「DEFECT OR」に関連した英語例文の一覧と使い方(23ページ目) - Weblio英語例文検索

To surely discriminate only a true defect without being affected by irregularity or the like included in the photographed image of the package of an electronic component.例文帳に追加

電子部品のパッケージの撮影画像に含まれるむら等の影響を受けず、真の欠陥のみを確実に判別できる電子部品の外観検査方法、を提供する。 - 特許庁

To determine whether to continue or stop a process using a memory region according to the use of the process when the correctable defect of the memory occurs.例文帳に追加

メモリの訂正可能障害が発生した際、当該メモリ領域を利用しているプロセスの用途に応じて、そのプロセスを継続するか／中止するかの決定を行う。 - 特許庁

To prevent the occurrence of an electrical defect such as the disconnection or contact failure of an FPC by avoiding the occurrence of a load at the connector connection part of the FPC in moving a pickup.例文帳に追加

ピックアップの移動時にＦＰＣのコネクタ接続部に負荷が生じないようにして、ＦＰＣの断線や接触不良等の電気的欠陥が生じないようにする。 - 特許庁

To provide the inspection equipment that inspects a defect at the edge part of a semiconductor wafer or the like, wherein the scattered light from an edge part of an object being inspected can be detected with surety.例文帳に追加

半導体ウエハ等の縁部における欠陥を検査する検査装置に関し、被検査物の縁部からの散乱光を確実に検出する装置の提供。 - 特許庁

To provide a concrete defect inspection device for easily determining where a crack exists within the concrete and whether or not repair work is needed therefor.例文帳に追加

本発明の目的はコンクリート内部のクラック（亀裂）の存在位置と補修作業の要否を容易に判定することのできるコンクリートの欠陥検査装置を提供することにある。 - 特許庁

To obtain a humidifier for suitably wetting printing paper to be transferred in a printing step by removing a defect for rusting a machine or the like by a spraying action.例文帳に追加

印刷工程において、移送される印刷紙に噴霧して適度に濡らす加湿装置において、噴霧作用によって機械等を錆付かせる欠点を除去するものを得ること。 - 特許庁

Thus, the problem due to the droplets K stuck to the cooling roll 114, for instance the defect due to the sticking of the droplets K to the recording paper sheet P or the like, does not arise.例文帳に追加

よって、冷却ロール１１４に付着した水滴Ｋに起因する問題、例えば、水滴Ｋが記録用紙Ｐに付着することによるディフェクト等は発生しない。 - 特許庁

To provide an STI (shallow trench isolation) type element isolation structure having an element isolation dielectric that does not include at least a defect such as a void or the like on a surface part thereof, and has a large aspect ratio.例文帳に追加

ボイドなどの欠陥を少なくとも表面部分には含まないアスペクト比の大きな素子分離絶縁膜を有するＳＴＩ型素子分離構造を提供する。 - 特許庁

Thanks to the plastic deformation, a cavity defect or the like around the sealing face is collapsed, and the sealing property of the sealing face is secured by the formed steps 21 and 41.例文帳に追加

この塑性変形により、シール面近傍付近の鋳巣欠陥などが圧壊されるとともに、形成された段差（２１、４１）によりシール面におけるシール性が確保される。 - 特許庁

To provide a technology of obtaining an image with high image quality without lateral stripes or the like and being affected by variations in a dark output and pixels with a particularly greater dark output called a defect.例文帳に追加

暗出力のばらつきや、キズと称される特別に暗出力の大きい画素の影響を受けず、横筋等のない高画質の画像を得ることを課題とする。 - 特許庁

To allow imaging/inspection at a high speed, in an ultrasonic imaging system for emitting an ultrasonic wave toward an inspection object and for imaging a reflected echo to inspect a defect or the like.例文帳に追加

超音波を検査対象に照射しその反射エコーを画像化して欠陥等を検査する超音波画像化装置において、より高速に画像化・検査すること。 - 特許庁

To provide a device for preparing cigar, affected with no conventional defect as a whole or partially and keeping operational function and economy.例文帳に追加

全般的にあるいは部分的にでも従来の欠点の影響を受けずしかも運転の機能性及び経済性を維持する、葉巻を調整するための装置を提供する。 - 特許庁

An initial defect correction means 202 corrects digital image information by using initial defective pixel position information previously known at the time of shipment from a plant or the like.例文帳に追加

初期欠陥補正手段２０２は、工場出荷時等で予め分かっている初期欠陥画素位置情報を用いて、ディジタル画像情報を補正（修正）する。 - 特許庁

Coordinates of a specific region on a mask are extracted, and only the specific region is subjected to a defect check process carried out by a checking device by the use of charged particles such as SEM or the like.例文帳に追加

マスクの特定領域の座標を抽出し、その特定領域のみの欠陥検査を、ＳＥＭ等の荷電粒子を利用した検査装置を用いて行う。 - 特許庁

To provide a radiographic apparatus capable of accurately correcting a line defect even in the case of using an X-ray grid with an error or an X-ray grid of different density.例文帳に追加

