「TEST PROCESS」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

Since a process for forming ohmic electrodes can be omitted, the semiconductor epitaxial wafer 10 can be easily subjected to a withstand voltage measuring test.例文帳に追加

したがって、オーミック電極を形成する工程が省略されるので、半導体エピタキシャルウエハ１０を容易に耐圧測定試験に供することができる。 - 特許庁

SYSTEM HAVING FUNCTION OF AUTOMATICALLY INCREASING ENGINE TORQUE FOR CONTROLLING DRIVING SLIP IN STARTING PROCESS ON TEST COURSE DIFFERENT IN STATIC FRICTION COEFFICIENT AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

静摩擦係数が異なる走行路での始動プロセスにおける自動エンジン・トルク上昇機能付きの駆動時滑りを制御するシステム及びその方法 - 特許庁

To quickly fill a test gas into an electric component and to quickly transport the electric component to an inspection device, by automating a process of filing the gas and transporting the device.例文帳に追加

電子部品へテスト用ガスを充填して検査装置へ移送する過程を自動化し、テスト用ガスの充填と検査装置への移送を速やかに行う。 - 特許庁

This high speed cutting test apparatus accelerates a flying vessel 10 incorporating a cutting blade of a small cutting tool 11 with a compression gas in a pipe line and realizes a cutting process within a processing chamber 1.例文帳に追加

小型の切削工具の切れ刃を内蔵した飛翔容器を，管路内で圧縮気体により加速させ，加工チャンバ内で切削過程を実現させる。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a circuit substrate, in which manufacturing costs are reduced by improving a test pad, and to provide a layout method for parts in a circuit substrate designing process.例文帳に追加

回路基板設計工程において、テストパッド及び部品のレイアウト方法を改善して、製造コストが低くなる回路基板の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a fatigue safety factor test apparatus and a fatigue safety factor test method, which can accurately and rapidly calculate fatigue safety factors of respective sections by using an automatic process and can improve the efficiency of design and development.例文帳に追加

自動処理により各部位の疲労安全率を高速かつ正確に算出することができ、設計及び開発の効率を向上することが可能な疲労安全率検査装置及び疲労安全率検査方法を提供する。 - 特許庁

In the disk device 1, an error is detected by the error detection data which is inconsistent with the test data in a process in which the test data is transmitted from the physical disk 110 to the host 2, and error information is reported to the host 2 (procedure 6).例文帳に追加

ディスク装置１では，物理ディスク１１０からホスト２に試験データが送られる過程で，試験データと整合性がないエラー検出用データによってエラーが検出され，エラー情報がホスト２に通知される（手順６）。 - 特許庁

Thereafter, peel-strength of the test piece is measured by pulling one layer and the other layers peeled on one end side of the test piece within a short term immediately after production by using a peeling measuring device 30 set in the production process.例文帳に追加

つぎに、生産工程内に設置された剥離測定装置３０を用いて、生産直後から短期間内に、試験片の一端側にて剥離された一層及び他層を引っ張ることにより、試験片の剥離強度が測定される。 - 特許庁

At the end of the test process, the information of a test result inputted to the terminal 1 is transferred to the server 3 through the computer 2 and registered in the DB 5 by the function 33.例文帳に追加

テスト工程終了時には、テスト端末機１に入力されたテスト結果の情報を、ホストコンピュータ２を介してテスト管理サーバ３に転送し、テスト管理サーバ３のテスト登録機能３３により進捗管理ＤＢ５に登録する。 - 特許庁

To provide a polyester film which keeps a smooth face even in a heating process such as a process to form a release layer and allows a precise checkup to be put into practice even in a test by a Cross Nicol prism method by a polarizing plate.例文帳に追加

離型層を設置する工程等の加熱工程においても平面性を保持することができ、偏光板のクロスニコル法による検査においても精度ある検査を実施できるようなポリエステルフィルムを提供する。 - 特許庁

A VDP 109 executes an alpha test process and an alpha composition process using alpha values set in respective pixels in image data, and gradually changes the images of ornament symbols with gradation during the variable display.例文帳に追加

また、ＶＤＰ１０９が、画像データの各画素に設定されたアルファ値を用いてアルファテスト処理やアルファ合成処理を実行し、可変表示中に飾り図柄の画像をグラデーションをつけて段階的に変化させる。 - 特許庁

The ECU 2 comprises a timer 21, a drunk driving prevention processing unit 22 for performing a drunk driving prevention process, and a breath test determination processing unit 23 for disabling the drunk driving prevention process under a predetermined condition.例文帳に追加

このＥＣＵ２は、タイマ２１と、飲酒運転防止処理を行う飲酒運転防止処理部２２と、所定条件の下で、飲酒運転防止処理を禁止する飲酒検査判定処理部２３とを備えている。 - 特許庁

