「DEFECT OR」に関連した英語例文の一覧と使い方(29ページ目) - Weblio英語例文検索

Since the catalyst can be determined to be degraded even if it is just before complete degradation or failure, the potential secondary defect of the catalyst can be detected.例文帳に追加

触媒が完全劣化や故障に至る手前の段階であっても、そのことが劣化進行ありということで判定でき、触媒の潜在的な二次異常を検出することができる。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a polyester film of which the defect such as a scratch, a stickiness stain, a crater-shaped spot or the like to be generated in a stretching process is eliminated.例文帳に追加

本発明は、延伸工程で発生するスリ傷、粘着汚れ、クレータ状の斑点などの欠点が解消されたポリエステルフィルムの製造方法を提供せんとするものである。 - 特許庁

To provide a pinhole inspection device capable of detecting highly accurately a pinhole defect generated when manufacturing a folding sheet for folding granule or the like in a high temperature state.例文帳に追加

高温な状況下において粒体などを分包する分包シートを製造する際などに生じるピンホール欠陥を高精度で検出することができるピンホール検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a structure for a display device using an organic light- emitting element with which a superb display performance is secured with generation of point defect or the like suppressed and a long-term reliability is enhanced.例文帳に追加

有機発光素子を用いた表示装置において、点欠陥等の発生を抑えた良好な表示性能を確保し、かつ長期信頼性を高めることができる構造を提案する。 - 特許庁

To provide an information management method that monitors a system by remote management where an operator uses a mobile terminal to surely and quickly receive the system information and can efficiently cope with a defect or the like.例文帳に追加

遠隔管理でシステムの監視を行うとき、作業員は、携帯端末を用いて、システムの情報を確実にかつ迅速に受信し、障害などの対処を効率よく行う。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus which does not cause a transfer defect such as transfer deficiency or transfer unevenness by discharge whatever state a recording medium is in.例文帳に追加

本発明の課題は、記録媒体がどのような状態であっても、転写不足や放電によるムラといった転写不良を起こさない画像形成装置を提供することにある。 - 特許庁

Scattered light caused by a crystal defect, existing on the surface layer of a semiconductor wafer, is detected by an image pickup device by obliquely injecting a laser beam having energy equivalent to a band gap or larger.例文帳に追加

半導体ウェーハにバンドギャップ以上のエネルギを持つレーザ光を斜めから入射し、半導体ウェーハ表層に存在する結晶欠陥の散乱光を撮像装置にて検出する。 - 特許庁

To brake an actuator provided in the optical pickup of an optical disc drive at the time of defect, accessing, stoppage or the like, using relatively simple arrangement and control system.例文帳に追加

光ディスク装置などの光ピックアップに設けられるアクチュエータを、比較的簡単な装置構成及び制御方式を用いて、ディフェクト時、アクセス時、停止状態時などに制動する。 - 特許庁

To provide a magnetic flaw detection method, capable of satisfactorily detecting a flaw with S/N ratio, even if an electrical noise is generated or when something other than the defect exerting an influence on a leakage flux exists.例文帳に追加

電気的ノイズが発生したり、漏洩磁束に影響を与える欠陥以外のものが存在する場合にも、Ｓ／Ｎ比良く欠陥を検出できる磁気探傷方法を提供する。 - 特許庁

To provide a die cast machine member which shows a high anti-weld loss to a molten metal of aluminum or magnesium and also outstanding adhesive properties to a matrix and further, is almost free from a defect in a surface coating layer.例文帳に追加

アルミニウムやマグシウムの溶湯に対する耐溶損性に優れるとともに、母材に対する密着性に優れ、表面被覆層に欠陥が生じにくいダイカストマシン用部材を提供する。 - 特許庁

To provide an optical disk drive achieving reliable alternative processing by writing the defect management information only in the area high in recording quality having a predetermined level or higher.例文帳に追加

欠陥管理情報を記録品位が所定値以上の高品位な候補領域にのみ書き込むことで信頼性の高い代替処理を可能とする光ディスク装置を提供する。 - 特許庁

A defective pixel address storage unit 320 stores the position information of a defective pixel and pixel defect information indicating whether the defective pixel is included in a defective pixel group or not, while making them associate with each other.例文帳に追加

欠陥画素アドレス記憶部３２０には欠陥画素の位置情報とこの欠陥画素が欠陥画素群に含まれるか否かの画素欠陥情報とを関連付けて記憶する。 - 特許庁

In a control block 31, the presence or absence of a defect of the inspecting pattern is detected based on the comparison result of the data for pattern inspection with preset pattern reference data.例文帳に追加

