「Test Vector」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To lighten a burden on a test vector designer, to make it possible to input a test vector into a simulator without erroneous input, and also to shorten test vector generating time, by generating the test vector automatically in a short period of time.例文帳に追加

テストベクタを短時間で、かつ自動的に生成することにより、テストベクタ設計者の負荷の低減を図り、誤入力なく、テストベクタをシミュレータに入力に可能としテストベクタ生成時間の短縮化も図ること。 - 特許庁

METHOD OF CREATING INITIAL INPUT VECTOR OF TEST GENERATION CIRCUIT例文帳に追加

テスト発生回路の初期入力ベクトルの作成方法 - 特許庁

MOTION VECTOR DETECTOR AND SELF-TEST METHOD FOR THE MOTION VECTOR DETECTOR例文帳に追加

動きベクトル検出装置および動きベクトル検出装置における自己テスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, ITS DESIGNING DEVICE, DESIGNING METHOD, DESIGNING PROGRAM, TEST VECTOR VERIFICATION DEVICE, AND TEST VECTOR GENERATION DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路、その設計装置、設計方法、設計プログラム、テストベクタ検証装置、およびテストベクタ作成装置 - 特許庁

A score increase deciding means 4 compares the calculated score with a score before test vector addition and when the score is not sufficiently increased, an additional test vector abandoning means 6 is started to delete the added test vector from the test vector buffer 106.例文帳に追加

得点上昇分判定手段４は、この得点と、テストベクトル追加前の得点とを比較して、得点が十分に上昇しなかった場合は、上記追加されたテストベクトルをテストベクトルバッファ１０６から削除すべく追加テストベクトル破棄手段６を起動する。 - 特許庁

By using the test environment that is found out, a predetermined test vector is propagated to acquire a system level test set.例文帳に追加

見つけられたテスト環境を使用して、所定のテストベクトルがシステムレベル・テストセットを獲得するため伝播させられる。 - 特許庁

This method comprises forming only the change portion from the previous pattern vector into a file, paying attention to a test pattern used for a semiconductor test every pattern vector, to compress the test pattern file.例文帳に追加

半導体の試験に使用するテストパターンファイルをパターンベクタ毎に着目し、前のパターンベクタからの変更分のみをファイル化してテストパターンファイルの圧縮を行う。 - 特許庁

Consequently, in the case that a test vector including 0 as input data exists in the pre-addition test case (S50), a test vector including -0 as input data is added (S60).例文帳に追加

したがって、付加前テストケース中に０を入力データとしたテストベクタが存在する場合には（Ｓ５０）、−０を入力データとしたテストベクタが付加される（Ｓ６０）。 - 特許庁

The bit test pattern vector and the sample vector of the bits vary when compared several times.例文帳に追加

ビット・テスト・パターン・ベクトルおよびビットのサンプル・ベクトルは両方とも何回かの各比較に対して変化する。 - 特許庁

To provide test equipment, testing method and program which can reduce dependency on measurements such as leak current for logic pattern of test vector in testing of devices under test.例文帳に追加

被試験デバイスの試験において、試験ベクタの論理パターンに対する、リーク電流等の測定値の依存性を低減する。 - 特許庁

A candidate scene vector 621 corresponding to a test image vector is subjected to positional specification in the network (step 620).例文帳に追加

テスト画像ベクトルに対応した候補情景ベクトル６２１は、ネットワークにおいて位置特定される（ステップ６２０）。 - 特許庁

Statistical IDDQ for each test vector is calculated, and first array data including as elements an identifier of the test vector and the statistical IDDQ is created (S104).例文帳に追加

テストベクタごとの統計的なＩＤＤＱを算出し、テストベクタの識別子と統計的なＩＤＤＱを要素とする第１配列データを生成する（Ｓ１０４）。 - 特許庁

To shorten a required time for formation of a test vector used in a test device for executing a test of a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路のテストを行うためのテスト装置で用いられるテストベクタの生成に要する所要時間を短縮する。 - 特許庁

Only the test vector effective for performing the verification therefore is adopted and the total number of test vectors can be reduced.例文帳に追加

したがって、検証を行う上で効果的なテストベクトルのみが採用され、テストベクトルの総数を削減できる。 - 特許庁

A test vector altering part 9 alters test vectors so that the special cell may come into a standby state at the timing.例文帳に追加

テストベクタ変更部９は、そのタイミングにおける特殊セルがスタンバイ状態になるようにテストベクタを変更する。 - 特許庁

VECTOR SET GENERATION METHOD, TESTING SYSTEM, AND RECORDING MEDIUM FOR STORING TEST PROGRAM例文帳に追加

ベクトル・セット生成方法、試験システム及び試験プログラムを格納する記録媒体 - 特許庁

To perform the most effective verification with the optimal test vector within a finite period.例文帳に追加

