「TEST PROCESS」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an inspection method for a semiconductor integrated circuit including an equalization process for generating a burn-in test pattern for equalizing the number of times of toggling on each element level of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路の各素子レベルでのトグル回数を平準化するバーンインテストパターンを生成する平準化工程を含む半導体集積回路の検査方法の提供。 - 特許庁

To provide a refrigerator easy to assemble, and having high serviceability so that an inspection and repairing in a manufacturing process and a test in service and the inspection can be easily performed.例文帳に追加

組立が容易であるとともに、製造工程における点検や修理・サービス，点検における検査なども容易に行うことができるようにサービス性の高い冷蔵庫を提供する。 - 特許庁

The breath test determination processing unit 23 disables the drunk driving prevention process to be performed by the drunk driving prevention processing unit 22 within a predetermined time from an engine stop.例文帳に追加

そして、飲酒検査判定処理部２３は、エンジン停止からの経過時間が所定時間内である場合は、飲酒運転防止処理部２２による飲酒運転防止処理を禁止する。 - 特許庁

When the leader network element sets up a recognition process, a recognition request network element transmits an optical test signal to all the other networks along a link in question.例文帳に追加

認識プロセスが、リーダーネットワークエレメントによりセットアップされると、光テスト信号は、認識要求ネットワークエレメントから全ての他のネットワークエレメントへ、問題となるリンクに沿って、送信される。 - 特許庁

Then, a command is transmitted to the lens device 14 so that the characteristic of the AF processing section 22, which performs the AF process based on the image of the test chart, is altered to the optimum one.例文帳に追加

そして、テストチャートの映像に基づいてＡＦの処理を行うＡＦ処理部２２の特性が最適となるように特性を変更するコマンドがレンズ装置１４に送信される。 - 特許庁

To improve testing efficiency in an easy testing process without narrowing the power range of a device in which burn-in is possible, in a burn-in test method and burn-in system.例文帳に追加

本発明は、バーンイン試験方法及びバーンインシステムに関し、バーンイン可能なデバイスのパワー範囲を狭めることなく、簡単な試験工程で試験効率を向上することを目的とする。 - 特許庁

The production process of this original liquid of the slurry mortar involves mixing a sludge slurry with aggregate having ≤1.0 mm grain size, such as sand, to produce the objective original liquid which are designed so as to have a 1.4-2.0 g/cm3 specific gravity value and a 300-500 mm flow test (JHS A313) value.例文帳に追加

汚泥スラリーに粒子径１．０mm以下の砂等の骨材を配合し、その比重が１．４〜２．０ｇ／cm3 、フロー試験（ＪＨＳ Ａ３１３）の値を３００〜５００mmに設計する。 - 特許庁

To execute an accurate test optically for determining the presence or absence of flaws on the surface of a round bar material on which oil films are formed because of being coated with oil or the like in a manufacturing process.例文帳に追加

製造過程で油などが塗布されて油膜が形成される丸棒材表面の欠陥の有無を、光学式にて高精度に検査することができる疵検査装置を提供する - 特許庁

Test piece 5 is formed by cutting the multiple layer tube formed by extrusion molding in specified width and in specified length by using a simple cutting device 10 set in a production process.例文帳に追加

押出成形により形成された複層チューブを生産工程内に設置された簡易切断装置１０を用いて、所定幅の長尺に切断することにより試験片５が作成される。 - 特許庁

An accelerated degradation test of the electronic parts is carried out, the characteristic quantity indicating the degradation is measured for the parts taken out at every treatment time, and the time series change is derived (Process 1).例文帳に追加

電子部品に加速劣化試験を施し所定時間毎に取り出した部品について、劣化を示す特徴量を測定し、その時系列変化を導出する（工程１）。 - 特許庁

This method includes an accelerated test process for eliminating initial failure due to stress migration of wires occurring in a semiconductor device having wires made of copper or a copper alloy as the main component.例文帳に追加

銅或いは銅を主成分とする合金から成る配線を有する半導体装置に発生する配線のストレスマイグレーションによる初期不良を除去する加速試験工程を有する。 - 特許庁

As a result, when a permeable area (water path M) is discovered, a hardener injection process for injecting the hardener into the permeable area by using the through-holes or the test hole.例文帳に追加

