「DEFECT OR」に関連した英語例文の一覧と使い方(17ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a defect repair method for making a strong repaired part not broken even if a membrane is disposed in a hard operation state of being in continuous contact with sludge or contaminants like a dip-type membrane for sewage treatment among applications for water treatment is, and a defect repair apparatus.例文帳に追加

水処理用途の中でも下水処理用浸漬型膜のように汚泥、汚れ物質などに膜が絶えず接する過酷な運転状況下でも、補修部分が崩れない強固な欠点補修方法と欠点補修装置を提供すること。 - 特許庁

To obtain a screen printing plate which reduces a blur defect or a thin-spot defect in an edge portion of a printed pattern and forms the printed pattern having a high dimensional accuracy and little nonuniformity in the area, and a manufacturing method of an electronic component.例文帳に追加

印刷パターンのエッジ部分におけるにじみ不良やかすれ不良の発生を抑制し、寸法精度が高く面積ばらつきの少ない印刷パターンを形成することができるスクリーン印刷版及び電子部品の製造方法を得る。 - 特許庁

Since an image of the object to be inspected S is photographed by a photographic device 7 in a condition of free from the dust 3 and the defect is extracted by an image processor 8, the dust merely adhered on the object to be inspected is not mistaken as a defect such as scratch or burr.例文帳に追加

ゴミ３がない状態で被検査物Ｓの映像が撮像装置７により撮像され画像処理装置８により欠陥が抽出されるから、被検査物に付着しているだけのゴミをキズやバリなどの欠陥と誤認することがない。 - 特許庁

Although a high-density defect is introduced into an SiGe epitaxial film 11 from an interface to the Si substrate 10, heat treatment is performed at 700 or 1,200°C to change a through dislocation 12 into a loop dislocation defect 12' near an Si substrate interface.例文帳に追加

ＳｉＧｅエピタキシャル膜１１中にはＳｉ基板１０との界面から高密度の欠陥が導入されるが、７００乃至１２００℃の熱処理を施して貫通転位１２をＳｉ基板界面近傍のループ転位状欠陥１２´に変化させる。 - 特許庁

To obtain a boron phosphide based semiconductor layer exhibiting excellent crystallinity by reducing the density of crystal defect such as twin or lamination defect, and to enhance various characteristics as an element by utilizing the boron phosphide based semiconductor layer.例文帳に追加

燐化硼素系半導体層を双晶や積層欠陥等の結晶欠陥の密度の小さな結晶性に優れたものすることができ、この燐化硼素系半導体層を利用して、素子としての諸特性を向上させることができるようにする。 - 特許庁

To provide a new method for surface defect detection and its device which can quantitatively measure a defect in atom size generated on the surface and interface of a sample in a manufacturing process for semiconductor devices or the like in real time with high precision.例文帳に追加

半導体デバイスの製造プロセス等において試料の表面および界面に発生する原子サイズの欠陥を実時間で、且つ高精度で定量測定することのできる、新しい表面欠陥検出方法およびその装置を提供する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal medium having no conventional defect or the defect only at a much lower level and simultaneously having a short response time and excellent steepness especially at low temperatures and especially for TN and STN displays.例文帳に追加

従来の欠点を有しないかまたは一層低い程度に有するのみであり、同時に、特に低い温度において短い応答時間および極めて良好な急峻度を有する、特にＴＮおよびＳＴＮディスプレイ用の液晶媒体を提供する。 - 特許庁

To efficiently correct a longitudinal line flaw of a fine level caused by a defect of a vertical transfer path which is hardly conspicuous rather than an ordinary defective pixel while avoiding the increase of a ROM capacity or the like for storing defect information on pixels of a solid-state imaging device.例文帳に追加

固体撮像素子の画素の欠陥情報を格納するＲＯＭ等の大容量化を回避しつつ、通常の欠陥画素よりも目立ち難い垂直転送路の欠陥に起因する微妙なレベルの縦線キズを効率よく補正する。 - 特許庁

The defect substitution permission attribute data indicates whether recording of user data is performed in a permitted state in which execution of defect substitution processing substituting a defective region in the user region 104 by a substitution region in the spare region 105 is permitted or not.例文帳に追加

欠陥代替許可属性データは、ユーザデータの記録が、ユーザ領域１０４内の欠陥領域をスペア領域１０５内の代替領域に代替する欠陥代替処理の実行が許可された状態で行われたか否かを示す。 - 特許庁

