「DEFECT OR」に関連した英語例文の一覧と使い方(30ページ目) - Weblio英語例文検索

A spatial filter is applied to the photographed image for emphasizing a section where the brightness changes, the emphasized section is binarized for detecting close defects without any overlap, and it is judged whether the defect is a true defect or a noise based on the amount of feature at the detected section to count the number of defects.例文帳に追加

撮影画像に対して空間フィルタを適用して輝度が変化する部分を強調し、当該強調した部分を２値化することによって近接した欠陥も重なることなく検出し、その検出した部分の特徴量を基に欠陥かノイズかを判別して欠陥個数を計数する。 - 特許庁

This device includes a PLL processing HPF 40 having a cut-off frequency set to eliminate a defect signal component for a reproducing information signal read from an optical disk, and PLL processing is performed by using the reproducing information signal from which the defect signal component generated due to the influence of a fingerprint or the like has been eliminated.例文帳に追加

光ディスクから読み出された再生情報信号についてのディフェクト信号成分を除去するようにカットオフ周波数が設定されたＰＬＬ処理用ＨＰＦ４０を設け、指紋等の影響によるディフェクト信号成分が除去された再生情報信号を用いてＰＬＬ処理が行われるようにする。 - 特許庁

The error probability value Er thus obtained represents the degree of defect concerning to each pixel of the image to be inspected S and a decision is made whether a defect of an object to be inspected is presents or not at a position corresponding to each pixel of the image to be inspected S based on the relation of magnitude between the error probability value Er and a specified threshold value.例文帳に追加

得られたエラー確率値Ｅｒは、被検査画像Ｓの各画素に関する欠陥度合いを表しており、このエラー確率値Ｅｒと所定の閾値との大小関係に基づいて、被検査画像Ｓの各画素に対応する位置における被検査対象物の欠陥の有無を判定する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for putting a defect of an observational object in a view of an electron microscope, etc. without failure, and further making a scale of the apparatus small, in the method and the apparatus for observing the defect detected by an optical foreign matter inspection device or an optical visual inspection device with the electron microscope in detail.例文帳に追加

光学式異物検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を電子顕微鏡で詳細に観察する方法およびその装置において、観察対象の欠陥を確実に電子顕微鏡等の視野内に入れることができ、かつ、装置規模を小さくできる方法およびその装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for inspecting defects of a glass substrate in which the inspection sensitivity of the defects of the glass substrate can be improved more than before and time to inspect the defects can be shortened, and to provide a method of manufacturing the glass substrate using a defect inspection method or a defect inspection apparatus.例文帳に追加

従来よりもガラス基板の欠陥の検査感度を向上可能であり、かつ、欠陥を検査する時間を短縮できるガラス基板の欠陥検査方法及び欠陥検査装置、並びに、前記欠陥検査方法又は前記欠陥検査装置を用いたガラス基板の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for correcting defects of a photo mask for projection exposure or a nano imprint mold, in particular, that for correcting a white defect and a missing defect, to be put into practice as a production process for a photo mask with a configuration with commonly-used members without danger.例文帳に追加

本発明は投影露光用フォトマスクやナノインプリントモールドの欠陥修正方法、特に白欠陥、欠落欠陥の修正方法に関するもので、危険を伴わず、汎用的な部材の構成でフォトマスクの製造工程として実用出来るフォトマスク等の欠陥修正方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

For example, when an operating condition in the operation data is door lock switch ON despite the fact that a door lock switch must be OFF based on the signal data from the signal device 1, the possibility of any defect between the signal device 1 and the calculation apparatus 2 or the defect of the calculation apparatus 2 itself is considered to be high.例文帳に追加

例えば信号装置１からの信号データに基づけばドアロックスイッチはＯＦＦであるにもかからわず、作動データ中の作動条件がドアロックスイッチＯＮであれば、信号装置１と演算装置２との間での何らかの異常、演算装置２自体の異常の可能性が高いと考えられる。 - 特許庁

