「TEST PROCESS」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

Click Continue.On the completion of the process the HasNoReservations test passes successfully. 例文帳に追加

「継続」をクリックします。 このプロセスが完了すると、HasNoReservations テストは成功です。 - NetBeans

To enable shortening a test process in a semiconductor storage and to enable reducing power consumption in a burn-in test process.例文帳に追加

半導体記憶装置における検査工程を短縮できるようにし、また、バーンイン検査工程において、消費電力を低減できるようにする。 - 特許庁

The manufacturing method of the product includes: a creation process for creating the product; a first test process for testing the product; and a second test process for testing a part of products that meet a standard in the first test process.例文帳に追加

製品の製造方法において、製品を作製する作製工程と、この製品を検査する第１の検査工程と、第１の検査工程において基準を満たした製品のうち、一部の製品について検査する第２の検査工程と、を設ける。 - 特許庁

In this situation, if you run the test case when there is already a running process instance initiated by the same test case,the second process instance will not be initiated and the test will fail.例文帳に追加

この状況で、同じテストケースによって開始された実行中のプロセスインスタンスがすでにあるときにテストケースを実行した場合、2 番目のプロセスインスタンスは開始されず、テストは失敗します。 - NetBeans

Each of the test substrates is classified and allocated to a test substrates group having a common reusable process assigned to the test substrates group.例文帳に追加

各々のテスト基板は、テスト基板のグループに割当てられた共通の再生利用プロセスを有するテスト基板のグループに分類され、配置される。 - 特許庁

The test conditions are: the electrodes of ϕ25 mm cylindrical column/ϕ25 mm cylindrical column; the sample thickness of 0.5 mm; the test method of short time process; and the test temperature of 23°C.例文帳に追加

＜試験条件＞ 電極：φ２５ｍｍ円柱／φ２５ｍｍ円柱 試料厚み：０．５ｍｍ 試験方法：短時間法 試験温度：２３℃ - 特許庁

Information and a reference value input and calculated in the engineering process are processed by a process control part, the process control part calculates all the tests to be executed by the test module and results obtained in the test process by the test module are provided to the process control part.例文帳に追加

エンジニアリングプロセス内に入力され、算出される情報及び基準値は、プロセス制御部によって処理され、プロセス制御部は、テストモジュールによって実行されるべき全てのテストを算出し、テストモジュールによりテストプロセスで得られた結果は、プロセス制御部に提供される。 - 特許庁

This material testing machine carries out a material test consisting of a main process applying a target load to a material test piece 1 by automatic control, a pretreatment process before the main process, and a post-treatment process following the main process.例文帳に追加

材料試験装置は、材料試験片（１）に目標負荷を自動制御によりかける本工程と、この本工程より前の前処理工程と、前記本工程より後の後処理工程とからなる材料試験を行っている。 - 特許庁

To reduce a manufacturing cost and to shorten a manufacturing process in a process from an airtightness test to shipment.例文帳に追加

気密試験から出荷までの工程において、製造コストの低減と製造工程の短縮化を図る。 - 特許庁

This method has a process of performing one or more test cycles of an LBIST system in a device during the test.例文帳に追加

この方法は、テスト中のデバイス内のＬＢＩＳＴシステムの１つ以上のテストサイクルを行う工程を具備する。 - 特許庁

To provide a process and apparatus for generating simulated network test traffic from a stored test traffic definition.例文帳に追加

保存されたテストトラフィック定義から擬似ネットワークテストトラフィックを生成するためのプロセス及び装置を提供する。 - 特許庁

The method of forming the test print material comprises a test data formation process for acquiring the test data, a raster image data forming process for acquiring raster image data, and a print-out process for providing the test print material by printing the raster image data by means of a print-out means.例文帳に追加

また、テストデータを得るテストデータ生成過程と、ラスターイメージデータを得るラスターイメージデータ生成過程と、ラスターイメージデータを入力して印刷出力手段によって印刷しテスト印刷物を得る印刷出力過程とを有するテスト印刷物作成方法。 - 特許庁

To obtain abnormality judging equipment and method being used in wafer test process.例文帳に追加

ウエハテスト工程にて使用される異常判定装置及びその方法を得る。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device and its test method in which a defect relieving process using an anti-fuse and a time required for its test process can be shortened.例文帳に追加

アンチヒューズを用いた不良救済工程及びそのテスト工程に要する時間を短縮できる半導体記憶装置及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

After a function test process, dummy test data is supplied to the semiconductor integrated circuit device to perform a post-processing process, at which a clock speed is gradually reduced.例文帳に追加

機能試験手順の後、半導体集積回路装置にダミーテストデータを供給して後処理手順を行い、その際クロック速度を徐々に低下させる。 - 特許庁

When registering a new business process definition, the business process definition registering function 147 indicates output of a test item to the test item output function 146.例文帳に追加

