DEFECT ORの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 2818件
To eliminate a defect in appearance wherein an opaque suction wick or tube is placed randomly within the range of sight in a transparent container used for liquid aromatic.例文帳に追加
液体芳香剤等に用いられている容器が透明容器である製品で、不透明な吸い上げ芯やチューブが視界内に無造作に配置され、美観上大きな障害になっている。 - 特許庁
To provide a cellulose ester-based optical compensation film which has extremely stable display quality by suppressing changes in the retardation value due to humidity and which has no defect such as bleed-out of a plasticizer or the like.例文帳に追加
位相差値の湿度による変動を抑制して、表示品位が極めて安定した、可塑剤等のブリードアウトの欠陥の無いセルロースエステル系光学補償フィルムを提供する。 - 特許庁
A block selecting circuit makes the first memory cell block to substitute for the defective memory cell block when defect occurs in one or more memory block out of the second memory cell block.例文帳に追加
ブロック選択回路は前記第2メモリセルブロックのうち一つまたはそれより多いメモリセルブロックに欠陥が生じる時に、前記欠陥メモリセルブロックを前記第1メモリセルブロックに代替する。 - 特許庁
ASSEMBLY AND WELDING LINE FOR AUTOMOBILE BODY AND BODY COMPONENT OR EQUIVALENT, AND METHOD FOR IDENTIFICATION AND MANAGEMENT OF ERROR AND DEFECT IN EQUIPMENT BASED ON METHOD OF INVENTION例文帳に追加
自動車ボデー及びボデー部品又は同等品のための組立及び溶接ライン並びに本発明の方法による設備における誤差及び欠陥の識別及び管理のための方法 - 特許庁
As a result, a sacrificed oxide film 6 is formed on the surface of the silicon substrate 11 whereby the defect or the damage of the surface of silicon substrate 11 below the sacrificed oxide film 16 is recovered.例文帳に追加
その結果、シリコン基板11表面に犠牲酸化膜16が形成されるとともに、犠牲酸化膜16下のシリコン基板11表面の欠陥や損傷が回復する。 - 特許庁
This visual inspection method includes determination concerning whether a defect extracted from inside an inspection domain of an image 21A of an inspection object 11a by comparison with a template 21A is acceptable or not.例文帳に追加
被検査体11aの画像21Aの検査領域上からテンプレート(21A)との比較によって抽出された欠陥が許容内か否かを判定することを含む外観検査方法。 - 特許庁
To stably and securely read 2nd digital information as copyright protection information without being influenced by a defect or pit absence on a disk-like recording medium.例文帳に追加
ディスク状記録媒体上に存在するディフェクトやピット欠落の影響を受けることなく、安定かつ確実に著作権保護情報としての第2のデジタル情報の読み取りを可能とする。 - 特許庁
The magnetic recording medium 11 is characterized in that the defect occurrence frequency is reduced to 1/3 or below compared with the frequency when annealing treatment is not performed by performing the annealing treatment.例文帳に追加
アニール処理を行うことによって、アニール処理を行わない場合に比べて欠陥の発生頻度を1/3以下に減少したことを特徴とする磁気記録媒体11。 - 特許庁
To reduce noise due to a circuit pattern for performing highly sensitive detection of foreign matter or a defect causing real damage on a test object having a transparent film such as an oxidation film.例文帳に追加
酸化膜などの透明膜が存在する被検査対象に対して、回路パターンに起因するノイズを低減させることで、実害になる異物又は欠陥を高感度に検出可能とする。 - 特許庁
To prevent troubles such as deterioration of startability of an engine, drop of engine output, or engine stall beforehand by preventing fuel pumping defect due to mixing of air such as babbles.例文帳に追加
気泡等のエアー混入による燃料の圧送不良を防止して、エンジンの始動性の悪化、エンジンの出力の低下、エンスト等の不具合を未然に防止することを課題とする。 - 特許庁
Where the applicant fails within the prescribed period to submit a statement or to take steps to remedy a defect to which attention has been drawn, the application shall be dismissed. 例文帳に追加
出願人が,所定期間内に陳述書を提出すること又は注意を喚起された欠陥を是正するための措置を講じることを怠った場合は,当該出願は却下される。 - 特許庁
After performing defect inspection (S31), history information in which the inspection result is recorded and secret level information indicating whether the inspection result is to be deleted as security information or not are acquired (S34).例文帳に追加
欠陥検査(S31)を行った後に、検査結果を記した履歴情報、及び、セキュリティ情報として削除が必要か否かを与える機密レベル情報を取得する(S34)。 - 特許庁
The irregularities caused by a pinhole or a foreign matter cannot be discriminated only by reflected light, so that the transmission light is used for the inspection, to detect a defect with high accuracy.例文帳に追加
