「TEST PROCESS」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

Thereby, a large number of initialization/test activities of the memory can be carried out in parallel with the initialization/test of the firmware and the start-up process of the OS.例文帳に追加

このようにすると、メモリの初期化／テスト活動の多くを、ファームウェアの初期化／テスト及びＯＳの起動プロセスと並列に行うことが可能となる。 - 特許庁

Further, a plurality of the wafers W are continuously tested, whereby the external appearance test of the wafer W is performed in a standby time of the probing test of a next process.例文帳に追加

また、複数枚のウエハＷを連続的に検査することで、ウエハＷの外観検査を次工程であるプロービングテストの待機時間に行う。 - 特許庁

The test is performed by a hydrogen charging process for immersing the flange part 12 in an acidic solution 20 to charge the test piece 10 with hydrogen, a cadmium-coating process for applying cadmium 21 to the whole surface of the test piece 10, to suppress the discharge of hydrogen from the test piece 10 and a breaking process for breaking the notch part 13, by chucking both ends of the test piece 10 and drawing it.例文帳に追加

試験では、鍔部１２を酸性溶液２０に浸漬することによって、試験片１０に水素をチャージする水素チャージ工程と、試験片１０の全表面にカドミウム２１を塗布することによって、試験片１０からの水素の放出を抑制するカドミウム塗布工程と、試験片１０の両端をチャックして引っ張ることによって、切欠部１３を破断させる破断工程と、が実施される。 - 特許庁

Even if the DUT 1 becomes faulty, the apparatus can terminate processing by switching from the faulty test channel to the unused and normal test channel and conduct a test without a recovery process.例文帳に追加

ＤＵＴ１が故障したとしても、故障したテストチャネルを未使用且つ正常なテストチャネルに切り替えることにより、処理を終了して復旧処理を行うことなく、試験を行うことができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory equipped with a test circuit whose I/O constitution is small and which is useful for shorting the test time of a DRAM and simplifying the test process, and to suppress the variation and dispersion of input capacity.例文帳に追加

Ｉ／Ｏ構成の小さいＤＲＡＭのテスト時間の短縮とテスト工程の簡略化に役立つテスト回路を備えた半導体記憶装置を提供し、入力容量の変化やばらつきを抑制する。 - 特許庁

To improve test efficiency as a whole by detecting early a defective product in a test process in a test method for a system LSI incorporating a plurality of semiconductor memories each having a redundancy relieving function.例文帳に追加

冗長救済機能を有する複数の半導体メモリを混載したシステムＬＳＩの検査方法において不良品を検査工程にて早期に発見し、全体として検査効率を向上する。 - 特許庁

When the test is on process, the database 30 also registers information indicating the fact, and test is carried out immediately without waiting by referencing the information when the test is not being executed.例文帳に追加

データベース３０にはまた、試験実行中のときはそのことを示す情報が登録され、この情報を参照することで、実行中でない場合には、待機することなく速やかに試験が実施される。 - 特許庁

Based on the result of the test determined to be appropriate of the independent chi-squared test and the accuracy probability test, it is estimated whether the manufacturing process causes the defective occurrence factor.例文帳に追加

独立性のカイ２乗検定と正確確率検定とのうち適すると判断した検定の結果に基づいて、その製造工程が不良品発生要因となっているかどうかの推定を行う。 - 特許庁

After this preparation process, a voltage input test of the existing remote monitoring controller is performed with a disconnecting switch on, while performing a test process of voltage input test of a new remote monitoring controller with the disconnecting switch off, and after the test process with the disconnecting switch off, an existing one removal process of removing wiring having their base end at the existing remote monitoring controller is performed.例文帳に追加

この準備工程の後、断路スイッチを入りにして、既設の遠方監視制御装置の電圧入力試験を実施する一方、断路スイッチを切りにして、新設の遠方監視制御装置の電圧入力試験を実施する試験工程と、試験工程の後、断路スイッチを切りにして、既設の遠方監視制御装置を基端とする配線を撤去する既設撤去工程とを実施する。 - 特許庁

A business process server 109 has information for controlling business process, information of test result and evaluation result in the past, and standard information relating to situation of associated control as databases 117 to 120, and a means 113 for creating test plan in the business process server.例文帳に追加

業務プロセスサーバ109が、業務プロセス統制の情報、過去のテスト結果・評価結果の情報、関連する統制の状況に関する基準情報をデータベース117〜120として保持し、業務プロセスサーバ内にテスト計画作成手段113を有する。 - 特許庁

