「TEST PROCESS」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

Since the ferroelectric capacitor is prevented from causing in-print due to thermal record during the test process and subsequent process, the characteristics are enhanced and shortening of the lifetime of a product is prevented.例文帳に追加

これにより、試験工程以降における熱履歴によって強誘電体キャパシタがインプリントを起こすことが防止されるので、特性が向上するとともに製品寿命の短縮が防止される。 - 特許庁

To provide a testing method using an orthogonal table and can reduce interactions, and to provide a test program, and a process monitoring method and a process monitoring program applying the testing method.例文帳に追加

直交表を使用する試験方法であって、交互作用を低減できる試験方法及び試験プログラム、並びに、この試験方法を応用した工程監視方法及び工程監視プログラムを提供する。 - 特許庁

A program has a means for randomly executing a test execution process and a means for managing the control and termination of the process, and has a mechanism for automatically conducting these means, in the system verification of the logical circuit.例文帳に追加

論理回路のシステム検証において、テスト実行プロセスをランダム実行させる手段と、プロセスの実行、終了を管理する手段とを有し、それらの手段を自動的に行う仕組みを有するプログラム。 - 特許庁

To provide an array substrate capable of optimizing test conditions of a self-test functional circuit, (BISAT)(built in self array test), for every substrate by disposing a dummy pixel area in the vicinity of a display area and arranging a defective dummy pixel therein in order to avoid the erroneous determination or the increase of a measurement time required for test in the substrate created according to an NMOS process.例文帳に追加

NMOSプロセスで作成された基板の場合、誤判定または検査に要する測定時間の増大を回避するために、表示領域近傍にダミー画素領域を設けその中に不良ダミー画素を配置することにより、基板毎に自己検査機能回路（BISAT）の検査条件の最適化をし得るアレイ基板の提供を目的とする。 - 特許庁

For example, in a design process a, design data of the product is, in a manufacturing process b, manufacturing condition of each process such as casting and processing when the product is manufactured is, in a measuring process c, the result of measurement of prescribed measurement items about the product is, and in an assessment process d, the result of a test or assessment of the product is registered.例文帳に追加

例えば設計工程ａでは当該製品の設計データが、製造工程ｂでは当該製品を製造する際の鋳造、加工などの各工程での製造条件が、測定工程ｃではその製品についての所定測定項目の測定結果が、評価工程ｄではその製品についての試験結果や評価が登録される。 - 特許庁

To provide an analysis technology for nondestructively and noncontactly analyzing a changing process of various chemical reactions progressing in a test object, and identifying a property of the test object based on an analysis result.例文帳に追加

被検体中で進行している各種化学反応の変化過程を非破壊、非接触で分析することができ、その分析結果に基づいて被検体の性質を特定することができる分析技術を提供する。 - 特許庁

To provide a contactor for eliminating a cleaning process implemented each time a final test is repeated several times, and improving the productivity of the semiconductor integrated circuit, and a test method and a tester of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

最終試験を所定回数繰り返す毎に行うクリーニング工程を不要とし、半導体集積回路の生産性を向上できるコンタクタ、半導体集積回路の試験方法及び試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory that optimum burn-in operation is performed to realize shortening of a process burn-in time and a selection test time by providing plural test modes improving access duty for a memory array system.例文帳に追加

メモリアレイ系へのアクセスデューティを上げるテストモードを複数搭載することで、最適なバーンインオペレーションを行い、工程バーンイン時間の短縮、選別試験時間の短縮を実現できる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

Prior to the process of drilling the existing structure, drill test data including the condition are obtained by injecting a jet of the abrasive slurry, and the condition is determined based on the drill test data.例文帳に追加

さらに、既設建造物を削孔する工程に先立ち、上記研磨材スラリージェット噴射を用いて上記条件を含む削孔試験データを取得し、この削孔試験データに基づいて上記条件を決定する。 - 特許庁