To provide a tracking servo circuit which can suppress the disturbance of a tracking error signal owing to defect as much as possible and can suppress the disturbance (a deviation or coming-off) of tracking owing to defect, and also to provide a highly reliably optical disk reproducing device which can adequately reproduced information with little tracking disturbance.例文帳に追加

ディフェクトによってトラッキングエラー信号が乱れることを極力抑え、ディフェクトによるトラッキングの乱れ（ずれや外れ）が発生するのを抑制することのできるトラッキングサーボ回路、更にはトラッキングの乱れが少なく、的確な情報再生が可能で且つ信頼性の高い光ディスク再生装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

A down-load accounting center 1 divides each pay content into a down-loaded content from which one or a plurality of parts are removed and a defect content containing the defect parts and down-loads the down-loaded content to the receiver 7 of each viewer through a broadcasting station center 3 to store the content in the storing section 75 of the receiver 7.例文帳に追加

ダウンロード課金センタ１は、各有料コンテンツについて、一又は複数の部分を欠損させたダウンロードコンテンツと、欠損部分の欠損コンテンツと、に分離し、放送局センタ３を介して、ダウンロードコンテンツを各視聴者の受信装置７に配信してコンテンツ格納部７５に蓄積記憶させる。 - 特許庁

Since abnormal yield can be found in the early stage and the factor of defect can be separated between a preceding step and a following step by conducting leak current test or function test of a semiconductor device, time loss incident to investigation of the cause of defect can be reduced and productivity can be enhanced.例文帳に追加

この構成によれば、インライン検査において、半導体装置のリーク電流検査または、機能検査をすることで、歩留異常を早期に発見でき、前工程と後工程との不良要因を分離することができ、これらにより不良原因究明に伴う時間ロスを低減できるため生産性を向上することができる。 - 特許庁

To use an existing reproduction system for detecting an error by using the reflected light of a recorded light reflected on a recording surface when optical information is recorded in the recording surface of an optical disk, and to determine whether the defect on the surface of the optical disk is a defect or not to cause the recording mistake of the optical information in one RUB.例文帳に追加

光ディスクの記録面に光情報を記録する時に記録面で反射された記録光の反射光を用いることでエラー検出に既存の再生系を利用可能にし、光ディスクの表面に付けられた欠陥が１ＲＵＢ内で光情報の記録ミスを生じさせる欠陥か否かを判定する。 - 特許庁

To provide an optical film in which there is a little film defect resulting from thermal deterioration at the time of molding processing, and which has outstanding transparency in view of subjects, such as a film defect in a prolonged production, contamination of a mold or a forming roll, deterioration of productivity, and decomposition of a resin in a manufacturing process.例文帳に追加

本発明は、長時間の生産におけるフィルム欠陥、金型や成形ロールの汚染、生産性の低下、製造過程で樹脂の分解等の課題に鑑みてなされたものであって、成型加工時の熱劣化に起因するフィルム欠陥が少なく、優れた透明性を有する光学用フィルムを提供する事を目的とする。 - 特許庁

This device is equipped with a control device 9 for measuring and storing beforehand the transmitted X-ray quantity by which the appearance defect including a crease or a flaw generated on a new bottle can vessel 2, comparing the stored transmitted X-ray quantity with the transmitted X-ray quantity measured actually, and inspecting the appearance defect based on the comparison result.例文帳に追加

ニューボトル缶容器２に発生したしわやキズを含む外観不良が想定される透過Ｘ線量を予め計測し記憶し、該記憶された透過Ｘ線量と実際に計測した透過Ｘ線量とを比較し、該比較された結果に基き前記外観不良を検査する制御装置９を備える。 - 特許庁

In such case, the buyer may claim for the termination of a contract (or for compensation) if the buyer cannot perform the purpose of the sales contract due to a defect in the subject item, for example, where, the buyer was not aware of such defect upon conclusion of the sales contract (hereinafter referred to as "liability for defects" under Article 570 of the Civil Code. 例文帳に追加

