| 意味 | 例文 |
Defect Addressの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 137件
A defect correction function section 184 corrects the defect by using defect information read from the defect address memory 38b.例文帳に追加
欠陥アドレスメモリ38b から読み出した欠陥情報を用いて欠陥補正機能部184 で欠陥補正を行う。 - 特許庁
The defect list updating unit 122 determines whether an area specified by the defect address registered in the defect list is the defect area or not, and if the area specified by the defect address is determined not to be the defect area, the defect address registered in the defect list is deleted from the defect list.例文帳に追加
欠陥リスト更新部122は、欠陥リストに登録された欠陥アドレスによって指定された領域が欠陥領域であるか否かを判定し、欠陥アドレスによって指定された領域が欠陥領域でないと判定された場合には、欠陥リストに登録された欠陥アドレスを欠陥リストから削除する。 - 特許庁
Thus, the address of the defect part can be accurately taken.例文帳に追加
これにより、正確に欠陥部のアドレスを取ることができる。 - 特許庁
DEFECT ANALYZER, ITS ADDRESS CONVERTING METHOD, AND MEMORY MEDIUM例文帳に追加
不良解析装置、そのアドレス変換方法、及び記憶媒体 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD AND DEFECT INSPECTING MACHINE FOR PLASMA ADDRESS DISPLAY DEVICE例文帳に追加
プラズマアドレス表示装置の製造方法及び欠陥検査機 - 特許庁
Wrote down the wrong address because of a defect of memory.例文帳に追加
記憶障害を起こして 住所を書き間違えたんです - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
Or, it is registered to a secondary defect list to which the address of the defect found while recording information and the alternating address are registered.例文帳に追加
または、情報を記録中に発見された欠陥のアドレスとその交替アドレスとを登録する二次欠陥リストに登録する。 - 特許庁
To quickly search a medium defect list at the time of converting a logical address into a physical address.例文帳に追加
論理アドレスから物理アドレスへ変換するときの媒体欠陥リストのサーチを高速化する。 - 特許庁
METHOD FOR INSPECTING ADDRESS OF DISPLAY DEFECT IN LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE例文帳に追加
液晶表示装置における表示欠陥のアドレス検査方法 - 特許庁
A defect list for reproducing the defect management information from the defect management area is provided and the defect list is registered to a primary defect list to which the address of a defect found at the time of initialization is registered (step 21).例文帳に追加
欠陥管理領域から欠陥管理情報を再生するための欠陥リストを備えて、この欠陥リストを、初期化時に発見された欠陥のアドレスを登録した一次欠陥リストに登録する(ステップ21)。 - 特許庁
The defect frequency holds the frequency of the correctable defect occurring in a corresponding physical address space.例文帳に追加
障害回数は、対応する物理アドレス空間で発生した訂正可能障害の回数を保持する。 - 特許庁
A column-based defect relief circuit 1 is separated into fuse/ readout circuits 2 which read out a defect address from a blown fuse and into address comparison circuits 3, in which the read-out defect address is compared with an address to be outputted from an address counter so as to activate a decoder when both addresses agree.例文帳に追加
カラム系欠陥救済回路1を、切断されたヒューズから欠陥アドレスを読み出すヒューズ/読み取り回路2と、読み出された欠陥アドレスとアドレスカウンタから出力されるアドレスとの比較を行い、一致するとデコーダを活性化させるアドレス比較回路3とに分離する。 - 特許庁
The search is ended when a virtual logical address larger than the logical address appears in the medium defect list.例文帳に追加
サーチは、媒体欠陥テーブルに、論理アドレスより大きい仮想論理アドレスが現れた時点で終了する。 - 特許庁
To provide a digital still camera for correcting a temperature white defect without the need for using a temperature sensor for sensing the temperature white defect and an address table for the temperature white defect.例文帳に追加
温度白キズを検出する温度センサと温度白キズのアドレステーブルとを用いずに、温度白キズを補正するデジタルスチルカメラを提供する。 - 特許庁
The surface of a defect substrate to be subjected to defect inspection is scanned by a light beam and is detected of its defects and their address coordinates.例文帳に追加
欠陥検査すべき基板の表面を光ビームで走査し、欠陥及びそのアドレス座標を検出する。 - 特許庁
ADDRESS TRANSLATION METHOD, DEFECT DISPLAY DEVICE, OPTICAL DISK DEVICE, AND INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
