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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > DEFECT ORの意味・解説 > DEFECT ORに関連した英語例文

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DEFECT ORの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 2817



例文

An image defect of the image to be discriminated or the difference on the image between the reference image and the image to be discriminated is extracted as the difference between the image to be discriminated and the reference image by the inverse Fourier transform image.例文帳に追加

逆フーリエ変換像により、被識別画像の画像欠陥または参照画像と被識別画像との画像上の差異を、被識別画像と参照画像の差分として抽出する。 - 特許庁

To provide an image forming device equipped with a developing unit structure capable of respectively deciding the presence or absence of the image defect with regard to a shipping unit one by one without damaging a developing unit.例文帳に追加

現像ユニットを破壊すること無しに出荷するユニット一点一点に対して画像不良の有無を判定することが可能な現像ユニット構造を有する画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To provide a carrier for electrostatic charge image development capable of reducing a defect in picture quality caused by deposition of an isolated resin powder included in a resin coated carrier onto a charging member or the like.例文帳に追加

樹脂被覆キャリア中に含まれる遊離樹脂粉が帯電部材等へ付着することにより発生する画質欠陥を低減することができる静電荷像現像用キャリアを提供する。 - 特許庁

To provide a glide head that reduces imbalance in flying level between left and right rails or pads, and has high detection accuracy of a projection defect.例文帳に追加

突起との接触で発生する衝撃波が左右のレールからピエゾ素子に到達するまでに減衰し、左右のレールの浮上量が同じであったとしてもその出力が異なり、検出精度が低い。 - 特許庁

例文

To provide a surface inspecting method capable of detecting, with high precision, fine unevenness due to a defect, foreign matter, etc., present on a surface of a silicon wafer or a surface of an SOI wafer.例文帳に追加

シリコンウェーハの表面、またはSOIウェーハの表面に存在する欠陥や異物等に起因する微細な凹凸を高精度に検出することが可能な表面検査方法を提供する。 - 特許庁


例文

To provide a reader/writer for non-contact IC card that there is no read error or mechanical operation defect even in a severe environment, a structure is simplified and no machine trouble occurs even after long-term use.例文帳に追加

過酷な環境下でも読み取りエラーや機械的な作動不良がなく、構造が簡単で長期間にわたる使用にも機械トラブルが発生しない無接点ICカードのリーダ・ライタを提供せんとする。 - 特許庁

After completing charging, charges accumulated in the pixel capacitors included in the all pixel forming parts in the display unit are sequentially read out, and whether a pixel defect is present or not is discriminated based on the above differential voltage.例文帳に追加

充電終了後、表示部内のすべての画素形成部に含まれる画素容量に蓄積された電荷を順次に読み出し、上述の差異電圧に基づいて、画素欠陥の有無を判別する。 - 特許庁

To obtain a processed product of a hot dip plated steel sheet, which has a sound hot dip plated layer free from a processing defect, such as a crack or peeling, by enhancing the ductility of the hot dip plated layer to a value nearly equal to the ductility of a ground steel.例文帳に追加

溶融めっき層の延性を増加させて下地鋼に近づけ、クラック,剥離等の加工欠陥のない健全な溶融めっき層を有する溶融めっき鋼板の加工製品を得る。 - 特許庁

To provide an abnormality detection device, server, system and method capable of suppressing data volume to tally and easily identifying which unit has a defect, a fixed station or a receiver unit.例文帳に追加

集計するデータの量を抑制しつつ、固定局と受信装置の何れに不具合があるのかを容易に特定可能な異常検知装置、サーバ、システムおよび方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

例文

To provide a correction method of color filter for liquid crystal display device capable of correcting a black defect of pillar type spacer and/or orientation control protrusion without damaging a transparent conductive film.例文帳に追加

透明導電膜を損傷させることなく柱状スペーサー及び/又は配向制御用突起の黒欠陥を修正することのできる液晶表示装置用カラーフィルタの修正方法を提供すること。 - 特許庁

例文

To provide a halftone phase shift mask having no black defect in a light shielding layer or in a phase shift layer and no decrease in the transmittance due to gallium stain, and no change in the phase difference due to a decrease in the thickness of the phase shift layer.例文帳に追加

遮光層及び位相シフト層の黒欠陥のない、ガリウムステインによる透過率の低下、位相シフト層の厚み低下による位相差の変化のないハーフトーン型位相シフトマスクの製造方法。 - 特許庁

To provide a handle type tool capable of conveniently take out a tool head and speedily changing itself, simultaneously having favorable elastic fitting capacity and having no defect of dropping by impact or oscillation.例文帳に追加

ツールヘッドの取出しが便利で迅速に交換でき、それと同時に良好な弾性嵌め止め能力があり、衝撃または震動によって脱落する欠点のない把手型工具を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of an inkjet recording material having glossiness comparable to a conventional silver salt photograph with no surface defect such as pits or losses and which can be operated for a long period of time.例文帳に追加

