「TEST PROCESS」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

In the measurement process, an impact load is measured per material of different test skin member 11.例文帳に追加

次いで、測定工程により、材料種の異なる試験用表皮部材１１毎に衝撃荷重を測定する。 - 特許庁

To prevent deterioration in the characteristics of a product and shortening in the lifetime thereof due to residual polarization during test process.例文帳に追加

試験工程における残留分極がもたらす特性の劣化及び製品寿命の短縮を防止する。 - 特許庁

To effectively utilize a TEG chip after a wafer completion test, and to achieve simplification and cost reduction of a manufacturing process.例文帳に追加

ウェハ完成試験後のＴＥＧチップを有効に活用し、且つ、製造工程の簡易化と低コスト化を図る。 - 特許庁

A focal plane array manufacturing process and its photoelectric uniformity are verified, and a dark current uniformity test is performed.例文帳に追加

焦平面アレー製造工程とその光電均一度の検証を行い、暗電流均一度テストを行う。 - 特許庁

The process execution part 14 creates test data based on the acquired value candidate information and the path management information.例文帳に追加

そして、処理実行部１４は、取得した値候補情報とパス管理情報とに基づいて、テストデータを作成する。 - 特許庁

The endurance test method for an optical product includes: a scratch resistance test process for pressing a scratch part to an optical product in the state that a prescribed load is imposed and performing relative exercise of the optical product and the scratch part; and a synthetic sweat test method for immersing the optical product after the scratch resistance test process in synthetic sweat for a prescribed period of time.例文帳に追加

光学製品の耐久性試験方法において、光学製品に擦傷部を所定の荷重がかかる状態で押し付け、光学製品と擦傷部を相対運動させる耐擦傷性試験工程と、当該耐擦傷性試験工程後の前記光学製品を、所定時間人工汗に浸漬させる人工汗試験工程を備えさせる。 - 特許庁

Concretely, reflow or aging process X is added between a BT(bias test) process 2 and a lead molding process 3 or between the lead molding process 3 and a shipment process 4, in a semiconductor device manufacturing process including each of processes for package(PKG) cutting separation 1, selection/BT 2, lead molding 3, shipment 4 and mounting reflow 5.例文帳に追加

具体的には、パッケージ（ＰＫＧ）を切断分離１，選別／ＢＴ２，リード成形３，出荷４，実装リフロー５する各工程を含む半導体装置製造プロセスにおいて、ＢＴ工程２とリード成形工程３との間、または、リード成形工程３と出荷工程４との間に、リフローまたはエージング工程Ｘを追加する。 - 特許庁

This is the sensitization development testing method for chemicals which includes (a) process to provide a test object for electroorganic reaction, (b) process to mix fluorescent cysteine derivative with the test object provided for electroorganic reaction, and (c) process to determine presence of bound substance by instrumental analysis.例文帳に追加

(a)被験物質を有機電解反応に供する工程；及び、(b)蛍光システイン誘導体と、有機電解反応に供した被検物質とを混合させる工程：及び(c)結合物の有無を機器分析により判定する工程：を有する化学物質の感作性発現検定方法。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus which has the test waveform creating part 3 for creating the waveforms for the test to be fed to a semiconductor to be tested 1, is provided with a test log circuit 6 for extracting an internal signal created at a midpoint in a process in which the test waveform creating part 3 creates a final waveform for the test and outputting the internal signal to the outside of the test waveform creating part 3.例文帳に追加

被試験半導体１に送り込むための試験用波形を生成する試験用波形生成部３を有する半導体試験装置に、前記試験用波形生成部３が最終的な試験用波形を生成する過程の途中で生成する内部信号を取り出し、前記試験用波形生成部３の外部へ出力するテストログ回路６を設けた。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a test piece without lowering the machining efficiency as the whole process even if generating a neck process in a series of the machining processes in sequentially manufacturing the test pieces.例文帳に追加

本発明は試験片を連続的に製作する際に、一連の機械加工工程の中にネック工程が生じても、全体工程として機械加工能率を低下させることなく、試験片を製作できる方法を提供する。 - 特許庁