To provide a cold rolled steel sheet for enameling excellent in blistering defect resisting characteristics, in which, even in the case a low carbon or extra low carbon-high B series cold rolled steel sheet for enameling is used as the stock, a defect in blistering is not generated after the application of porcelain enamel and baking.例文帳に追加

低炭・極低炭−高Ｂ系ほうろう用冷延鋼板を素材とする場合であっても、ほうろう施釉、焼成後にフクレ欠陥が発生することのない、耐フクレ欠陥特性に優れたほうろう用冷延鋼板を提供する。 - 特許庁

To provide a polarizer plate lamination protection film facilitating detection of bright point defect caused by a polarizer plate and having no bright point defect even when flaws or the like adhere on a surface, and to provide a protection film lamination polarizer plate laminated with the protection film.例文帳に追加

偏光板起因の輝点欠陥検出を容易とし、また、表面に疵等が付着しても輝点欠陥となることがない偏光板積層用保護フィルム、およびその保護フィルムを積層してなる保護フィルム積層偏光板を提供する。 - 特許庁

Since the lattice defect formed in the stress light emitter by exposure is retained for a long period of time, also the accumulated amount of exposure can be simply measured without separately using the composition of a memory device or the like if the lattice defect is used.例文帳に追加

被曝により応力発光体に形成される格子欠陥が長期間保持されるため、当該格子欠陥を用いれば被曝量の積算についても記憶装置等の構成を別途用いることなく簡易に計測することができる。 - 特許庁

To provide an internal pressure defect detecting method and its device for a case internal container, which can detect an internal pressure defect of a container after a content liquid has been filled by hot pack filling or retort processing, and the container has been housed in a case, from the outside of the case.例文帳に追加

ホットパック充填やレトルトなどで内容液を充填し、ケースに収納した後の容器の内圧不良をケースの外部から検出することができるケース内容器の内圧不良検出方法およびその装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for correcting a color filter, which forms a light shielding part in a light transmission defect part of a color filter substrate, or forms a light shielding part by removing a raised defect such as a foreign matter by laser repair, and to provide the color filter substrate.例文帳に追加

カラーフィルタ基板の光透過欠陥部に遮光部を、もしくは異物等の高さのある欠陥をレーザーリペアで除去して遮光部を形成するカラーフィルタ欠陥の修正方法及びカラーフィルタ基板を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a photographic printer interfaced with a defect detection or scanning system, which inspects a photo paper sheet during consumption of the photo paper sheet by a printer to find a defect, and to provide a printing method.例文帳に追加

写真用プリンタおよび印刷方法であって、プリンタによって写真用紙を消費している間に写真用紙を検査して欠陥を発見する欠陥検出または走査システムにインターフェイスされた写真用プリンタおよび方法を提供する。 - 特許庁

TEMPLATE ADJUSTMENT METHOD AND DEVICE, DEFECT DISTRIBUTION CLASSIFICATION METHOD AND DEVICE, PROGRAM FOR MAKING COMPUTER EXECUTE TEMPLATE ADJUSTMENT METHOD OR DEFECT DISTRIBUTION CLASSIFICATION METHOD AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM WITH THE SAME PROGRAM RECORDED例文帳に追加

テンプレート調整方法および装置、欠陥分布分類方法および装置、上記テンプレート調整方法または欠陥分布分類方法をコンピュータに実行させるためのプログラム、並びに上記プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

To accurately detect a defect irrespective of writing power during recording, disk reflectance or a variance in amplifier gain, and to determine whether a defect in the surface of an optical disk causes the recording mistake of optical information in one RUB.例文帳に追加

記録時のライトパワー、ディスクの反射率やアンプゲインのばらつきに左右されることなく正確な欠陥検出を可能にし、光ディスクの表面に付けられた欠陥が１ＲＵＢ内で光情報の記録ミスを生じさせる欠陥か否かを判定する。 - 特許庁

To provide an optical surface defect inspection device or an optical surface defect inspection method which can achieve high sensitivity inspection by enabling improvement in S/N by a multiple dividing cell system even without performing an autofocus operation.例文帳に追加