従来の銀塩写真に匹敵する光沢を有し、ピットやトラレ等の表面欠陥が無く、長時間での連続操業も可能なインクジェット記録材料の製造方法を提供すること。 - 特許庁

To detect a defect in each display region with high accuracy, in the case that an inspection pattern simultaneously having at least two kinds or more display regions with mutually different gray scale levels exists on a transmissive display panel.例文帳に追加

透過型表示パネルに、少なくとも2種類以上の異なる階調の表示領域を同時に有する検査パターンを有する場合において、表示領域毎の欠陥を高精度に検出する。 - 特許庁

To provide a moving handrail defect detector of passenger conveyer capable of reducing measurement errors of positions or speeds of respective parts of the moving handrail even when aging deterioration occurs on the surface of the moving handrail.例文帳に追加

移動手摺の表面に経年劣化を生じている場合でも、移動手摺の各部の位置あるいは速度の計測誤差を少なくすることができる乗客コンベアの移動手摺探傷装置の提供。 - 特許庁

To prevent degradation of display quality due to a defect area or a non-effective area at the screen end, when an image which is converted from 2D to 3D by using a principle of monocular eye stereoscopy is displayed.例文帳に追加

単眼立体視の原理を利用して2Dから3Dに変換された画像を表示する際に、画面端部での欠損領域や無効領域に起因する表示品位の低下を抑止する。 - 特許庁

To provide a structure in which an excellent display performance is secured by controlling generation of a point defect or the like and a long term reliability can be improved in a display device using an organic light emitting element.例文帳に追加

有機発光素子を用いた表示装置において、点欠陥等の発生を抑えた良好な表示性能を確保し、かつ長期信頼性を高めることができる構造を提案する。 - 特許庁

In determining steps a7, a8, a11, a13, it is determined which one of the carved character or the defect the object to be determined is based on the deviation values of the interval of the maximum positions and the total number of the bladder grooves.例文帳に追加

判定工程a7,a8,a11,a13では、極大位置の間隔の偏差値とブラダーグルーブの合計数とに基づいて、判別対象が刻印文字および欠陥のうちのいずれであるかの判定を行う。 - 特許庁

Dirt on the concrete surface is reflected by every image data therefore does not appear on the difference image due to cancellation; however, the shadow of the defect 3a appears on the difference image due to generation or non-generation.例文帳に追加

コンクリート表面の汚れは、どの画像データにも映っているので、差分画像では相殺されて現れないが、欠陥部分3aの影は、出来たり出来なかったりするので、差分画像に現れる。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for producing a food storing container, wherein a product having a defect at a flange (an annulus) is not produced even when a support member cannot be brought into close contact with a mold or cannot be arranged near the mold.例文帳に追加

支持部材を金型に密着若しくは近接配置できない場合でも、フランジ部(鍔部)に不良品の発生しない食品収納容器の製造方法及び製造装置を提供する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic probe device, capable of detecting a small defect 5 existing in a mechanical part or a test piece 4 which is a material for the mechanical part, by enhancing a sensitivity of the ultrasonic probe 1.例文帳に追加

超音波探触子1を高感度化することにより、機械部品や機械部品用の素材である試験片4に存在する小さな欠陥5を検出できる超音波探触子を提供する。 - 特許庁

To solve a problem that a semiconductor device in which the minimum wiring width is 0.1 μm or less is particularly required to control generation of voids because the generated voids will cause a serious defect in some cases.例文帳に追加

最小配線幅が0.1μm以下の半導体装置においては、ボイドの発生が重大な欠陥を引き起こす場合もあるため、それを抑制することが特に強く求められている。 - 特許庁

To provide an electroformed part which does not cause damage, deformation or the like in electroforming dies, and has high dimension accuracy, little defect of shape, and a reliable fine shape.例文帳に追加

本発明は、電鋳元型の損傷、変形などを無くし、寸法精度が高く、形状不良の少ない、信頼性の高い微細な形状を有する電鋳部品を提供することを目的とする。 - 特許庁

To not only detect a manufacture defect (failure) of an integrated circuit but also make specifiable its generation position, even in the case where an output from the scan path is compressed and stored or where the number of scan paths is large.例文帳に追加

スキャンパスからの出力が圧縮格納される場合や、スキャンパス数が多い場合であっても、集積回路の製造不良(故障)を検出するだけでなく、その発生位置の特定を可能にする。 - 特許庁

To provide a toner which can be fixed at low temperature, which has excellent offset resistance, which stably gives an image with high image quality even when used under high humidity or low humidity conditions, and which induces no image defect over time.例文帳に追加