To provide a terminal process member for a lightning impulse breakdown test capable of easily and surely performing a terminal process of a sample power cable.例文帳に追加

容易且つ確実に供試電力ケーブルの端末処理をすることが可能な雷インパルス電圧破壊試験用端末処理部材を提供する。 - 特許庁

A step for removing residual polarization is carried out at steps S14 and S20 before a transition is made from the test process to other process.例文帳に追加

この試験工程から他の工程へ以降する前に、ステップＳ１４及びＳ２０において残留分極を除去する工程が行われる。 - 特許庁

A replacement information storing section 10 records additional replacement information decided in accordance with a test performed during an assembly process or after the process.例文帳に追加

置換情報記憶部１０は、アセンブリ工程中または工程後に行なったテストに応じて決定された追加置換情報を記録する。 - 特許庁

In addition, the invention refers to a method of determining at least one parameter of a transfer process such as an imaging process making use of such a test pattern 1.例文帳に追加

加えて，テストパターン１を用いるイメージングプロセスのような転移処理の，少なくとも一つのパラメータを決定する方法について言及する。 - 特許庁

After a coil winding process (S101) for winding the coil of each phase to a stator core, an insulation test process between in-phase parallel conductors is performed (S104) via a coil-end forming process (S102) and a first lacing process (S103).例文帳に追加

固定子鉄心に各相のコイルを巻装するコイル巻装工程（Ｓ１０１）の後に、コイルエンド成形工程（Ｓ１０２）、第１レーシング工程（Ｓ１０３）を経て、同相並列導線間絶縁試験工程を行う（Ｓ１０４）。 - 特許庁

The mixed signal processing circuit is integrated with the test interface, especially the mixed signal processing circuit is integrated with the test interface of a probe card or a device under test, moreover the mixed signal processing circuit is integrated with the pin electric channel of the testing device, and the motion process of the mixed signal process circuit is integrated with the system software of the test device.例文帳に追加

混合信号処理回路をテストインターフェースに統合し、特に混合信号処理回路をプローブカードまたは被試験素子カードのテストインターフェースに統合し、かつ混合信号処理回路と試験機のピン電気チャンネルを統合し、混合信号処理回路の動作プロセスを試験機のシステムソフトウェアに統合する。 - 特許庁

Thus, the liquid crystal module tester dispenses with the process of connecting an exclusive substrate 110 and an image data generating unit 120 needed only for the test/regulation and a process for switching the test pattern, by operating prescribed equipment by a worker, whenever the test content changes each time test/regulation are performed in each base of the liquid crystal module 10.例文帳に追加

従って、液晶モジュール１０の各台について検査・調整を行う度に、同検査・調整のためだけに要していた専用基板１１０や画像データ発生器１２０を接続する工程や、検査内容が変わる度に作業員が所定の機器を操作して検査用パターンを切替える工程が不要となる。 - 特許庁

This method is composed of a material investigation result data input process, a site reconnaissance result data input process, an intrusion test result data input process, a foundation selecting process, a ground bearing power degree determining process, a consolidation settlement determining process, and an uneven settlement determining process, and determines the foundation on whether or not ground reinforcement is required.例文帳に追加

資料調査結果データ入力工程と、現地踏査結果データ入力工程と、貫入試験結果データ入力工程と、基礎選定工程と、地盤支持力度判定工程と、圧密沈下判定工程と、不同沈下判定工程と、からなり、地盤補強が必要か否かの基礎判定を行うようにした。 - 特許庁

The operation speed of a test ring oscillator, formed by the same semiconductor process as a MOS transistor, is observed.例文帳に追加

ＭＯＳトランジスタと同じ半導体プロセスで作製したテスト用リングオシレータの動作速度を実測する。 - 特許庁

Each accumulation capacity broken by application of the test voltage is detected in each pixel (process S2).例文帳に追加

上記試験電圧の印加によって破壊された蓄積容量を画素毎に検出する（工程Ｓ２）。 - 特許庁

To enable a monitoring device to unilaterally change a mode SW position in accordance with a test process of this device for control rods.例文帳に追加

本装置の試験工程に合わせて一方的にモードＳＷ位置を変更できるようにする。 - 特許庁

Now you can run a test case and monitor the execution of the BPEL process until it stops or reaches a breakpoint.例文帳に追加

これで、テストケースを実行し、BPEL プロセスが停止するかブレークポイントに到達するまで実行を監視できます。 - NetBeans

SYSTEM FOR COLLECTING DIAGNOSTIC DATA BY INITIATING EMERGENCY SHUTDOWN TEST MANUALLY IN PROCESS CONTROL ENVIRONMENT例文帳に追加