そして、制御ブロック３１にて、予め設定されているパターン基準データと前記パターン検査用データとの比較結果に基づき前記被検査パターンの欠陥の有無を検出する。 - 特許庁

The obtained heat image is obtained to have properties so that the heat image may be used to calibrate phase shift from a given stack layer, or that the heat image may be used to specify a defect within a stacked die.例文帳に追加

得られた熱画像は、既知のスタックレイヤからの位相シフトを較正するのに用いられるよう、またはスタックダイ中の欠陥を特定するのに用いられるよう、その特性が得られる。 - 特許庁

To provide a graphite mold for resin molding which is so excellent in moldability as to hardly cause a defect such as a weld, a short or a burn in a molded article and which has a short cycle time and is lightweight and inexpensive in the cost.例文帳に追加

成形品にウェルド、ショート、焼け等の欠陥の生じにくい成形性に優れ、サイクル時間が短く、軽量でコストの安い樹脂成形用黒鉛型を提供する。 - 特許庁

The control part is provided with a decision means which discriminates a defect in connection of the cable from communication abnormality using a communication line or voltage variation of a ground line provided to the cable.例文帳に追加

コントロール部にはケーブルの接続不良を、通信線を利用した通信異常か、ケーブルに設けられた接地線の電圧変動によって判別する判別手段が設けられる。 - 特許庁

Thus the strain generated between the layer 14 and the layer 15 is alleviated by a grating constant difference and a thermal expansion coefficient difference, and the crystal defect such as dislocation or the like is suppressed.例文帳に追加

これにより、格子定数差および熱膨張係数差によりクラッド層１４とガイド層１５との間に生じる歪みが緩和され、転位などの結晶欠陥の発生が抑制される。 - 特許庁

If the exhibitor had known of any dent or stain affecting the product but had not mentioned such to the bidders, such special clause is not valid and the exhibitor may not be discharged from liability for defect. 例文帳に追加

出品者自ら知っていたキズや汚れ等につき十分に説明していなかった場合には、このような特約は有効ではなく、担保責任を免れることができない。 - 経済産業省

Where a program, as object of a contract, does not have the usually expected functions or quality judged by the standard based on trade practice, it will be considered that the program has a defect. 例文帳に追加

目的物たるプログラムが、取引の通念に照らし合理的に期待される通常有すべき機能・品質を有していない場合は、原則として、瑕疵に該当すると判断される。 - 経済産業省

To discover properly an irregularity defect or the like generated on the surface of an inspection object having roughness in the degree of visible light, and to apply the method suitably to a manufacture line of a steel plate.例文帳に追加

可視光程度の粗度を有する被検査体の表面に生じた凹凸欠陥等を適切に発見することができ、鋼板の製造ライン上において好適に適用すること。 - 特許庁

When there is an abnormality, according to the conditions of abnormality, a cause such as soldering defect in the related input or output terminal is estimated and abnormality is removed by correction.例文帳に追加

異常があるときには、異常の症状に応じて、関連する入力端子または出力端子のはんだ付け不良などの原因が推定され、修整して異常を取除く。 - 特許庁

As a result, when a failure or a defect occurs for instance, by tracing back the history, the cause is easily determined and thus, the game machine is easily managed.例文帳に追加

その結果、例えば、不具合や不良が生じた場合に、かかる履歴を遡及することにより、その原因を容易に判定することができるので、遊技機の管理を容易に行い得る。 - 特許庁

To provide an electro-optical device in which lattice defect, or the like, of a semiconductor layer 220 can be repaired while enhancing adhesion of the semiconductor layer 220 and a supporting substrate 500.例文帳に追加

半導体層２２０の格子欠陥等を修復するとともに、半導体層２２０と支持基板５００との密着性を向上させることが可能な、電気光学装置を提供する。 - 特許庁

A surface inspection method for a semiconductor wafer is provided, including: irradiating the surface of a semiconductor wafer as an inspection object with inspection light from a light source unit; detecting scattered light from an irradiation region irradiated with the inspection light of the wafer surface; and evaluating the presence or absence of a defect and/or a degree of the defect on the wafer surface based on the detected scattered light.例文帳に追加

検査対象である半導体ウェーハの表面に向かって光源部から検査光を照射すること、ウェーハ表面の検査光が照射された照射領域からの散乱光を検出すること、ならびに、検出された散乱光に基づきウェーハ表面の欠陥の有無および／またはその程度を評価すること、を含む半導体ウェーハの表面検査方法。 - 特許庁

