「TEST PROCESS」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

Test running BPEL processes by sending sample messages to the deployed process or processes. 例文帳に追加

配備された 1 つまたは複数のプロセスにメッセージを送信することによる、BPEL プロセスのテスト実行。 - NetBeans

To deploy, test-run, and debug the BPEL process, use the CompositeApplication project. 例文帳に追加

BPEL プロセスを配備、テスト実行、およびデバッグするには、複合アプリケーションプロジェクトを使用します。 - NetBeans

In the sixth process, wafer probing 5 is performed for an electrical property test of semiconductor wafer.例文帳に追加

第６工程で、半導体ウエハの電気的特性試験のためにウエハプロービング５をする。 - 特許庁

Once your data rules are set your test data creation becomes a predictable and repeatable process. 例文帳に追加

データ規則が設定できれば、テストデータ作成は予測可能で繰り返し可能なプロセスとなる。 - コンピューター用語辞典

The transmitter, having the detection process means for detecting process quantities and processing electric signals derived from the process quantities, has a test means for creating the nonstationary state of the detection process means for a test.例文帳に追加

プロセス量を検出し、前記プロセス量に基づく電気信号を信号処理する検出処理手段を備える伝送器において、前記検出処理手段の非定常状態をテストとして生成するテスト手段を備えることを特徴とする伝送器。 - 特許庁

To provide a technology for significantly reducing test man-hours for the withstand voltage test of a three-terminal capacitor using a simple device, and for making the withstand voltage test by a one-time withstand voltage test process of the three-terminal capacitor to be tested completed.例文帳に追加

簡便な装置で３端子コンデンサの耐電圧試験の試験工数を大幅に削減し、かつ被試験３端子コンデンサを１回の耐電圧試験工程で耐電圧試験を完了させる技術を提供する。 - 特許庁

DEVICE FOR GENERATION OF TEST DATA, METHOD FOR GENERATING TEST DATA AND STORAGE MEDIUM WHICH STORES PROGRAM TO HAVE COMPUTER TO PROCESS ON THE SYSTEM例文帳に追加

テストデータ生成装置、テストデータ生成方法及びそのシステムでの処理をコンピュータに行なわせるためのプログラムを格納した記憶媒体 - 特許庁

Irradiation is detected in a method of exposing the sample to irradiation by a test module monitoring a weathering test process from an improved position.例文帳に追加

改良された位置から耐候試験過程をモニターする試験モジュールで、試料が照射に曝される方法で照射を検知する。 - 特許庁

Irradiation is sensed by a test module for monitoring a weathering test process from an improved location, in the manner in which the specimens are exposed to irradiance.例文帳に追加

改良された位置から耐候試験過程をモニターする試験モジュールで、試料が照射に曝される方法で照射を検知する。 - 特許庁

To enable a tilt test and a telescopic test of a steering assembly to be carried out quickly and correctly without the need for any tooling-change process.例文帳に追加

ステアリングアッセンブリーのチルト試験とテレスコピック試験とを、段替え工程を介することなく、迅速かつ正確に行うことを可能とする。 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR DETECTING FOCUS VARIATION IN PHOTOLITHOGRAPHY PROCESS USING TEST FEATURE PRINTED FROM PHOTOMASK TEST PATTERN IMAGE例文帳に追加

フォトマスクのテストパターンイメージから印刷されたテストフィーチャーを用いるフォトリソグラフィ工程における焦点変化を測定するシステム及び方法 - 特許庁

BLEEDING TEST DEVICE AND BLEEDING TEST METHOD IN GROUT INJECTION CONSTRUCTION METHOD INCLUDING EVACUATION PROCESS INTO CABLE SHEATH OF PC STRUCTURE例文帳に追加

ＰＣ構造物のケーブルシース内への真空引き工程を含むグラウト注入工法におけるブリージングテスト装置、及びブリージングテスト方法。 - 特許庁

To raise the accuracy of observation and the process of a profile line by preventing the charging of a test piece at the observation and process of the test piece by a charged particle beam device and effectively utilize a processing gas to be blown on the test piece at processing.例文帳に追加