新たなビジネスプロセス定義が登録されると、ビジネスプロセス定義登録機能１４７はテスト項目出力機能１４６にテスト項目の出力を指示する。 - 特許庁

To provide a test case management method which can collectively process maintenance of addition/deletion/copying of test cases while considering a combination of a test target screen and a test condition.例文帳に追加

本発明は、テストケースの追加・削除・コピーのメンテナンスを行う際に、テスト対象画面・テスト条件の組み合わせを考慮して一括で処理が可能なテストケース管理方法を提供する。 - 特許庁

To reduce development costs for a test and an evaluation process by creating a script for test of high test precision and lightening the burden of work needed for the creation of the script for test.例文帳に追加

テスト精度の高いテスト用スクリプトを作成すると共に、テスト用スクリプト作成時に要する作業負荷を軽減することで、テスト及び評価工程における開発コストを軽減する。 - 特許庁

To provide semiconductor test equipment and a semiconductor test method which can conduct a test for defects with high accuracy in a semiconductor manufacturing process.例文帳に追加

半導体製造工程における欠陥検出検査を高精度で行うことが可能な半導体検査装置及び半導体検査方法を提供する。 - 特許庁

To utilize the test results during the manufacturing process by enabling a test during slitting by eliminating variations between oprators and test errors.例文帳に追加

磁気記録媒体の検査装置において、作業者間のバラツキや誤検査をなくし、裁断中の検査を可能として、検査結果を製造工程稼動中に生かす。 - 特許庁

Whether a test command from a test command output device has been received or not is confirmed in a variable pattern command reception waiting process.例文帳に追加

変動パターンコマンド受信待ち処理にて、テストコマンド出力装置からのテストコマンドを受信したか否か確認する。 - 特許庁

An image pickup signal obtained by test image pickup is stored in a digital process 108.例文帳に追加

テスト撮像で得られた撮像信号はディジタルプロセス１０８に格納される。 - 特許庁

To simplify a burn-in test process in a wafer state, thus providing a compact device.例文帳に追加

ウェハ状態でのバーンイン試験の工程を簡素化し、装置のコンパクト化を計る。 - 特許庁

To enable decision on quality of an overcurrent detection function in a wafer test process.例文帳に追加

ウエハテストの工程で過電流検出機能の良否判定を可能にする。 - 特許庁

At the start of a test process, the information of test item inputted to a test terminal 1 is transferred to a test management server 3 through a host computer 2 and registered in a progress management DB 5 by a test registering function 33 of the server 3.例文帳に追加

テスト工程開始時には、テスト端末機１に入力されたテスト項目の情報を、ホストコンピュータ２を介してテスト管理サーバ３に転送し、テスト管理サーバ３のテスト登録機能３３により進捗管理ＤＢ５に登録する。 - 特許庁

After having passed through vapor deposition processes (c) to (f) to vapor-deposit the organic layer and electrode, a test process (g) to perform a predetermined test to the vapor-deposited organic layer and electrode is equipped, and a sealing process (h) is performed after the test process.例文帳に追加

基板に有機層及び電極を蒸着する蒸着工程（ｃ）〜（ｆ）を経た後に、この蒸着された有機層及び電極に対して所定の検査を行う検査工程（ｇ）を備え、該検査工程の後に封止工程（ｈ）を行う。 - 特許庁

To accurately and timely manage the progress state of a test process without arranging a full-time manager for managing the progress state of a test process in each group.例文帳に追加

各グループ毎にテスト工程の進捗状況を管理する専任の管理者を配置することなく、テスト工程の進捗状況を正確にかつタイムリーに管理する。 - 特許庁

BACK PRESSURE RESISTANCE TEST METHOD FOR FILTER CARTRIDGE AND FILTERING PROCESS CONTROL METHOD FOR PLANT例文帳に追加

フィルタカートリッジの逆圧耐性試験方法及びプラントの濾過工程制御方法 - 特許庁

A test process of software is evaluated by using a decided reliability growth model.例文帳に追加

そして、確定した信頼度成長モデルを用いてソフトウェアのテストプロセスを評価する。 - 特許庁

Manufacture process information J1 is transmitted from a manufacture process host 11 to a wafer test host 21 and the wafer test host 21 refers to a correspondence chart 212, and decides a wafer specification code J2.例文帳に追加

製造プロセスホスト１１よりウェハテストホスト２１へ製造プロセス情報Ｊ１を送信し、ウェハテストホスト２１は対応表２１２を参照し、ウェハスペックコードＪ２を決定する。 - 特許庁

To develop a screening test method for the quality of a semiconductor device substrate during etching process.例文帳に追加