低温定着が可能であり、耐オフセット性に優れ、高湿下及び低湿下で使用しても高い画像品質が安定して得られ、経時において画像欠陥を生じさせないトナーを提供する。 - 特許庁

If the trial write area has a defect, the defective region (or information reproduced from the defective region) is avoided in the OPC operation to eliminate the influence of the defective part.例文帳に追加

また、試し書き領域に欠陥がある場合は、OPC動作においてその欠陥領域(又は欠陥領域から再生された情報)が回避されるようにして、欠陥部分の影響が出ないようにする。 - 特許庁

To provide an inexpensive defect-inspecting device of a bottle mouth with simple structure that can be easily installed at, moved to, or removed from an already installed line and can be installed at a narrow space.例文帳に追加

既設のラインへの設置、移設や撤去が容易であり、従来よりも狭いスペースに設置することができ、構造が従来よりも簡単で安価な壜口部の欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To prevent the occurrence of cracking due to shrinkage at 1,000°C or higher, i.e. a defect in producing ceramic products, by utilizing the functional characteristics of kieselguhr having macropores with a characteristic shape as a natural resource.例文帳に追加

天然資源として特徴ある形状のマクロ気孔を持つ珪藻土の機能的特徴を生かし、セラミックス製品を製造するための欠点であった1000℃以上の収縮キレツを改善する。 - 特許庁

To provide an art for correcting linear defects at a high speed based on the positional information about the linear defect of an imaging element, even if thinning-reading of a through image or the like.例文帳に追加

撮像素子における線状欠陥の位置情報に基づいて、スルー画等の間引き読み出しする場合においても、線状欠陥を高速に補正処理できる技術を提供することにある。 - 特許庁

Because this method is free of generation of a large electric discharge during the sandblasting process, there is no risk of producing any defect in the electrode or barrier, and the patterning of the barrier can be conducted while the quality of the base board is well maintained.例文帳に追加

サンドブラスト加工中に大きな放電を起こすことがないことから、電極や障壁に欠陥を生じることなく、基板品質を良好に保って障壁のパターニングを行うことができる。 - 特許庁

To provide an image forming device capable of preventing an image defect such as irregularity in an image or the uneven gradation of the image from occurring by correcting the lowering of the sensitivity of the surface of a photoreceptor by an electrifying device.例文帳に追加

帯電装置による感光体表面の感度低下を補正して、画像の乱れ、画像の濃淡ムラなどの画像不具合が発生するのを防止する画像形成装置を提供する。 - 特許庁

Dislocation of the defective simulated image 17 based on the defect data 15 from the reference simulated image 18 based on the reference data 16 is checked and whether it is necessary to modify the defective part or not is judged.例文帳に追加

欠陥データ15に基づく欠陥シミュレーション像17の、参照データ16に基づく参照シミュレーション像18からのずれを調べ、欠陥に対して修正を施すべきか否かを判定する。 - 特許庁

In other words, only for a signal used for PLL processing performed to generate a channel clock or phase control information by an ITR system, the reproducing information signal having the defect signal component removed is used.例文帳に追加

つまりチャネルクロック生成やITR方式での位相制御情報生成のためのPLL処理に用いる信号のみに、ディフェクト信号成分が除去された再生情報信号を用いる。 - 特許庁

To provide an electronic apparatus capable of being easily operated even if the display function is deteriorated or lost due to a defect such as failure of a display device, and to provide a control method thereof.例文帳に追加

表示装置の故障等の不良によって表示機能が低下し、又は失われた場合であっても、操作を容易に行うことができる電子機器及びその制御方法を提供する。 - 特許庁

Thus, any defect due to a stress in the case of channel dope can be prevented from being generated in a gate insulating layer 2y, and such a failure as current leak or insulating destruction can be prevented from being generated in a field effect transistor 10y.例文帳に追加

このため、ゲート絶縁層2yには、チャネルドープの際のストレスに起因する欠陥が発生せず、電界効果型トランジスタ10yでは電流リークや絶縁破壊などの不具合が発生しない。 - 特許庁

A standard value (th2) higher than the standard value (th1) is used at the same time and the defect (volume resistivity or the excess time constant) of a material of the coating object is detected as the configuration.例文帳に追加

基準値th1より高い値である基準値th2を併用し、これにより塗装対象の材料不良(体積抵抗率ないし時定数の過大)を検出する構成としてもよい。 - 特許庁

To provide a method of controlling flow of molten steel in a casting mold, a method by which continuous casting is achieved without causing internal defect or surface grade deterioration of a cast slab, even in casting under high throughput conditions.例文帳に追加

高スループット条件で鋳造を行う場合にも、鋳片の内部欠陥や表面品位を招くことなく連続鋳造が可能な、溶鋼の鋳型内流動制御方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for inspecting a liquid crystal panel having no polarizing plate, by which foreign matter depositing on a polarizing plate or a diffusing plate of an inspection device can be distinguished from a defect of a liquid crystal panel.例文帳に追加