アドレス変換方法、欠陥表示装置、光ディスク装置および集積回路 - 特許庁
To provide a DRAM in which consumption current is reduced in an address comparison circuit for comparing an address signal with a programmed defect address signal.例文帳に追加
アドレス信号とプログラムされた欠陥アドレス信号とを比較するアドレス比較回路における消費電流を低減したDRAMを提供する。 - 特許庁
When a defect part detecting circuit 20 detects a defect part from a user data region of an optical disk 10, a defect management information generating and storing circuit 3 generates defect management information including at least an address of the defect part and the address of its alternative region and stores them.例文帳に追加
欠陥部位検出回路20が光ディスク10のユーザデータ領域から欠陥部位を検出すると、欠陥管理情報生成記憶回路3は欠陥部位のアドレスと、その代替領域のアドレスとを少なくとも含む欠陥管理情報を生成して記憶する。 - 特許庁
A defect judgement circuit 14 repeats the judgement of the pixel defect on the basis of address information stored in the position memory circuit 13, decides the address information of the pixel defect from the continuity of the judgement result and registers it in a defect registration circuit 15.例文帳に追加
位置メモリ回路13に記憶されたアドレス情報に基づいて欠陥判定回路14が画素欠陥の判定を繰り返し、その判定結果の連続性から画素欠陥のアドレス情報を決定し、欠陥登録回路15に登録する。 - 特許庁
The buffer memory further stores a defective address of the main memory, and the first data conversion part stores defect information in an address of the first table corresponding to the defective address.例文帳に追加
さらに、バッファメモリは、メインメモリの欠陥アドレスを格納し、第1データ変換部は、欠陥アドレスに対応する第1テーブルのアドレスに欠陥情報を格納する。 - 特許庁
To substitute it efficiently for a column address when a defect of a column address line is caused in a non-volatile ferroelectric memory device.例文帳に追加
不揮発性強誘電体メモリ装置でカラムアドレスライン欠陥が発生した時、効率よくカラムアドレスを代替する。 - 特許庁
The first address signal 62 and the second address signal 64 are supplied to the defect analysis memory 20 independently each other.例文帳に追加
第1アドレス信号62および第2アドレス信号64は、互いに独立して不良解析メモリ20に供給される。 - 特許庁
To provide an address inspection system adopted by a network unit that detects an inadequate network address of an IP address set to a communication terminal so as to early solve a communication defect due to the setting of the IP address.例文帳に追加
ネットワーク装置が通信端末に設定されたIPアドレスのネットワークアドレスの不適合を検知し、IPアドレスの設定が原因による通信不具合を早期に解決する。 - 特許庁
For a V line defect generated in an image due to defect in VCCD of an imaging sensor, the position (initial defect position) of a V line defect generated in an initial state of activation of an imaging apparatus is previously stored in a defect address memory.例文帳に追加
撮像センサのVCCDにおける欠陥に起因して画像において発生するVライン傷について、撮像装置の起動初期状態において発生するVライン傷の位置(初期傷位置)を傷アドレスメモリに予め記憶しておく。 - 特許庁
A digital camera device 1 easily and correctly detects the pixel address of a black defect in a CCD image sensor 3 and interpolates the detected black defect so that the image pickup element can be used even when a black defect is present.例文帳に追加
そして、CCDイメージセンサから得られた撮像データを所定の閾値と比較して、この撮像データがこの所定の閾値以下となっている画素アドレスを検出する。 - 特許庁
To provide a semiconductor storage device which does not need to compare a fail address with an access address each time in order to relieve defect.例文帳に追加
不良を救済するために不良アドレスとアクセスアドレスの比較を毎回行わずに済む半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁
A redundant cell array block section is constituted identically with a main cell array block section, when a defect is caused in a column address line, a column address of the main cell array block is used as a substitute for the defective column address line.例文帳に追加
冗長セルアレイブロック部をメインセルアレイブロック部と同一に構成され、カラムアドレスラインに欠陥が発生した時、メインセルアレイブロックのカラムアドレスに代替して使用する。 - 特許庁
