「Scan.」に関連した英語例文の一覧と使い方(47ページ目) - Weblio英語例文検索

This scanner reads an original, generates a scan image, generates a single page PDF file based on a scan image for one page, and outputs the generated single page PDF file to a printer.例文帳に追加

スキャナは、原稿を読み取ってスキャン画像を生成し、１ページ分のスキャン画像に基づいてシングルページＰＤＦファイルを生成し、生成したシングルページＰＤＦファイルをプリンタに出力する。 - 特許庁

This ultrasonic probe 10 is the mechanical 3D probe for three-dimensionally scanning ultrasonic waves by a combination of an electronic scan by an array transducer 30 and a mechanical scan by a motor.例文帳に追加

超音波プローブ１０は、アレイ振動子３０による電子的走査とモータによる機械的走査の組み合わせにより三次元的に超音波を走査させるメカニカル３Ｄプローブである。 - 特許庁

The TWAIN driver calls the WritePrinter as a scan setting/starting command and transmits it, and it calls the ReadPrinter for scan data reception and waits for a reply from the MFP 1 (S107, S108).例文帳に追加

そして、ＴＷＡＩＮドライバは、スキャン設定・開始コマンドとしてＷｒｉｔｅＰｒｉｎｔｅｒを呼び出して送信し、スキャンデータの受信としてＲｅａｄＰｒｉｎｔｅｒを呼び出してＭＦＰ１から返答を待つ（Ｓ１０７、Ｓ１０８）。 - 特許庁

Light quantity data obtained by scanning of one scan line are compared with light quantity data obtained by scanning of a preceding scan line to determine light quantity data that become a light quantity reference.例文帳に追加

一つの走査ラインの走査で得られた光量データについて、一つ前の走査ラインの走査で得られた光量データと比較して、光量基準となる光量データを決定する。 - 特許庁

A stamp extraction unit 23 then takes a difference between source data of the document image specified by the document ID and the scan image to extract the stamp image from the scan image.例文帳に追加

次に、スタンプ抽出部２３が、文書ＩＤによって特定される文書画像の元データと、スキャン画像との差分をとることにより、スキャン画像からスタンプ像を抽出する。 - 特許庁

The wireless communication apparatus 10 stores an ANY scan enable flag denoting whether or not each of connection object access points is an access point set to respond to ANY scan.例文帳に追加

無線通信装置１０は、接続対象となるアクセスポイント毎にＡＮＹスキャンに応答するよう設定されたアクセスポイントか否かを表すＡＮＹスキャン可能フラグを記憶している。 - 特許庁

In the case of changing an attribute (storage destination) of the scan ticket set for each job, the scan ticket, if reusable, can be used optimally by keeping the setting.例文帳に追加

業務毎の設定されているスキャンチケットの属性（格納先）を変更する場合、再利用可能なスキャンチケットであれば、設定を引き継ぐことにより、最適にスキャンチケットを利用できるようにする。 - 特許庁

A Scan-line Video Processor(SVP) core 12 of an SVP 10 is composed of three layers of a data input register(DIR), SIMD type digital signal processing part 18 and data output register(DOR).例文帳に追加

このＳＶＰ（Scan-line Video Processor ）１０のＳＶＰコア１２は、データ入力レジスタ（ＤＩＲ）、ＳＩＭＤ型ディジタル信号処理部１８およびデータ出力レジスタ（ＤＯＲ）の三層構造からなっている。 - 特許庁

The keyboard generates a code with predetermined and mutually different scan codes continuing therein as a keyboard identification code among scan codes corresponding to respective inputs of a plurality of keys.例文帳に追加

キーボードが、複数のキーのそれぞれの入力に対応したスキャンコードのうち、予め定められた、互いに異なるスキャンコードが連続したコードを、キーボード識別コードとして生成する。 - 特許庁

A horizontal converter 8 converts the number of pixels per one scan line of scan line number conversion data R2, G2, B2 to the number of pixels of N/M times by M to N conversion and outputs it continuously.例文帳に追加

水平変換器８は、走査線数変換データＲ２，Ｇ２，Ｂ２の１走査線あたりの画素数をＮ／Ｍ倍の画素数にＭｔｏＮ変換して連続的に出力する。 - 特許庁

The scanning device is provided with a translucent table 2 permitting to mount an article to be scanned thereon, and a scan head 4 for scan/reading the article to be scanned by illuminating it from under the translucent table 2.例文帳に追加