有限期間内に最適なテストベクトルで最も効果的な検証を行う。 - 特許庁

To suppress increase in a test vector making time and increase in a test time, when an evaluation test of a DRAM core circuit incorporated in a DRAM mixed logic LSI is performed by unnecessitating an exclusive test vector for each DRAM core circuit being an object of evaluation.例文帳に追加

DRAM混載ロジックLSI に内蔵するDRAMコア回路の評価テストを行う場合に、評価対象となるDRAMコア回路毎に専用のテストベクタを必要としなくなり、テストベクタ作成時間の増大やテスト時間の増大を抑制する。 - 特許庁

To automatically generate a test vector to realize the shortening of a test time based on log data at the performance of a manual operation.例文帳に追加

マニュアル操作を行った際のログデータに基づいて、試験時間の短縮を実現するテストベクタを自動生成すること。 - 特許庁

A test can be executed on an ATE (automatic test equipment) by using a simple test vector, and is executed by a field engineer on a actual board provided with a chip.例文帳に追加

テストは、簡単なテストベクタを用いてＡＴＥ（自動試験装置）上で実行されえ、チップを備える実際のボード上でフィールドエンジニアによって実行されえる。 - 特許庁

An interference vector for the antenna under test is acquired when the signal source is disabled (24).例文帳に追加

内部信号源が不能にされた際に、被試験アンテナの干渉ベクトルを取込む（２４）。 - 特許庁

The system estimates the leakage current by analyzing variations in a control signal against an external test vector.例文帳に追加

外部からのテストベクタに対する制御信号の変化を解析して、リーク電流を見積もる。 - 特許庁

To flexibly allocate a measuring port of VNA (vector network analyzer) to a device port of an adapter and a DUT (device under test).例文帳に追加

アダプタ及びＤＵＴの装置ポートに対するＶＮＡの測定ポートを柔軟に割り当てる。 - 特許庁

MULTIPLE SCAN CHAIN CIRCUIT WITH PIN SHARING, ITS TEST METHOD, AND SCAN VECTOR LOADING METHOD例文帳に追加

ピン共有を用いた多重スキャンチェーン回路及びテスト方法並びにスキャンベクトルローディング方法 - 特許庁

Next, a test input vector VEC is input into an input signal line, and an initial simulation output vector ISO is acquired in an output signal line.例文帳に追加

次に、テスト入力ベクトルＶＥＣを入力信号線に入力して初期シミュレーション出力ベクトルＩＳＯを出力信号線に得る。 - 特許庁

A signal vector for an antenna under test is acquired when excited by an internal signal source, the signal vector including both signal and interference components (22).例文帳に追加

内部信号源により励起された際に、信号成分及び干渉成分の両方を含む被試験アンテナの信号ベクトルを取込む（２２）。 - 特許庁

The vector output part 14 outputs the generated test vector data when the random number data is smaller than the fault occurrence rate of the input signal, and outputs the original test vector data when the random number data is larger than the fault occurrence rate of the input signal.例文帳に追加

そして、ベクタ出力部１４は、入力信号の誤り発生率より乱数データが小さい場合、生成テストベクタデータを出力し、入力信号の誤り発生率より乱数データが大きい場合、オリジナルテストベクタデータを出力する。 - 特許庁

When the execution time of the test vector is larger than the value of a preliminarily set designated holding time, the value of the execution time is forcedly replaced with the value of the designated holding time, and outputted as the test vector.例文帳に追加

テストベクタの実行時間があらかじめ設定された指定保持時間の値よりも大きい場合は、強制的に実行時間の値を指定保持時間の値に置き換えテストベクタとして出力する。 - 特許庁

Regarding the plurality of good samples, static power supply current (IDDQ) for each test vector is measured while a plurality of test vectors are switched over (S102).例文帳に追加

複数の良品サンプルについて、複数のテストベクタを切り換えながら、テストベクタごとの静的電源電流（ＩＤＤＱ）を測定する（Ｓ１０２）。 - 特許庁

To provide an integrated circuit test method, said method using at least one test vector comprising serialized input and output values.例文帳に追加

本発明は、直列化した入力と出力値を有する少なくとも一つのテストベクトルを利用する集積回路のテスト方法に関する。 - 特許庁

To provide a motion vector detector in a simple configuration, which conducts a self-test with high precision.例文帳に追加

精度よく自己テストを行なうことができる、簡単な構成の動きベクトル検出装置を提供する。 - 特許庁

To test an integrated circuit without changing the constitution of the integrated circuit of a testing object and without providing a large capacity of test vector memory.例文帳に追加