荷電粒子ビーム装置による試料の観察や加工の際に、試料の帯電を防いで輪郭線の観察や加工の精度を上げるとともに、加工時には試料に吹き付ける加工用ガスを有効に活用する。 - 特許庁

To provide a test pattern with which a circuit pattern can be inspected for defects with high sensitivity in a semiconductor manufacturing process, a method for detecting defect, and a method for managing manufacturing process both of which use the test pattern.例文帳に追加

半導体製造プロセスにおける回路パターンの不良を高感度に検査可能なテストパターンと、これを用いた不良検出方法および製造プロセス管理方法を提供する。 - 特許庁

To prevent damaging of a test device in a test process, by cutting off damaging due to separating in a transfer process, since a semiconductor element is not normally installed in an insert.例文帳に追加

半導体素子がインサートに正常に装着されないことにより、移送される過程で離脱して破損することを遮断し、更に、テスト過程でテスト装置を損傷させるのを防止する。 - 特許庁

By a test mode control circuit 14, the functional block 12 is shifted to the test mode from the normal operation mode during the activating process of the operation inhibiting signal EN and the receiving process of the external clock CK.例文帳に追加

テストモード制御回路１４は、動作禁止信号ＥＮの活性化中かつ外部クロックＣＫの受信中に機能ブロック１２を通常動作モードからテストモードに移行させる。 - 特許庁

The test substrate is reclaimed by reading process steps carried out on respective test substrates from a database, and selecting one reusable process from a plurality of reusable processes.例文帳に追加

各々のテスト基板上で行なわれるプロセスステップをデータベースから読取り、且つ複数の再生利用プロセスから一つの再生利用プロセスを選択することによって再生利用される。 - 特許庁

In the wafer test process, a test time criterion value is calculated from test time achievements in the past for each product and each measurement conditions, and actual test time is compared with the criterion value for every notice of wafer end from a device such as a tester thus performing GO/NO-GO test.例文帳に追加

ウエハのテスト工程にて、各製品毎、測定条件毎の過去のテスト時間実績からテスト時間判定基準値を算出し、テスタ等の装置からのウエハ終了通知毎に、実際のテスト時間と、判定基準値とを比較し良否判定を行う。 - 特許庁

A test process 20 to be performed by a test system 100 includes: a test class thread 31 for performing a test class 30 in which a method for testing a device is described; and a tool thread 11 for performing a tool 10 which includes a function that can be used for the test of the device.例文帳に追加

試験システム１００で実行される試験プロセス２０は、デバイスの試験方法を記述したテストクラス３０を実行するためのテストクラス・スレッド３１と、デバイスの試験に利用可能な関数を含むツール１０を実行するためのツール・スレッド１１と、を含む。 - 特許庁

The determination process includes a process for receiving identification information indicating one test image of a plurality of test images printed using the plurality of pattern sets from a user and a process for determining one pattern set corresponding to one test image on the basis of the identification information.例文帳に追加

決定工程は、複数のパターンセットを用いて印刷された複数のテスト画像のうちの１つのテスト画像を示す識別情報をユーザから受け取る工程と、識別情報に基づいて１つのテスト画像に対応する１つのパターンセットを決定する工程と、を含む。 - 特許庁

A test lot P is selected from a batch A which finished a process 2, an epitaxial growth process and the test lot P is subjected to a process 3 to a final inspection process precedent to other lots of the batch A, and a finished product of a semiconductor laser device is manufactured.例文帳に追加

エピタキシャル成長工程である工程２を終えたバッチＡから、先行ロットＰを選択し、この先行ロットＰを、バッチＡの他のロットに先行して工程３から最終検査工程までを進ませて、半導体レーザ装置の完成品を製作する。 - 特許庁

