「TEST PROCESS」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

To prevent the deterioration in wettability of solder to a wiring layer and the deterioration in the bonding strength evaluated by a shear test and the peeling or bulging of a plated layer in a bonding process by solder.例文帳に追加

半田接合の際に、配線層への半田のヌレ性およびシェアー試験により評価される接合強度の劣化や、めっき層のハガレ・フクレ等が発生する。 - 特許庁

To provide a voltage supply parameter measurement device of a wafer burn-in system capable of measuring voltage supply parameters to more DUTs simultaneously by a single test process.例文帳に追加

単一のテスト工程によってより多くのＤＵＴに対するＶＳパラメータを同時に測定できるウェハバーンインシステムのＶＳパラメータ測定装置を提供すること。 - 特許庁

To evaluate maintainability and continuity regarding inner control periodically requested to a company, and reduce operation load and cost for test and evaluation process.例文帳に追加

会社が定期的に求められる内部統制について、維持・継続性を評価し、テスト・評価過程の作業負荷・コストの軽減を図る業務プロセス統制テスト計画作成システム。 - 特許庁

Another embodiment is a method and a system for generating a simulation data store using a signal off a test grating that models the effect of the IC design and/or the fabrication process.例文帳に追加

別の実施例は、ＩＣデザイン及び／または製作プロセスの影響をモデル化するテスト格子を離れた信号を使用した、シミュレーションデータストアの生成法とシステムである。 - 特許庁

The attachment control unit 45 execute a safety function normally incorporated for sure accident prevention, safety return process, or a test not specified by law.例文帳に追加

付属制御部４５は、法令では定められていないが確実な事故防止、安全な復帰処理またはテストのために通常盛り込まれている保安機能を実行する。 - 特許庁

The electric characteristic of each semiconductor element 2 is measured in an electric characteristic test process 12, and the electric characteristic value is stored correlatively with the address of a semiconductor wafer 1.例文帳に追加

電気特性試験工程１２で各半導体素子２の電気特性を測定し、この電気特性値を半導体ウェーハ１の番地と関連付けて記憶させる。 - 特許庁

Consequently, the wafers for which burn-in inspection is performed in the final test process can be collected, and burn-in simplification can be performed efficiently.例文帳に追加

したがって、ファイナルテスト工程においてバーンイン検査を行なうべきウェハを１つのロットに集めることができ、バーンイン簡略を効率的に行なうことが可能となる。 - 特許庁

The invention relates to the method for evaluating biological effect of the test material comprising a detecting process using a microarray capable of detecting at least 50% of all genes of the ascidian.例文帳に追加

検出工程が、ホヤの全遺伝子の５０％以上の遺伝子を検出し得るマイクロアレイを用いる、被検物質の生物学的影響を評価する方法。 - 特許庁

To provide a coordinate transformation system for transforming the physical address of FBM data, provided in the test process of a semiconductor device, into the physical coordinates of a quadrature/real coordinate system.例文帳に追加

半導体装置の テスト工程で得られるＦＢＭデータの物理アドレスを直交・実座標系である物理座標に変換するための座標変換システムを提供すること。 - 特許庁

To provide a method of integrating, into a process control program or a safety control program using a field device, online test function of its field device.例文帳に追加

フィールドデバイスを用いるプロセス制御プログラムまたは安全制御プログラムに対して、それらのフィールドデバイスのオンライン試験機能を統合するような方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device inspection method for highly reliably managing rewriting times in a test process concerning each semiconductor device, and to provide the semiconductor device.例文帳に追加

個々の半導体装置について、試験工程での書き換え回数を信頼性高く管理できるようにした半導体装置の検査方法及び半導体装置を提供する。 - 特許庁

If a semiconductor chip CP1 is judged as a failure in a test process A (ST12A), the power supply 13 of the semiconductor chip CP1 is destroyed (ST16A, ST17A).例文帳に追加