To provide a pressing apparatus for test materials, capable pressing the test materials such as a test cast slab or a steel ingot under various conditions in order to research and study a change in texture generated in a process for applying plastic working such as rolling to the test materials such as the cast slab or steel ingot.例文帳に追加

鋳片や鋼塊などの試験材に圧延などの塑性加工を加える過程で生ずる組織変化等を調査・研究するために試験鋳片や鋼塊などの試験材に対し種々の条件で圧下を加えることができる試験材の圧下装置を提供する。 - 特許庁

In particular, the robust method of creating the parametric process model first collects process outputs on the basis of known test input signals or sequences, adds random noise to the collected process data, and then uses a standard or known technique to determine the process model from the collected process data.例文帳に追加

特に、パラメトリック・プロセスモデルを生成するロバストな方法は、まず周知のテスト入力信号または系列に基づいてプロセス出力を収集し、収集されたプロセスデータにランダムノイズを添加し、該収集プロセスデータからプロセスモデルを決定するために標準または周知の技法を使用する。 - 特許庁

The input for the product under test (11, 46, 55, 77-79) is transferred to a process that presents the input to the product under test as if the input came from an input device directly connected to the product under test.例文帳に追加

テスト対象製品(11,46,55,77−79)に対する入力は、その入力がテスト対象製品に直接接続された入力装置によってもたらされたかのように、入力をテスト対象製品に与えるプロセスに転送される。 - 特許庁

In a test process, the power supply potential and grounding potential of the protective diode 26 are supplied from probes each of which is installed on the pads 27 and 28, a probe is installed also on the test pad 28, and a test operation is carried out.例文帳に追加

検査工程においては、この保護ダイオード２６の電源とグランドの電位は、電圧印加用パッド２７と接地電圧印加用パッド２８に立てられたプローブから供給され、検査用パッド２２にもプローブが立てられ、検査が行われる。 - 特許庁

Subsequently the operator performs a first agent applying process S4 of applying a first agent to the hair with the cap put on the hair of the person to be treated, and performs a cap removing process S5, a test curl process S6 and a water washing process S7 of washing the hair with water.例文帳に追加

次に施術者は、被施術者の頭髪にキャップを被せたまま、頭髪に第１剤を塗布する第１剤塗布工程Ｓ４を実施し、キャップ取り外し工程Ｓ５、テストカール工程Ｓ６、頭髪を水洗する水洗工程Ｓ７を実施する。 - 特許庁

Next, nondefective/defective is discriminated for the memory array and the redundant memory array based on the characteristic result of the characteristic test process in a discrimination process S50.例文帳に追加

次に、判定工程Ｓ５０において、特性テスト工程の特性テスト結果に基づき、メモリアレイ及び冗長メモリアレイに対してそれぞれ良品／不良品の判定を行う。 - 特許庁

To prevent excessive standby time or excessive measuring time, i.e. to reduce process unit time in the test process for a piezoelectric oscillation device.例文帳に追加

圧電振動デバイスの試験工程において温度特性を測定する際に余分な待機時間や測定時間がかかるのを防止する、すなわち製造タクトの時間を抑制する。 - 特許庁

To carry out a series of processings at least from a test process to a marking/packaging process by one processing apparatus for an processing apparatus for an integrated circuit.例文帳に追加

本発明は、集積回路の処理装置に関し、少なくとも試験工程からマーキング、梱包工程までの一連の処理を、１台で処理することができるようにする。 - 特許庁

To efficiently perform development of a series of GUI software by consistently supporting the processes ranging from program a preparation process to a test process of software accompanied with a GUI.例文帳に追加

ＧＵＩを伴うソフトウェアのプログラム作成工程からテスト工程までを一貫して支援し、一連のＧＵＩソフトウェア開発を効率的に行うことを目的とする。 - 特許庁

In a cleaning process, the inner surface of the high-purity gas-filled vessel is cleaned without performing the pressure test with respect to the high-purity gas-filled vessel after the grinding process.例文帳に追加

洗浄工程では、研削工程の後、高純度ガス充填容器に対する耐圧試験を行うことなく高純度ガス充填容器の内表面を洗浄する。 - 特許庁

In a drying process, the inner surface of the high-purity gas-filled vessel is dried without performing the pressure test with respect to the high-purity gas-filled vessel after the cleaning process.例文帳に追加