The test method of the electrolyte for the fuel cell has a process of carrying out ESR measurement to the electrolyte for the fuel cell and obtaining a carbon radical amount, and a process of calculating the heat history based on the calculated carbon radical amount.例文帳に追加

燃料電池用電解質に対してＥＳＲ測定を行い炭素ラジカル量を求める工程と、算出された該炭素ラジカル量に基づき熱履歴を算出する工程とを有することを特徴とする。 - 特許庁

As described above, the PL wavelength inspection of an active layer of each of wafers used for devices is performed by a non-destructive test before putting the wafers into the wafer process, and thus, the wafer having used for the inspection can be put into the wafer process.例文帳に追加

このように、デバイス形成に用いるウェハの活性層のＰＬ波長検査をウェハプロセス投入前に非破壊検査により行うことにより、検査で用いたウェハをウェハプロセスに投入することができる。 - 特許庁

A test unit A of the accelerated deterioration test of the coating film is constituted of a first process 1 of acid immersion for immersing a specimen, in a solution with a PH of 1 and a temperature of 60°C for 1 hr and a second process 2 for applying light irradiation of a light irradiation quantity of 100 MJ/m^2 to the specimen from the light irradiation by high-energy xenon.例文帳に追加

塗膜の促進劣化試験の試験単位Ａは、ＰＨ１で、６０℃の溶液に、１時間にわたり被検体を酸浸漬する第１の工程１と、この第１の工程１を経た被検体に、強エネルギーキセノンによって光照射量１００ＭＪ／ｍ^2の光照射を施す第２の工程２とによって構成される。 - 特許庁

The prevention of hyperactive bladder and/or the method of screening improvement agent includes a process extending bladder epithelial cell line which brings into contact with a test substance through osmotic pressure change and a process measuring amount of ATP discharged from the cell line concerned to evaluate or select the test substance inhibiting ATP discharge.例文帳に追加

被検物質と接触させた膀胱上皮細胞株を浸透圧変化により伸展させる工程、及び浸透圧変化後、該細胞株から放出されたＡＴＰ量を測定し、ＡＴＰ放出を抑制する被検物質を評価又は選択する工程を含む過活動膀胱の予防及び／又は改善剤のスクリーニング方法。 - 特許庁

The inspection method of a semiconductor wafer includes a process of preparing a wafer formed with a chip region which will become a semiconductor chip, a first probe test for inspecting the wafer by probing, a process of pressing the electrode of the wafer by a pressurization member having a flat plane, and a second probe test for inspecting the wafer by probing.例文帳に追加

半導体ウェハの検査方法は、 半導体チップとなるチップ領域が形成されたウェハを準備する工程と、 前記ウェハをプロービングによって検査する第１プローブ検査と、 平坦面を有する加圧部材によって、前記ウェハの電極を押圧する工程と、 前記ウェハをプロービングによって検査する第２プローブ検査と、を含む。 - 特許庁

There are provided a process for measuring the change in the timing of an output level at an output terminal, while inputting a test signal having a lamp waveform to the input terminal of the electronic circuit and a process for calculating an input level for normally operating the electronic circuit, on the basis of the level of the test signal corresponding to this timing.例文帳に追加

電子回路の入力端子にランプ波形を有するテスト信号を入力しながら出力端子において出力レベルが変化するタイミングを測定する工程と、このタイミングに対応するテスト信号のレベルに基づいて、電子回路が正常に動作するための入力レベルを求める工程とを具備する。 - 特許庁

Test adjustment of the measuring instrument 2 at site is performed by inputting a simulated process amount into the measuring instrument 2 at site through a simulated test input pipe 33 by the measuring instrument test device 31 and taking in its output through a simulated signal measuring cable 32 to automatically adjust the measuring instrument 2 at site so that a value is within a predetermined scope.例文帳に追加

そして、現場計器２の試験調整は計器試験装置３１が模擬試験入力管３３を介して当該現場計器２に模擬的プロセス量を入力させ、その出力を模擬信号計測ケーブル３２を介して取り込んで、当該値が所定範囲内になるように現場計器２を自動調整する。 - 特許庁

To provide a connection work auxiliary device for a compressed-gas cylinder pressure test capable of performing each work process in the compressed-gas cylinder pressure test easily and efficiently without damaging a base of the cylinder, and especially automatizing the pressure test of the compressed-gas cylinder having a soft base or the compressed-gas cylinder having a small base diameter.例文帳に追加

高圧ガス容器耐圧試験の各作業工程が、容器の口金を傷めることなく、容易、かつ能率良く行なえ、特に口金の軟かい高圧ガス容器や口金の直径が小さい高圧ガス容器の耐圧試験を自動化できる高圧ガス容器耐圧試験の接続作業補助装置を提供すること。 - 特許庁

