one defective pixel or below causing the temperature white defect is specified to exist in each region, and a temperature white defect correction unit 14.例文帳に追加

色フィルタを通して３原色の各色の画素値を検出する画素が所定の領域のそれぞれに配置され、温度白キズを生じる欠陥画素が各領域内に１つ以下と規定されているＣＣＤ１２と、温度白キズ補正装置１４とを備えるデジタルスチルカメラ１０。 - 特許庁

Defect position data is acquired from a plurality of kinds of examination devices such as a bus line resistance device or an electric characteristic examination device 4 and a defect examination device 3 for appearance examination and is collated in a collation part 9 to generate data obtained by narrowing down the correction objects more.例文帳に追加

バスライン抵抗装置もしくは電気的特性検査装置４、および外観検査による欠陥検査装置３など、複数種類の検査装置から欠陥位置データを取得して、照合部９にて照合することによって、修正対象をより絞り込んだデータを作成する。 - 特許庁

To provide a resist composition, a resist layer, an imprint method, a pattern forming body, and their associated technique in which there is not a peel-off defect or a pattern defect over the whole pattern forming body, a pattern shape and a remained film are uniform, and productivity is improved for short peel-off time.例文帳に追加

パターン形成体の全面にわたって、剥離不良やパターン不良がなく、パターン形状及び残膜を均一なものとし、短い剥離時間で生産性を向上させるレジスト組成物、レジスト層、インプリント方法、パターン形成体、及びこれらに関連する技術を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a joint inspection method by which the end part of a joint interface of metallic pipes joined by a diffusion joining method, especially the presence or absence of a difference level and a defect on the inner peripheral surface side can be detected in the non-destructive condition and also the size of the difference in level and the defect can be detected with high accuracy.例文帳に追加

拡散接合法により接合された金属管の接合界面の端部、特に、内周面側における段差及び欠陥の有無を非破壊で検出でき、しかも段差及び欠陥の大きさを高い精度で検出することが可能な接合部の検査方法を提供すること。 - 特許庁

The reflected light 12 is received by the first detection means 6 independently of the light receiving element 4, and thereby the tilt angle of the irregularity defect 8 is measured by an image processing device 17, and the height or the depth of the irregularity defect 8 is measured by triangulation from the measurement result.例文帳に追加

第１の検出手段６によって受光素子４とは別に反射光１２を受光することで、画像処理装置１７によって、凹凸欠陥８の傾斜角度を計測したうえで、その計測結果から三角測量によって凹凸欠陥８の高さあるいは深さを計測する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device for a flat panel display capable of exactly indicating spots to be repaired to a repair device, by pinpointing the spots from inspection information acquired by defect inspection, not to mention of being capable of finding out the causes of the defects or the like in a short time efficiently, and to provide its inspection method.例文帳に追加

欠陥原因の究明などを短期間で効率よく行えることはもとより、欠陥検査した検査情報から特定することで、リペア装置にリペア箇所を的確に指示することが可能なフラットディスプレイパネルの欠陥検査装置およびその方法を提供する。 - 特許庁

To provide a visual inspection device and a visual inspection method capable of defect detection even in a domain other than a repeated pattern domain without generating a reference image, when detecting a defect appearing in the appearance of a substrate on whose surface an electric pattern is to be formed or has been formed.例文帳に追加

表面に電気的パターンが形成される、又は形成された基板の外観に現れる欠陥を検出する際に、基準画像を生成することなく、繰り返しパターン領域以外の領域においても欠陥検出が可能な外観検査装置及び外観検査方法を提供する。 - 特許庁

(ii) in case where the product is used as a component or raw material of another product, the defect occurred primarily because of the compliance with the instructions concerning the design given by the manufacturer of such another product, and that the manufacturer, etc. is not negligent with respect to the occurrence of such defect. 例文帳に追加

二　当該製造物が他の製造物の部品又は原材料として使用された場合において、その欠陥が専ら当該他の製造物の製造業者が行った設計に関する指示に従ったことにより生じ、かつ、その欠陥が生じたことにつき過失がないこと。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

This defect detection method of the roller bearing by torque monitoring is a method for detecting a defect on either or both of the rolling contact surface of an outer ring and the roller in the roller bearing equipped with the outer ring and a plurality of rollers rolling along the rolling contact surface of the outer ring.例文帳に追加

この発明のトルク監視によるころ軸受の欠陥検出方法は、外輪およびこの外輪の転走面を転動する複数のころを備えたころ軸受において、前記外輪の転走面およびころのいずれか一方または両方の欠陥を検出する方法である。 - 特許庁