A screening method of a test material has a process of disposing a subject material in a colored gas atmosphere and screening the test material among the subject material, by using as an index a disappearance of a color in the colored gas atmosphere.例文帳に追加

有色気体雰囲気下に被験物質を配置し、当該有色気体雰囲気の色の消失を指標として当該被験物質の中から被検物質を選別する工程を有する、被検物質のスクリーニング方法。 - 特許庁

To provide a semiconductor device test system for quickly investigating the cause of a failure and preventing the use of a semiconductor device in a testing or packing process when the failure occurs to manage the test result of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体製造の検査結果の管理において、不良発生時の原因究明を迅速に行い、且つテスト工程や梱包工程への半導体装置の誤投入を防ぐ、半導体装置テストシステムを構築する。 - 特許庁

The same circuit that is used with the capacitors 12 for use of a system, is also used for a tantalum capacitor test circuit 10 during a conditioning process.例文帳に追加

システムの用途でコンデンサ１２と共に使用されるものと同じ回路が、調整プロセス中のタンタルコンデンサ試験回路１０にも使用される。 - 特許庁

A system for analyzing the cause of the fault includes a testing apparatus 20, a yield memory 14, a test result memory 15 and a process controller (CPU) 100.例文帳に追加

不良原因解析システムは、テスト装置２０、歩留まり記憶装置１４、テスト結果記憶装置１５、処理制御装置（ＣＰＵ）１００を含む。 - 特許庁

To provide an electric stimulating device for a nervous system, having a low risk that a patient sustain damage in the process of magnetic resonance tomography (MRT) test.例文帳に追加

磁気共鳴断層撮影（MRT）検査中に患者が障害を受ける危険性の低い神経系部分の電気刺激装置を提供する。 - 特許庁

In the mobile device test apparatus 10, the process proceeds to a next confirmation step, only if each of the confirmation steps has been completed normally.例文帳に追加

そして、移動機試験装置１０では、各々の確認ステップが正常に完了した場合にのみ、次の確認ステップに進むようになっている。 - 特許庁

To provide a test method for a semiconductor integrated circuit device for executing the tuning capable of coping with process variation.例文帳に追加

プロセスばらつきに対して対応可能なチューニングを行うための半導体集積回路装置のテスト方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To perform an objective evaluation of the sufficiency of a test for the quality of a device to be measured by quantitatively classifying the operation process of the device to be measured.例文帳に追加

被計測装置の動作過程を定量的に分類し、被計測装置の品質に対するテスト十分性の客観的な評価を行う。 - 特許庁

To reduce the load and costs of an instrumentation engineer by providing a system for efficiently performing a test when constructing a process control system.例文帳に追加

プロセス制御システムを構築するに当たって、効率的にテストを実施できるシステムを提供し、計装エンジニアの負担とコストを削減する。 - 特許庁

To reduce the number of construction processes and the necessary number of workers by decreasing the times of pressure test in the process of constructing a reactor power plant.例文帳に追加

原子力プラントの建設途上において、耐圧試験の回数を減らして建設工程の短縮，必要作業人員の削減すること。 - 特許庁

These partner web services must be deployed to the bundled GlassFish application server before you can test run the Travel Reservation Service process. 例文帳に追加

旅行予約サービスプロセスをテスト実行するには、前もってこれらのパートナー Web サービスを、バンドルされている GlassFish アプリケーションサーバーに配備する必要があります。 - NetBeans

To obtain a semiconductor integrated circuit device having an ability of ESD protection satisfying the specification of surge test in correspondence with miniaturization of process.例文帳に追加

プロセスの微細化に対応して、サージ試験の規格を満たすＥＳＤ保護能力を有する半導体集積回路を得られるようにする。 - 特許庁

To enhance productivity by detecting a defect generated in the preceding process by inline test and reducing time loss incident to investigation of the cause of defect.例文帳に追加