この場合、買主は、目的物の欠陥（瑕疵）により売買契約の目的が達せられない場合において、売買締結時に瑕疵について買主が知らなかったのであれば、契約解除（や損害賠償）の請求ができる（これを法律上「瑕疵担保責任」という（民法第５７０条））。 - 経済産業省

Subject to subsection (7), the Court may, on the application in the prescribed manner of any person aggrieved by the non-insertion in, or omission from, the register of any entry, or by any entry made in the register without sufficient cause, or by any entry wrongly remaining in the register, or by an error or defect in any entry in the register, make such order for making, expunging, or varying such entry as it may think fit. 例文帳に追加

(7)に従うことを条件として，裁判所は，登録簿に挿入されず又は記入の不作為若しくは十分な根拠なく登録簿に記入され又は登録簿に不正な記入が残され又は登録簿の記入に誤記若しくは欠陥があることにより不服と思う者の所定の方法による申請により，適切と認める記入を行い，記入を抹消し若しくは変更を命令することができる。 - 特許庁

The zigzag defect 15c is irradiated with light at a wavelength the alignment layer can absorb, so as to be heated up to a temperature equal to or higher than the phase transition temperature of an SmA phase, and then gradually cooled to a temperature equal to or lower than the phase transition temperature of the SmC phase.例文帳に追加

グザグ欠陥部１５ｃに対して配向膜が吸収可能な波長の光を照射してＳｍＡ相の相転移温度以上の温度まで加熱した後に、ＳｍＣ相の相転移温度以下の温度まで、徐々に降温させる。 - 特許庁

By forming an InP metamorphic buffer layer 2 having a thickness of 4 μm or above and a surface defect density of 10^8/cm^2 or less on the GaAs substrate 1, the InP-based semiconductor element 11 having a superior property and a high reliability can be formed on the GaAs substrate.例文帳に追加

GaAs基板１上にInPメタモルフィックバッファ層２を、厚さ４μｍ以上として、その表面の欠陥密度を１０^８／ｃｍ^２以下にすることによって、GaAs基板上に、すぐれた特性と信頼性を有する、InP系半導体素子１１を構成する - 特許庁

To prevent a display defect from being caused by parting of an electrode in a pixel when the electrode is provided with an opening or cut portion, or to suppress a decrease in contrast ratio due to a light leak caused by an alignment control structure provided in the pixel.例文帳に追加

画素内の電極に開口部または切欠き部を設けた場合における電極の分断に起因する表示欠陥の発生を防止、あるいは、画素内に設けた配向規制構造による光漏れに起因するコントラスト比の低下を抑制する。 - 特許庁

To provide a transparent bar soap composition without causing a defect such as damaging its transparency due to the white muddiness or the like resulting from a keeping state, and damaging usability due to the sodden or the like resulting from absorbing water upon its use.例文帳に追加

保管状態により白濁化等によりその透明性を損なったり、使用時における水分の吸収により、ふやける等により使用性を損なわせるような欠点が生じることのない透明固形石鹸組成物を提供することである。 - 特許庁

An electron beam having 100 eV or more and 1,000 eV or less of irradiation energy is scanned/irradiated to the wafer 18 having the pattern with the high step difference under the semiconductor manufacturing process, the defect is inspected quickly based on an image of a secondary electron generated therein.例文帳に追加

半導体製造工程中の高い段差のあるパターンを持つウエハ１８に１００ｅＶ以上１０００ｅＶ以下の照射エネルギ−の電子線を走査・照射し、発生した２次電子の画像から高速に欠陥検査を行う。 - 特許庁

To provide an surgical microscope capable of being simply and rapidly subjected to equilibration and especially avoiding the defect of an existing device like the attachment of an additional weight or the joining with an arm or the like only on the side of one of the opposed parts (side surfaces) of the microscope.例文帳に追加