The file manager makes a position of the head RUB of a physical address of an optical disk as a position P1 of Defect start RUB, makes a position of the rear as a position P10 of Defect finish RUB, makes a section from the position P1 to the position P10 as Defect RUM section, out of a plurality of RUBs, and informs them to an AV manager.例文帳に追加
ファイルマネージャは、複数のRUBのうち、光ディスクの物理的アドレスの先頭のRUBの位置をDefect開始RUBの位置P1とし、後尾のRUBの位置をDefect終了RUBの位置P10とし、位置P1からP10までの区間をDefectRUB区間とし、これをAVマネージャに通知する。 - 特許庁
A defect correction circuit 16 corrects a picture signal Y(n) in accordance with the address information of the registered pixel defect and generates a picture signal Y'(n).例文帳に追加
登録された画素欠陥のアドレス情報に応じて欠陥補正回路16が画像信号Y(n)を補正して、画像信号Y'(n)を生成する。 - 特許庁
A defect address storage unit 46 comprises first and second defect address storage units 46a and 46b which store the address of a longitudinal line flaw of image data outputted during long-time exposure of 1/30 sec., and the address of a longitudinal line flaw of image data outputted during the short-time exposure of 1/60 sec.例文帳に追加
欠陥アドレス格納部46は、1/30秒の長時間露光時に出力された画像データの縦線キズのアドレスと、1/60秒の短時間露光時に出力された画像データの縦線キズのアドレスとをそれぞれ格納する第1及び第2欠陥アドレス格納部46a,46bからなる。 - 特許庁
A defect kind decision unit 47 compares the defect addresses stored in the defect address storage unit 46 to decide whether the length of the longitudinal line flaw depends upon the exposure time, and records the decision result in a defect information recording unit 48.例文帳に追加
欠陥種別判定部47は、欠陥アドレス格納部46に格納された欠陥アドレスを比較して、縦線キズの長さが露光時間に依存するか否かを判定し、判定結果を欠陥情報記録部48に記録する。 - 特許庁
Then, the detected still picture defect address is converted on the basis of a difference in a reading system between all pixel reading and pixel thinning-out reading to thereby generate a moving picture defect address in a moving picture frame.例文帳に追加
そして、検出した静止画欠陥アドレスを、全画素読み出しと画素間引き読み出しとの読み出し方式の違いに基づいて変換することにより、動画フレームにおける動画欠陥アドレスを生成する。 - 特許庁
To provide a high speed and optimum defect processing device for converting a specified logic sector address into the sector address of an actual optical disk.例文帳に追加
指定された論理セクタアドレスを実際の光ディスクのセクタアドレスに変換する際の高速なかつ最適な欠陥処理装置を提供する。 - 特許庁
The address control circuit (20) replaces a defective memory cell of the plurality of memory cells (11) with one of the redundant memory cells (12) based on defect address information (W2) indicating an address of the defective memory cell.例文帳に追加
アドレス制御回路(20)は、不良メモリセルを表す不良アドレス情報(W2)に基づいて、複数のメモリセル(11)のうちの不良メモリセルを冗長メモリセル(12)に置き換える。 - 特許庁
If a recording error is detected, a controller 10 creates a NWA (Next Write Address) by adding address information of a sector of a writable recording track next to a defect portion on an optical disk 1.例文帳に追加
コントローラ10は、記録エラーを検知すると、光ディスク1におけるディフェクト部分の次に書き込み可能な記録トラックのセクタのアドレス情報を付加してNWA(Next Write Address)を作成する。 - 特許庁
A medium defect list conversion part 22 subtracts an offset value from a physical address specified by an offset value on a medium defect list and transfers the subtracted value to a retrieval part 21.例文帳に追加
媒体欠陥リスト変換部12は、オフセット値で指定された、媒体欠陥リスト上の物理アドレスからオフセット値を減算し、検索部21に値を渡す。 - 特許庁
To detect a defect about address setting in a short time and to specify a defect occurrence place.例文帳に追加
アドレス設定に関する不良を短時間で検出することができ、かつ不良の発生箇所を特定することができるメモリチェック方式を提供すること。 - 特許庁
A defect correction circuit 16 corrects an image signal Y(n) according to the address information of the registered pixel defect to generate an image signal Y'(n).例文帳に追加
登録された画素欠陥のアドレス情報に応じて欠陥補正回路16が画像信号Y(n)を補正して、画像信号Y'(n)を生成する。 - 特許庁
An information recording device 110 comprises: a defect list updating unit 122 which updates a defect list registering a defect address showing a position of a defect area exists in an user area; a recording unit 113 which records information in an information recording medium 130 based on the updated defect list.例文帳に追加