誤差のあるＸ線グリッドや異なる密度のＸ線グリッドを用いた場合でも、正確にライン欠損を補正することができるＸ線撮影装置を提供する。 - 特許庁

To provide a detector capable of easily detecting microscopic leaks and penetrated defect parts with high sensitivity without use of any special machinery or apparatus.例文帳に追加

特別な機械や装置を使用することなく簡単、かつ高い感度で微細な漏れ個所及び貫通欠陥を容易に見つけることができる検出具を提供する。 - 特許庁

To provide a means for measuring the finish dimension of a solid sample having a cylindrical structure or detecting a minute surface defect present on the inner surface of a tube.例文帳に追加

筒状構造を有する固体試料の仕上がり寸法の計測や、管内面の表面に存在する微小な表面欠陥の検出などの手段を提供する。 - 特許庁

To provide an image acquisition device, a defect correction device and an image acquisition method that stably focus on an electrode pattern or wiring pattern.例文帳に追加

電極パターンまたは配線パターンに安定的に焦点を合わせることができる画像取得装置、欠陥修正装置および画像取得方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an image processing apparatus for defect inspection or the like for detecting various types of defects having different occurring variation in a light route with sufficient accuracy at the same time.例文帳に追加

生じる光線経路の変化が異なる様々な種類の欠陥を一度に十分な精度で検出できる欠陥検査用画像処理装置等を実現する。 - 特許庁

The inspection device is structured to correct the positional coordinates of a detected foreign matter or defect based on the central coordinates of the inspection object, in accordance with the detected positional condition when inspected.例文帳に追加

そして、検出された被検査時の位置状態に応じて、検出された異物や欠陥の位置座標を、被検査物の中心座標を基に補正するように構成した。 - 特許庁

A thin-film electron source manufactured by this method has 1.5×1,018 or lower for the defects, of which the defect level of the electron acceleration layer is not larger than 1.5 eV.例文帳に追加

この方法で製造された画像表示装置の薄膜電子源は、その電子加速層の欠陥順位が１.５ｅＶ以下の欠陥を、１.５×１０１８個以下有する。 - 特許庁

To grow the crystal of a homogeneous and high quality nitride semiconductor film having a uniform film thickness, small surface defect and almost free from warp or crack.例文帳に追加

膜厚が均一であり、表面欠陥が少なく、しかも反りや亀裂のほとんどない均質かつ良質な窒化物半導体膜を結晶成長できるようにする。 - 特許庁

To provide a method for discriminating the presence or absence of defect in welding part which is convenient, allows quick and exact inspection and can be easily operated and a jig for discriminating welding part used therein.例文帳に追加

簡便で、しかも早く、正確に検査することができる操作容易な溶接部の欠陥の有無を判定する方法とそれに使用する溶接部判定治具を得ること。 - 特許庁

To provide a pattern forming method, capable of suppressing development defects by using a defect removing agent in formation of a fine resist pattern by liquid immersion exposure or the like.例文帳に追加

液浸露光法等により微細なレジストパターンを形成する際に、欠陥除去剤を用いることによって、現像欠陥を抑制できるパターン形成方法を提供する。 - 特許庁

To provide an optical disk device which is superior in durability against external disturbance such as defect of a disk, noise of a transmission system, or the like, and which can generate a stable segment period PLL clock.例文帳に追加

ディスクのディフェクトや伝達系の雑音等の外乱に対する耐性に優れ、安定したセグメント周期ＰＬＬクロックを生成できる光ディスク装置を提供する。 - 特許庁

To provide an optical disk device which can suppress occurrence of data errors by suppressing DC fluctuations of a reproducing RF signal caused by a slight defect such as a fingerprint or a scratch.例文帳に追加

指紋や傷などによる浅いディフェクトによる再生ＲＦ信号のＤＣ変動を抑制してデータエラーの発生を抑えることのできる光ディスク装置を提供する。 - 特許庁

To provide a wire surface inspection device capable of detecting accurately a defect such as a flaw or dirt on the surface of a linearly extending wire rod (wire to be inspected).例文帳に追加

線状に伸びる線材（被検査線条）の表面の疵や汚れ等の欠陥を正確に検出することのできる線条表面検査装置を提供すること。 - 特許庁

The thickness of the organic layer 10 sandwiched between the cathode K and the anode A is about 100 nm, and whiskers or the like may form between these electrodes, often leading to a short circuit defect.例文帳に追加

陰極Ｋと陽極Ａ間に挟持された有機層１０の厚みは１００ｎｍ程度であり、両極間にウイスカー等が生じて、短絡欠陥に至る場合が多い。 - 特許庁

COMPOSITION CONTAINING GENETICALLY MODIFIED DONOR CELL AND USED FOR TREATING CELL HAVING DEFECT, DISEASE, OR INJURY IN CENTRAL NERVOUS SYSTEM, AND METHOD FOR PREPARING THE SAME例文帳に追加

遺伝子的に修飾されたドナー細胞を含み中枢神経系における欠陥、疾病又は損傷のある細胞を治療するための組成物及びその調製方法 - 特許庁

To measure a light quantity excellent in an S/N ratio, without being affected by a defect in a picture element of a solid imaging element and refuse, dust or the like deposited on the solid imaging element.例文帳に追加