To be concrete, the test method is constituted of a process for administering a composition containing a high concentration of the lower alcohol to the skin model (process 1); a process for blowing air and drying an administered specimen (process 2); a process for cultivating the skin model after the administration (process 3); a process for evaluating a cell survival rate after the cultivation (process 4).例文帳に追加

具体的には、低級アルコールを高濃度に含む組成物を皮膚モデル上に投与する工程（工程１）、投与した検体を送風乾燥する工程（工程２）、投与後に皮膚モデルを培養する工程（工程３）、培養後の細胞生存率を評価する工程（工程４）より構成される。 - 特許庁

A test pattern compressing function by repeating a test pattern reactivating technique in a test pattern creating process and a test pattern compressing function by discriminating a test pattern which detects the largest number of undetected failures from among a plurality of test patterns used in the repeated process are simultaneously made compatible at a high speed by using a PPPF failure simulation technique.例文帳に追加

テストパタンの再活性化手法をテストパタン生成工程において繰り返すことによるテストパタン圧縮機能、及び当該繰り返し工程において用いられる複数のテストパタンの中から最も多くの未検出故障を検出するテストパタンを識別することによるテストパタン圧縮機能を、ＰＰＰＦ故障シミュレーション手法を用いることで同時に高速に両立する。 - 特許庁

To output a test result to the outside in a short time of a wafer test in a manufacturing process of a semiconductor integrated circuit including a nonvolatile memory.例文帳に追加

不揮発性メモリを含む半導体集積回路の製造工程におけるウェハテストにおいて、短時間にテスト結果を外部に出力させる。 - 特許庁

To provide an IC chip and its test method dispensing with interruption of the manufacturing process of a laser driving circuit for performing an evaluation test.例文帳に追加

レーザ駆動回路の製作工程を中断して評価試験を必要とすることのないＩＣチップ及びその試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device manufacturing method which can proceed a semiconductor device manufacturing process, without a test piece, as desired process or while correcting the process.例文帳に追加

半導体装置製造プロセスを、テストピースなしに、所望の工程通り又は修正しながら進行することを可能とする半導体装置の製造方法を提供すること。 - 特許庁

If the evaluation and test of the proposed and corrected business process have been succeeded, the corrected business process may be used as substitute of the original business process in an organization.例文帳に追加

提案された修正済みビジネスプロセスの評価およびテストが成功した場合、修正されたビジネスプロセスを、組織内のオリジナルのビジネスプロセスと置き換えることができる。 - 特許庁

The method performs a pretreatment process for providing a pneumatic tire with outer-diameter growth and performs an indoor wear test process on the pneumatic tire which has passed through the pretreatment process.例文帳に追加

空気入りタイヤに外径成長を生じさせる前処理工程を実施し、該前処理工程を経た空気入りタイヤに対して室内摩耗試験工程を実施する。 - 特許庁

To provide a high-safety manufacturing method of a semiconductor device including a B/I (Burn-In) test process.例文帳に追加

安全性が高いＢ／Ｉテスト工程を含んだ半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To decide the waiting time of a measurement in an air leak test by a simple process.例文帳に追加

エアリークテストにおける測定待ち時間の決定を、簡単な工程で行うことができるようにする。 - 特許庁

A probe reacting with a biosubstance is immobilized in the test site, in a following process.例文帳に追加

テストサイト１１２には、後の工程において、生体関連物質と反応するプローブが固相化される。 - 特許庁

This implementation is only meant to serve as a test harness for the Travel Reservation Service process. 例文帳に追加

この実装は、旅行予約サービスプロセス用のテストハーネスとして機能することのみを意図しています。 - NetBeans

Thus, TPTP of each magnetic head can be measured quantitatively, for example, at the burn-in test process.例文帳に追加

これにより，例えばバーンインテスト工程で，各磁気ヘッドのＴＰＴＰを定量的に測定できる。 - 特許庁

In this way, the exposure test can be performed as part of the normal printing process.例文帳に追加