To provide a particulate structure for a 3-dimensional photonic crystal or the like into which a defect, in which a defective volume is controlled, is introduced, and also to provide a periodic particulate structure into which a defect is introduced locally without disturbing the global repetition of the structure.例文帳に追加

欠陥ボリュームが制御された欠陥が導入された３次元フォトニック結晶などのための微粒子構造体を提供すること、また、構造体全体の繰り返しを乱すことなく、局所的に欠陥が導入された周期的な微粒子構造体を提供すること。 - 特許庁

A correction similar to the correction of irradiated region with respect to the pattern matching processing from the usual secondary ion image or secondary electron image of the ion beam defect correcting device is performed and a defect region 3b which is extracted by the AFM and is subjected to fine adjustment by the conformation of the pattern for alignment is corrected by ion beams 8.例文帳に追加

イオンビーム欠陥修正装置の通常の二次イオン像もしくは二次電子像からのパターンマッチング加工に対する照射領域の補正と同様な補正を行い、AFMで抽出し、位置合わせ用のパターンの合わせ込みで微調整された欠陥領域3bをイオンビーム8で修正する。 - 特許庁

In the recording stop period in which recording data is not performed, either or both of defect inspection of a recording scheduled area and reading inspection of an already recorded area are performed by the microcomputer of the optical disk drive 7, defect of the disk is avoided and a recording state can be held appropriately.例文帳に追加

データの記録を行わない記録停止期間において、光ディスクドライブ７のマイクロコンピュータにより、記録予定エリアの欠陥検査と記録済みエリアの読取り検査との一方または両方を行い、ディスク上の欠陥を回避し、記録状態を適正に保てるようにする。 - 特許庁

To provide a fixing belt having a surface layer which is free of a surface defect such as a stripe or trail causing an image defect when the fixing belt is manufactured through a process of forming the surface layer on the outer peripheral surface of a base material by using a resin solution.例文帳に追加

定着ベルトが基材の外周面に樹脂溶液を利用して表面層を形成するプロセスを経て定着ベルトを作製される場合において、画像欠陥の原因となるスジやダレ等の表面欠陥の無い表面層を有する定着ベルトを提供すること。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display having no defect inherent in conventional technology or having a defect only in some reduced degree and at the same time, having a suitable operating temperature range and short response time owing to an especially low operating voltage and sufficiently large steepness of an electrooptical characteristics curve.例文帳に追加

従来技術の欠点を有していないか、または減少された程度でのみ有し、同時に特に低い動作電圧および充分に大きい電気光学特性曲線の急峻度をもって、適度の動作温度範囲および短い応答時間を有する液晶ディスプレイを提供する。 - 特許庁

This repair method for corrosion-proof coating of the steel structure is characterized in that a resin sheet or a resin sheet with an inorganic layer of metallic foil, metal vapor deposition, or the like is bonded to a defect part through an adhesive sheet when a defect such as a hit mark of a corrosion-proof coating occurs in the corrosion-proof coating of the steel structure installed underwater.例文帳に追加

水中に設置された鉄鋼構造物の防食被覆に、防食皮膜の打痕等の欠陥が生じた際に、粘着シートを介して、樹脂シート、又は、金属箔あるいは金属蒸着等の無機物層を有する樹脂シートをこの欠陥部位に接着することを特徴とする鉄鋼構造物の防食被覆の補修方法である。 - 特許庁

In a wobble PLL circuit 22, a detector for the defect and modulation 223 is arranged in which variation between adjacent cycles or the variation for one cycle interval in output of a phase comparator 222 is measured, and when its value exceeds a set threshold NOIDETLVL, the value is regarded as a modulated area or the defect, and feedback for the phase comparator output to VCO is masked.例文帳に追加

ウォブルＰＬＬ回路２２に、位相比較器２２２の出力の隣接サイクル間の変動または１サイクル間隔の変動を計測し、その値が設定しきい値ＮＯＩＤＥＴＬＶＬを越えた場合には、変調領域あるいはディフェクトとみなしてＶＣＯへの位相比較器出力のフィードバックをマスクする変調およびディフェクト検出器２２３を設ける。 - 特許庁

The information recording medium is provided on which when a spare area for a replacement block for replacing a defect block created in a predetermined area of the information recording medium is enlarged or newly allocated during use of a disk, defect status information of the block within the enlarged or newly allocated spare area is changed and recorded.例文帳に追加