固体撮像素子の画素の欠陥や固体撮像素子に付着するゴミや塵などの影響を受けることなく、Ｓ／Ｎの良好な光量を測定する。 - 特許庁

To provide an epoxy resin composition for sealing semiconductors that causes no electric defects such as a short circuit of wiring or a leakage defect and exhibits an excellent laser marking property.例文帳に追加

配線のショート、リーク不良等の電気不良を生ずることがなく、かつ優れたレーザーマーキング性を有する半導体封止用エポキシ樹脂組成物を提供すること。 - 特許庁

To provide an electron microscope endowed with functions of direct-image observation of a high throughput by defect inspection of a semiconductor wafer or the like and scanned image observation at a high resolution.例文帳に追加

半導体ウエハ等の欠陥検査による高スループットの直接写像観察と、高分解能での走査像観察機能を備えた電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

Thus, the thin film capacitor 10 high in permittivity and reliability (or a long life) is obtained by suppressing formation and movement of an oxygen defect through the donor-acceptor designing.例文帳に追加

また、ドナー・アクセプタ設計を行って酸素欠陥の生成と移動を抑制するため、誘電率及び信頼性（ないし寿命）が高い薄膜コンデンサ１０が得られる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device having good silicide/silicon interface in which a crystal defect or roughness of the interface is improved and having stable characteristics, and to provide a method of manufacturing the same.例文帳に追加

結晶欠陥や界面の荒れが改善された良好なシリサイド／シリコン界面を有し、安定した特性を有する半導体装置およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To actualize high reliability when ID information is reproduced by making it possible to correct a channel bit or word even if a defect is caused.例文帳に追加

ディフェクトが発生したとしても、チャネルビット、またはワードの補正を行うことを可能とし、ID情報を再生するに際し、高い信頼性を実現することができるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device having a good hetero structure that a crystal defect or the roughness of an interface is improved and having stable characteristics, and to provide a method of manufacturing the same.例文帳に追加

結晶欠陥や界面の荒れが改善された良好なヘテロ構造を有し、安定した特性を有する半導体装置およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an optical disk device capable of preventing the damaging of an objective lens or a disk caused by the defect of the disk, and its control method.例文帳に追加

ディスクに欠陥があることによって対物レンズまたはディスクが損傷を受ける事態を防止することができる光ディスク装置及びその制御方法を提供すること。 - 特許庁

Thus, the defect detection precision can be improved more in the case in which the amplitude level of the RF signal decreases, inclining toward the maximum value or the minimum value.例文帳に追加

これにより、ＲＦ信号の振幅レベルが最大値側又は最小値側に偏って低下した場合におけるデフェクト検出精度をより向上させることができる。 - 特許庁

To prevent a defect in temperature rising work of a refrigerator in the inspection, maintenance, regeneration of a cryopump, or the like by improving the strength of a displacer of the cryogenic refrigerator.例文帳に追加

極低温冷凍機のディスプレーサの強度を向上させ、点検やメンテナンス、又はクライオポンプ等の再生時における、冷凍機の昇温作業時の不具合を防止する。 - 特許庁

To specify a soiled position when an image defect is caused by toner or the like in an image forming device equipped with plural image forming parts.例文帳に追加

複数の画像形成部を備えた画像形成装置において、トナー等が原因で画像欠陥が生じた場合、その汚れの位置を特定することを課題とする。 - 特許庁

Or the vinylon triaxial net 3 is fastened by the staple 4, and waterproof rubber sheet 5 containing a mesh is spread on it to obtain a waterproof effect to solve the defect.例文帳に追加

又、ビニロン三軸ネットを又釘で止め、その上に防水ゴムシートメッシュ入りを張ることにより、防水効果等が得られ上記の欠点を解決する事ができるのである。 - 特許庁

To shorten an access time in a semiconductor integrated circuit having a redundant circuit for relieving defect of a memory cell or a peripheral circuit.例文帳に追加

本発明は、メモリセルまたはその周辺回路の不良を救済するための冗長回路を有する半導体集積回路に関し、アクセス時間を短縮することを目的とする。 - 特許庁

The damaged region is cleaned, and a superalloy repair material is deposited by physical deposition performed so as to fill the defect or the damaged region.例文帳に追加

損傷領域は、清浄化され、さらに、超合金修理材料が、欠陥または損傷領域を充填するように実行される物理蒸着により沈積される。 - 特許庁

To confirm and repair a defect extending to the surface of a turbine part, for example, a crack or other fine split occurring during operation of a turbine engine.例文帳に追加

タービン部品６２の表面に通じた欠陥、例えば、タービンエンジン運転中に発生し得る亀裂又は他の細かな裂け目を確認するとともに補修する方法の提供。 - 特許庁

The defect between the coating layer and the workpiece body appears as an area darker or brighter than its periphery, with oblique incidence illumination by the illumination part 2B.例文帳に追加

また、照明部２Ｂによる斜め入射照明により、コーティング層とワーク本体との間の色彩欠陥が、周囲より暗い領域または明るい領域として現れる。 - 特許庁