反射光だけでは、ピンホールや異物による凹凸が分かりにくいので、透過光による検査を行うことで、両者を区別して、高精度に欠陥を検出することができる。 - 特許庁
To provide inspection method and device for accurately grasping the presence or the absence, the position, and the size of a defect in a structure, regardless of the experience and knowledge of an inspection engineer.例文帳に追加
検査技術者の経験・知識によらずに、構造物内部の欠陥の有無、位置と大きさを正確に把握することができる検査方法および検査装置を提供する。 - 特許庁
To prevent an insertion defect due to warping of negative plates at both ends or an inner short circuit cue to fall off of an active material in insertion of an electrode group of a square battery into an outer package case.例文帳に追加
角形密閉電池の電極群を外装ケースに挿入する際に、両端の負極板のめくれによる挿入不良や、活物質の脱落による内部短絡を防止する。 - 特許庁
To provide a mask blank that prevents disappearance of a resist pattern and also prevent a pattern defect upon producing a transfer mask by a semiconductor design rule (for a DRAM with hp half pitch of 65 nm or less), and also to provide a mask.例文帳に追加
半導体デザインルール(DRAM hp65nm以下)の転写用マスクを作製する際、レジストパターンの消失を防止し、パターン欠陥を防止できるマスクブランク、及びマスクを提供する。 - 特許庁
To provide a material capable of protecting a surface from a scratch and/or other defect brought about by the contact of the surface with an operation mechanism, and to provide a method for protecting the surface.例文帳に追加
表面が操作機構と接触することにより引き起こされる掻き傷および/または他の欠陥から表面を保護することができる材料および方法を提供する。 - 特許庁
To provide a laminate shaping apparatus removing a defect such as a size-increase, low productivity, low accuracy, the restriction of a use resin or the like in a three-dimensional matter shaping apparatus, and a laminate shaping method.例文帳に追加
三次元物体造形装置において造形装置の大型化、低生産性、低精度、使用樹脂の限定といった欠点を除いた積層造形装置及び方法を提供する。 - 特許庁
To enable a characteristics inspection of a plasma display panel to be carried efficiently by detecting a perfect lighting state precisely by discriminating a screen defect such as non-lighting of a discharge cell or the like.例文帳に追加
不灯の放電セルなどの画面欠陥と区別して、完全点灯状態を高精度に検出し、プラズマディスプレイパネルの特性検査を効率よく行うことができるようにする。 - 特許庁
To effectively house a large number of graves or funerary stages even on a narrow ground, and to erase the separated feeling of upper and lower stairs as the defect of a conventional building type three-dimensional grave.例文帳に追加
狭小地においても多数の墓または納骨壇を効率的に収納可能とし、かつ、従来のビル型立体墓地の欠点である上下階の隔たり感を払拭する。 - 特許庁
To prevent a continued substituting process sequence due to the defect of a substitute area by preliminarily grasping the quality of the substitute area before the data recording or reproducing operation is requested from the outside.例文帳に追加
外部からのデータ記録又は再生要求がある前に予め交替領域の品質を把握しておき、交替領域の欠陥による連続した交替処理シーケンスを防止する。 - 特許庁
To provide a device and method for inspecting surface defect capable of sufficiently inspecting even a concave flaw (or a part of it) substantially parallel with the incident surface.例文帳に追加
入射面に対して略平行な凹状の傷(またはその一部分)であっても、良好に検査することができる表面欠陥検査装置および表面欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁
(iv) the measures taken to prepare for compensating victims in cases where the lives or bodies of general consumers are damaged due to a defect in said specified products. 例文帳に追加
四 当該特定製品の欠陥により一般消費者の生命又は身体について損害が生じ、その被害者に対してその損害の賠償を行う場合に備えてとるべき措置 - 日本法令外国語訳データベースシステム
To provide a surface acoustic wave filter with stable quality by eliminating in advance things with probability of causing a defect later in the case of mounting the filter on a radio equipment or the like.例文帳に追加
無線機器への実装時など後で不良が発生する可能性のあるものをあらかじめ取り除いて、品質の安定した弾性表面波フィルタを提供することを目的とする。 - 特許庁
Two kinds of the read images are compared, a relative position of the defective mark causing an error is calculated and whether the defect resides on the chart or in the reader is discriminated.例文帳に追加
読み込まれた2種の画像の比較をおこない、エラーを及ぼす欠陥の目印に対する相対位置を算出し、チャート上の欠陥か読み取り装置内の欠陥かを判別する。 - 特許庁
To obtain a method to produce a collared annular member not generating a defect of a crack or, etc., to a collar part and a corner part of an inner diameter and having a shape of a large radiused part, etc., to the corner part.例文帳に追加
