「Test In」に関連した英語例文の一覧と使い方(56ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a COF (chip on film) substrate having no local tapering of a wiring in a test pad portion.例文帳に追加

テストパッド部での配線の局部的細りをなくしたＣＯＦ基板を提供する。 - 特許庁

The heating means is kept in contact with the test specimen through a heat conductive substance.例文帳に追加

また、被試験物と発熱手段とは熱伝導性物質を介して当接されてなる。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR SELECTING TARGET COMPONENT IN TEST WITH LIMITED ACCESS例文帳に追加

アクセスを制限したテストにおいて目標コンポ—ネントを選択するための方法及び装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR ESTIMATING NECESSARY LIFE DIFFERENCE OF SIGNIFICANT DIFFERENCE DETERMINATION IN ACCELERATED TEST例文帳に追加

加速試験における有為差判断の必要寿命差見積もり方法および装置 - 特許庁

SHOCK ABSORBER TO BE USED IN MDB TEST AND ITS FORMING METHOD例文帳に追加

ＭＤＢ試験に用いる衝撃吸収体およびその衝撃吸収体の形成方法 - 特許庁

To enable safe operation for courses in facilities, including a test course and a circuit.例文帳に追加

テストコース、サーキットをはじめとする施設において、コースの安全運用を可能にすること。 - 特許庁

To provide an improved monitoring of operation of test equipment in a relatively continuous base.例文帳に追加

比較的連続ベースでその試験装置の作動の改善されたモニタリングを提供する。 - 特許庁

To provide a technology for shortening generation time of a test pattern in ATPG.例文帳に追加

ＡＴＰＧにおけるテストパタンの生成時間を短縮するための技術を提供する。 - 特許庁

To accurately test an assembled state of a tire and a wheel and moreover, in a short time.例文帳に追加

タイヤとホイールの組付け状態をより高精度で、かつ短時間に検査すること。 - 特許庁

In this test (a), not only a mounted parts test for discriminating the mounted condition of chip parts mounted in the previous process but also a parts jump test for discriminating whether or not the chip parts have jumped to a place where variant parts are mounted in the next process C are executed.例文帳に追加

この検査ａでは、前工程で実装されたチップ部品の実装状態などを判別する実装部品検査のほか、つぎの工程Ｃで異形部品が実装される場所にチップ部品が飛んでいないかどうかを判別する部品飛び検査を実行する。 - 特許庁

At step S2, test patches are printed on a print sheet in different dot recording modes.例文帳に追加

ステップＳ２で、それぞれ異なるドット記録モードで印刷用紙上にテストパッチを印刷する。 - 特許庁

In a recording power arithmetic circuit 13, the decision of the test write power for the trial writing in a test track of a magneto-optical disk 2 and the calculation of the actual recording power in each zone of the magneto-optical disk 2 based on the test write power are carried out by the control of a drive controller 11.例文帳に追加

ドライブコントローラ１１の制御により記録パワー演算回路１３では、光磁気ディスク２のテストトラックにおける試し書き用のテストライトパワーの決定と、テストライトパワーに基づく光磁気ディスク２の各ゾーンにおける実際の記録パワーの演算とを実行する。 - 特許庁

To shorten the applied time of stress voltage, and to conduct a screening test efficiently in a short time.例文帳に追加

ストレス電圧の印加時間を短縮し、短時間で効率よくスクリーニングテストを行う。 - 特許庁

To provide an inverter tester capable of preventing malfunction in controlling a test body or in a measuring apparatus due to noises and malfunction in controlling the test body or in a measuring apparatus due to circulating current.例文帳に追加

ノイズの影響による供試体の制御や計測装置の誤動作や、循環電流の影響による供試体の制御や計測装置の誤動作を防止することができるインバータ試験装置を提供する。 - 特許庁

In a Pachinko game machine 1, in a non-rewritable performance image storage device 340, performance image data to be used in a performance display operation and the test display data to be used in the test of the display operation are stored.例文帳に追加

パチンコ機１において書き換え不可能な演出画像記憶装置３４０には、演出表示動作に用いる演出画像データおよび、表示動作の試験に用いるテスト表示データを記憶している。 - 特許庁

To provide a method for acquiring and amplifying polynucleotide (tester-specific polynucleotide), in which the amount existing in a test sample (a tester) is larger than the amount existing in another test sample (a driver), efficiently, easily and in a short period of time.例文帳に追加

ある試料（テスター）での存在量が別の試料（ドライバー）での存在量よりも多いポリヌクレオチド（テスター特異的ポリヌクレオチド）を、容易に且つ短時間に、高効率に取得・増幅する方法を提供する。 - 特許庁