走査装置は被走査物を載置可能な透光テーブル２と、透光テーブル２の下方から照明して被走査物の走査読み取りを行う走査ヘッド４とを備える。 - 特許庁

The multifunction machine analyzes scan data obtained by scanning the document and determines an output resolution on the basis of an analysis result obtained by the analysis of the scan data (S24).例文帳に追加

多機能機は、原稿のスキャンによって得られたスキャンデータの解析を実行して、スキャンデータの解析によって得られた解析結果に基づいて出力解像度を決定する（Ｓ２４）。 - 特許庁

The scanner 3 is capable of performing one-dimensional scan on a straight line including the two points A, B, and a line segment AB between the two points A, B is drawn and displayed by one-dimensional scan of laser light.例文帳に追加

スキャナ３は、２点Ａ，Ｂを含む直線上での１次元走査が可能であり、２点Ａ，Ｂ間の線分ＡＢをレーザ光の１次元走査により描画表示する。 - 特許庁

Since the first scan branch line 301 and the second scan branch line 302 are preliminarily formed, the spare TFT 20 can be operated without considerably increasing the process time.例文帳に追加

第１走査分岐線３０１および第２走査分岐線３０２はあらかじめ形成してあるので、工程時間の大幅な増加を伴うことなく予備ＴＦＴ２０を動作させることが出来る。 - 特許庁

A positive (+) voltage and a negative (-) voltage are alternately applied to scan electrodes Y and voltages having the opposite polarities from the voltages applied to the scan electrodes Y are alternately applied to the sustaining electrodes Z.例文帳に追加

スキャン電極Ｙに陽（＋）の電圧と陰（−）の電圧とを交互に印加し、スキャン電極Ｙに印加される電圧の極性と反対の電圧をサステイン電極Ｚに交互に印加する。 - 特許庁

As such, if the scan electrodes are divided into two or more groups and supplied with scan signals, variation in the polarity of data signals applied to the data electrodes can be minimized.例文帳に追加

これによってスキャン電極が２以上のグループに分けられ走査信号が供給されると、データ電極に供給されるデータ信号の極性変化を最小化することができる。 - 特許庁

Code signals being different in each key switch are outputted to scan line circuits 15 by respectively connecting the key contacts 12 in each key switch 11 with corresponding scan lines 13 in each key switch.例文帳に追加

各キースイッチ１１内のキー接点１２の夫々と、対応するスキャンライン１３とをキースイッチ毎に接続することで、キースイッチ毎に異なるコード信号をスキャンライン回路１５に出力する。 - 特許庁

The respective driving entities are provided with master/slave latches 102 and 104, and 114 and 111 equipped with scan-in/scan-out ports to permit a test of the internal node of the circuit.例文帳に追加

それぞれの駆動エンティティには、回路の内部ノードのテストを可能にするために、スキャンイン／スキャンアウト・ポートをそれぞれ備えたマスタ／スレーブ・ラッチ１０２、１０４；１１４、１１１が設けられている。 - 特許庁

Pixel signals are input in the order of the raster scan, and the pixel values of the limited number of input pixels fewer than the entire pixels of one raster scan are stored in a memory in the order of input.例文帳に追加

ラスタ走査の順に画素信号を入力し、入力の順に１つのラスタ走査の全画素よりも少ない限られた数の入力画素の画素値をメモリに記憶する。 - 特許庁

When determining the scan data P1 to be typical, the multifunctional machine 10 generates the file 200 containing the scan data P1 to P4 and having a first file format having a page concept.例文帳に追加

多機能機１０は、スキャンデータＰ１について定型と判断すると、スキャンデータＰ１〜Ｐ４を含み、ページ概念を有する第１のファイル形式を有するファイル２００を生成する。 - 特許庁

To enable a failure portion to be specified in a single degenerate failure event, using a simple circuit configuration in a scan chain test of a semiconductor integrated circuit that has been scan designed.例文帳に追加

スキャン設計された半導体集積回路のスキャンチェーンテストにおいて、単一縮退故障に対して、簡易な回路構成で故障箇所を特定することができるようにする。 - 特許庁

Data signals for respective scan lines, which form one frame, are compared with each other, and scan lines having the same data signals are are simultaneously scanned by using the comparison result.例文帳に追加

本発明によれば、各スキャンラインに対する一つのフレームを形成するデータ信号が比較され、前記比較した結果を用いてデータ信号が同一なスキャンラインは同時にスキャンする。 - 特許庁