プロセス制御環境において緊急シャットダウンテストを手動で開始して診断データを収集するシステム - 特許庁

A test process comparing part 18 compares a progress reference value determined by the test process determining part 12, with the result of the analysis outputted by the test result analyzing part 16, judges the situation of the progress, and outputs the comparison result data indicating the result of the judgment.例文帳に追加

テスト工程比較部１８は、テスト工程設定部１２によって設定された進捗基準値とテスト成績分析部１６によって出力された分析結果とを比較して進捗状況を判断し、この判断結果を示す比較結果データを出力する。 - 特許庁

In this test (a), not only a mounted parts test for discriminating the mounted condition of chip parts mounted in the previous process but also a parts jump test for discriminating whether or not the chip parts have jumped to a place where variant parts are mounted in the next process C are executed.例文帳に追加

この検査ａでは、前工程で実装されたチップ部品の実装状態などを判別する実装部品検査のほか、つぎの工程Ｃで異形部品が実装される場所にチップ部品が飛んでいないかどうかを判別する部品飛び検査を実行する。 - 特許庁

For instance, the apparatus is a test system provided with: a tester configured to test a set of components and generate test data for the set of components, wherein the components are manufactured based on a manufacturing process; and a diagnostic system configured to receive the test data from the tester, and identify the characteristic of the manufacturing process of the components by automatically analyzing the test data.例文帳に追加

例えば、一組のコンポーネントを試験し、該一組のコンポーネントに対する試験データを生成するように構成されたテスターであって、該コンポーネントは製造プロセスに基づいて製造される、テスターと；該テスターから該試験データを受け取り、該試験データを自動的に分析することによって、該コンポーネントの該製造プロセスの特徴を識別するように構成された診断システムと、を備える、試験システム。 - 特許庁

In a test pattern for scan-designed LSIs, the generator performs a scan-out process 315 for picking up logic values from each flip flop and a scan-in process 316 for writing logic values for the next test in each flip flop at the same time.例文帳に追加

スキャン設計されたＬＳＩに対するテストパターンにおいて、各フリップフロップから論理値を取り出すスキャンアウト処理３１５と、各フリップフロップへ次のテスト用の論理値を書き込むスキャンイン処理３１６とを同時に行う。 - 特許庁

A metal test piece 2 is cut out of a sample 1 in a cutting process P1, and a complementary layer formed of a plating layer 3 is formed on the most surface layer of the metal test piece 2 in a plating layer preparing process P2.例文帳に追加

図２に示すように、金属試験片２を試料１から切断工程Ｐ１により切り取り、メッキ層作製工程Ｐ２により金属試験片２の最表層にメッキ層３からなる補完層を形成する。 - 特許庁

To perform process evaluation and wafer test using a TEG efficiently, while protecting the TEG against electrostatic breakdown during the process evaluation.例文帳に追加

ウエハ面積を有効に利用し、ＴＥＧを用いたプロセス評価とウエハテストとを効率的に行うと共に、プロセス評価時のＴＥＧの静電破壊を防止する。 - 特許庁

To make a contactless test of a flat panel display when determining whether each process is being carried out normally during a fabricating process of the flat panel display.例文帳に追加

平面表示装置の製造工程中、各製造工程が正常に進行したかを検査する際、被検体と接することなく検査できるようにする。 - 特許庁

The semiconductor device having a BGA in a package form is formed, and a burn-in process and a test process are carried out to the BGA (the semiconductor device) 8.例文帳に追加

パッケージ形態がＢＧＡである半導体装置を形成し、このＢＧＡ（半導体装置）８に対してバーンイン工程およびテスト工程を実施する。 - 特許庁

A test (a) is executed between a process B for mounting chip parts by a high speed mounter and a process C for mounting variant parts by a variant mounter.例文帳に追加

高速マウンタによりチップ部品を実装する工程Ｂと、異形マウンタにより異形部品を実装する工程Ｃとの間に、検査ａを実行する。 - 特許庁

An electrical double layer capacitor or the like requiring an overload test between the former inspection process and the latter inspection process can be inspected by the inspection method.例文帳に追加

この検査方法によって、前検査工程と後検査工程との間に過負荷試験を必要とする電気二重層コンデンサ等を検査することができる。 - 特許庁

To make it easy to test the operation of a plant monitor and control system by providing operation test environment wherein the confirmation, operation, etc., of input and output can be performed without designing and manufacturing a special process for the test.例文帳に追加