インライン検査で前行程での不良を検出し、不良原因究明に伴う時間ロスを低減することにより生産性を高める。 - 特許庁

If there are two lighting points, the number of steps in an aging test process is enough to suppress the increase of the number of steps to a minimum.例文帳に追加

発光点が２つの場合には、エージング試験工程の工程数が倍で済み、工程数の増加分を最小限に抑えることができる。 - 特許庁

The PC server is provided with a network (LAN) function, and an inspection process exists even in a production line to execute a test about the function.例文帳に追加

ＰＣサーバはネットワーク（ＬＡＮ）機能を備えており、生産ラインにおいてもこの機能に関するテストを実施する検査工程が存在している。 - 特許庁

A method for analyzing a test sample includes: a process for contacting the test sample to a biological molecule-immobilization support on which the biological molecule such as DNA to be a target is immobilized to constitute a visually detectable sign; and a process for detecting the sign appearing on the substrate as a result of mutual action between the immobilized biomolecules and the biomolecules included in the test sample.例文帳に追加

ターゲットとなるＤＮＡ等の生体分子が、視覚的に判別できる記号を構成するように、担体上に固定化されてなる生体分子固定化担体に、被検試料を接触させる工程、および固定化された生体分子に被検試料に含まれる生体分子が相互作用した結果、担体上に現れる記号を検出する工程を含む、被検試料を分析する方法。 - 特許庁

To estimate a causal relationship between: process data being information related with any abnormality or fluctuation in the adjustment and test results in each process of a product to be manufactured through a plurality of processes; and event data being various change information related with the process.例文帳に追加

複数の工程を経て製造される製品の各工程での調整・検査結果中の異常または何らかの変動に関する情報である工程データと、工程に関する各種変更情報であるイベントデータとの間の因果関係を推定すること。 - 特許庁

To quickly perform a recovery process in the occurrence of a failure by performing the margin test of a device connected to a fiber channel loop to improve the reliability of the whole loop.例文帳に追加

ファイバチャネルループに接続されたデバイスのマージンテストを行い、ループ全体の信頼性の向上を図り、障害発生の際の回復処理を迅速に行う。 - 特許庁

To obtain a semiconductor integrated circuit device which has such an ESD (electro-static discharge) protection capability as to satisfy specifications of a surge test according to the subdivision of a process.例文帳に追加

プロセスの微細化に対応して、サージ試験の規格を満たすＥＳＤ保護能力を有する半導体集積回路装置を得られるようにする。 - 特許庁

A MPU 230 adjusts the PLL circuit 383, in accordance with the instruction from the test execution control part 521 and performs retry of lead process where errors have occurred.例文帳に追加

ＭＰＵ２３０が、テスト実行制御部５２１からの指示に従ってＰＬＬ回路３６３を調整し、エラーが起きたリード・プロセスのリトライを行う。 - 特許庁

To easily check the wiring structure of a printed circuit board equipped with a test pad without changing any conventional design process and increasing design costs.例文帳に追加

従来の設計工程を変えることなく、さらに、設計コストを上げることもなく、テストパッドを備えたプリント基板の配線構造を簡単にチェックする。 - 特許庁

In a test process of HDD manufacturing, the HDD specifies a relation between clearance and temperature by measurement to determine the correction coefficient.例文帳に追加

ＨＤＤの製造のテスト工程において、ＨＤＤは、測定によりクリアランアスと温度との間の関係を特定し、上記補正係数を決定する。 - 特許庁

After the assembly of the seat 1 is completed, a pressing process for applying an external force to the seat 1 is carried out in each of the processes, 'conditioning', 'calibration', and 'product test'.例文帳に追加

シート１の組み立てを終了した後、「慣らし」、「キャリブレーション」、「製品検査」の各工程において、シート１へ外力を加える加圧工程が実施される。 - 特許庁

To realize a single pass self-servo writing process capable of realizing the desired number of tracks on a disk drive for reducing test time and the number of servo writing devices.例文帳に追加