This contiguous data area performs setting across either a different file recording region that is already recorded on the information storage medium or the defect region on the information storage medium, and sets an extent, as an information recording place, for a region which is divided by the different file recording region or the defect region on the information storage medium.例文帳に追加

このコンティギュアスデータエリアは、情報記憶媒体上に既に記録されている別のファイル記録領域または情報記憶媒体上の欠陥領域のいずれか一方をまたがって設定し、別のファイル記録領域または情報記憶媒体上の欠陥領域により分割される領域に対して情報記録場所としてのエクステント（ｅｘｔｅｎｔ）を設定している。 - 特許庁

After performing crystal defect repair processing or crystal defect removal processing of the single crystal silicon layer, using stock gas at least containing silicon based gas, the stock gas is activated by plasma under the atmospheric pressure or near the atmospheric pressure to cause single crystal silicon layer epitaxial growth and a second impurity silicon layer is formed on the epitaxial grown surface side.例文帳に追加

単結晶シリコン層の結晶欠陥修復処理又は結晶欠陥除去処理を行った後、シラン系ガスを少なくとも含む原料ガスを用い、大気圧或いは大気圧近傍下で生成したプラズマにより原料ガスを活性化させ、単結晶シリコン層をエピタキシャル成長させ、該エピタキシャル成長させた表面側に第２不純物シリコン層を形成する。 - 特許庁

An elastic wave having an optional wavelength is input onto a surface of the concrete structure, and a thickness of a concrete and the internal defect are separately determined to conduct the measurement, using a fact that a generation time of a characteristic frequency generated by multi-reflection of the wave between a bottom of the concrete or the internal defect and a measuring surface is periodical or non-periodical.例文帳に追加

コンクリート構造物の表面に任意の波長を持つ弾性波を入力し、この波動がコンクリートの底面あるいは内部欠陥と測定表面との間で多重反射波することによって生じる特性周波数の発生時刻が周期的あるいは非周期的であることにより、コンクリートの厚さ及び内部欠陥を分離判別して測定する。 - 特許庁

To easily and surely detect a coating defect of an insulation film coated on an inner circumferential side face of a pipe or tubular container, without using an electrolyte requiring complicated and troublesome work, and a conductive brush or the like having the tendency that the detection of the coating defect is unsure, and having the possibility of damaging a surface of the inside of an inspection object.例文帳に追加

煩雑な作業が必要となる電解質や被覆欠陥の検知が不確実になりやすくかつ検査対象の内部の表面を損傷するおそれのある導電性ブラシなどを用いることなく、管または管状の容器の内周側面にコーティングされた絶縁膜の被覆欠陥を簡易かつ確実に検知する検査装置および検査方法を提供する。 - 特許庁

(2) Any person aggrieved by the absence or omission from the Register of any entry, or by any entry made in the Register without sufficient cause, or by any entry wrongly remaining on the Register, or by any error or defect in any entry in the Register, may apply in the prescribed manner to the High Court Division or to the Registrar, and the Tribunal may make such order for making, expunging or varying the entry as it may think fit. 例文帳に追加

(2)登録原簿からの何らかの記載の欠落又は脱落、又は十分な理由なく行われた記載、又は登録簿に不当に残っている記載、又は登録簿の記載における何らかの過誤又は瑕疵に対する不服人は、所定の方式で高等裁判所又は登録官に申請することができ、審判機関は適正と考えるとおり、当該記載をなし、削除し又は変更する命令を発することができる。 - 特許庁

Any person aggrieved by the absence or omission from the register of any entry, or by any entry made in the register without sufficient cause, or by any entry wrongly remaining on the register, or by any error or defect in any entry in the register, may apply in the prescribed manner to the Appellate Board or to the Registrar, and the tribunal may make such order for making, expunging or varying the entry as it may think fit. 例文帳に追加

登録簿における登録事項の脱落若しくは省略，十分な理由なしにされた記載，誤って存続されている記載，登録簿における記載事項の誤記若しくは不備による被害者は，所定の方法により審判部又は登録官に対して，申請をすることができる。審査審判廷は，適当と認めるところに従い，登録事項を記載し，抹消し，又は変更すべき旨を命令することができる。 - 特許庁