An electronic component W having completed a preceding process of an electric test unit E is positioned on a vertical axis of a contact C constituting the electric test unit E and stopped there, and the electronic component W held by a suction nozzle V1 is positioned right above the contact C.例文帳に追加

電気テストユニットＥの前工程を終えた電子部品Ｗが、電気テストユニットＥを構成するコンタクトＣの垂直軸上に位置し停止し、吸着ノズルＶ１に保持された電子部品ＷがコンタクトＣの直上に位置する。 - 特許庁

To provide a ceramic heater for a semiconductor manufacturing and test device aiming at the improvement of corrosion resistant property of an electrode part of the same and whole part of a base plate at a semiconductor manufacturing and test process.例文帳に追加

半導体製品の製造・検査工程において、半導体製造・検査装置用セラミックヒータの電極部分およびセラミック基板全体の耐腐食性を向上させることを目的とする半導体製造・検査装置用セラミックヒータを提供すること。 - 特許庁

Consequently, in a test of a model system and a practical application test of an open system in a site, it has been found that the pathogenic bacteria of the potato scab are annihilated at an initial stage of fermentation and the necl genes are decomposed by the heat (80-90°C) generated by the fermentation at an initial stage in a composting process.例文帳に追加

その結果、発酵初期の堆肥化過程の発酵熱（８０℃〜９０℃）により、モデル系及び開放系の現場の実用化試験ともに、ジャガイモそうか病原菌が発酵初期に死滅し、ｎｅｃｌ遺伝子が分解されていた。 - 特許庁

The memory device is provided with a nonvolatile memory 11 storing process items, a parameter start address PA, and parameters in which an address corresponds to the parameter start address and the process items are prescribed, and a control circuit 12 constituted so that the test process conformed to the process items prescribed in the parameters is performed for the nonvolatile memory, in the same chip.例文帳に追加

記憶装置は、工程項目およびパラメータ開始アドレスＰＡと、アドレスが前記パラメータ開始アドレスに対応し前記工程項目を規定するパラメータとを格納する不揮発性メモリ１１と、前記パラメータに規定され前記工程項目に従ったテスト工程を前記不揮発性メモリに行うように構成された制御回路１２とを同一チップ内に具備する。 - 特許庁

Liquid chromatography is used to conduct a process (a) for using a gel filter material as a stationary phase and an acid hydrous organic solvent as a mobile phase, to develop and elute the test sample which contains or can contain reducing substances; a process (b) for fractionating a column eluate; and a process (c) for measuring the reduction activity of each eluate fraction acquired in the process (b).例文帳に追加

液体クロマトグラフィーを用いて、(a)ゲルろ過材を固定相として用い、且つ酸性の含水有機溶媒を移動相として用いて、還元物質を含むかまたは含み得る被験試料を展開溶出する工程、 (b)カラム溶出液を分画する工程、及び(c)上記工程(b)で得られた各溶出画分の還元活性を測定する工程、を実施する。 - 特許庁

The durability testing method for inspecting durability of the tire includes a process for accelerating deterioration of the pneumatic tire and a process for performing drum durability traveling test by applying load on the pneumatic tire of which the deterioration is accelerated.例文帳に追加

空気入りタイヤの耐久性を調べるための耐久性試験方法であって、空気入りタイヤの劣化を促進させる工程と、劣化を促進させた空気入りタイヤに負荷をかけてドラム耐久走行テストを行う工程とを含む。 - 特許庁

The work station 10 is always operated making analysis host process as damon object of sever process, when analysis processing is required from the test processor 20, the work station 10 performs directly analysis processing in accordance with the request.例文帳に追加

ワークステーション１０は、解析ホストプロセスをサーバプロセスのデーモンオブジェクトとして常時起動しており、テスタプロセッサ２０から解析処理の要求があった場合、ワークステーション１０は直ちにその要求に応じた解析処理を実行する。 - 特許庁

The test pattern lines can be designed, to evaluate the effectiveness of a method used for correcting optical proximity effects, microloading effects, or other process effects.例文帳に追加

テストパターン線は、光学近接効果、マイクロローディング効果、または、他のプロセス効果を補正するための方法の有効性を評価するように設計されることが可能である。 - 特許庁

Thus, an insulating film or the like between the foreign matter and the signal wiring is surely destroyed, and the detection accuracy of the foreign matters in the test process is improved.例文帳に追加

これにより、異物と信号配線との間の絶縁膜等をより確実に破壊でき、テスト工程における異物の検出精度を向上させることができる。 - 特許庁

To provide a novel nonvolatile memory array structure capable of facilitating a test process of the nonvolatile memory array by forming an open circuit between an abnormally functioning bit line and a sense amplifier.例文帳に追加