情報記録媒体の所定の部分に発生した欠陥ブロックを代替する代替ブロックのためのスペア領域が、ディスクの使用中に拡張されるか、または新たに割り当てられた場合に、拡張されるか、または新たに割り当てられたスペア領域内にあるブロックの欠陥状態情報が変更されて記録される情報記録媒体。 - 特許庁

This semiconductor crystal screening method is equipped with steps of: inducing a defect in the imperfect portion of the semiconductor crystal by applying an electron beam or light to the semiconductor crystal; and then, performing defect inspection on the semiconductor crystal by a cathode luminescence method or photoluminescence method to screen the semiconductor crystal based on a result thereof.例文帳に追加

本発明の半導体結晶のスクリーニング方法は、半導体結晶に電子線又は光を照射することによって半導体結晶の不完全部分での欠陥を誘起し、その後、カソードルミネッセンス法又はフォトルミネッセンス法により半導体結晶の欠陥検査を行い、その結果に基づいて半導体結晶のスクリーニングを行う工程を備える。 - 特許庁

The device for inspecting the image defects is configured so that defect detecting processing S3 detecting the defects appearing in the sensed image on the sample surfaces, and reinspection processing S6 conducting reinspection or deciding truth or falsehood at a place of detection in the sensed image regarding the defects detected by the defect detecting processing are carried out by the same processor element.例文帳に追加

試料の表面の撮像画像に現れる欠陥を検出する欠陥検出処理Ｓ３と、この欠陥検出処理欠陥により検出された欠陥に関して撮像画像中の検出箇所を再検査する又は真偽を判定する再検査処理Ｓ６とが、同一のプロセッサエレメントによって実行されるように画像欠陥検査装置を構成する。 - 特許庁

To provide a light emission display that can be easily repaired to stop the light emission only of the defect pixel when there is a pixel that does not emit light caused by short-circuit between electrodes or the like, or if there is a defective pixel that is bad in light emission or the like.例文帳に追加

電極間がショート等して発光しない画素や発光不良画素等の欠陥画素があった場合でも容易に該当する欠陥画素のみの発光を停止させる修理を行うことができる発光ディスプレイを提供することを目的とする。 - 特許庁

A rise in sent blood pressure resulting from a stenosis or inflection of a blood sending line, a defect in blood removal due to a stenosis or inflection of a blood removing line, or blood flow variation, blood pressure variation, etc., of a vein, an artery, etc., on a human body side can really be reproduced.例文帳に追加

術野側操作による送血ラインの狭窄や屈曲による送血圧上昇、脱血ラインの狭窄、屈曲による脱血不良、或いは、人体側の静脈、動脈などによる血流変化や血圧変化などをリアルに再現することができる。 - 特許庁

After due notice and hearing, the Hearing Office shall order the setting aside or the discharge of the attachment if it appears that it was improperly or irregularly issued or enforced, or that the bond is insufficient, or that the attachment is excessive, and the defect is not cured forthwith, or the property being attached is exempt from execution.例文帳に追加

聴聞官は，適切な通知及び聴聞の後，差押命令が不適切又は不適正に発出又は執行されたと認められる場合，保証証書が不十分であると認められる場合，差押が過大であると認められ，かつ，その欠陥が直ちに是正されない場合，又は差押財産が強制執行から免除されている場合は，差押の取消又は解除を命令する。 - 特許庁

To control the temperature in a device during the operation of an electronic computer and a sharp rise or lowering in temperature in temporary stop or complete stop, and to achieve energy saving during operation and component defect reduction in temporary stop and complete stop and the reduction of the possibility of an defect in restart, in a system in which a plurality of power supply devices or electronic computers loaded on an electronic computer are loaded in parallel.例文帳に追加

電子計算機に搭載されている複数台の電源装置または電子計算機が並列に搭載されるシステムにおいて、電子計算機の動作中における装置内温度制御と一時停止及び完全停止時の急激な温度上昇や下降を制御し、動作中の省エネルギーと一時停止及び完全停止時の部品障害低減と再起動時障害の可能性を低減する。 - 特許庁

To provide a device for collecting fault analysis information which can collect as much fault information as possible after it is rebooted even when a temporary defect or malfunction occurs on a main storage device or an HDD device.例文帳に追加

主記憶装置やＨＤＤ装置に一時的に不具合、誤動作が発生した場合においても、再起動後に障害情報を可能な限り収集することができる障害解析情報収集装置を得ることを目的とする。 - 特許庁

For original image data (323) as a target, a shadow side (or highlight side) clipping value is calculated on the basis of a tolerable number of pixels of black defect in a local area (321) (or a tolerable number of pixels of halation in the local area (322)).例文帳に追加