その結果、通水領域（みずみちＭ）が発見された場合には、前記貫通孔又は前記試験孔を使用して前記通水領域に固化材を注入する固化材注入工程。 - 特許庁

A remote diagnostic signal is inputted from the managing device 15 to a remote operation control means 19, and a photosensitive drum 1 and respective process units are operated to form a test pattern on a recording material P.例文帳に追加

管理装置１５から遠隔診断信号を遠隔動作制御手段１９に入力して感光ドラム１、各プロセス機器を動作させて記録材Ｐ上にテストパターンを形成させる。 - 特許庁

Then, it is easy to confirm whether or not to be able to correctly decode and process defective information in the recorder/player by using a test disk utilizing a mirror file having settled defective information that is not related to an actual defect on the disk in a DMA information confirmation test mode.例文帳に追加

従って、ＤＭＡ情報確認テストモードによりディスク上の実際の欠陥と関連のない既決欠陥情報を持つミラーファイルを利用したテストディスクを使用することにより、記録及び再生装置にて正しく欠陥情報を解読し処理できるか否かが容易に確認される。 - 特許庁

In the construction process of a reactor power plant, a reactor pressure vessel 1 inside of a ABWR employed for the reactor power plant is pressure-tested by adding pressure with a control rod drive system driving water pump and adding test pressure exceeding maximum working pressure to the pressure test region at once.例文帳に追加

原子力発電プラントの建設途上で、その原子炉発電プラントに採用されたABWRの原子炉圧力容器１内を制御棒駆動系駆動水ポンプで加圧し耐圧試験範囲に対して最高使用圧力を超える試験圧力を加えて一度に耐圧試験を実施する。 - 特許庁

When the verification of whether there is a significant variation in defective occurrence percentage in the articles processed by each manufacturing device used in the manufacturing process is performed using the partition table, it is determined which of an independent chi-squared test and an accuracy probability test is appropriate.例文帳に追加

その分割表を用いて、その製造工程で用いる各製造装置で処理された製造品における不良品発生率に有意な差が有るかどうかの検定を行う場合に、独立性のカイ２乗検定と正確確率検定とのうちいずれの検定が適するかを判断する。 - 特許庁

When testing software, at first in a correct answer registration process, output data of a target program 18 are obtained on the basis of a test scenario held in a test scenario holding device 11, and output data matched with predetermined specifications are registered in a correct answer holding device 13 as correct answer data.例文帳に追加

ソフトウェアの試験を行うとき、初めに、正解登録工程において、試験シナリオ保持装置１１に保持される試験シナリオに基づいて、対象プログラム１８の出力データを取得し、予め定める仕様に合致する出力データを正解データとして正解保持装置１３に登録しておく。 - 特許庁

In a method of manufacturing a semiconductor integrated circuit device, a plurality of test element areas are arranged with different pitches near chip areas on a wafer, and in a probe test, they are electrically measured, so that local process variations are monitored.例文帳に追加

本願の一つの発明は、半導体集積回路装置の製造方法において、ウエハ上のチップ領域の近傍に複数のテスト素子領域を異なるピッチで配列し、プローブテストにおいて、それらを電気的に計測することにより、プロセスの局所的ばらつきをモニタするものである。 - 特許庁

The substrate for manufacturing the organic EL device 100 has a display pixel forming area 2A, a test pixel forming area 2B, and a liquid holder part, that is formed in the same process that forms the display pixel forming area 2A or the test pixel-forming area 2B.例文帳に追加

本発明の有機ＥＬ装置製造用基板１００は、表示用画素形成領域２Ａと、検査用画素形成領域２Ｂと、表示用画素形成領域２Ａと検査用画素形成領域２Ｂとにおいて同一プロセスにて形成された液受容部と、を備えることを特徴とする。 - 特許庁

The all solid battery is formed on the substrate, and at the same time as a piling up process of at least one kind of the battery member of the battery, the test pieces of the battery members are piled up on the other portions on the same substrate, and a pair of conductive terminals are formed at both ends or up and down of the test pieces.例文帳に追加

全固体電池を基板上に形成するとともに、その電池の少なくとも１種の電池部材の堆積工程と同時に、同一基板上の他の部位に当該電池部材の試片を堆積し、これら試片の両端または上下に一対の導電端子を形成する。 - 特許庁