鍔部と内径のコーナー部に割れ等の欠陥発生がなく、且つコーナー部に大きなR等の形状を有する鍔付環状部材が製造可能な方法にある。 - 特許庁
To provide a soldering method and soldering structure capable of preventing insufficient solder or soldering defect and improving sureness and reliability of electric connection.例文帳に追加
はんだ不足またははんだ付け不良の発生を防止し、電気的接続の確実性および信頼性を向上させることのできるはんだ付け方法およびはんだ付け構造を提供する。 - 特許庁
To provide an optical disk device capable of preventing collision of an objective lens with an optical disk surface when focus servo is shifted during recording/reproducing of a reflected light omitted part by a defect or the like.例文帳に追加
ディフェクト等による反射光欠落部分を記録再生する際のフォーカスサーボ外れ時において、光ディスク面への対物レンズ衝突を防止する光ディスク装置を提供する。 - 特許庁
The former rolling solves the defect of the size equal to or below that detectable by UST in the center part of the plate thickness (micro cavity not rolled-in yet), and, in the latter rolling, crystal grain refining is executed.例文帳に追加
前者の圧延では、板厚中心部のUST検出可能サイズ以下の欠陥(未圧着ザク性欠陥)を解消し、後者の圧延では結晶粒微細化を行う。 - 特許庁
Potential contrast defects are classified according to the arrangement state of the defect holes, or are classified based on the correlation with a component position in a preprocess by referring to design information.例文帳に追加
電位コントラスト欠陥を欠陥孔の配置状態によって分類、あるいは、設計情報を参照して、前工程における部品位置との相関関係に基づいて分類する。 - 特許庁
To provide a training instrument for a cavernous body organ for healing the functional disorder caused by the defect, disease or aging of the cavernous body organ to train the functions of the cavernous body organ.例文帳に追加
海綿体器官の欠陥,疾病や老化による機能的な障害を治癒し,海綿体器官の機能を鍛錬するために海綿体器官の鍛錬器具を提供すること。 - 特許庁
To connect a radio communication terminal to an optimum radio communication network while suppressing a defect at or after communication start in the radio communication terminal connectable to a plurality of radio communication networks.例文帳に追加
複数の無線通信網への接続が可能な無線通信端末において、通信開始後や通信開始時の不具合を抑制しつつ、最適な無線通信網に接続できるようにする。 - 特許庁
To manufacture a sheet-like article such as an optical material or an imaging material having regular fine embossed patterns formed on its surface with high quality without defect and with good productivity and at a high line speed.例文帳に追加
表面に規則的な微細凹凸パターンが形成された光学材料やイメージング材料のシート状物を、欠陥なく高品質で、かつ高ラインスピードで生産性よく製造する。 - 特許庁
To shorten a test time by parallel processing of a plurality of chips when defect check of a bit line or a sense amplifier is performed in a wafer test of a NAND type flash-memory.例文帳に追加
NAND型フラッシュメモリのウェハテストに際してビット線またはセンスアンプの不良チェックを行う場合に、テスト時間を短縮し、複数チップの並列処理によりテスト時間を大幅に縮める。 - 特許庁
To provide an image processing method and image processing apparatus detecting a defect in an image with high accuracy when the image is printed on a recording medium or on an intermediate transfer body.例文帳に追加
記録媒体あるいは中間転写体に印刷された状態での画像における欠陥を精度良く検出することができる画像処理方法および画像処理装置を提供する。 - 特許庁
To provide a plating method by which a uniform plating film is formed on numerous objects to be plated at the same time with high production efficiency without causing plating defect or the like.例文帳に追加
めっき不良などを生じることなく、一度に多量の被めっき物に対して均一なめっき膜を形成することができ、しかも生産効率に優れためっき方法を提供すること。 - 特許庁
To provide an integrated circuit apparatus in which the frequency of erasing in which erasing voltage being comparatively large voltage is applied is stored for defect analysis or the like, and erasing operation is restricted.例文帳に追加
不良解析等のため、比較的大電圧である消去電圧が印加される消去回数を記憶し、加えて消去動作を制限する集積回路装置を提供すること。 - 特許庁
Next, a board recognition means 4 is assigned to a part of the board as a means for recording bar codes or tags so that defect recognition location information and board recognition information can be recorded in pairs.例文帳に追加
次に、バーコードあるいはタグなどの記録手段としての基板認識手段4を基板一部に割り付けして、不良認識位置情報と基板認識情報を対応させて記録する。 - 特許庁