検査工程Ａにおいて半導体チップＣＰ１が不良であると判定されると（ＳＴ１２Ａ）、半導体チップＣＰ１の電源部１３を破壊する（ＳＴ１６Ａ，ＳＴ１７Ａ）。 - 特許庁

To provide an inexpensive, high-sensitivity, and high-performance chromatographic measuring apparatus which uses a reduced number of constituent members and in which the test piece preparing process is simplified.例文帳に追加

構成部材の削減を図り、かつ試験片作製工程を簡易化した、低コストで高感度・高性能なクロマトグラフィ測定装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

*Concretely describe the R&D project (basic research, applied research, production of prototype, mass production technology, process of evaluation test, etc.)to be undertaken after the site has been established. 例文帳に追加

※拠点整備後に実施する研究開発内容（基礎研究、応用研究、試作品製造、量産化技術、評価試験等の工程）について具体的に記載すること。 - 経済産業省

To generate a varied large-scale test command sequence by a method arbitrarily combining plural small-scale unit command sequences, different from a conventional large-scale test command sequence-generating method requiring a complicated automatic command generation process for realizing a varied large-scale test because contents of the test command sequence are poor on account of difficulty of generation algorithm.例文帳に追加

大規模なテスト命令列の生成においては、生成アルゴリズムの難しさからテスト命令列の内容が乏しく、変化のある大規模なテストを実現するためには、複雑な処理を持つ命令自動生成処理を必要としていたが、本発明に示す方式により小規模な単位命令列を任意に複数組み合わせることによって、変化に富んだ大規模なテスト命令列を生成することを可能とする。 - 特許庁

The microprocessor is provided with a plurality of test processing means individually testing the same predetermined processing result, a plurality of branch processing means respectively performing branch processing according to test results by the respective test processing means, and a trap means performing failure handling process when branch processing cannot be carried out by a predetermined branch processing means operated preferentially to other branch processing means.例文帳に追加

同一の所定の処理結果をそれぞれテストする複数のテスト処理手段と、各テスト処理手段によるテスト結果に応じてそれぞれ分岐処理を行う複数の分岐処理手段と、他の分岐処理手段に優先して実行される所定の分岐処理手段にて分岐できなった場合に障害対応処理を実行するトラップ手段と、を備えた。 - 特許庁

This center provides the training facilities for BWR operation simulators (PC simulators), non-destructive test training equipment,eddy current test (ECT) equipments for steam generator tubing, 3-Dimentional cut models of NPP major components, electrical and instrumentation training facilities, the e-learning system (to study the PWR system), loop test devices (incident simulating loop and process instrumentation loop), condition monitoring testing facility and classrooms for lecture.例文帳に追加

この研修センターには、研修設備として、BWR運転シミュレータ（PCシミュレータ）、非破壊検査実習機器、蒸気発生器伝熱管体積検査（ECT）装置、主要機器モデル、電気設備モデル、e-ラーニング（PWR系統の学習）、ループ試験装置（異常事象模擬ロープ、プロセス計装ループ）、状態監視試験設備及び座学用教室が設けられている。 - 経済産業省

To secure a sufficient test writing area in each recording layer while eliminating adverse effect caused by interference between layers produced by a recording condition optimization process in the test writing area of other recording layers in a multilayer optical recording medium of three or more layers.例文帳に追加

３層以上の多層光記録媒体において、他の記録層の試し書き領域における記録条件最適化プロセスによって生じる層間干渉による悪影響を排除するとともに、各記録層で十分な試し書き領域を確保できるようにする。 - 特許庁

To make optionally designable the start address numbers of test pattern programs to be merged and also to efficiently process the redundant part of a merged pattern program caused by the designation of the start address numbers in a program processor for an IC test.例文帳に追加

本発明の課題は、ＩＣテストのためのプログラム処理装置において、マージされるテストパタンプログラムの開始アドレス番号を任意に指定可能とすると共に、開始アドレス番号の指定によって生じる併合パタンプログラムの冗長部分を効率よく処理することである。 - 特許庁