半導体デバイス基板のエッチング過程の品質のスクリーニング試験法を開発する。 - 特許庁

A test voltage is applied to the accumulation capacities in the element substrate (process S1).例文帳に追加

上記素子基板において、蓄積容量に試験電圧を印加する（工程Ｓ１）。 - 特許庁

Then, via a process by a indeterminate value determining means 105, the test patterns are merged by a test pattern merging means 106.例文帳に追加

その後、不確定値決定手段１０５による処理を経て、テストパタン併合手段１０６によってテストパタンの併合が行われる。 - 特許庁

To perform an open loop test of a PLL circuit and a closed loop test including a lock-up time in the same inspection process.例文帳に追加

ＰＬＬ回路の開ループテストおよびロックアップタイムを含めた閉ループテストを同一の検査工程で実施できるようにすること。 - 特許庁

A process execution part 14 fetches data about the batch AP as the test object from a program data storage part 21 and executes a program test.例文帳に追加

処理実行部１４は、プログラムデータ記憶部２１から、テスト対象のバッチＡＰのデータを取り出して、プログラムテストを実行する。 - 特許庁

Each Test Case in the Composite Application project will attempt to send the input message to the target process when you invoke the Test action.例文帳に追加

「テスト」アクションを呼び出すと、複合アプリケーションプロジェクト内の各テストケースが入力メッセージをターゲットプロセスに送信しようとします。 - NetBeans

ASYNCHRONOUS CODE TEST METHOD, COMPUTER PROGRAM PRODUCT, COMPUTER SYSTEM, AND PROCESS (ASYNCHRONOUS CODE TEST IN INTEGRATED DEVELOPMENT ENVIRONMENT (IDE))例文帳に追加

非同期コード・テスト方法、コンピュータ・プログラム製品、コンピュータ・システムおよびプロセス（統合開発環境（ＩＤＥ）における非同期コード・テスト） - 特許庁

In an erase process to erase the test write data recorded in the test area, CW erase is performed (a step S104) and reproduction of the test write data is attempted (a step S106).例文帳に追加

テストエリアに記録された試し書きデータを消去する消去工程では、ＣＷイレーズを行い（ステップＳ１０４）、試し書きデータの再生を試行する（ステップＳ１０６）。 - 特許庁

To shorten design TAT by responding change of a test method without recalculating the test efficiency each time or adding a process of inserting a new test point.例文帳に追加

テスト手法が変更されても、その都度テスト効率を計算し直したり、新たなテストポイントを挿入する工程を追加することなく対応して、設計ＴＡＴを短縮する。 - 特許庁

A complex miniature test includes a process to conduct a drop weight test using surface miniature specimen, and a process to conduct a miniature test for measuring brittle fracture surface ratio or absorbed energy by using an internal miniature specimen.例文帳に追加

本発明の複合小型試験は：表層小型試験片を用いて落重試験を行う工程と；内部小型試験片を用いて脆性破面率または吸収エネルギーを測定する小型試験を行う工程と；を含む。 - 特許庁

The crack development testing method has a crack-forming process for forming the crack 2 in a test piece 1 and a holding process for holding the test piece 1, while applying definite displacement to the test piece 1 in a direction 4 vertical to the extending direction of the crack 2.例文帳に追加

き裂進展試験方法は、試験片１に、き裂２を形成するき裂形成工程と、試験片１に、き裂２が延びる方向に垂直な方向４に一定の変位を加えたまま保持する保持工程と、を有する。 - 特許庁

MANUFACTURING PROCESS MANAGING TEST CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD FOR MANAGING MANUFACTURING PROCESS OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の製造工程管理用テスト回路および半導体集積回路の製造工程の管理方法 - 特許庁

This test control device sets a debug count including a flow count for expressing a redoing frequency of the test flow and a process count for expressing a redoing frequency of the test processes, and executes the respective test processes of the test flow including redoing while selecting the test condition in response to this debug count.例文帳に追加

テスト管理装置において、テストフローのやり直し回数を表すフローカウントと各テスト工程のやり直し回数を表す工程カウントとを含むデバッグカウントを設定し、このデバッグカウントに対応してテスト条件を選択しながら、やり直しを含むテストフローの各テスト工程を実行させる。 - 特許庁

SYSTEM ALLOWING SHEAR BOX TO FREELY ROTATE IN SHEARING PROCESS OF SINGLE SHEAR TEST例文帳に追加

一面せん断試験のせん断過程において自由にせん断箱が回転できるシステム - 特許庁

To test mechanical excitation without any electrical contact in the initial manufacturing process.例文帳に追加

初期の製造工程において、電気的な接触なくとも機械的励起の試験を行う。 - 特許庁