乾燥工程では、洗浄工程の後、高純度ガス充填容器に対する耐圧試験を行うことなく、高純度ガス充填容器の内表面を乾燥させる。 - 特許庁

Furthermore, the test piece creating process includes a process of forming the tread groove 4 on the other surface 5b of the rubber base material 5 by the vulcanization or prior to the vulcanization.例文帳に追加

さらに、前記試験片作成工程は、前記ゴム基材５の他方の面５ｂに、前記加硫により又は加硫に先立って前記トレッド溝４を形成する工程を含む。 - 特許庁

To provide a semiconductor management device which can perform burn-in simplification efficiently in final test process.例文帳に追加

ファイナルテスト工程におけるバーンイン簡略を効率的に行なうことが可能な半導体管理装置を提供すること - 特許庁

This shortens the standby time of the inspection part 21 when conducting the needle polishing process to improve the throughput of the test.例文帳に追加

これにより針研処理を行うときの検査部２１の待機時間を短縮して、テストのスループットを向上させる。 - 特許庁

To provide an integrated circuit(IC) incorporating a functional test circuit capable of testing a complicated logical process with a small circuit scale.例文帳に追加

小さな回路規模で複雑な論理処理を試験できる機能試験用の回路を内蔵したＩＣを提供する。 - 特許庁

To provide a probe card for sharing a housing part even in a test process of different semiconductor devices.例文帳に追加

異なる半導体デバイスのテスト工程においても、ハウジング部分を共用することが可能なプローブカードを提供する。 - 特許庁

To automatically detect the wear of a probe pin in a normal test measuring process concerning a method of monitoring probe pin wear.例文帳に追加

プローブピン摩耗の監視方法に関し、プローブピンの摩耗を通常の試験測定工程において自動的に検出する。 - 特許庁

To improve polishing accuracy by predicting a polishing rate of a product wafer in units wafers, and to reduce a polishing process for a test wafer.例文帳に追加

製品ウエハの研磨レートをウエハ単位に予測し研磨精度を向上させ、テストウエハの研磨処理を少なくする。 - 特許庁

In order to deploy and perform test runs of your business process, add the BPEL Module as a JBI module to the Composite Application project.例文帳に追加

ビジネスプロセスを配備し、テスト実行を行うには、BPEL モジュールを JBI モジュールとして複合アプリケーションプロジェクトに追加します。 - NetBeans

The image forming devices obtain image information data on test toner images by basic image data (process 1).例文帳に追加

（工程１）画像形成装置において、基礎画像データによるテストトナー像についての画像情報データが取得される工程。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR WAFER HAVING TEST PATTERN, METHOD FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR WAFER, METHOD FOR MANAGING MANUFACTURING PROCESS, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR例文帳に追加

テストパターンを有する半導体ウェハ、半導体ウェハの検査方法、製造プロセス管理方法及び半導体の製造方法 - 特許庁

To provide a business process test design support device for detecting the matching of BP and a Web service to be called from the BP without asking any help, and for generating an executable test path.例文帳に追加

人手を介さずにＢＰとＢＰから呼び出されるＷｅｂサービスの整合性の検出及び実行可能なテストパスの生成を可能とするビジネスプロセステスト設計支援装置を提供する。 - 特許庁

In addition, an RAM test pattern diagnostic process 12 performs RAM diagnosis using a plurality of test patterns for the storing region, etc. of each safety related data routinely.例文帳に追加

これに加えて、ＲＡＭテストパターン診断処理１２によって、定期的に、各安全関連データの格納領域等に対して、複数のテストパターンを用いたＲＡＭ診断を行う。 - 特許庁

The present invention refers to a test pattern 1, a set of test patterns and a method of evaluating the transfer properties of a pattern as well as a method of determining at least one parameter of a transfer process.例文帳に追加

転移処理の少なくとも一つのパラメータを決める方法と同様に，テストパターン１，テストパターンの集合，テストパターンの転移特性を評価する方法についても言及している。 - 特許庁