To automatically recognize a side face of a pattern, an image of each layer, and a layer having a defect from an SEM image of a wafer formed with a pattern which is formed of a single layer or a multilayer structure.例文帳に追加
単層あるいは多層構造から成るパターンが形成されたウェーハのSEM像から、パターンの側面および各層の像、さらに欠陥を有する層を自動認識する。 - 特許庁
To provide a method for manufacturing a high-quality semiconductor device in which the generation of an eave-shaped portion to be formed during anisotropic etching is suppressed and a coverage defect or step cut does not occur.例文帳に追加
異方性エッチング時に形成されるひさし状部分の発生が抑制され、カバレージ不良や段差切れのない、高品質な半導体装置を製造する方法を提供する。 - 特許庁
An image comparison part 124 compares, in each pixel in an inspection image data 120, a correspondence of an inspection image data 120 in the pixel to a reference image data 121 with a judgment threshold 141 acquired in each region comprising the computed slit pixel group, and judges defects or defect candidates.例文帳に追加
次に、検査画像の各画素毎にその画素の階調値と、その画素と対応する参照画像内の画素の画素値との第2の相関関係を求める。 - 特許庁
To provide an image forming apparatus capable of suppressing the occurrence of an image defect such as fogging or density irregularity by positively collecting deteriorated toner and keeping a toner state on a developing roller excellent.例文帳に追加
劣化トナーを積極的に回収し,現像ローラ上のトナー状態を良好に保ち,カブリや濃度ムラ等の画像欠損の発生を抑制した画像形成装置を提供すること。 - 特許庁
To provide a semiconductor device and an LED array capable of reducing influence to device characteristics even if a conductive epitaxial defect or the like is present on a semiconductor wafer.例文帳に追加
半導体ウエハに導電性のエピタキシャル欠陥等が存在したとしても、デバイス特性への影響を少なくすることができる半導体装置及びLEDアレイを提供する。 - 特許庁
A face 53a in a substrate side contacting with the semiconductor substrate in an element forming part is exposed by removing the semiconductor substrate, in a defect-generated wafer or chip.例文帳に追加
不良の発生したウェハまたはチップに対して、半導体基板を除去することにより、素子形成部における半導体基板と接していた基板側の面53aを露出する。 - 特許庁
Fluctuation of a rotating torque of the tapered shaft 3 is detected by a torque sensor 5, and a signal detected by the torque sensor 5 is subjected to signal processing, to thereby detect a defect on the rolling contact surface or on the roller.例文帳に追加
このテーパ軸3の回転トルクの変動をトルクセンサ5で検出し、トルクセンサ5で検出された信号を信号処理することで前記転走面またはころの欠陥を検出する。 - 特許庁
To easily calculate a value as the scale of a damage or defect probability (lifetime consumption rate) by operating digitization and weighting processing in performing an RBM method.例文帳に追加
RBM手法を行うに際して、被害の大きさや損傷確率(寿命消費率)といった値を数値化処理して重み付けを行って簡単に割り出すことができるようにする。 - 特許庁
To provide a method of manufacturing semiconductor device by which gigantic crystal grains or single crystals reduced in crystal defect can be formed at high yield, low cost, and high throughput.例文帳に追加
結晶欠陥の低減された巨大な結晶粒または単結晶を高歩留まり、低コストおよび高スループットで形成することが可能な半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
The beads spacers are disposed on the longitudinal signal line and/or the lateral signal line of the substrate by an ink jetting system to improve the defect due to the beads spacers on the pixel electrode.例文帳に追加
ビーズスペーサーを、基板上の縦方向信号線及び/又は横方向信号線上に、インクジェット方式で配置することで、画素電極上のビーズスペーサによる不具合を改善する。 - 特許庁
To provide an exhaust emission control system and its control device for exhaust emission control determining which causes exhaust gas temperature rise defect, abnormality of fuel addition valve or abnormality of oxidation catalyst.例文帳に追加
排気温度の上昇不良が燃料添加弁または酸化触媒のいずれの異常によるものかを判定する排気浄化システムおよびその排気浄化制御装置を提供する。 - 特許庁
A method is provided that includes a defect detection step to detect one or more defects in a software application composed of heterogeneous languages using a configurable web services architecture.例文帳に追加
設定可能なウェブサービスアーキテクチャにより異種言語から成るソフトウェアアプリケーションにおける1又はそれ以上の欠陥を検出する欠陥検出段階を有する方法が提供される。 - 特許庁
| ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。 |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
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