This circuit is configured so as to have a scan chain configuration able to be made single line or separated two lines by interposing a selector 12 in an optional scan chain inside the hard macro 11.例文帳に追加

ハードマクロ１１の内部にある任意のスキャンチェーン中にセレクタ１２を介することにより、スキャンチェーン構成を１本としたり、切り離して２本としたりできる回路構成とする。 - 特許庁

To provide a technique for generating an easily readable data file when outputting a data file including a plurality of kinds of scan data generated from a plurality of scan objects.例文帳に追加

複数のスキャン対象物から生成された複数のスキャンデータを含むデータファイルが出力された場合に読みやすいデータファイルを作成することが可能となる技術を提供する。 - 特許庁

A microlens array 22 is provided with two microlens array chips 22a in a direction vertical to a scan direction so that a part thereof is overlapped each other in the direction vertical to the scan direction.例文帳に追加

マイクロレンズアレイ２２は、スキャン方向に垂直の方向に２個のマイクロレンズアレイチップ２２ａが、その一部がこのスキャン方向に垂直の方向に相互に重なるように設けられている。 - 特許庁

A system 10 includes a source for providing the scan-in sequence 14 of the state data as the input simulation to test object devices DUT 18, and the scan-out sequence 16 of the predicted state data.例文帳に追加

システム(10)は、テスト対象装置(DUT)(18)への入力刺激としての状態データのスキャンインシーケンス(14)と予測された状態データのスキャンアウトシーケンス(16)を提供するためのソースを含む。 - 特許庁

The data voltage source Vdata applies a positive voltage to data lines DL1 to DLm and the first and second scan voltage sources Vin1 to Vin2 apply a negative voltage and a positive voltage to scan lines SL1 to SLn.例文帳に追加

データ電圧源Ｖdataは、データラインDL１〜DLmに正極性電圧を印加し、第1および第2スキャン電圧源Vin1〜Vin2は、スキャンラインSL1〜SLnに負極性電圧および正極性電圧を印加する。 - 特許庁

The dummy block 120 outputs data corresponding to input data input to the scan input terminal D2 to the scan output terminal D5 without depending upon the clock signal CLK.例文帳に追加

ダミーブロック１２０は、クロック信号ＣＬＫに依存すること無く、スキャン入力端子Ｄ２に入力される入力データに応じたデータをスキャン出力端子Ｄ５に出力する。 - 特許庁

To provide an X-Ray computer tomography device in which the movement of organs and the flow of an imaging agent by breathing are observed relating to a body axial direction during continuous scan or intermittent scan.例文帳に追加

Ｘ線コンピュータ断層撮影装置において、連続スキャン又は間欠スキャン中に、体軸方向に関して、呼吸による臓器の動きや、造影剤の流れ等を観察すること。 - 特許庁

When a scan line 112 of one row is selected, data signals Vid1 to Vid4 of four channels having voltages according with gradations of pixels corresponding to the selected scan line are supplied.例文帳に追加

１行の走査線１１２が選択されると、選択された走査線に対応する画素の階調に応じた電圧を有する４チャネルのデータ信号Ｖｉｄ１〜Ｖｉｄ４が供給される。 - 特許庁

According to this, a user can easily construct the scan pass to the on-circuit resistor or memory on the integrated circuit such as FPGA or the like on the basis of the scan pass logic.例文帳に追加

これにより、ユーザが、このスキャン・パスのロジックに基づいて、ＦＰＧＡ等の集積回路上に回路上のレジスタやメモリに対するスキャン・パスを容易に構築することができる。 - 特許庁

The display device 1 has driving circuits 11 and 20 which supply data pulses synchronized with scan pulses to display cells CL, ..., through column electrodes while applying the scan pulses to row electrodes.例文帳に追加

表示装置１は、行電極に走査パルスを印加する一方、走査パルスに同期したデータパルスを列電極を介して表示セルＣＬ，…に供給する駆動回路１１，２０を有する。 - 特許庁

The scan flip-flop circuits capable of latching action are connected to terminals of a macro, and the scan flip-flop circuits capable of latching action test the terminals of the macro.例文帳に追加

マクロの端子にラッチ動作が可能なスキャンフリップフロップ回路を接続し、該ラッチ動作が可能なスキャンフリップフロップ回路により前記マクロの端子のテストを行なうように構成したことにある。 - 特許庁

To provide a scan data processing system facilitating submission of a document by issuing a scan ticket to an absentee in accordance with an attendance situation of a lesson, for example.例文帳に追加