平衡化を簡単かつ迅速に行うことができ、かつとりわけ付加重りの取り付けや顕微鏡の相対する部分（側面）の一方側のみでのアーム等との結合のような既知の装置の欠点を回避する手術顕微鏡。 - 特許庁

To obtain a defect-free welded body in a butt welding method by a friction stir welding method between metallic materials, between organic materials, or a metallic material and a organic material, different in physical characteristics or mechanical characteristics.例文帳に追加

物理的特性または機械的特性の異なる金属材料同士，有機系材料同士または金属材料と有機材料とを、摩擦攪拌接合方法によって突合せ接合する方法において、欠陥のない健全な接合部を得る。 - 特許庁

Thereby, when lead frames after a plated layer 2e is formed therein are transferred or stored in pile, a defect that the upper lead 2b contacts with the plated layer 2e of the lower lead 2b to form a scratch in the plated layer 2e can be reduced or prevented.例文帳に追加

これにより、メッキ層２ｅ形成後のリードフレームを重ねて搬送または保管した場合に、上側のリード２ｂが、下側のリード２ｂのメッキ層２ｅに接触しそのメッキ層２ｅに擦れ傷を形成してしまう不具合を低減または防止できる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which a defect or fault is not generated even if a ZnO semiconductor film is used and a ZnO film to which an n-type or p-type impurity is added is used for a source electrode and a drain electrode, and a manufacturing method thereof.例文帳に追加

ＺｎＯ半導体膜を用い、ソース電極及びドレイン電極にｎ型又はｐ型の不純物を添加したＺｎＯ膜を用いたときでも欠陥や不良が生じない半導体装置及びその作製方法を提供する。 - 特許庁

To provide a metal paste capable of being optimized and further enhance reduction of the layer by incorporating the paste with fatty acid or its salt as additives to supplement the limit or defect of pasting characteristics of metal powder.例文帳に追加

金属粉末のもつペースト特性としての限界あるいは欠点を補充するため、ペースト内に添加物として脂肪酸若しくはその塩を配合して金属ペーストの最適化を図り、更なる薄層化が可能な金属ペーストを提供すること。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus that radiates electromagnetic wave to an inspection object, acquires a transmission image or reflection image of an inspection object structure, and non-destructively inspects the inspection object body, structures of different transmittance or reflectivity, and an internal defect.例文帳に追加

検査体に電磁波を照射して、検査体構造の透過画像あるいは反射画像を得る検査装置に関し、検査体本体と透過率あるいは反射率が異なる構造や内部欠陥を非破壊に行なうための装置を提供する。 - 特許庁

To provide a capacitor discharge stud welding method causing no joining defect at a welding part obtained when carrying out welding by using aluminum or aluminum alloy at one of a base material and a stud bolt and using copper or copper alloy at the other.例文帳に追加

母材およびスタッドボルトのうちのいずれか一方にアルミニウムまたはアルミニウム合金を用い、他方に銅または銅合金を用いて溶接するときに、得られる溶接部の接合不良のないキャパシタディスチャージスタッド溶接方法を提供する。 - 特許庁

When an inspection result indicating that a chip has a defect in electrical characteristics is repeated ten times continuously, whether the cause is due to adhesion or attachment of an insulating substance on the probe head or not is judged by conducting a needle-point test using the test pattern T.例文帳に追加

チップの電気的特性が不良であるという検査結果が、１０回連続して得られた時には、その原因がプローブ先端への絶縁物の固着や付着にあるかどうかを、テストパターンＴを使用した針先テストを行って判断する。 - 特許庁

To obtain large relieving efficiency with small area by using a common fuse set for row/column common relieving for arbitrary one side of row relieving or column relieving, according to that the defect of row being more or the defects of column being more in a memory chip and to enhance relieving efficiency.例文帳に追加

メモリチップにロウ不良が多いかカラム救済が多いかに応じてロウ／カラム共通救済用フューズセットをロウ救済あるいはカラム救済の任意の一方に使用し、救済の効率を高め、少ない面積で大きな救済効率を得る。 - 特許庁