A write-driver circuit 1090 gives write-in data of which level is reversed every write-in cycle to a selected memory cell based on write-in data held in a latch circuit 1073a at the point of time at which write-in operation in a test operation mode is specified, in a test operation mode.例文帳に追加

ドライバ回路１０９０は、テスト動作モードにおいては、テスト動作モードにおける書込動作が指定された時点で、ラッチ回路１０７３ａに保持された書込データに基づいて、書込サイクルごとにレベルが反転する書込データを選択されたメモリセルに与える。 - 特許庁

To provide a penetration test machine and method capable of surely hearing and recording sound propagating through a penetration rod in a penetration test.例文帳に追加

貫入試験において貫入ロッドを伝播する音を確実に聴取して記録することができる貫入試験機および貫入試験方法の提供。 - 特許庁

When measurement in each write current value set beforehand is completed, the test execution control section 231 transmits the measurement data to the test computer 51.例文帳に追加

予め設定されている各ライト電流値における測定が終了すると、テスト実行制御部２３１は、測定データをテスト・コンピュータ５１に転送する。 - 特許庁

A gap adjustment test is carried out by passing a test current set in a range, corresponding to 1/2 to 1/10 of a rated current of the series reactors 24u to 24w therethrough.例文帳に追加

ギャップ調整試験は、直列リアクトル２４ｕ〜２４ｗにその定格電流の１／２〜１／１０の範囲で設定された試験電流を流して行われる。 - 特許庁

To provide a means for ensuring improved electric contact over a long time in a wafer level reliability test, such as an aging breaking test of insulation films.例文帳に追加

経時的絶縁膜破壊試験等のウェーハレベル信頼性試験において、長期にわたって良好な電気的接触を確保する手段の提供。 - 特許庁

The body 2 to be tested is housed in a test tank 1, and the test tank 1 is connected to a water supplying tank 4 through a hydraulic system pipe 5 and a return system pipe 8.例文帳に追加

試験槽１内に被試験体２を収納し、試験槽１と給水タンク４を水圧系統配管５と戻り系統配管８により接続する。 - 特許庁

To suppress increase of circuits for performing a memory test and to suppress increase of the number of test steps in a system LSI having a processor core and a plurality of memory banks.例文帳に追加

プロセッサコアと複数のメモリバンクを持つシステムＬＳＩにおいて、メモリテストを実施するための回路増加を抑え、かつテストステップ数の増加を抑える。 - 特許庁

To provide an input/output compression circuit for a semiconductor memory device in which a test time can be shortened by decreasing the number of input/output pins for a test.例文帳に追加

テスト用の入出力ピン数を減少させ、テスト時間を短縮させることができる半導体メモリ装置のコンプレス入出力回路提供すること。 - 特許庁

In one embodiment, this method measures a plurality of transient currents by an instrument, electrically connected to an electrochemical test piece by using a test piece.例文帳に追加

一態様において、本方法は、試験片を用いて、電気化学的試験片と電気的に接続した計器により複数の過渡電流を測定する。 - 特許庁

To reduce friction between a test specimen and a ring, between a tube and a sample and between a load transmitting member and the ground or the like, in a ground investigation test or the like.例文帳に追加

地盤調査試験等において試験供試体とリング間、チューブと採取試料間、荷重伝達部材等と地盤間などの摩擦を低減する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device in which an operation test by a frequency being higher than the maximum clock frequency which can be supplied by a test device can be performed.例文帳に追加

試験装置が供給できる最大クロック周波数より高い周波数での動作試験が行える半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

Test vectors from a signal generator 330 heat features of a device under test 305 to produce thermal characteristics useful in identifying defects.例文帳に追加

信号発生器（３３０）からのテストベクタにより、テスト対象デバイス（３０５）の各部分を加熱して欠陥を識別する際に有用な熱特性を生成する。 - 特許庁

In the inspection test, therefore, it is not necessary to search for communication cables to be connected to the inspection subject devices, and work of the inspection test is simplified.例文帳に追加

よって、検査試験において検査対象装置に接続される通信ケーブルを探し出す必要がなく、検査試験の作業が簡素化される。 - 特許庁

To provide a maintenance-free test system, which does not require a user to be aware of changes in the configuration of internal hardware as a result of maintenance of the test system.例文帳に追加

ユーザがテストシステムのメンテナンスの結果としての内部ハードウエアの構成変更を意識することを要しないメンテナンスフリーなテストシステムを提供する。 - 特許庁

A characteristic line extraction unit 105 extracts a characteristic line of a test object from data of a test object image taken by an imaging device being in a predetermined attitude.例文帳に追加