According to the past test results and information from the raw material production farmland, the production farmland is classified and managed, the test result, raw material production information, and production and distribution information are stored and managed, and at the occurrence of food accident, the cause analysis is made by tracing each process.例文帳に追加

過去の検査結果と原材料生産農地の情報によって生産農地をクラス分けして管理し、検査結果、原材料の生産情報、製造流通の情報を保管、管理し、食品事故発生時には各工程を遡って原因の究明を行う。 - 特許庁

By using the digitized image of an uncorrected formed image generated by the picture reproducing system of a test image as the learning pattern of a neural network, digital image data including the test image are defined as learning reference data in a direct learning process.例文帳に追加

ニューラルネットワークを使用し、テスト画像の画像再生システムにより発生された未修正結像のディジタル化画像をニューラルネットワークの学習パターンとして用い、テスト画像の格納されているディジタル画像データを直接学習プロセスでの学習基準データとして定める。 - 特許庁

A measuring method of remaining austenite volume in the invention that includes a step for using an eddy-current measuring device to measure a remaining austenite volume contained in a test object realizes online and low-cost measurement within a manufacturing process of the test object.例文帳に追加

本発明の残留オーステナイト量の測定方法によれば、被検体に含まれる残留オーステナイト量を渦電流方式の測定装置を用いて測定することができるため、該被検体の製造工程内においてオンラインで安価に測定することができる。 - 特許庁

To reduce the number of components, to simplify a manufacturing process and to improve reliability in relation to a contactor for a semiconductor device test that provides electrical contacts for a semiconductor device, its manufacturing method and a carrier for a semiconductor device test.例文帳に追加

本発明は半導体装置に対して電気的にコンタクトを得る半導体装置試験用コンタクタ及びその製造方法及び半導体装置試験用キャリアに関し、部品点数の削減，製造工程の簡単化，及び信頼性の向上を図ることを課題とする。 - 特許庁

Test results of performance test of a manufactured actual device and those in an actual operation environment are successively reflected on a virtual carrying device designed on the basis of the requested carrying route and carrying performance, and an actual operation process is executed on the basis of the reflected result.例文帳に追加

要求される搬送経路及び搬送能力に基づいて設計した仮想の搬送装置に、製造した実機の性能のテスト結果及び実稼働環境における実機の性能のテスト結果を順次反映させ、これに基づいて実稼働工程を実施する。 - 特許庁

To simplify a structure of each terminal in a network and to realize a high-speed post process, in a medical image data acquisition system scanning a test subject, obtaining data on a structure inside the test subject to obtain the tomographic image, connected to the network.例文帳に追加

被検体をスキャンして被検体内の構造に関するデータを得てその断層像を得る医療用画像データ取得システムがネットワークに接続されているシステムにおいて、当該ネットワーク上の端末の構成を簡単なものとしつつ、高速な後処理を実現する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a magnetic head which can suppress occurrence of delay or back tracking of a manufacturing process by performing quickly and inexpensively a test process of a magnetic head to be carried out by heating the magnetic head without taking a plenty of time and operation cost.例文帳に追加

磁気ヘッドを加熱して行う磁気ヘッドの試験工程を、時間や作業コストを掛けずに迅速かつ安価に行って、製造工程の遅延や手戻りが発生するのを抑えることのできる磁気ヘッドの製造方法を提供する。 - 特許庁

The surface flaw repairing method includes a detection process for detecting surface flaws 14 on the metal rod material by a leakage flux flaw detection test, and a process for inspecting the surface flaws by confirming visually the degree of the surface flaws 14 by an operator.例文帳に追加

この表面疵補修方法は、漏洩磁束探傷試験によって金属製棒材の表面疵１４を検知する検知工程と、この表面疵１４の程度を作業者が目視で確認して表面疵の検査をする工程とを含む。 - 特許庁

In this method, the traceability information of components to be acquired in a production process, component individual information, assembly information, the adjustment and measurement information of electric components, and test information in the production process are stored in the memory of a product so as to be used.例文帳に追加