A simulator is provided with a unit simulating part 211 for simulating operation of a mounting process unit of the base processor, a display control part 213 for controlling the unit simulating part 211 according to instruction information about a test obtained from an operating part 23, and an information creating part 214 for creating test information 224.例文帳に追加

基板処理装置の実装処理ユニットの動作を模擬するユニット模擬部２１１と、操作部２３から得られる試験に関する指示情報に基づいてユニット模擬部２１１を制御する表示制御部２１３と、試験情報２２４を生成する情報生成部２１４とを設ける。 - 特許庁

Interrupt address tables CIT and TIT to be used in the interrupt process executed according to the image control program CP or the test program TP are stored in association with the image control program CP and the test program TP in the program ROM 414.例文帳に追加

プログラムＲＯＭ４１４は、画像制御プログラムＣＰおよび検査プログラムＴＰにしたがって実行される割り込み処理に用いられる割り込みアドレステーブルＣＩＴ，ＴＩＴを画像制御プログラムＣＰおよび検査プログラムＴＰの双方に対応してそれぞれ格納している。 - 特許庁

Since the test program suitable for the inspection of each semiconductor device is selected on the basis of the manufacture process information J1 and the electrical inspection is executed, the efficiency of the electrical inspection is improved, the inspection time is shortened and the burdens of the correction and alteration, etc., of the test program are reduced.例文帳に追加

製造プロセス情報Ｊ１に基づいて各半導体装置の検査に好適なテストプログラムが選定され、電気的検査が実行されるので、電気的検査の効率が高められて検査時間が短縮され、テストプログラムの修正、改定等の負担が軽減される。 - 特許庁

To reduce a test cost by omitting a shifting process in which a chip on a wafer is shifted from a test device to a cutting device once to cut a fuse of a fuse circuit block in a conventional fuse circuit block.例文帳に追加

本発明は、従来のヒューズ回路ブロックにおいて、このヒューズ回路ブロックのヒューズを切断するために、いったんウェハー上のチップを検査装置から切断装置に移し変える工程があったが、その移し変える工程を無くすことで検査費用を削減させることを課題とする。 - 特許庁

To disclose a technology for accurately testing the characteristics of a memory array by rechanging reference voltage and timing to be adjusted for a test of memory cells in particular in a software manner without requiring a different process regarding a test mode controller that utilizes a nonvolatile ferroelectric memory.例文帳に追加

本発明は不揮発性強誘電体メモリを利用したテストモード制御装置に関し、特にメモリセルのテストのため調整されるレファレンス電圧及びタイミングを別途のプロセスなくソフトウェア的に再変更し、メモリセルアレイの特性を正確にテストするようにする技術を開示する。 - 特許庁

A measuring implement 3 having a position indicator 32 is installed so that it can rotate integrally with the test object 5, and enlarged images of the position indicator 32 formed by a microscope 1 at a plurality of points of time in a process of rotation of the test object 5 are picked up respectively by an image capturing camera 17.例文帳に追加

位置指標３２を有する測定用治具３を被検体５と一体的に回転し得るように設置し、被検体５が回転する過程の複数の時点において、顕微鏡１により形成される位置指標３２の拡大像を撮像カメラ１７によりそれぞれ撮像する。 - 特許庁

As for the primary-side pipe 7, airtightness test process and air purge process are performed, before being exchanged to a new pipe, and then the inside of the primary-side pipe 7 is put into a closed loop state; and gas is supplied from a main branch pipe 1, to thereby perform gas replacement in the primary-side pipe 7.例文帳に追加

一次側配管７において、新管に交換する前に、気密検査工程、空気パージ工程を行った後、一次側配管７内を閉ループにした状態で、本支管１からガスを供給することによって一次側配管７のガス置換を行う。 - 特許庁

To provide a program development device and a program development method, capable of suitably executing a test of a program by an emulator even when a current execution process is influenced by another process simultaneously driven in a general computer and to provide a recording medium and a development program.例文帳に追加

汎用コンピュータ上で同時に動作中の他プロセスからの影響を受ける場合においても、エミュレータによるプログラムのテストを適切に行うことが可能なプログラム開発装置およびプログラム開発方法ならびに記録媒体および開発プログラムを提供する。 - 特許庁

A second analytical method includes a process for bringing the test sample, the labeling partner, and another partner immobilized to the solid phase support medium capable of removing the labeling partner into contact with one another and a process for analyzing a signal derived from the labeling substance on the solid phase support medium.例文帳に追加