情報記録装置110は、ユーザ領域内に存在する欠陥領域の位置を示す欠陥アドレスが登録された欠陥リストを更新する欠陥リスト更新部122と、更新された欠陥リストに基づいて、情報記録媒体130に情報を記録する記録部113とを備えている。 - 特許庁
A defect detection circuit 12 compares the picture signal of a target pixel with the picture signal of peripheral pixels, detects a pixel defect candidate and stores the address information of the pixel defect candidate in a position memory circuit 13.例文帳に追加
欠陥検出回路12で目標画素の画像信号を周辺画素の画像信号と対比して画素欠陥候補を検出し、画素欠陥候補のアドレス情報を位置メモリ回路13に記憶する。 - 特許庁
An address generating section 110 incorporated in a pattern generator 60 outputs a first address signal 62 and a second address signal 64 to a defect analysis memory 20 in two systems.例文帳に追加
本発明において、パターン発生器60に組み込まれるアドレス発生部110が、不良解析メモリ20に対して、第1アドレス信号62および第2アドレス信号64を2系統で出力する。 - 特許庁
The detailed address signal 142 is incremented by the address generation control part 125, and data in the partial address space in which a fail signal is stored is transferred to a memory defect relief analysis part 200.例文帳に追加
詳細アドレス信号142は、アドレス発生制御部125によりインクリメントされ、フェイル信号が格納された部分アドレス空間のデータが、メモリ不良救済解析部200に転送される。 - 特許庁
To lighten adverse influence such as noise and defect during reproduction of an address and to detect timing synchronized with data.例文帳に追加
アドレス再生時におけるノイズ、欠陥等の影響を軽減し、また、データに同期したタイミングを検出する。 - 特許庁
To reliably reproduce an address without regard to a defect in an information recording medium and the influence of crosstalk.例文帳に追加
情報記録媒体の欠陥やクロストークの影響によらず、アドレスを確実に再生することができるようにする。 - 特許庁
To provide a semiconductor device and its evaluation method for defect evaluation capable of easily determining the address of a cell and easily reaching / specifying a defective cell in a short time.例文帳に追加
セルのアドレスが容易に判断でき、短時間に容易に不良セルに到達・特定することができる。 - 特許庁
In an image signal processing device, a defect detection circuit 12 compares the image signal of a target pixel with the image signal of surrounding pixels thereof to detect a pixel defect candidate, and stores the address information of the pixel defect candidate in a position memory circuit 13.例文帳に追加
欠陥検出回路12で目標画素の画像信号を周辺画素の画像信号と対比して画素欠陥候補を検出し、画素欠陥候補のアドレス情報を位置メモリ回路13に記憶する。 - 特許庁
Thus, even when the need for the management of the tentative addresses such as setting of the tentatvie address to a maximum address or like processing is eliminated, the occurrence of the defect thereby can be prevented in advance.例文帳に追加
したがって、前記仮アドレスを最大アドレスに設定するなどの仮アドレスの管理を不要にしても、それによる不具合の発生を未然に防止することができる。 - 特許庁
Information (servo sector address and cylinder address) specifying a servo sector on a disk 1 detected as a defect servo sector is registered in a management table 152 in an FROM (Flash ROM) 15.例文帳に追加
ディフェクトサーボセクタとして検出されたディスク1上のサーボセクタを特定する情報(サーボセクタアドレス及びシリンダアドレス)をFROM15内の管理テーブル152に登録しておく。 - 特許庁
To provide a semiconductor memory testing device capable of preventing the degradation of defect detection capability by making it possible to test an aimed address or the address other than the aimed address without changing a test pattern and a pattern program.例文帳に追加
テストパターンやパターンプログラムを変更することなく、着目するアドレスまたは該アドレスを除外した試験を可能にして、不良検出能力の低下を防止できる半導体メモリ試験装置を提供する。 - 特許庁
A latch circuit 11 outputs defect address information, which represents the address of a memory of malfunction, to an address line 15 in a period in which a signal ϕ1 is in an H level, and keeps output in high impedance in a period other than the above-period.例文帳に追加
ラッチ回路11は、機能不良となったメモリセルのアドレスを表す不良アドレス情報を信号φ1がHレベルの期間でアドレス線15に出力し、それ以外では出力を高インピーダンスに保つ。 - 特許庁
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