By switching this slide part 220 at a switch part 230 and continuously driving the connection component parts by one press 210, the electric wire test process, the electric wire press fitting process, and the cover part fitting process are continuously performed.例文帳に追加

このスライド部２２０を切換部２３０で切り換え、上記接続要素部品を連続的に一台のプレス機２１０で駆動することにより、連続的に電線検査工程、電線圧入工程、カバー部嵌合工程を行う。 - 特許庁

The test method for a sample of the viscoelastic body includes: a process for fixing the sample to a sample holding means in the state where at least 10% of the initial strain is imparted; and a process for performing a test by using a test means provided separately from the sample holding means, relative to the fixed sample.例文帳に追加

粘弾性体の試料を試験する方法であって、試料を、少なくとも１０％の初期歪みを与えた状態で試料保持手段に固定する工程と、固定された試料に対し、試料保持手段とは別に設けられた試験手段を用いて試験を行う工程とを含む試験方法である。 - 特許庁

A process control system 12 or a safety system 14 in a process plant 10 uses one or more test blocks 90 in order to appropriately and safely operate an online test routine 88 in field devices 60, 62 such as a valve used therein.例文帳に追加

プロセスプラント１０内のプロセス制御システム１２または安全システム１４は、そこで用いられるバルブの如きフィールドデバイス６０，６２内でオンライン試験ルーチン８８を適時にかつ安全に動作させるために一または複数の試験ブロック９０を用いる。 - 特許庁

This inspection method for the semiconductor integrated circuit includes a burn-in pattern generating process for generating a burn-in test pattern for performing a burn-in test for the integrated circuit, and the generating process is characterized by including an equalization process for generating an equalization burn-in test pattern equalizing the number of times of toggling on each element level of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

本発明による半導体集積回路の検査方法は、前記半導体集積回路のバーインテストを行うためのバーンインテストパターンを生成するバーンインパターン生成工程を含み、該バーンインパターン生成工程は、前記半導体集積回路の各素子レベルでのトグル回数を平準化する平準化バーンインテストパターンを生成する平準化工程を含むことを特徴とする。 - 特許庁

The high and low temperature test handler 1 includes, in a chamber 2, the test handler 3 for carrying out various kinds of process treatments for a semiconductor device, and the apparatus 4 for raising/lowering the temperature for transferring the semiconductor device raised or lowered in temperature to the test handler 3.例文帳に追加

高低温テストハンドラ１は、チャンバ２内に、半導体装置に対して各種工程処理を施すテストハンドラ３と、このテストハンドラ３に対して高温又は低温化された半導体装置を受け渡す高低温化装置４とを備える。 - 特許庁

To provide an inspection device and a test method for a rotary electric machine capable of evading the fear of being unable to perform an insulation test under a high voltage since a heavy current flows in a stator coil, when a defect test of the stator is performed in a manufacturing process.例文帳に追加

製造工程におけるステータの不良検査時において、大電流がステータコイル流れるために高電圧での絶縁試験ができないおそれを回避できる回転電機の検査装置および検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device such that a defect detection test can be conducted even in a product state after a packaging process.例文帳に追加

パッケージング工程後の製品状態においても欠陥検出試験を行うことができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

The same test condition can be selected by setting a special code in the flow count or the process count of the debug count.例文帳に追加

また、デバッグカウントのフローカウントまたは工程カウントの中に、特別コードを設定し、同じテスト条件を選択することもできる。 - 特許庁

Thus, the verifying process indicated above is an efficient method to test and verify the legality of an organization which is untrustworthy.例文帳に追加

従って、この検証処理は、信頼されていない機構の適法性を試験し検証するための効率的な方法である。 - 特許庁

To discover poor welding easily in the stage of leak test in the manufacturing process of an enclosed secondary battery.例文帳に追加

密閉型二次電池の製造過程において、リークテストの段階で封止体の溶接不良を容易に発見できるようにする。 - 特許庁

To automatically manage/control fundamental process control and sequence control in test execution during system verification of a logical circuit.例文帳に追加

論理回路のシステム検証の際、テスト実行において基本的なプロセス制御やシーケンス制御を自動的に管理・実行する。 - 特許庁