Although azone or an alcohol having been used as an absorption promoter has a defect for lowering the barrier ability of the skins, the alkali ion water does not have the defect, and is useful not only in the aspect of pharmaceutical safety and but also in the aspect of a sense of use on the side of patients.例文帳に追加

この経皮吸収型薬剤は、従来より吸収促進剤として用いられていたエイゾンや、アルコールは、皮膚バリア能を低下させてしまう欠点があったが、アルカリイオン水を用いると、このような欠点がないので、製剤的な安全性の面だけでなく、患者側の使用感の面でも有用である。 - 特許庁

By dispersing a beam of laser induction plasma generated in welding, presence or absence of defect generation is discriminated based on an intensity ratio between the emission spectrum intensity of the specific element relating to welding defect generation and the emission spectrum intensity of the material to be welded having a wave length close to a wave length of the specific element.例文帳に追加

溶接時に発生するレーザ誘起プラズマの光を分光し、溶接欠陥の発生に関わる特定の元素の発光スペクトルの強度と、この元素の発光スペクトルの波長に近接する波長を持つ被溶接材の元素の発光スペクトルの強度との強度比に応じて欠陥発生の有無を判定する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device for highly precisely detecting a defect of a rotor-shaped measuring object having a surface with high reflectivity on the basis of a two dimensional image by photographing light reflected from the measuring object by irradiating a slit laser beam or the like to the rotor-shaped measuring object.例文帳に追加

本発明は、スリットレーザ光等を、回転体状の測定対象に照射し、測定対象からの反射光を撮影した二次元画像に基づいて、回転体状かつ表面が高い反射率を有する測定対象の欠陥を高精度に検出する欠陥検査装置を実現することを目的とする。 - 特許庁

Consequently, the recording paper is sent in a postprocessing device at a recording paper interval Tis based upon the switching time, so paper postprocessing corresponding to each print job can be performed without causing the decrease in productivity of the image forming apparatus, or a conveyance defect nor a postprocessing defect of recording paper in the postprocessing device.例文帳に追加

これにより、記録紙は、切換え時間に基づいた記録紙間隔Ｔisで後処理装置へ送り込まれるので、画像形成装置の生産性低下、後処理装置で記録紙の搬送不良や後処理不良を生じさせることなく、それぞれの印刷ジョブに応じた適正な後処理が可能となる。 - 特許庁

The opaque substance 6 is disposed corresponding to the pixel area with the bright spot defect formed on the thin film transistor panel after completing a liquid crystal panel, or the opaque substance 6 is disposed corresponding to the pixel area with the bright spot defect formed on the liquid crystal display panel after forming a liquid crystal panel.例文帳に追加

また、液晶パネルを完成する前に、薄膜トランジスタパネル上にブライトスポット欠陥が形成された画素領域に対応して不透明物質６を配置し、又は、液晶パネルを形成した後、液晶ディスプレイパネル上にブライトスポット欠陥が形成された画素領域に対応して不透明物質６を配置する。 - 特許庁

To provide a method for estimating a crystal defect of a large-diameter silicon single crystal capable of estimating a crystal defect of a large-diameter silicon single crystal having a diameter of 450 mm or more at a level equivalent to a small-diameter silicon single crystal having a diameter smaller than this at a low cost and in a short time.例文帳に追加

４５０ｍｍあるいはそれより大径の大口径シリコン単結晶の結晶欠陥を、これより小さな径の小口径シリコン単結晶と同等の水準で、しかも低コストかつ短時間にて推定することができる大口径シリコン単結晶の結晶欠陥推定方法を提供する。 - 特許庁

In the optical film laminate with slit lines, defect-free normal sheets and defective or defect-containing sheets having predefined length corresponding to dimension of the liquid-crystal panel are defined on the carrier film by successively forming the slit lines by cutting a slit line in a direction vertical to its lengthwise direction.例文帳に追加

切込線入り光学フィルム積層体においては、その長手方向に対して直角方向に切り込みを入れて切込線を順次形成することによって、液晶パネルの寸法に対応する所定の長さを有する欠点を含まない正常シート片と欠点を含む不良シート片とがキャリアフィルム上に区画されている。 - 特許庁

A vehicle painted face inspection device is provided with an image pick-up device, and an image processing means for detecting automatically a fine defect generated on a vehicular painted face, based on a change in an image signal therefrom, and for preparing a two-dimensional defect position data projected with the fine defective position on a two-dimensional horizontal or vertical projection face.例文帳に追加