例えば授業等に対する出席状況に従って、欠席者に対してスキャンチケットを発行することにより文書の提出を容易にするスキャンデータ処理システム等を提供する。 - 特許庁

When it is determined that a binding margin exists by the preview scan when origial-reading an original having the binding margin such as a book, warning display is performed to a user before the main scan.例文帳に追加

書籍等の綴じ代部を有する原稿の原稿読み取りを行なう際にプレビュースキャンにて綴じ代部が存在すると判断された場合、本スキャン前にユーザに警告表示を行う。 - 特許庁

To improve the efficiency in a passive scan mode so as to enable ensuring the continuity of service, and seamless hand over to especially VoIP, even while using the passive scan mode.例文帳に追加

パッシブスキャンモードを使用している間でも、特にＶｏＩＰに対して、サービスの継続性と、シームレスなハンドオーバとを確実にすることが可能となるように、パッシブスキャンモードの効率性を改善する。 - 特許庁

This method includes a step of performing a scout scan of an object and a step of automatically determining regions within the object based upon attenuation information from the scout scan.例文帳に追加

本方法は、対象物（２２）のスカウト走査を実行する段階と、スカウト走査からの減弱度情報に基づいて対象物内の領域を自動的に決定する段階を含む。 - 特許庁

Efficient focus processing is performed by setting the scan range of the first scan processing by utilizing subject distance information obtained by face detection information or monitoring information.例文帳に追加

第１スキャン処理のスキャン範囲は顔検出情報またはモニタリング情報によって得られる被写体距離情報などを利用して設定することで効率的なフォーカス処理が可能となる。 - 特許庁

When determining the scan data P1 to be atypical, the multifunctional machine 10 generates the file 210 containing the scan data P1 to P4 and having a second file format having no page concept.例文帳に追加

一方、多機能機１０は、スキャンデータＰ１について非定型と判断すると、スキャンデータＰ１〜Ｐ４を含み、ページ概念を有さない第２のファイル形式を有するファイル２１０を生成する。 - 特許庁

To provide a circuit inspection device, a semiconductor integrated circuit, and a memory macrocell, for circumventing a memory macrocell from stopping propagation of scan data in scan pass testing using a simple circuit.例文帳に追加

スキャンパステスト時にメモリマクロセルでスキャンデータの伝搬が阻止されてしまうことを、簡単な回路で回避する回路検査装置、半導体集積回路およびメモリマクロセルを提供する。 - 特許庁

When a user performs image scan for Scan to E-mail (S103), an MFP compares a scanned image with all scanned images in the past by image analysis (S105).例文帳に追加

ユーザがＳｃａｎ ｔｏ Ｅ−ｍａｉｌのための画像スキャンを実行すると（Ｓ１０３）、ＭＦＰは画像解析により、スキャンした画像を過去のスキャン画像全てと比較する（Ｓ１０５）。 - 特許庁

To reduce a danger causing noise on a lower rank source line VSS and becoming a malfunction when a plasma display scan electrode driving IC 50 drives simultaneously whole scan electrodes from high to low.例文帳に追加

プラズマディスプレイの走査電極駆動ＩＣ５０が全走査電極を同時にハイからロウに駆動する際に、下位側電源ラインＶ_ＳＳにノイズが生じて誤動作になる危険を低減する。 - 特許庁

To solve the problem that malfunction occurs since changing of a scan test signal becomes a noise occurrence source during a normal mode in a semiconductor integrated circuit having a scan test signal wiring.例文帳に追加

スキャンテスト信号配線を有する半導体集積回路において、ノーマルモード時にスキャンテスト信号が変化することでノイズの発生源となり、半導体集積回路が誤動作してしまう。 - 特許庁

Area correction is performed when the user adds further scan data to the area, extracts scan data from the area, performs shape trimming or uses another editing function.例文帳に追加

領域修正は、ユーザーが領域にスキャンデータを更に含ませたり、領域からスキャンデータを抜き出したり、形状をトリミングしたり、または他の編集機能を用いる時に行われる。 - 特許庁

A write scan line 104WS to be shared is allocated as a vertical scan line for controlling a first sampling transistor 125, and it is shared by pixel circuits P of a plurality of lines.例文帳に追加

第１のサンプリングトランジスタ１２５を制御するための垂直走査線として共用対象の書込走査線１０４WSを割り当てて複数行の画素回路Ｐで共用する。 - 特許庁