プラント監視・制御システムの運用試験に関して、試験のための特別な処理を設計・製作せずに、入出力の確認運転などが可能な運用試験環境を提供し、運用試験を容易にする。 - 特許庁

In this method, the test process of a semiconductor device under test is proceeded when a customer tray of a loader section is not vacant, while the number of the semiconductor devices under test mounted on a buffer tray of a loader side buffer section is counted if the customer tray is vacant.例文帳に追加

本発明はローダ部のカスタマートレイが空いていなければ、被検査半導体素子の検査過程を進行し、空いていれば、ローダ側バッファ部のバッファトレイに搭載された被検査半導体素子の数をカウントする。 - 特許庁

To provide an LSI test system in which a plurality of DUTs can be tested without lowering the use efficiency of the test system when the DUTs are tested while being mounted on frames and the throughput of test process can be enhanced.例文帳に追加

複数のＤＵＴをフレームに搭載してテストする場合にテストシステムの使用効率を悪化させることなくテストを行うことができ、テスト工程のスループットも向上させることが可能になるを提供する - 特許庁

To prevent a test wire from being broken during dry etching and to prevent a test error by shortening a process time by forming source and drain electrodes of molybdenum and forming the test wire of a gate substance.例文帳に追加

ソース及びドレイン電極をモリブデンで形成して工程時間を短縮し、テスト配線をゲート物質で形成することにより、乾式エッチングの間テスト配線が断線されないようにしてテスト誤りを防止する。 - 特許庁

To provide a test selection method and a test selecting apparatus for reducing the number of tests to be made without implementing a statement used for a program only in a testing process without reducing test precision in a regression test that is made after correcting the program.例文帳に追加

プログラムを修正した後に行う回帰試験において、試験精度を落とすことなく、また、プログラムに試験工程でのみ使用する命令文を実装することなく、行う試験の数を減らすことができる試験選択方法および試験選択装置を提供する。 - 特許庁

A disclosed example method includes: identifying, using a processor, an execution path through a batch configuration of a process control system; generating a test plan for the execution path; stimulating the process control system to execute the test plan; and recording a result of the test plan.例文帳に追加

開示される例示的方法は、プロセッサを使用して、プロセス制御システムのバッチ構成を通して、実行経路を識別することと、実行経路のための試験計画を生成することと、試験計画を実行するようにプロセス制御システムを促進することと、試験計画の結果を記録することと、を含む。 - 特許庁

A progress estimation process calculates estimated man-hours necessary to execute future tests in the current test project from the past test execution information and past actual man-hours.例文帳に追加

進捗予測処理では、過去のテスト実行情報および過去の実績工数に基づいて、現テストプロジェクトにおける今後のテストの実行に要する予測工数が算出される。 - 特許庁

To improve the efficiency in test process control by consistently and continuously executing the work from the preparing and approving work of a test specification to the control of a schedule and the registration of a result.例文帳に追加

テスト仕様書の作成・承認作業からスケジュール管理、成果物の登録に至るまでを一貫性をもって連続的に行ない、テスト工程管理の効率化を図る。 - 特許庁

The sense amplifiers SA1-SAn, switch part YSW4, and input/output control circuit IOC are activated again for the test cell to read the data out of the test cell (process 3).例文帳に追加

（処理３）次に、再度、テストセルに対してセンスアンプＳＡ１〜ＳＡｎとスイッチ部ＹＳＷ４と入出力制御回路ＩＯＣとを活性化させて、テストセルからデータを読み出す。 - 特許庁

To provide a terminal strip with high efficiency capable of eliminating a process for erecting a test pin which is an additional component in a printed board in tinuiry/insulation test on the printed board.例文帳に追加

プリント基板上での導電性／絶縁性試験において、別部品であるテストピンをプリント基板に立てる工程が不要な、作業性の良い端子台を提供する。 - 特許庁

To test-run a deployed business process application, you need to configure test cases to act as remote partner services sending SOAP messages to the BPEL ServiceEngine runtime.例文帳に追加

配備したビジネスプロセスアプリケーションをテスト実行するためには、BPEL サービスエンジン実行環境へ SOAP メッセージを送信するリモートパートナーサービスとして機能するようにテストケースを構成します。 - NetBeans

To realize a logic test circuit testing a logic circuit in a chip and having less over-head by constituting a test circuit in a chip without introducing a new device process named FPGA.例文帳に追加

ＦＰＧＡという新規デバイスプロセスの導入することなく、チップ内にテスト回路を構成して、チップ内のロジック回路をテストするオーバヘッドの少ないロジックテストを実現する。 - 特許庁