本発明は、オートフォーカス動作を行わなくとも、多分割セル方式によるＳ／Ｎ向上を可能とし、高感度の検査を実現できる光学式表面欠陥検査装置または光学式表面欠陥検査方法を提供することにある。 - 特許庁

To preclude a subtle edge part difference from being detected as a defect candidate or a defect, when forming a pattern unavoidable on a process in an edge part, and to maintain high detection capability with respect to non-edge part defects.例文帳に追加

エッジ部においてはプロセス上不可避なパターン形成時の微妙なエッジ部差異を欠陥候補、または欠陥として検出しないようにする一方で、非エッジ部欠陥に対しては高い検出力を維持するパターン検査ができるようにする。 - 特許庁

Next, the relative position is adjusted by rotating or moving the memory medium and/or the transfer master so as to avoid or reduce defective transfer of a transfer pattern caused by overlap of the foreign matter or the defect on the surface of the memory medium and the transfer pattern with each other (step S3).例文帳に追加

続いて、記憶媒体及び／又は転写マスタを回転若しくは異動させて、記憶媒体の表面上の異物又は欠陥と、転写パターンとの重畳による転写パターンの転写不良を回避又は低減する様に、相対位置を調整する（ステップＳ３）。 - 特許庁

To provide an inspection technology, capable of determining a defect with high sensitivity up to the most peripheral part of a memory mat part of a semiconductor device or up to a peripheral circuit that has no repeatability.例文帳に追加

半導体装置のメモリマット部の最周辺部や、繰り返し性の無い周辺回路まで高感度に欠陥判定できる検査技術を提供する。 - 特許庁

To provide a rubber stamp material capable of shortening a working time at a low cost by overcoming a defect of sticking due to melting of the rubber or igniting at a laser processing time.例文帳に追加

レーザ加工時にゴムが溶けてべたついたり、発火する欠点を克服すると共に加工時間を短縮でき、安価なゴム印材を提供する - 特許庁

Here, a processing defect or dust sticking of the nozzle storage hole 27 can be detected from an external shape of the light leaking to above the nozzle storage hole 27.例文帳に追加

ここで、前記ノズル収納穴２７の上方に漏れてくる光の外形から、ノズル収納穴２７の加工不良やゴミ付着を検出することができる。 - 特許庁

An initial defect correction means 202 correct digital image information by using initial defective pixel position information previously known at the time of shipment from a plant or the like.例文帳に追加

初期欠陥補正手段２０２は、工場出荷時等で予め分かっている初期欠陥画素位置情報を用いて画像情報を補正（修正）する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of an IC card or an IC tag for improving variations of production speeds, defect rates and electrical qualities.例文帳に追加

生産速度と不良品発生率、電気的品質のバラつきを改善することができる、ＩＣカードまたはＩＣタグの製造方法を提供する。 - 特許庁

To find out "irregular color or defect" which can not be found out by a conventional illuminating method, inspecting method in a coating appearance inspecting of such inspection objects as automobiles and the like.例文帳に追加

自動車等の被検査物の塗装外観検査において、従来の照明・検査方法では発見できなかった「色ムラまたは瑕」を発見する。 - 特許庁

By implementing the method, the deviating wrinkles or surface waviness of the overlay cloth 1 laid over the carpet floor material 4 can be prevented without problem of defect.例文帳に追加

この工法を行なうことによりカーペット床材４の上に置く上敷物１のずれ動き皺やたるみの発生を欠陥問題なく防止することができる。 - 特許庁

Also, by forming the capacitor 120, the flatness of the mounting surface of the IC 112 is raised and the connection defect of the IC 112 or the like is hardly caused.例文帳に追加

また、コンデンサ１２０を形成することにより、ＩＣ１１２実装面の平坦度が高くなり、ＩＣ１１２を接続不良などが発生しにくくなる。 - 特許庁

To provide an imaging device which enables a user to confirm the cause of an unsatisfactory image quality or a latent defect in a photoreceptive layer.例文帳に追加

本発明は、感光層における不充分な画質または潜在的な欠陥の原因を確かめることが可能なイメージング装置を提供することにある。 - 特許庁

Thus, even when there is irregularity of the gradation value between the inspection image data and the reference image data, it is possible to correctly judge the defects or defect candidates.例文帳に追加

