「Test In」に関連した英語例文の一覧と使い方(52ページ目) - Weblio英語例文検索

A test specification generation part 101 performs generation processing of the design specification 110 using a design specification template corresponding to a test specification generation rule preliminarily registered in a test specification management repository 103, generates a test code 111 and performs generation processing of a test specification 112 according to the test specification generation rule based on design specification information stored in a design specification information repository 104.例文帳に追加

テスト仕様生成部１０１は、テスト仕様管理リポジトリ１０３に予め登録されているテスト仕様生成ルールに対応する設計仕様書テンプレートを用いて設計仕様書１１０の生成処理を行うとともに、設計仕様書情報リポジトリ１０４に格納された設計仕様書情報に基づき、テスト仕様生成ルールに従って、テストコード１１１の生成及びテスト仕様書１１２の生成処理を行う。 - 特許庁

This method includes a step in which a reinitialization mode is performed while examining the recorder/player by using a disk for test having test reference information and a physical defect and test information is subsequently generated from generated defect management information, and a step in which reference information predicted form the test reference information and the physical defect is compared with the test information and verification results about the test information are provided.例文帳に追加

テスト基準情報と物理的な欠陥を有するテスト用ディスクを使用して記録及び再生装置の検定をしながら再初期化モードを行った後、生成された欠陥管理情報からテスト情報を生成する段階と、テスト基準情報と物理的な欠陥により予測された基準情報とテスト情報とを比較してテスト情報に関する検証結果を提供する段階とを含む。 - 特許庁

To classify test control requests in the unit of channels and frames by distinguishingly monitoring kinds of loopback test control and to execute a test control request as to other optional channel in the case of executing the loopback test control through the optional channel without distinguishing the test control from a remote from the test control in its own station.例文帳に追加

本発明は、ループバック試験制御の種類を区別して監視することで試験制御要求をチャンネル単位とフレーム単位に分類するとともに、リモートからの試験制御と自局での試験制御とを区別することなく任意のチャンネルでループバック試験制御を実行する際に別の任意のチャンネルについても試験制御要求を実行できる通信試験制御装置および通信試験制御方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide an array substrate capable of optimizing test conditions of a self-test functional circuit, (BISAT)(built in self array test), for every substrate by disposing a dummy pixel area in the vicinity of a display area and arranging a defective dummy pixel therein in order to avoid the erroneous determination or the increase of a measurement time required for test in the substrate created according to an NMOS process.例文帳に追加

NMOSプロセスで作成された基板の場合、誤判定または検査に要する測定時間の増大を回避するために、表示領域近傍にダミー画素領域を設けその中に不良ダミー画素を配置することにより、基板毎に自己検査機能回路（BISAT）の検査条件の最適化をし得るアレイ基板の提供を目的とする。 - 特許庁

The backlash control elements (27, 28) is switchable between a first state in which the test tool mount (21) is biased in a first axial direction and a second state in which the test tool mount (21) is biased in a second axial direction or no biasing force is applied to the test tool mount (21).例文帳に追加

バックラッシ制御要素(27,28)は、試験ツール取付け部(21)が第１の軸線方向に付勢される第１の状態と、試験ツール取付け部(21)が第２の軸線方向に付勢され又は試験ツール取付け部(21)に付勢力が付与されない第２の状態との間を切換え可能である。 - 特許庁

To provide a method for detecting and/or measuring mutagenicity of a mutagen in higher accuracy in an in vitro mutagenicity test using microorganisms such as Ames test widely used in fields of a chemical material, a medicine, a food, a fodder or the like as one of a safety test method.例文帳に追加

安全性試験方法の一つとして化学物質、医薬、食品、飼料などの分野で遍く利用されているエイムス試験のような微生物を用いたイン ビトロの変異原性試験において、より確度の高い変異原性物質の変異原性の検出及び／又は測定法を提供すること。 - 特許庁

This device is constituted so that a test bit is generated using a test bit generation matrix in which the number of elements of '1' of each row are the number of pieces required for generating a test bit and an odd number, in normal write-in operation and write-in operation before erasion.例文帳に追加

この発明は、通常の書き込み動作ならびに消去前の書き込み動作において、各行の“１”の要素が検査ビットを発生させのに最低必要となる個数を満たす奇数個とした検査ビット発生行列を使用して検査ビットを発生させるように構成される。 - 特許庁

A controller of a unit for writing and reading data to and from the optical disk, sets up all the 27 write strategies stored in a write strategy memory 152, and test writes each test signal by changing in order in a predefined period in the test area of the optical disk with an optimum power.例文帳に追加