偏光板の無い液晶パネルを検査する方法において、検査装置の偏光板や拡散板に付着した異物と液晶パネルの欠陥とを識別し得る検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a nonvolatile memory device in which the occurrence of a defect in data writing is suppressed and whose area can be decreased, or a semiconductor device including the nonvolatile memory device.例文帳に追加

データの書き込み不良を抑えつつ、面積を小さく抑えることができる不揮発性の記憶装置、または当該不揮発性の記憶装置を用いた半導体装置の提供を目的の一とする。 - 特許庁

To provide a method for modifying a silicon carbide single crystal substrate, by which the specific dislocation defect such as basal plane dislocation or spiral dislocation is reduced, and to provide an apparatus for modifying a silicon carbide single crystal substrate.例文帳に追加

基底面転位、螺旋転位などの特定の転位欠陥を低減させることができる炭化ケイ素単結晶基板の改質方法、及び炭化ケイ素単結晶基板の改質装置を提供する。 - 特許庁

A semiconductor inspecting apparatus contacts two probes with wirings 3 or pads 4 disposed at both sides of a wiring system having the defect position 8, grounds one of the probes 2, and connects the other probe to an amplifier 1.例文帳に追加

欠陥箇所8を有する配線系の両側にある配線3またはパッド4に2本のプローブ2を接触させ、プローブ2のうちの1本は接地させ、他の一本は増幅器7と接続する。 - 特許庁

To prevent the elution of any impurities, such as metal ion from voids or the development of rust, even in the case the fine voids, such as cast defect, exist on the surface of a casting part.例文帳に追加

鋳造部品の表面に鋳造欠陥等の微細な空孔があっても、この空孔から金属イオン等の何らかの不純物が溶出したり、または発錆したりすることがないようにする。 - 特許庁

To efficiently separate a signal from a pattern from a signal from a defect, in a technique for inspecting a micro circuit pattern using an image formed by irradiation with a white light, a laser beam or an electron beam.例文帳に追加

白色光・レーザ光・あるいは電子線を照射して形成された画像を用いて微細な回路パターンを検査する技術において、パターンからの信号と欠陥からの信号を効率的に分離する。 - 特許庁

To provide a wafer container which hardly generates breakage and storage defect even if external force is applied, and realizes easy handling and management even if a semiconductor wafer or the like is stored one by one.例文帳に追加

外力が加わっても、破損や収納不良が発生しにくく、半導体ウエハ等を一枚づつ収納しても、取扱や管理を容易に行うことが出来るウエハ収納容器を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a semiconductor electrostatic capacity sensor by which the non-defect rate hardly lowers due to uneven distance or projections in spacing even if the distance between a fixed electrode and a movable electrode is made small.例文帳に追加

固定電極と可動電極との間隔を狭くしても、間隔寸法むらや間隔内突起で良品率が低下しない半導体式静電容量型センサの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a photosensitive transfer sheet laminate less liable to interlayer peeling within a photosensitive layer and causing no peeling defect in laminating on a copper-clad substrate or the like, and a method for manufacturing the laminate.例文帳に追加

感光層の内部で層間剥離が生じ難く、銅張り基板などへのラミネート時に剥離欠陥が生じることのない感光性転写シート積層体およびその製造方法の提供。 - 特許庁

To provide an image processing apparatus capable of preventing the lowering of the speed of readout from an HDD due to a rereading operation even in case of a defect in access to the HDD due to vibration or deterioration with time.例文帳に追加

振動や経時変化によりHDDへのアクセス不良が発生しても、再読み込み動作によるHDDからの読み出し速度の低下を抑えることができる画像処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor substrate that forms an epitaxial layer of a high quality having a low defect density on a silicon layer or a silicon substrate by using a small number of steps at a low cost.例文帳に追加

シリコン層又はシリコン基板上に、欠陥密度が低く高品質なエピタキシャル層を、少ない工程で低コストに形成することが可能な半導体基板の製造方法を提供する。 - 特許庁

The computer processes the repair order and semi-automatically or automatically transmits mail denoting the customer information of the customer and defect information to the mobile phone of a person in charge of repair via the Internet.例文帳に追加

コンピュータはその修理オーダーを処理し、当該顧客の顧客情報および不具合情報をインターネットを介して修理担当者の携帯電話機に半自動または自動的にメール送信する。 - 特許庁

例文

To provide a manufacturing method for a substrate in which patterns can be formed on both surfaces of a substrate without generating a defect in a surface of the substrate or a pattern such as a conductive film formed there.例文帳に追加

基板の表面又はそこに形成された導電膜等のパターンに不良を発生せることなくその基板の両面にパターン形成を行うことができる基板の製造方法を提供する。 - 特許庁




  
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