原画像データ３２３を対象として、局所領域内の黒つぶれ許容画素数３２１（または局所領域内の白飛び許容画素数３２２）に基づき、シャドー側（またはハイライト側）のクリップ値を算出する。 - 特許庁

A cell arrangement position of a pad lower side, or a pad arrangement position or a bump arrangement position, etc., which is influenced by stress is previously laid out such that an operation defect of an LSI due to the influence of the stress hardly occurs.例文帳に追加

応力の影響を受けるパッド下側のセル配置位置、又はパッド配置位置若しくはバンプ配置位置等について、応力の影響に起因するＬＳＩの動作不具合が発生しにくいように予めレイアウトしておく。 - 特許庁

To provide an optical system with which the occurrence of the fogging of a lens, for example, an image defect or the like can be prevented even when it is exposed to high-humidity environment repeatedly or for a long time, and to provide an endoscope equipped with the optical system.例文帳に追加

高湿度の環境に繰り返しまたは長時間曝された場合でも、レンズの曇りや、例えば画像不良等の発生を防止し得る光学系、および、かかる光学系を備える内視鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a compound semiconductor which has a base plate and a compound semiconductor layer formed on the base plate and has a lattice mismatch of 2% or higher between the base plate and the compound semiconductor layer, and which can reduce generation of crystalline defect or dislocation.例文帳に追加

基体と、この基体上に形成される化合物半導体層との格子不整合性が２％以上ある化合物半導体において、化合物半導体層における結晶欠陥すなわち転位の発生を低減する。 - 特許庁

To provide a wafer inspection device which can achieve high-speed, high-resolution visual test of semiconductor wafer and consistently prepares samples for TEM observation or various analyses with high accuracy of position from the area where any foreign material or defect exists.例文帳に追加

半導体ウエハの高速で高分解能な外観検査と、異物や欠陥の存在部位からＴＥＭ観察や各種分析のための試料を高い位置精度で一貫して作製することのできる検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide communication equipment and a method capable of preventing occurrence of a defect of impossible connection to an intended destination due to defects on a line (noise, mechanical connection performance (connectability of connectors, breakage or the like)) and software bug or the like.例文帳に追加

回線上の不具合（ノイズ、機械的な接続性（コネクタの勘合性、断線等））、ソフトウェアバグ等で意図した相手先との接続ができなくなる不具合の発生を防止することができる通信装置および方法を提供する。 - 特許庁

When an inspection result of a previous step is included in the chip ID, level identification on a defective or acceptable chip can be carried out by only reading the chip ID and thus this can quickly cope with the defect-cause analysis, shipping by characteristics, or the like.例文帳に追加

チップＩＤに前工程の検査結果を含ませる事で、不良品や良品のレベル識別がチップＩＤの読み取りをおこなうだけで可能となり、不具合の原因解析や特性別の出荷などに迅速に対応できる。 - 特許庁

To provide an inspection device for optical lens capable of precisely performing inspection of optical defect or optical performance of an optical lens used for a small CCD camera or the like in a short time, and reducing the inspection cost.例文帳に追加

小型ＣＣＤカメラ等に使用される光学レンズの光学的欠陥の有無や光学性能の検査を短時間に正確に行うことができ、また、検査コストも低減させることのできる光学レンズの検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a honeycomb formed body and drying equipment thereof which are capable of drying the honeycomb formed body having a cell wall thickness of 0.125 mm or below, without causing a defect such as a crack or a wrinkle in the outer peripheral skin part.例文帳に追加

セル壁厚さが０．１２５ｍｍ以下のハニカム成形体を，外周スキン部に割れ，しわ等の欠陥を生じさせることなく乾燥することができるハニカム成形体の製造方法及び乾燥装置を提供すること。 - 特許庁

To prevent formation of cracks or the like in a bent part of a resin-made intermediate plate, and formation of power generation defect due to disturbance or the like of gas distribution flow in power generation operation in a fuel cell having three-layered flat separator.例文帳に追加

３層構造のフラットセパレータを備えた燃料電池において、樹脂製中間プレートの屈曲部における割れ等の発生を防止し、発電動作時のガス配流の乱れ等による発電不良の発生を防止する。 - 特許庁

To reduce a charge trouble and to sample only an object without mixing a peripheral base material as the analyzing pretreatment of a minute insulating material sample or the like with a size of about 1 μm becoming the defect cause of a device or the like.例文帳に追加

デバイス等の不良原因となる１μmほどの微小絶縁物試料等の分析前処理として、帯電の支障を少なくし、周辺の基材を混合することなく目的物のみをサンプリングすることを目的とする。 - 特許庁