特徴線抽出部１０５は、撮像装置が所定の姿勢で検査対象を撮像した画像データから検査対象の特徴線を抽出する。 - 特許庁

To provide a signal interruption device which can easily perform an originating and terminating call test, a radio characteristics test, etc. in a radio base station device even after installation work.例文帳に追加

無線基地局装置において、設置工事後でも容易に発着呼試験や無線特性試験などを実施できる、信号遮断装置等を提供する。 - 特許庁

When a "H" level test signal is inputted in a test mode, switches 12a and 12b are controlled to be turned off and switches 12c and 12d are controlled to be turned on.例文帳に追加

テストモードにおいて、"Ｈ"レベルのテスト信号が入力されると、スイッチ１２ａ，１２ｂがオフ制御されるとともに、スイッチ１２ｃ，１２ｄがオン制御される。 - 特許庁

The network test planning device works out the plan of communication quality test executed with respect to all combinations among (n) sets of bases in total.例文帳に追加

本発明のネットワーク試験計画装置は、全ｎ個の拠点間の全ての組み合わせについて実行する通信品質試験の計画を策定する。 - 特許庁

To provide an interface circuit for suppressing cost increase and reduction of test accuracy due to external influence in a sensitivity test of a receiver.例文帳に追加

受信用レシーバの感度テストにおける外部影響によるテスト精度の低下及びコスト上昇を抑制することができるインターフェース回路を提供すること。 - 特許庁

To test a memory operated in a different operation clock, and to cope with a delay generated at the test time of the memory arranged on a physically far position.例文帳に追加

異なる動作クロックで動作するメモリのテストを行うこと、及び物理的に遠い位置に配置されているメモリテストの際に発生する遅延に対応すること。 - 特許庁

To provide a test pattern forming system, where the test pattern can be immediately used for the simulation by carrying out simulation, in an environment which approximates actual operation.例文帳に追加

実際の運用に近い環境でのシミュレーションを行い、シミュレーションのテストパターンとしてすぐに使用可能なテストパターン作成システムを提供する。 - 特許庁

Potential difference between the reference electrode 9 and the test specimen 10 is measured to detect the corrosive environment based on excessive voltage change in the test specimen 10.例文帳に追加

基準電極９と試験片１０との間の電位差を測定し、試験片１０の過大な電位変化に基づき腐食環境を検知する。 - 特許庁

To provide a control method contributing to the enhancement of precision by sensing eccentric loading during a test and correcting it, in a compression strength test of concrete.例文帳に追加

コンクリートの圧縮強度試験において、試験中の偏心載荷を感知して修正することにより精度向上に寄与する管理方法を提供する。 - 特許庁

Thus, influences of the lateral force with a circumferential speed difference within a contact area of the rubber test member 2 are excluded by reducing the lateral force generated in the rubber test member 2.例文帳に追加

これにより、ゴム試験部材２に生じる横力を減じて、ゴム試験部材２の接地面内の周速差に伴う横力の影響を排除する。 - 特許庁

To provide an interface circuit for facilitating implementation of a test, by reducing an overhead cycle in the test during an interface operation, and to provide a communications system.例文帳に追加

インタフェース動作時テストにおけるオーバヘッドサイクルを削減でき、テストの実施を容易とすることが可能なインタフェース回路および通信システムを提供する。 - 特許庁

A test pile 12 is buried in ground 20; and a jack 16 for adding a vertical load is provided on the top surface 12U of the test pile 12.例文帳に追加

試験杭１２が地盤２０に埋設され、試験杭１２の上面１２Ｕには鉛直方向の荷重を付加するジャッキ１６が設けられている。 - 特許庁

The test signal generating means 10 generates and outputs a plurality of test signals TS so that the quality of a digital modulated signal in normal operation is lowered.例文帳に追加

テスト信号生成手段１０は、通常動作時のデジタル変調信号の品質を低下させた複数のテスト信号ＴＳを生成して出力する。 - 特許庁

The test lens L is arranged on a nose piece 9 being a measuring base point of a lens meter, and first of all a first power of the test lens L in the air is measured.例文帳に追加

被検レンズＬをレンズメータの測定基点となるノーズピース９上に配置し、まず空気中における被検レンズＬの第１のレンズ度数を測定する。 - 特許庁

To provide a testing apparatus of a semiconductor device free from troubles such as a leak defect or a failure of a test board caused by generation of frost in the test board.例文帳に追加

テストボードに霜が生じることで発生していたＬｅａｋ不良やテストボードの故障といった不都合のない半導体装置の試験装置を提供する。 - 特許庁