第２の分析方法は、被検試料と、標識化パートナーと、標識化パートナーを除去可能な固相支持体に固定化された別のパートナーとを接触させる工程；及び固相支持体上の標識物質に由来する信号を分析する工程を含む。 - 特許庁

In the method for processing the test data of the semiconductor which detects the abnormality in the fabricating process of a semiconductor wafer by processing the test data of the semiconductor wafer, a concentrating degree of defected regions on the semiconductor wafer is obtained and an index of a degree of the abnormality in the fabricating process of the semiconductor wafer is obtained from the concentrating degree of the defected regions.例文帳に追加

半導体ウエハの試験データを処理することにより、前記半導体ウエハの製造工程の異常を検出する半導体試験データ処理方法において、前記半導体ウエハの不良領域が集中している度合を求め、前記不良領域が集中している度合から、前記半導体ウエハの製造工程の異常の度合を示す指標を求めることを特徴とする。 - 特許庁

In a test execution process, output data of the target program 18, which are newly obtained on the basis of the test scenario held in the test scenario holding device 11, are compared with the correct answer data held in the correct answer holding device 13 and success decision whether the target program 18 succeeds in the output of the output data matched with the specifications or not is performed.例文帳に追加

そして試験実行工程において、試験シナリオ保持装置１１に保持される試験シナリオに基づいて新たに取得された対象プログラム１８の出力データと、正解保持装置１３に保持されている正解データとを比較して、対象プログラム１８が、仕様に合致する出力データの出力に成功したか失敗したかを判定する成功判定を行う。 - 特許庁

This manufacturing method for the wood flour molded article (7) has a process for preforming the wood flour (1) under test by isotropic pressurization in a cold hydrostatic pressure apparatus (CIP apparatus) (3) and a process (B) for finally molding the preformed article (4) obtained in the preforming process under ultrahigh pressure by isotropic pressurization in a hot hydrostatic pressure apparatus (WIP apparatus) (6).例文帳に追加

供試木粉（１）を冷間静水圧法装置（ＣＩＰ装置）（３）内で等方加圧により予備成型する工程（Ａ）と、該予備成型工程で得られた予備成型物（４）を温間静水圧法装置（ＷＩＰ装置）（６）内で、超高圧の下、等方加圧により本成型する工程（Ｂ）とを備えたことを特徴とする木粉成型物（７）を製造する方法である。 - 特許庁

The soil pollutant elution testing method measures the quantity of a soil pollutant elution from a solid sample by implementing an elution test for eluting a soil pollutant from the solid sample containing the soil pollutant into water, and implements a cycle test includes at least one drying process for drying the solid sample and one moistening process for moistening the solid sample before the elution test.例文帳に追加

土壌汚染物質が含有されている固体試料から前記土壌汚染物質を水中に溶出させる溶出試験を実施することにより前記固体試料からの土壌汚染物質溶出量を測定する土壌汚染物質溶出試験方法であって、前記固体試料を乾燥させる乾燥過程と、前記固体試料を加湿する湿潤過程とが少なくとも１回ずつ実施されるサイクル試験を前記溶出試験前に実施することを特徴とする土壌汚染物質溶出試験方法による。 - 特許庁

To receive input of the following kinds of design documents: a screen transition diagram, a general process flow diagram, a screen element definition document, a process event definition document, and an input restriction definition document, and to output whether there is an input error and a way of outputting a result, as test items.例文帳に追加

入力できる設計ドキュメントの種類として、画面遷移図、処理概要フロー図、画面要素定義書、処理イベント定義書、入力制約定義書を入力することを可能とし、テスト項目として入力エラーの有無、結果出力の仕方をも出力可能にする。 - 特許庁

Therefore, during a process of assembling the light bar, not only the assembly work is facilitated, but also the light bars can be sieved out during the assembly process, whereby material waste can be eliminated as compared with the case where an illumination test is performed only after the backlight module is completed.例文帳に追加

従って、光バーの組み立て工程中、組み立て作業が容易になるばかりでなく、組み立てプロセス中に光バーを振るい落とすことができ、これにより、バックライトモジュールを完成した後にしか照光試験を行うことができない場合よりも、材料の無駄をなくす。 - 特許庁