光ディスクに対してデータを記録再生する装置の制御部は、ライトストラテジメモリ部１５２に記憶されている全２７通りのライトストラテジを設定し、光ディスクのテスト領域に最適記録パワーで各テスト信号を所定期間ずつ切り替えながら順次試し書きする。 - 特許庁

To provide a method and a testing system capable of generating common test-condition data to a plurality of testing apparatuses, and generating the test-condition data in each apparatus by taking into consideration a difference in the performance of an apparatus in a short period of time, in the method for generating the test-condition data of the wafer visual testing apparatus.例文帳に追加

ウエーハ外観検査装置の検査条件データを生成する方法において、複数台の検査装置に対する共通の検査条件データを生成し、機差を考慮した装置毎の検査条件データを短時間で生成できる方法及び検査システムを提供する。 - 特許庁

When test voting is started, ground stations AP1, AP2,..., transmit a test voting start signal to many terminal devices M11, M12,..., and each terminal device measures a time when the user of the self-device takes time in performing test voting operation and transmits the test voting operation time to its ground station.例文帳に追加

テスト投票を開始すると、地上局AP1,AP2,…から多数の端末装置M11,M12,…にテスト投票開始信号を送信し、各端末装置が自装置の使用者がテスト投票動作に要した時間を計測し、このテスト投票動作時間を地上局に送信する。 - 特許庁

A part in a specified section for performing test recording is given test recording while changing reference recording power, and the other part is given test recording by similar reference recording power to decide the optimum recording power from the result of each test recording.例文帳に追加

テスト記録を行うための特定区間中の一部には基準記録パワーを変更させながらテスト記録を行い、残りの区間には同様の基準記録パワーによりテスト記録を行って、各テスト記録の結果から最適記録パワーを決定する、ことを特徴とする。 - 特許庁

Further, by performing a voltage measuring test when the test target is provided with a power supply circuit and is recognized as a test target, a voltage measuring test can be performed even with a comparatively inexpensive tester having constraints in a voltage measuring unit without using an expensive tester.例文帳に追加

さらに、電源回路を備え検査対象と認識された時に電圧測定検査を行うことにより、高価なテスターを用いることなく、電圧測定ユニットに制約のある比較的安価なテスターにおいても、電圧測定検査を行うことができる。 - 特許庁

To provide a load testing machine for performing a plurality of tests, such as a test for simultaneously applying loads of a plurality of weights to a test object and a test for applying a load to the test object while increasing the load in steps, without requiring any attachment/detachment of a dedicated tool.例文帳に追加

被試験物に複数の分銅の荷重を同時に負荷する試験、被試験物に荷重を段階的に増加させて負荷する試験等複数の試験を専用の治具の着脱を要することなく行うことができる荷重試験機を提供する。 - 特許庁

Plural VCs with the same function and mutually different test technique are stored in the VCDB 100, the test technique to minimize the total test cost is selected by weighting a parameter to affect the test cost according to a user's priority order.例文帳に追加

ＶＣＤＢ１００には、機能が同じでテスト手法が互いに異なる複数のＶＣが格納されており、テストコストに影響を与えるパラメータをユーザの優先順位に応じて重み付けを行なって、トータルのテストコストを最小化するテスト手法を選択することができる。 - 特許庁

In the charging system of an electric vehicle, a signal application section 520 of an ECU 170 applies test signals from an vehicle inlet 270 to the power lines PWR-H, PWR-C via wirings for test TEST-H, TEST-C.例文帳に追加

電動車両の充電システムにおいて、ＥＣＵ１７０の信号印加部５２０から、テスト用配線ＴＥＳＴ−Ｈ，ＴＥＳＴ−Ｃを介して、車両インレット２７０より電力線ＰＷＲ−Ｈ，ＰＷＲ−Ｃに対して試験信号を印加する。 - 特許庁

A DB retrieving part 9 retrieves a test execution situation stored in the DB 8, and a test place to a test object program module is presented by such a manner that information notified a test place outputting part 10 is supplied to a program module testing device 11.例文帳に追加

ＤＢ検索部９によってＤＢ８に記憶された試験実施状況が検索され、試験箇所出力部１０に通知された情報がプログラムモジュール試験装置１１に供給されることで試験対象プログラムモジュールに対する試験箇所が提示される。 - 特許庁

To provide a test apparatus for semiconductor integrated circuit and test pattern diagnostic method capable of shortening the time required for the search for cause in the event of an abnormality such as frequency of fails during a test by allowing the diagnosis of only a test pattern.例文帳に追加

試験パターンのみを診断可能とすることで、試験中にフェイルが多発する等の異常が生じたときの原因追及に要する時間を短縮することができる半導体集積回路試験装置及び試験パターン診断方法を提供する。 - 特許庁