本発明は、生産工程で取得する部品のトレーサビリティ情報、部品個別情報、組立情報、電気部品の調整及び、測定情報、生産工程での試験情報を製品のメモリ内に保存し利用する手段を提供する。 - 特許庁

The game machine is provided with an initial process for determining whether the check signal is outputted from the second driver part 62 or not and a skip process for performing control so that the trial shooting test signal is not outputted when the check signal is not recognized by a first means.例文帳に追加

第２ドライバ部６２からチェック信号が出力されているか否かを判定する初期処理と、第１手段がチェック信号を認識できない場合には、試射テスト信号を出力しないよう制御するスキップ処理を備える。 - 特許庁

NEW SELECTIVE IMMUNE DOWN REGULATION (SIDR) MEDIATED TRANSPLANTATION PROCESS, PROCESS FOR PREVENTING OR TREATING DISEASE IN TEST SPECIMEN AND COMPOSITION COMPRISING TRAINED OR PROGRAMMED CELL, TISSUE OR ORGAN, USEFUL FOR ESTABLISHING SIDR例文帳に追加

新規の選択的免疫ダウンレギュレーション（ＳＩＤＲ）媒介性移植プロセス、被験体における疾患を予防または処置するためのプロセス、およびＳＩＤＲを確立するために有用である、馴化またはプログラミングされた細胞、組織または器官を含む組成物 - 特許庁

To provide a semiconductor manufacturing apparatus which contains an in-line monitor, interposed between a certain substrate treatment process and the following substrate treating process in an in-line manner, and is capable of returning a processed substrate to a semiconductor production line, after the processed substrate has been subjected to a partially destructive test.例文帳に追加

一の基板処理工程と次段の基板処理工程との間にインラインに挿入可能で、部分的に破壊検査を行った後で被処理基板を半導体製造ラインに戻せるインラインモニタを含んだ半導体製造装置を提供する。 - 特許庁

The adsorption of the lipoproteins on the flow channel is prevented by performing, for example, a process for charging the lipoproteins in the test solution with first charge, a process for charging a running buffer solution for chip electrophoresis with the first charge and a process for introducing the buffer solution into the chip flow channel.例文帳に追加

リポタンパク質の流路への吸着は、例えば、試験溶液中のリポタンパク質を第１の電荷に帯電させる工程と、チップ電気泳動用のランニングバッファー溶液を第１の電荷に帯電させる工程と、当該バッファー溶液をチップ流路に導入する工程と、を含むことにより防止することができる。 - 特許庁

In a production system of producing optically coupled element by combining plural materials including light emitting element and light receiving element, controlled condition of each process including production process of each material and characteristics test process of the product is added/altered using material information (material data and characteristic data, etc.), and case example of past trouble shooting.例文帳に追加

発光素子及び受光素子を含む複数の材料を組み合わせて光結合素子を生産する生産システムにおいて、材料情報（材料データ、特性データなど）及び過去のトラブル対応事例を用いて、各材料の生産工程及び製品の特性検査工程を含む各工程の管理条件を追加・変更する。 - 特許庁

Then, the voltage is applied to the voltage application position arranged identically to Process S2 to make flow current into the test piece, and potential difference actual measurement data is obtained by measuring the difference in potentials for the plurality of combinations with the cracks of the potential difference measurement position placed therebetween for the potential difference measurement position arranged identically to Process S2 (Process S4).例文帳に追加

その後、工程Ｓ２と同一に配置された電圧印加位置に電圧を印加して試験体に電流を流し、工程Ｓ２と同一に配置された電位差測定位置に対して、その電位差測定位置のき裂を挟んだ複数の組み合わせについての電位の差を測定して電位差実測データを求める（工程Ｓ４）。 - 特許庁

To provide a design support method and a system therefor whereby reliability of a product is secured without conducting a real test and a simulation in a design process of an electronic instrument, and which are linked to a component procurement system and a process facilities control system, and are capable of giving instructions to the component procurement and the process facilities.例文帳に追加