テスト対象の集積回路の構成を変更する必要がなく、大容量のテストベクトルメモリも設けることなく、集積回路のテストを可能にする。 - 特許庁

DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS METHOD AND METHOD FOR ADJUSTING TIMING AND METHOD FOR ADJUSTING TEST VECTOR ADDRESS例文帳に追加

半導体集積回路の試験装置とその試験方法、タイミング調整方法、テストベクタアドレス調整方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, METHOD OF FORMING AUXILIARY CIRCUIT FOR TESTING THE SAME, AND TEST VECTOR CONVERTING METHOD THEREOF例文帳に追加

半導体集積回路装置およびその試験用補助回路の生成方法およびそのテストベクタ変換方法 - 特許庁

This invention further includes a method for calibrating a multiport vector network analyzer having more than two test ports.例文帳に追加

また、本発明は、２個を超える試験ポートを有するマルチポートベクトルネットワークアナライザの校正を補償する方法を含む。 - 特許庁

POLYNUCLEOTIDE FOR DETECTING TEST SUBSTANCE, VECTOR CONTAINING THE SAME AND DETECTION METHOD USING THEM例文帳に追加

被検物質を検出するためのポリヌクレオチド、前記ポリヌクレオチドを含むベクターおよびそれらを用いた検出方法 - 特許庁

To provide an operation synthesis device and a method, and a program, for generating a test bench in which a same test vector can be used in an action simulation and an RTL simulation.例文帳に追加

動作シミュレーションとＲＴＬシミュレーションで同じテストベクタを使用できるためのテストベンチを生成する動作合成装置及び方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁

For example, the computer generating a test case doesn't distinguish between 0 and -0 in some cases, and in these cases, a test vector including input data of not -0 but 0 is generated.例文帳に追加

例えばテストケースを生成するコンピュータでは０と−０の扱いを区別しない場合があり、この場合には、−０ではなく０を入力データとしたテストベクタが生成される。 - 特許庁

To provide a behavioral synthesis device and method, and program, for generating a test bench in which the same test vector can be used in an action simulation and an RTL (register transfer level) simulation.例文帳に追加

動作シミュレーションとＲＴＬシミュレーションで同じテストベクタを使用できるためのテストベンチを生成する動作合成装置及び方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁

The present invention provides a medical imaging system 300 including a plurality of circuit boards 312, 314, 316 constituted to receive a test using a boundary scan test vector 320.例文帳に追加

バウンダリスキャン・テストベクトル（３２０）を用いてテストを受けるように構成された複数の回路ボード（３１２、３１４、３１６）を含む医用イメージング・システム（３００）を提供する。 - 特許庁

To provide a generation device or the like for generating a test vector, capable of effectively reducing consumption electric power at capturing.例文帳に追加

キャプチャ時の消費電力を効果的に削減可能とするテストベクトルを生成する生成装置等を提供する。 - 特許庁

A report output part 16 judges whether all test items are tested for every test from information indicating correspondence between the message to be stored in the message storage part 14, a test vector name to be stored in a test information storage part 15 and the test item to be tested by them and outputs its result by a report.例文帳に追加

そして、レポート出力部１６は、このメッセージ記憶部１４に記憶されるメッセージとテスト情報記憶部１５に記憶されるテストベクトル名とそれによりテストされるテスト項目との対応を示す情報とからテスト毎にその全てのテストの項目がテストされているか否かを判定し、その結果をレポート出力する。 - 特許庁

A VC cluster 300, a test vector cluster 304 and a function verifying model 320 by purpose are included in the VCDB 100.例文帳に追加

ＶＣＤＢ１００には、ＶＣクラスタ３００と、テストベクタクラスタ３０４と、目的別機能検証モデル３２０とが含まれている。 - 特許庁

To provide a device for creating automatically a program for input vector creation for a test at the manufacturing time of an LSI for loading a CPU.例文帳に追加

ＣＰＵを搭載するＬＳＩの製造時テスト用の入力ベクタ作成のためのプログラムを自動的に作成すること。 - 特許庁

The detection of the test signal waveform is performed, by comparing the signal vector representing the sound field signal waveform with the signal characteristic vector, representing the characteristics of the predetermined signal included in the test signal, while the calculation of the test signal timing of t=0 is performed, by compensating for the time delay generated due to measurement system processing operation.例文帳に追加

テスト信号の波形の検出は音場信号の波形を表す信号ベクトルを、テスト信号に含まれる所定の波形の特徴を表す信号特徴ベクトルと比べることにより行われ、テスト信号のｔ＝０時刻の算出は測定系の処理により生じる時間遅延を補正することにより行われる。 - 特許庁