検査画像内の各画素について、第１の相関関係と第２の相関関係を基にその画素が欠陥を構成しているか否かを判定する。 - 特許庁

To dissolve trouble such as a defect, defective timing of a signal, or the like discovered after a semiconductor chip is mounted on a substrate as a finished product.例文帳に追加

半導体チップが完成品として基板に実装された後において発見された欠陥や信号のタイミング不良などの不具合を解消する。 - 特許庁

To obtain a synthetic resin body not having a defect such as strain, deformation or the like from an aspect of appearance reduced in dimensional error with respect to a design value and having excellent strength.例文帳に追加

外観的に歪み、変形等の瑕疵がなく、寸法的に設計値との間で誤差が少なく、強度的に優れた合成樹脂体を得る。 - 特許庁

To provide a core wire inspection device of a cable terminal that can exactly inspect whether or not a defect of a strand exists in the core wire exposed to the cable terminal.例文帳に追加

電線端末部に露出させた芯線に素線の欠損があるかないかを確実に検査できる電線端末部の芯線検査装置を提供する。 - 特許庁

The protective layer 120 is coated with color plasma or the like in order that the protective layer has a sufficient density and does not have any defect.例文帳に追加

保護層が十分な密度を有すると共に欠陥のないものとするために、カラープラズマ被覆や類似の処理が保護層を被覆させるために用いられる。 - 特許庁

To stably perform tilt correction without being affected by a recording state and to avoid an influence of a defect or the like.例文帳に追加

記録状態に影響をされることなく傾き補正を安定して実行することができ、また、ディフェクトなどの影響も避けることができるようにする。 - 特許庁

To provide a reflection type or a transmission/reflection type liquid crystal display device high in display quality without causing a display defect due to variation in cell gap.例文帳に追加

セルギャップのバラツキによる表示不良の無い、表示品質の高い反射型または反射透過両用型液晶表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect determination method capable of enhancing a yield of a substrate formed with an electrode pattern or the like, and capable of reducing a production loss cost.例文帳に追加

電極パターン等が形成された基板の歩留まりを向上させ、製造ロスコストを低減することが可能な欠陥判定方法を提供する。 - 特許庁

To prevent a defect and stains by enabling a protector to be easily attached/detached in the state of contact or noncontact with a corner portion of a projected corner wall and its periphery.例文帳に追加

出角壁の角部及びその周辺に接触又は非接触状態で保護具を容易に取り付け、取り外しが出来、欠損汚れを防止する。 - 特許庁

To prevent a display defect due to a too large or too small an amount of charged liquid crystal of a liquid crystal display panel manufactured by a liquid crystal drop injecting method.例文帳に追加

液晶滴下注入法によって作製される液晶表示パネルの封入液晶量の過不足に起因する表示不良を防止する。 - 特許庁

The method for repairing an aperture and defect in a part 14 is started by removing one or more defects adjacent the aperture in a base material.例文帳に追加

部品１４の開口および隣接欠陥を補修する方法は、まず母材の開口に隣接する１つまたは複数の欠陥が除去される。 - 特許庁

To detect a defect in a glass or on the surface thereof stably with high accuracy regardless of dust on the glass surface without requiring a clean room.例文帳に追加

ガラス表面のチリ・ほこりに影響されず、クリーンルームも必要とせず、安定した高精度でガラス内部又は表面の欠点を検出できるようにする。 - 特許庁

To analyze the cause of an error if the execution of a test instruction sequence is stopped due to a processor logic defect or if an infinite loop is entered and no execution result is obtained.例文帳に追加

処理装置論理不良により試験命令列が実行停止、もしくは無限ループに陥り実行結果が得られない場合、エラー原因を解析する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a separator for an electric storage device which has less defect such as a thin part or a pin hole, and can exhibit excellent safety and flatness.例文帳に追加

薄肉部やピンホールといった欠点部分が少なく、安全性と平面性に優れた蓄電デバイス用セパレータの製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus that prevents an image defect or belt damage caused by flapping of a transfer belt when a transfer current is applied.例文帳に追加

転写電流印加中の転写ベルトに発生する波打ちに起因する画像不良やベルト破損の恐れのない画像形成装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a system capable of determining the defect distribution of an element quickly by an inspection method of a ferroelectric or a piezoelectric body.例文帳に追加

強誘電体または圧電体の検査方法で、短時間で素子の欠陥分布が判明することが可能なシステムを提供することを目的とする。 - 特許庁