電子機器の設計工程において、実試験やシミュレーションを行わずとも製品の信頼性が確保される、設計支援方法及びそのためのシステムであって、部品調達システムや工程設備制御システムにもリンクされて、部品調達・工程設備への指示をも可能とするものを提案する。 - 特許庁

This method and this apparatus for data analysis are configured to automatically identify a characteristic of an assembly process in accordance with components based on the test data for the components.例文帳に追加

さまざまな態様によるデータ分析のための方法および装置は、組立プロセスの特徴を、コンポーネントの試験データに基づき、コンポーネントに合わせて自動的に識別するよう構成。 - 特許庁

A counter section 14 counts a period required for executing the pipeline process in the pattern generating section 11 after the automatic program function of a memory under test 20 starts a write operation.例文帳に追加

カウンタ部１４は、被試験メモリ２０の自動プログラム機能による書き込み動作が開始されてからパターン発生部１１でパイプライン処理に要する時間分だけ時間を計時する。 - 特許庁

The accelerated degradation test is carried out, and the characteristic quantity of the parts judged to be failed at every predetermined time to derive the failure probability density distribution to the characteristic quantity (Process 2).例文帳に追加

また、加速劣化試験を施し所定時間毎に故障と判定された部品の特徴量を測定し、特徴量に対する故障確率密度分布を導出する（工程２）。 - 特許庁

In a specific IC net measuring process S2, a defective board is operated on the basis of the test program, and a signal of all nets connected to a terminal of IC with respect to an arbitrarily selected IC chip, is measured.例文帳に追加

特定ＩＣネット測定工程Ｓ２では不良基板をテストプログラムで動作させ、任意の選択ＩＣチップに対して該ＩＣの端子と接続された全ネットの信号を測定する。 - 特許庁

Therefore, in a normal test process, it is confirmed whether there is a sufficient time difference between pieces of timing where the output of routes in a competitive relationship is connected to the later-stage circuit.例文帳に追加

これによって通常のテスト工程で、競合関係にある経路の出力が後段回路に接続されるタイミング間に十分な時間差があるか否かを確認することができる。 - 特許庁

To provide an acoustic tester capable of sensing the contact state between an intake-exhaust valve of a valve train for a vehicle engine and a valve seat and simplifying the test process to enable quick inspection.例文帳に追加

車両エンジン用バルブトレンの吸・排気バルブとバルブシートの間の接触状態を感知することができ、検査工程の単純化により迅速な点検が可能な音波検査機を提供する。 - 特許庁

At the conduction test, every time when the harness elementary wire is connected during a manufacturing process of the wire harness to be tested, an acceptance judgment of the wiring network is performed until final stage.例文帳に追加

上記導通検査では、検査対象となるワイヤーハーネスの製造過程で上記ハーネス要素電線が接続される度に当該回路網の良否判別を最終段階まで行う。 - 特許庁

Probe contact for the probe contact area 32 is used for contacting the edge of a test probe in a semiconductor chip inspection process performed prior to the bonding.例文帳に追加

プローブ接触領域３２へのプローブ接触は、上記ボンディングに先立って行われる半導体チップ検査工程において、試験用プローブの先端を接触させるために用いられる。 - 特許庁

The thickness of the surface deterioration layer formed at a test process is actually measured, beforehand, and a processing condition table T1 is created which is to be related to the processing conditions and the surface deterioration layer.例文帳に追加

予め、テスト加工工程で形成された表面変質層の膜厚を実測し、加工条件と表面変質層の膜厚を関係付ける加工条件テーブルＴ１を作成する。 - 特許庁

To obtain a semiconductor memory device provided with a mechanism in which the specific memory domain of a single product and the specific memory chip of an MCP product decided to be defective in a test process are separated.例文帳に追加

テスト工程において不良と判定された単体製品の特定メモリ領域やＭＣＰ製品の特定メモリチップを切り離す機構を備えた半導体記憶装置を得ること。 - 特許庁