車両塗面検査装置は、撮像装置と、その画像信号の変化から車両塗面に生じている微小欠陥を自動的に検知して、この微小欠陥位置を水平もしくは垂直の二次元投影面に投影した二次元の欠陥位置データを作成する画像処理手段とを備える。 - 特許庁

To provide an inspection system with a scanning electron microscope for performing an inspection for the purpose of detecting a defect on a substrate with a circuit pattern of a semiconductor device, a liquid crystal, or the like formed thereon which allows the easy identification of a minute defect and a pseudo one which have been hard to identify, and an inspection method thereof.例文帳に追加

半導体装置や液晶などの回路パターンが形成された基板上の欠陥を検出する目的で検査を行う走査電子顕微鏡を搭載した検査装置において、困難となっている微細欠陥と擬似の識別を容易に実施できる検査装置及びその検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an optical film which is free from the problem of a streak defect and a press defect on the film surface, ensures good surface workability of a hard coat layer, an antireflection layer or the like, keeps high contrast, and has excellent durability at high temperature and high humidity, a polarizing plate, and a liquid crystal display using the polarizing plate.例文帳に追加

本発明の目的は、フィルムの表面のスジ故障と押され故障の問題がなく、ハードコート層や反射防止層などの表面加工性がよく、高いコントラスト、高温高湿時の耐久性に優れた光学フィルム、偏光板、及び該偏光板を用いた液晶表示装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a silicon wafer and a method for manufacturing thereof, in which neither a COP nor a dislocation cluster is contained, a defect (grown-in defect containing oxide silicon) like oxygen precipitation nucleus which exists in an OSF nucleus and P_V region not actualized in an as-grown state is disappeared or reduced.例文帳に追加

ＣＯＰや転位クラスターが含まれず、ａｓ−ｇｒｏｗｎ状態では顕在化していないＯＳＦ核やＰ_V領域に存在する酸素析出核のような欠陥（酸化シリコンを含むｇｒｏｗｎ−ｉｎ欠陥）が消滅もしくは低減されているシリコンウェーハおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁

The storage device (2) stores analysis data (21) with analysis information recorded therein about each of a plurality of failure modes pre-extracted in a product design or process design stage, and defect occurrence history data (22, 23) comprising defect information noted after the start of system operation and accumulated while associated with failure mode analysis information.例文帳に追加

記憶装置（２）には、製品設計又は工程設計の段階で事前抽出された複数の故障モードのそれぞれについての解析情報が記録された解析データ（２１）と、システム稼働後に知見される不良情報を故障モード解析情報と関連付けて累積してなる不良発生履歴データ（２２，２３）とを格納する。 - 特許庁

To provide a defect detection method and system capable of accurately removing in a short time a chip including a defect such as a microvoid which is formed on a wafer stuck by a direct bonding method or through an adhesive and is difficult and takes time to be found by visual observation, and to provide a method of manufacturing a light emitting device.例文帳に追加

直接接合方法または接着剤を介して貼り合わせたウエーハにできる目視では発見が困難で時間がかかるマイクロボイド等の欠陥を含むチップを、正確にそして短時間で取り除くことができる欠陥検出方法および欠陥検出システムならびに発光素子の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a three-dimensional photonic crystal operated by a plurality of designed wave lengths with which a photonic band gap wavelength band is controlled to a desired wavelength without varying a lattice period or an optical element having a point defect resonator structure and a line defect waveguide structure in the inside.例文帳に追加

複数の設計波長で動作する３次元フォトニック結晶において、格子周期を変化させることなくフォトニックバンドギャップ波長帯域を所望の波長に制御することができる３次元フォトニック結晶、もしくはその内部に点欠陥共振器構造や線欠陥導波路構造を備えた光学素子を提供する。 - 特許庁

Eprosartan or the salt thereof expresses excellent improved activity in a corneal disorder model, and is useful as a therapeutic agent for corneal/conjunctival disorders such as dry eye, corneal ulcer, keratitis, conjunctivitis, superficial punctuate keratopathy, corneal epithelial defect, conjunctival epithelial defect, keratoconjunctivitis sicca, superior limbic keratoconjunctivitis, filamentary keratitis and the like.例文帳に追加

エプロサルタンまたはその塩は、角膜障害モデルにおいて優れた改善効果を発揮し、ドライアイ、角膜潰瘍、角膜炎、結膜炎、点状表層角膜症、角膜上皮欠損、結膜上皮欠損、乾性角結膜炎、上輪部角結膜炎、糸状角膜炎などの角結膜障害の治療剤として有用である。 - 特許庁