このような態様で、通常の印刷工程の一部として露出試験を行なうことができる。 - 特許庁

However, as test subjects will not survive the process, we'll need more than we've ever needed before... hundreds of thousands.例文帳に追加

ただし被験者は命を落とす事に これまで以上に 多くの被験者が必要 何万人も - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

In the testing device, when the designated operation mode is a parallel test mode for performing the same test simultaneously in parallel by the plurality of test modules, the central processing unit controls the test operation of the plurality of test modules by executing one test process determined beforehand.例文帳に追加

この試験装置において、中央処理装置は、指定された動作モードが、複数の試験モジュールにより同一の試験を同時に並行して行わせる並行試験モードである場合には、予め定められた一の試験用プロセスを実行することより複数の試験モジュールにおける試験動作を制御する。 - 特許庁

The invention relates to the test board locking device for testing a semiconductor chip and more particularly relates to the test board locking device capable of easily mounting/detaching a test board on/from the stiffener in the EDS test process of the semiconductor chip.例文帳に追加

本発明は半導体チップのテストのためのテストボードロッキング装置に係わり、さらに詳細には半導体チップのＥＤＳテスト工程でスチフナ上にテストボードを容易に脱付着させることができるテストボードロッキング装置に関する。 - 特許庁

The method of installing and configuring a test package for a unit under test in an automated assembly process uses an identifier of the unit under test to retrieve the test files and other files for the installation and configuration.例文帳に追加

自動化された組み立て工程においてテスト中のユニット装置に対してテスト・パッケージをインストールし設定する方法は、上記テスト中のユニットの識別子を用いてテスト・ファイルとインストール及び設定用の他のファイルとを検索する。 - 特許庁

To simplify a test process by elimiminating a labor and time for confirming a defective address and cutting off a capacity fuse which is other than a manufacturing process.例文帳に追加

不良アドレスの確認、容量ヒューズの切断という製造工程外の手間を無くすことによりテスト工程の簡略化を図る。 - 特許庁

It is preferable to confirm the update adjustment factor (109) before the update adjustment factor is taken into the test process or monitor process.例文帳に追加

更新調整因子を試験プロセス又は監視プロセスに取り入れる前に、更新調整因子を確認するのが好ましい（１０９）。 - 特許庁

So, to test a BPEL process, you must send the BPEL runtime a message targeted at one of the process receive activities. 例文帳に追加

したがって、BPEL プロセスをテストするには、プロセス受信アクティビティーの 1 つをターゲットとするメッセージを BPEL 実行環境へ送信する必要があります。 - NetBeans

Thus, to test a BPEL process, you must send the BPEL runtime a message targeted at one of the process receive activities. 例文帳に追加

したがって、BPEL プロセスをテストするには、プロセス受信アクティビティーの 1 つをターゲットとするメッセージを BPEL 実行環境へ送信する必要があります。 - NetBeans

The method for patient evaluation includes: a process for performing an exercise test on a patient; a process obtaining an electrocardiogram during the exercise test; a process converting the electrocardiogram to an audio file; and a process analyzing the audio file in order to evaluate the patient.例文帳に追加

本明細書では患者を評価するための方法は、患者に対してエクササイズ検査を実施する工程と、エクササイズ検査中に心電図を取得する工程と、心電図をオーディオファイルに変換する工程と、患者の評価のためにオーディオファイルを解析する工程と、を含む。 - 特許庁

A sixth process performs the failure simulation by switching to the test pattern acquired in the fourth process while using the prescribed test pattern to the correcting circuit at timing corresponding to the undetected failures .例文帳に追加

第６の工程は、修正回路に対して所定のテストパターンを用いながら未検出故障相当のタイミングでは第４の工程で求めたテストパターンに切り換えて故障シミュレーションを行う。 - 特許庁

To completely automatize airtightness test process, obtain an optimum detection capability of the waste water trap and improve reliability of test results.例文帳に追加

気密性検査工程を完全自動化できることに加えて、排水トラップに最適な検出能力を得ることができ、検査結果の信頼性を向上できる。 - 特許庁