セルフ・サーボ書込プロセスを用いるドライブ・プログラムの多くでは、希望するフォーマットのための正しいトラック数を得るために２回パス・プロセスが用いられる。 - 特許庁

A Weibull plot is formed from a change with time of the ratio of the broken accumulation capacities among the accumulation capacities to which the test voltage is applied (process S4).例文帳に追加

試験電圧を印加された蓄積容量のうち、破壊された蓄積容量の割合の経時変化からワイブルプロットを作成する（工程Ｓ４）。 - 特許庁

To provide a process for preparing an isocyanurate foam which shows excellent dimensional stability and passes JIS flame retardance test grade 3 without using any special bubble communicator.例文帳に追加

特別な気泡連通化剤を用いることなく、寸法安定性に優れ、ＪＩＳ難燃３級に合格するイソシアヌレートフォームの製造方法を提供する。 - 特許庁

A first process discriminates detectable failures from undetectable failures by performing a failure simulation based on prescribed test patterns to an integrated circuit.例文帳に追加

第１の工程は、集積回路に対し所定のテストパターンに基づく故障シミュレーションを行って検出可能な故障と検出不可能な故障とを弁別する。 - 特許庁

The test sample electrode 30 has a first surface contacting with a process flow and a second surface contacting with an electrolyte retained in a sealing fluid reservoir.例文帳に追加

この試験標本電極３０は、プロセス流れと接触する第１の面、及び密封液溜めに保持される電解液と接触する第２の面を有する。 - 特許庁

A command based on the algorithm of a test process is issued from an evaluation execution apparatus 2 to a command analyzing means 14 mounted on an evaluation object apparatus 1.例文帳に追加

テストプロセスのアルゴリズムに応じたコマンドを、評価実施機器２から評価対象機器１に実装されたコマンド解析手段１４に向けて発行する。 - 特許庁

For an automatic correction process, automatic correction processing sections 60 are connected to a set reference channel and a target channel and a test signal is input.例文帳に追加

自動補正処理において、設定した基準ｃｈと対象ｃｈに自動補正用処理部６０が接続され、テスト信号が入力される。 - 特許庁

To shorten a computing process time for computing a correction value in a self-running test step to achieve efficiency of a manufacturing step of a disk drive.例文帳に追加

自走テスト工程での補正値を算出するための計算処理時間の短縮化を実現し、ディスクドライブの製造工程の効率化を図ることにある。 - 特許庁

To reflect a hydraulic tester on optimization of the next process condition by adding a scaling function to a series of test processes of the hydraulic tester.例文帳に追加

水圧試験機の一連の試験工程の中に検尺機能を付加することにより、次工程条件の最適化に反映させることを可能にする。 - 特許庁

To provide a method for forming a terminal via on a semiconductor substrate so that a metallic conductor in a test block can be prevented from being damaged in an etching process.例文帳に追加

試験区域の金属導線がエッチングの過程において破損しないよう、半導体基板上に端末バイア（terminal via) を形成する方法を提供すること。 - 特許庁

By this method, the thin silicon substrate 10 can be protected from cracking in a wafer test or an assembly process, and a conventional manufacturing apparatus can be used as is.例文帳に追加

この方法によれば、ウエハテストやその後のアセンブリ工程において薄いシリコン基板１０の割れを防ぐことができ、従来装置をそのまま使用できる。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a semiconductor chip capable of efficiently removing a test pattern in a simple process while keeping versatility.例文帳に追加

テストパターンの除去を汎用性を確保しながら簡素な工程で効率よく行うことができる半導体チップの製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

They were also requested to report, in the form of replies to a questionnaire, on their findings, such as practical issues and challenges that they encountered in the process of calculation (test period: June to December 2010) 例文帳に追加

その計算の過程における実務上の問題点等について、アンケート方式により回答を求めた（実施期間：平成22年6月～12月） - 金融庁