To provide a printer which can suppress a test printing time and an increase of consumption of printing sheets without requiring fixed form printing control exclusive for test printing in the case of carrying out test printing of fixed form printing, and to provide a printing method of test printing and a POS terminal device.例文帳に追加

定形印刷のテスト印刷を実行する場合に、テスト印刷専用の定形印刷制御を必要とせず、テスト印刷時間と印刷用紙の消費の増加とを抑制できる、印刷装置、テスト印刷の印刷方法、及びＰＯＳ端末装置を提供する。 - 特許庁

A program 80 for being tested is automatically tested by a test device 10 based on a test case correct solution 4 created by a high-order design tool 1, an operation procedure 5 for the test case correct solution, and a basic test operation procedure stored in a storage device 100.例文帳に追加

上位設計ツール１で作成されたテストケース正解例４及びテストケース正解例準拠操作手順５と、記憶装置１００に記憶された基本テスト操作手順とに基づいて、テスト装置１０で被テストプログラム８０のテストを自動実行する。 - 特許庁

An inter-device test program parallel execution means 24 and a test program manual operation parallel execution means 25 respectively leave start for the test program stored in each device of the test device group 4 together with the required start information.例文帳に追加

装置内連続試験プログラム並列実行手段２３、装置間試験プログラム並列実行手段２４、及び試験プログラム手操作並列実行手段２５はそれぞれ必要な起動情報とともに試験装置群４の各装置に格納された試験プログラムに起動を渡す。 - 特許庁

To provide a function verification device, a test bench, a simulator program, and a storage medium for avoiding unintended register setting in each verification work and allowing a test designer to design a test without taking register competition with the other test into consideration.例文帳に追加

それぞれの検証作業で意図しないレジスタ設定となることを回避することができ、テスト設計者は他のテストとのレジスタ競合を考えることなくテストを設計することができる機能検証装置、テストベンチ、シミュレータプログラム及び記憶媒体を提供する。 - 特許庁

The tensile testing machine 1 holds the test strip 2 so as to be tensible by using a holding jig, irradiates the part to be observed in the test strip 2 with electromagnetic wave M, detects the electromagnetic wave M passing through the test strip 2 and observes the extended state of the test strip 2.例文帳に追加

延伸観察用引張試験装置１は、試験片２を把持治具により引っ張り可能に保持するとともに、電磁波Ｍを試験片２の被観察部に照射し、試験片２を透過した電磁波Ｍを検出して試験片２の延伸状態を観察する。 - 特許庁

To obtain a gaseous corrosion testing device capable of performing a gaseous corrosion test, while performing a hygrothermal cycle test without forming dew on a wall surface of a test tank, capable of improving the gas concentration stability in the test tank and the reproducibility of test results, and capable of performing the hygrothermal cycle test under an atmosphere where gas concentration is controlled at all times.例文帳に追加

この発明は、試験槽内の壁面に結露を生じることなく温湿度サイクル試験を行いながらガス腐食試験を行うことができ、試験槽内のガス濃度の安定性および試験結果の再現性を向上することができ、常にガス濃度を管理されているガス雰囲気下で温湿度サイクル試験を行うことができるガス腐食試験装置を実現することを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and a wafer burn-in method, wherein wafer burn-in test having reliability can be executed with alignment precision to some degree, in the case that the number of terminals which make contact in batch in the state of wafer is increased, and the cost for test is low.例文帳に追加

ウェハ状態で一括して接触する端子数が多くなっても、ある程度の位置合わせ精度で信頼性のあるウェハバーンイン試験が実施でき、安価なテストコストで済む半導体装置及びウェハバーンイン方法を提供する。 - 特許庁

The display marker 3 is thereby written clearly on a film in the radiographic test.例文帳に追加

これにより、透過試験においてフィルム上に表示マーカ３を明記することができる。 - 特許庁

The method of the programmable memory built-in self test (MBIST), the apparatus, and a system are disclosed.例文帳に追加

プログラマブル・メモリ・ビルト・イン・セルフ・テスト（ＭＢＩＳＴ）の方法、装置、及びシステムを開示する。 - 特許庁

Landolt rings are shown in a monitor when selecting a visual acuity test mode by a television device.例文帳に追加

テレビジョン装置で視力検査モードを選択すると、モニタにランドルト環３０が表示される。 - 特許庁

To improve the cost effect and the time efficiency for a test of an IC component in DUT.例文帳に追加

ＤＵＴ内のＩＣ部品のテストのコスト効果及び時間効率を向上させる。 - 特許庁

To provide a method for assaying existence of an objective bacterium in a test sample.例文帳に追加