To provide a quality inspection device and a quality inspection method for detecting a failure, even when overlapping of a punched product is generated, or when a defect called as a removal residue or a scum residue is generated in the punched product.例文帳に追加

打ち抜き加工品の重なりが発生した場合や、打ち抜き加工品に除去残り或いはカス残りと呼ばれる欠陥が発生した場合でも、それらの不具合を検出することが可能な品質検査装置及び品質検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a projection type display device capable of achieving suppression of operation sound of a fan or removal of dust/dirt or the like which causes a defect of a picture appearing on a display screen without damage of cooling performance which results in short service life of an optical element part.例文帳に追加

ファンの動作音の抑制や表示画面上に現れる画面欠点となるゴミ・埃等の排除を、光学素子部の寿命を短くしてしまう冷却性能を損なうことなく達成できる投写型表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide a surface inspection apparatus making highly accurate surface defect inspections without being affected by white defects constantly generating prescribed luminance or greater or white defects having variable luminance and gradually increasing luminance.例文帳に追加

恒常的に所定以上の輝度を発生する白傷ばかりでなく、輝度が変動したり、徐々に輝度が大きくなったりする白傷の影響を受けることなく、精度の高い表面欠陥検査を行うことができるような表面検査装置を提供する。 - 特許庁

Also, the hydrogen absorption efficiency of the material 5 can be enhanced by producing a defect 4 in a part of carbon atoms 3 or carbon bonds of the carbonaceous material 5 before or at the time of giving the vibration.例文帳に追加

また、本発明では、上記振動を付与する前又は該付与と同時に、上記炭素系材料５の炭素原子３又は炭素間結合の一部に欠陥４を生じさせることによって、該材料５への水素吸収効率を向上させることができる。 - 特許庁

To provide a triangular corner, a holder for the triangular corner and a holder for a draining bag, for eliminating a defect of a conventional technology wherein garbage in the triangular corner is wetted with water and easily gets rotten or the triangular corner is easily movable or prevents a sink bottom surface from being used widely.例文帳に追加

シンク底面が広く使えない、三角コーナー内の生ごみが水で濡れて腐りやすい、あるいは移動しやすいといった従来技術の欠点を解消した三角コーナー、三角コーナーの保持具及び水切り袋の保持具を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a thin film magnetic head, with which patterning accuracy, a sputtering film deposition distribution and/or an etching distribution can be improved, a wafer suction defect in a vacuum chuck or electrostatic chuck can be prevented, and a yield can be improved.例文帳に追加

パターニング精度、スパッタ成膜分布及び／又はエッチング分布を向上させ、さらに、真空チャック又は静電チャックにおけるウエハの吸着不良を防止でき、歩留り改善を可能とする薄膜磁気ヘッドの製造方法を提供する。 - 特許庁

5. In the event of failure to fulfill or to cease the effects of one of the conditions set out in paragraphs 2 to 4 of this Article, the Service or the Court shall invite the owner of the patent application or of the patent to remedy such defect, subject to suspension of the effects of the rights deriving from the irregular act until such time as the defect is remedied, or to lapse of the right or rights concerned, where not remedied within a period of two months after the relevant invitation by the Service or the Court, without prejudice to the application of Articles 40, 69 and 70.例文帳に追加

(5) (2)から(4)までに規定された条件の1の効力を満たすこと又は停止することができなかった場合は，庁又は裁判所は，特許出願人又は特許権者に対してかかる欠陥を是正するように指令しなければならない。ただし，これは，当該欠陥が是正されるときまで当該変則的行動から生じた権利の効力を停止させることを条件とし，又は庁若しくは裁判所の関係指令後2月以内に是正されない場合は，第40条，第69条，及び第70条の適用を損なわずに，関係権利を消滅させることを条件とする。 - 特許庁