機能異常のビット線とセンス増幅器の間を開路にして、不揮発性メモリアレイのテスト工程を簡便化し得る新規の不揮発性メモリアレイ構造を提供する。 - 特許庁

The accelerated test process includes a stage for maintaining the temperature of the semiconductor device within a temperature range of plus and minus 40°C of a temperature for mostly accelerating the stress migration for 0.4 hour or longer.例文帳に追加

加速試験工程は、半導体装置の温度をストレスマイグレーションが最も加速される温度の前後４０℃の温度帯で０．４時間以上保持する段階を有する。 - 特許庁

Further, a method of treating cancer developing CD70 or immunological disorder including a process of administering the disclosed drug composition to a body under test is disclosed.例文帳に追加

さらに、開示された医薬組成物を被験体に投与する工程を包含する、ＣＤ７０を発現するガンまたは免疫学的障害を治療するための方法も開示される。 - 特許庁

To provide a method of forming a test pattern of a semiconductor device that allows recognizing an overetch or an underetch occurring at a side wall after an etching process.例文帳に追加

エッチング工程後に側壁で発生するオーバーエッチングまたはエッチング不足を確認することが可能な半導体素子のテストパターン形成方法を提供すること。 - 特許庁

To estimate bearing capacity of a pile with high reliability by easily implementing a dynamic loading test of the pile at a low cost with high controllability without needing a complicated analysis process.例文帳に追加

杭の動的載荷試験を制御性良く容易で安価に実施して、複雑な解析処理を必要とすることなく、杭の支持力を信頼性良く推定する。 - 特許庁

According to the test result, raw material is sorted out, sterilizing process is changed and the production products is changed.例文帳に追加

原材料入荷時に入荷単位ごとに食品危害検査を行い、検査結果によって原材料を選別し、殺菌消毒工程を変化させたり、製造製品の変更を行う。 - 特許庁

To provide a method and system for identifying and managing a metal plate testpiece which correctly detect a barcode, and correctly process and test the testpiece.例文帳に追加

バーコードの正確な検出を行い、正確な試験片の加工・試験を行うことができる、金属板試験片識別管理方法およびシステムを提供することを目的とする。 - 特許庁

The odor component is injected from an inlet 12 into the injection/discharge tub 3 when the test is started, and the gas inside the tub is discharged from an outlet 13 after the deodorization process.例文帳に追加

試験開始時には臭い成分を注入口１２から注入・排出槽３内に注入し、脱臭処理後には排出口１３から槽内の気体を抜き取る。 - 特許庁

Another embodiment includes a method and a system for generating a simulation data store which uses a signal apart from a test grid to model an influence of an IC design and/or production process.例文帳に追加

別の実施例は、ＩＣデザイン及び／または製作プロセスの影響をモデル化するテスト格子を離れた信号を使用した、シミュレーションデータストアの生成法とシステムである。 - 特許庁

To realize electric fuse melting in a final test process without undesirably increasing a fuse-only terminal in a state where a semiconductor chip is mounted on a package.例文帳に追加

半導体チップがパッケージに実装された状態でのヒューズ専用端子を不所望に増加させることなく、最終テスト工程での電気ヒューズ溶断を実現する。 - 特許庁

The system may automatically test the overspeed protection system while at least one of the power plant machines is in the process of shutting down (300).例文帳に追加

本発明の実施形態は、発電プラント機械の少なくとも１つが運転停止プロセス（３００）にある間に過速度保護システムを自動的に試験することができる。 - 特許庁

To provide a server process testing system whose constitution can be easily changed and extended corresponding to the change or addition of a test item.例文帳に追加

試験項目の変更や追加等に対応してその構成を容易に変更および拡張することができるサーバプロセス試験システムを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor tester for improving the process efficiency of a controller, the synchronization accuracy of a control, and the total test efficiency.例文帳に追加

制御装置の処理効率を高め、更には制御の同期精度を高めることで、全体の試験効率を向上させることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a radio IC tag for simplifying the read/write test of an IC chip, and for simplifying the manufacturing process of a radio IC tag and for reducing manufacturing costs.例文帳に追加

ＩＣチップのリード／ライトテストが容易であり、無線ＩＣタグの製造工程を簡素化でき、製造コストを低く抑えることができる無線ＩＣタグを提供する。 - 特許庁

The electrode pad includes: a first region having connections with the rewiring layer; and a second region on which a test probe is abutted in an inspection process of the semiconductor substrate.例文帳に追加

電極パッドは再配線層との接続部を有する第１領域と、半導体基板の検査工程で検査プローブが当接される第２領域とからなる。 - 特許庁

To provide a resin sheet excellent in a high-frequency weldability and a heat-resistance during an embossing process and an emboss retention test, and having a good strength as a substitute for a PVC.例文帳に追加

高周波ウェルダ適性、シボ入れ加工時およびシボ保持試験時の耐熱性に優れ、十分な強度を備えたＰＶＣと代替可能な樹脂シートを提供すること。 - 特許庁