被験試料中における目的とする菌の生存を検定する方法の提供。 - 特許庁

To provide high-speed revolution of a flywheel or an object of test large in weight.例文帳に追加

重量の大きなフライホイール又は試験対象物の高速回転を課題とする。 - 特許庁

A measurement cell 8, which has a capillary tube 9, is fitted in the upper part of the test chamber 3.例文帳に追加

毛管９を有する測定セル８が検査チャンバ３の上部に嵌め込んである。 - 特許庁

There is also a combination of the test piece for detecting the specimen in the liquid sample and a meter.例文帳に追加

液体サンプル中の検体の検出用の試験片とメーターとの組み合わせもある。 - 特許庁

When a vender test mode in which voltage acceleration test is performed is selected, a level control signal is outputted from a control circuit 10, an internal power source circuit 13 varies a level of internal voltage based on this level control signal, and burn-in test is performed in an outputted state.例文帳に追加

電圧加速テストを行うベンダテストモードがエントリされるとレベル制御信号がコントロール回路１０から出力され、このレベル制御信号に基づいて内部電源回路１３が、内部電圧のレベルを可変して出力した状態でバーンインテストを行う。 - 特許庁

To precisely detect a defect including dropout of a label in a label tape test device.例文帳に追加

ラベルテープの検査装置において、ラベルの脱落を含む欠陥を精度良く検出する。 - 特許庁

The photoelectric signal is transmitted to a data processor in which a test or a result analysis is performed.例文帳に追加

光電信号は、データ処理装置へ送られて、試験や結果分析が行われる。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR SELECTING STIMULATION POSITION IN CIRCUIT TEST WITH LIMITED ACCESS例文帳に追加

アクセスを制限した回路テストにおいて刺激位置を選択するための方法及び装置 - 特許庁

To easily and accurately test running of a sports vehicle in which a driver's seat is a bucket seat.例文帳に追加

運転席がバケットシートのスポーツ車両の走行試験を容易にかつ正確に行う。 - 特許庁

To enable precisely pointing out a physical position of a device under each test to trace so that correction can be made in the case of being unacceptable to an test in a burn-rack test device and surely shipping to an exact customer in the case of being acceptable.例文帳に追加

本発明は、バーン・ラック試験装置で、試験に不合格の場合には修正できるように各試験下の装置の物理的な位置を正確に指摘し、追跡でき、合格の場合には正しい顧客に確実に出荷できるようにすることを目的とする。 - 特許庁

In a test mode, whether or not a plurality of fixed keys 7 can be successively input is checked.例文帳に追加

テストモードにおいて、複数の固定キー７を順に入力可能か否かを確認する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR ESTIMATING NECESSARY LIFE DIFFERENCE OF SIGNIFICANT DIFFERENCE DETERMINATION IN ACCELERATED TEST例文帳に追加

加速試験における有為差有無判定・有為寿命差見積もり方法および装置 - 特許庁

Next, the cut test piece 21 is immersed in measuring oil 23 until bubbles disappear.例文帳に追加

次に、切り出した供試体２１を計測用油２３に泡が出なくなるまで漬け込む。 - 特許庁

After specifying don't-care-bits as much as possible in response to a test pattern generated in relation to a combination circuit model (S12-4), a condition is assigned again to reduce the number of test conditions and the number of invalid test conditions in relation to the don't-care-bits (S12-5).例文帳に追加

組み合わせ回路モデルに対して生成したテストパターンに対して、可能な限り多くのドントケアビットを特定した後（Ｓ１２−４）、ドントケアビットに対して、テスト状態数および無効テスト状態数が削減されるように状態を再割当する（Ｓ１２−５）。 - 特許庁

For other than a test mode, a defective word line is replaced by a spare word line contained in a spare block.例文帳に追加

テストモード以外では、欠陥ワード線はスペアブロックに含まれるスペアワード線で置換される。 - 特許庁

METHOD FOR BRINGING PROBE PIN INTO CONTACT IN CHARACTERISTICS TEST, PROBE HEAD, AND CHARACTERISTICS INSPECTION DEVICE例文帳に追加

特性検査におけるプローブピンの接触方法、並びにプローブヘッド、および特性検査装置 - 特許庁

The method for obtaining the optimal power (electric power) (10) for writing in an optical disk (40) includes a method for executing a power calibration test in which writing test data (30) in a user data area (25) on the optical disc (40) and reading the test data (30) are included.例文帳に追加

光ディスク（４０）に書き込むための最適パワー(電力)を求める方法（１０）であって、前記光ディスク（４０）上のユーザデータエリア（２５）にテストデータ（３０）を書き込むこと、および前記テストデータ（３０）を読み取ることを含むパワー校正テストを実施することを含む方法。 - 特許庁