Focus variation in photolithography process is detected using photomasks with test features T1, T2 adapted to print patterns with critical dimensions that can be measured and analyzed to determine magnitude and direction of defocus from a best focus position of an exposure tool during a lithographic process.例文帳に追加

リソグラフィ工程の間露光装備の最適焦点からの焦点誤差のサイズ及び方向を決定するため測定及び分析できる最小線幅を有する印刷パターンに適したテストフィーチャーＴ１，Ｔ２を有するフォトマスクを用いてリソグラフィ工程において焦点変化を測定する。 - 特許庁

Choose the appropriate log level for the sun-bpel-engine from the drop down list.If logging is defined for a process activity, and the log level specified for it corresponds to the log level set for the BPEL SE, after you perform a test run of the process, the selected variable value will be written to the server log file.例文帳に追加

ドロップダウンリストから、sun-bpel-engine に適切なログレベルを選択します。 プロセスアクティビティーにログが定義されていて、指定されているログレベルが、BPEL SE に設定されているログレベルに対応している場合、プロセスのテスト実行を行なったあと、選択した変数の値がサーバーログファイルに記録されます。 - NetBeans

After a single test process system 130 tests an object process to be tested 100 and its result is stored in a trace log file 125, the program to be tested 100 calls an initializing function 111 for testing and common memory information is read in from a common memory information file 120.例文帳に追加

被テスト対象プロセス１００のテストを単体テスト処理システム１３０によりテストし、その結果をトレースログファイル１２５に格納後、被テストプログラム１００よりテスト用初期化関数１１１がコールされ、共有メモリ情報を共有メモリ情報ファイル１２０より読み込む。 - 特許庁

To provide a static load testing method for conducting a test by applying load in only one direction, testing changes of load in a pulling-up process, and grasping properties of the ground by a simple method to conduct research on an accurate N value and geological features.例文帳に追加

載荷荷重を一方向のみに付加して試験するとともに、引き上げ過程の荷重変化をも試験し、簡素な方法で地盤の性状を把握し正確なＮ値、地質の調査を可能にする。 - 特許庁

An evaluation following actual operation is therefore ensured by implementing an evaluation test while keeping the process chamber P and the vacuum chamber R at atmospheric pressure, so that it is possible to sharply save a labor of an adjustment.例文帳に追加

従って、プロセス室Ｐと減圧室Ｒとを大気圧に維持したままで評価試験を行うことで、実動作時に即した評価を行えるため、調整の手間を格段に省くことができる。 - 特許庁

The electric characteristic of the semiconductor device 8 is stored in a storage device 24 correlatively with the address of the semiconductor wafer 1 in the classified state according to the shipping address in the electric characteristic test process 18 or 21.例文帳に追加

電気特性試験工程１８または２１において、出荷先別に半導体装置８の電気特性を半導体ウェーハ１での番地と関連付けて記憶装置２４に記憶させる。 - 特許庁

To provide a game nail height testing device for a game board which efficiently tests the propriety of the height of the game nail driven into the game board without complicating a post processing process after a test.例文帳に追加

検査後の後処理工程を煩雑化させることなく、遊技盤に打ち込まれた遊技釘の高さの適否を効率良く検査できる遊技盤における遊技釘の高さ検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method of measuring a target nucleic acid in a test sample which permits the high sensitive measurement by accompanying with the amplification of the target nucleic acid in the process of the measurement without previously amplifying the target nucleic acid.例文帳に追加

標的核酸を増幅することなく、測定方法の中で核酸の増幅を伴うことにより高感度な測定が可能な被検試料中の標的核酸の測定方法の提供。 - 特許庁

To record a test pattern with which a color shift can be visually detected highly accurately in a process of correcting the color shift caused by a difference in output characteristic of recording heads of a recording apparatus.例文帳に追加

記録装置における記録ヘッド個々の出力特性の違いに起因した色ずれを補正する処理において、目視による色ずれ検出を高精度に行うことが可能なテストパターンを記録する。 - 特許庁

The manufacturing process of a CZ silicon single crystal is controlled by a preliminary test wherein resistivity of the grown single crystal from a silicon melt is measured, followed by growing the silicon single crystal from the melt.例文帳に追加

予めシリコン融液よりシリコン結晶を成長して抵抗率を測定した後、前記シリコン融液よりシリコン単結晶を成長するＣＺシリコン単結晶製造工程の管理方法。 - 特許庁