The compound represented by general formula (I) or salts thereof exhibits excellent prophylactic and therapeutic effect to keratoconjunctive disorder or the like developing with aging, as an agent in the pharmacological test using SAMP 10 and so they are useful as a prophylactic or therapeutic agent for keratoconjunctive disorders such as dry eye, superficial punctate keratopathy, or keratoconjunctive disorder such as corneal epithelial defect.例文帳に追加

一般式(I)で表される化合物又はその塩は、ＳＡＭＰ１０を用いた薬理試験において、加齢に伴って発症する角膜障害等に対して優れた予防及び改善効果を発揮するので、ドライアイ、点状表層角膜症、角膜上皮欠損などの角結膜障害の予防又は治療剤として有用である。 - 特許庁

(1) The Court may, on the application of any aggrieved person, order the rectification of the Register by directing - (a) the making of any entry wrongly omitted from the Register; (b) the expunging or amendment of any entry wrongly made in or remaining in the Register; or (c) the correcting of any error or defect in the Register.例文帳に追加

(1)裁判所は，権利を害された者からの申請に基づき，次に掲げる事項を指示することにより，登録簿の更正を命じることができる。 (a)誤って登録簿から脱落している記入を行うこと (b)誤って登録簿に行われた又は残存している記入を抹消又は修正すること，又は (c)登録簿における誤り又は欠陥を訂正すること - 特許庁

To provide a pipe joint which has excellent workability without causing a defect, even though a pipe is obliquely inserted, a pipe which is obliquely cut off is inserted or a pipe which his flatly cut off is inserted.例文帳に追加

管を斜めに挿入しても、あるいは斜めに切断した管であっても、あるいは扁平に切断した管であっても不具合が発生せず、施工性の良い管継手を提供するものである。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus capable of informing a user of the defect of a contact part or the necessity of maintenance care by monitoring the change of the value of contact resistance between a sliding ring and a brush electrode.例文帳に追加

摺動リングとブラシ電極との接触抵抗の値の変化を監視することにより、接触部分の不良またはメンテナンスの必要性を報知することができる画像形成装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an optical wireless communication system capable of extending the lifetime of a light emitting element, realizing reduction in the power consumption, and finding out a defect of or deterioration in the light emitting element so as to prevent occurrence of communication errors.例文帳に追加

発光素子の長寿命化及び消費電力の低減を実現することができると共に、発光素子の不良や劣化を発見することができ、通信エラーを未然に防ぐことができる。 - 特許庁

In a first process, the treatment face S2 of a mechanically ground wafer W is etched by nitrohydrofluorid acid solution so that any grinding mark or crystal defect generated on the treatment face S2 can be removed.例文帳に追加

第１の工程において、機械的研磨されたウエハＷの処理面Ｓ２をフッ硝酸溶液でエッチングすることにより、処理面Ｓ２に生じた研磨痕や結晶欠陥が除去される。 - 特許庁

To prevent a defect in electrostatic charging and the formation of a defective image by preventing variation in load on the rotary motion of a photoreceptor drum or stabilizing conditions under which a process means abuts against the photoreceptor drum.例文帳に追加

感光体ドラムの回転運動への負荷変動の発生を防止し、又は感光体ドラムへのプロセス手段の当接条件安定化を実現して帯電不良や不良画像を発生を防止する。 - 特許庁

To provide a polishing technology that flattens fine irregularities present on the side of a silicon block or a silicon stack in a short period of time for reducing a defect in cracking of a silicon wafer and for improving an yield thereof.例文帳に追加

短時間でシリコンブロックまたはシリコンスタックの側面に存在する微少な凹凸を平坦化する研磨技術を提供し、シリコンウエハの割れ不良を低減し、歩留りを改善することを目的とする。 - 特許庁

To obtain an ultrasonic inspection device for accurately and easily detecting the defect and state of a pipe or a welded part regardless of, for example, eccentricity and biased thickness in the inner diameter of the pipe.例文帳に追加

たとえ管の内径に偏心や偏肉があっても、管またはその溶接部の欠陥や状態を高い精度で簡単に検出することができる超音波検査装置を提供することである。 - 特許庁