「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(178ページ目) - Weblio英語例文検索

Thus, a weight-of-evidence approach can become increasingly obvious when hypothesis testing demonstrates the unnecessary usage of independent application例文帳に追加

それ故，証拠加重値手法は，仮説検定が独立適用の不要さを実証した場合には，ますます明らかになる。 - 英語論文検索例文集

Exact and efficient data dependence testing is a key to success of loop-parallelizing compiler for computationally intensive programs. 例文帳に追加

正確で効率的なデータ依存性テストは、計算集約的プログラムのためのループ並列化コンパイラを成功させる鍵である。 - コンピューター用語辞典

The machine equation plays an important role in the analysis of experimental data on mechanical testing and in modeling work. 例文帳に追加

機械方程式は機械的試験についての実験データの解析およびモデリング作業において重要な役割を持つ。 - コンピューター用語辞典

The new shared registry system (SRS), developed by CORE, is entering its final testing phase, 例文帳に追加

インターネットレジストラ協議会(CORE)によって開発された新しい共用登録システム(SRS)は,その最終テスト段階に入っている． - コンピューター用語辞典

the person's family and personal medical history may be discussed, and counseling may lead to genetic testing. 例文帳に追加

受診者の家族歴と病歴が議論される場合もあり、遺伝カウンセリングから遺伝子検査の実施に至ることもある。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

You can create as many users as you need for testing purposes, just use the registration form in the sandbox. 例文帳に追加

テスト用のユーザは、いくつでも作成することができます。 作成するには、サンドボックス内の登録フォームを使用します。 - PEAR

This circuit is provided with a test circuit 24 for delaying transmission data to be inputted to a driver 4 at the testing time.例文帳に追加

この発明は、テスト時にドライバ４に入力する送信データを遅延させるテスト回路２４を備えるようにした。 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor integrated circuit device capable of screening according to a power source current at the time of standing still.例文帳に追加

静止時、電源電流によるスクリーニングが可能な半導体集積回路装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

To make a solenoid easily applicable to various kinds of testing devices by causing the solenoid to surely generate vibrations of all magnitudes of frequencies.例文帳に追加

いかなる大きさの振動数の振動でも確実に生じさせて、各種の試験装置への適用の容易化を図る。 - 特許庁

To provide a charging and discharging control circuit that has shortened the testing time for overcharge detecting voltage and an overdischarge detecting voltage.例文帳に追加

過充電検出電圧や過放電検出電圧の試験時間を短縮した充放電制御回路の提供。 - 特許庁

To obtain a foundation load testing method with which workability is improved while ensuring the settlement of a test version.例文帳に追加

試験版の沈下量を確保しつつ、作業性が向上された基礎の載荷試験方法を得ることを目的とする。 - 特許庁

When trimming of the picture, changing of a print size, etc. are instructed in testing processing, fine scanning is again carried out.例文帳に追加

検定処理において画像のトリミングやプリントサイズの変更等が指示された場合には、再ファインスキャンを実行する。 - 特許庁

To provide a method for testing a transient voltage protective device disposed in a circuit including a power supply and a load.例文帳に追加

電源および負荷が設けられるように構成された回路内の過渡電圧保護デバイスをテストする方法を提供する。 - 特許庁

To discover the nonconformity of a testing program and the fault of the communication system, etc., between a tester and a probe or handler in early stages.例文帳に追加

テスト用プログラムの不具合や、テスタとプローバやハンドラとの間の通信系統等の故障を早期に発見する。 - 特許庁

To easily perform a test for arbitrarily setting the distance from a light source to a sample surface in a weathering light property-testing apparatus.例文帳に追加

耐候光性試験装置において、光源から試料面までの距離を任意とする試験を容易に行うこと。 - 特許庁

Because it is not necessary to install a dedicated pump unlike the conventional one, the oil permeation property testing device 1 can be simplified.例文帳に追加

従来のように専用のポンプを設置する必要がなく、通油性試験装置１を簡易化することができる。 - 特許庁

To select a mode and to evaluate the limit of the operation of an internal circuit only with a testing source voltage applied in test mode.例文帳に追加

テストモード時に印加するテスト用電源電圧だけでモード選択と内部回路の動作限界評価を可能にする。 - 特許庁

To provide a signal generator which generates a test signal for correctly testing a device to be measured.例文帳に追加

被測定デバイスを正確に試験するための試験信号を発生する信号発生装置を提供することができる。 - 特許庁

To provide a method for testing that a chemical material as a to-be-tested object has physiological activity which is similar to that of lithium.例文帳に追加

被検体となる化学物質がリチウムと同様の生理活性をもつことを検定する方法を提供すること。 - 特許庁

To prevent a testing property and a maintaining property of soldering balls for signals from degrading when L type leads and the soldering balls are used together.例文帳に追加

Ｌ型リードと半田ボールを併用したときの信号用半田ボールの試験性、保守性の低下を防止する。 - 特許庁

The testing-service firm provides a cellular phone of a person for the medical examination with test results and information on medical institutions.例文帳に追加

検査サービス会社は、受診者の携帯電話機に対して、検査結果と共に医療機関情報を提供する。 - 特許庁

To inexpensively perform operation verification of a test program at higher speed at low cost in offline simulation environment of a testing device.例文帳に追加

試験装置のオフライン・シュミレーション環境において、テストプログラムの動作検証をより高速かつ低コストで実現する。 - 特許庁

Trade and investment in energy efficient appliances can be encouraged through more harmonized standards and testing methods. 例文帳に追加

エネルギー効率の高い製品の貿易及び投資は、標準と評価法の更なる整合化により促進することができる。 - 経済産業省

The Japan Automobile Manufacturers Association, Inc. announced on April 18 plans to implement radiological testing mainly for finished vehicles bound for export.例文帳に追加

自動車工業会は、4 月18 日に、輸出車を中心に完成車への放射線量検査の実施を発表した。 - 経済産業省

To produce a semiconductor integrated circuit capable of testing the degradation failure and delay failure of a memory circuit inexpensively.例文帳に追加

メモリ回路の縮退故障および遅延故障のテストを低コストで実施可能な半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

After testing the product at Gunzesports' gyms this summer, Gunze wants to put the undershirt on the market in 2017.例文帳に追加

今夏にグンゼスポーツのスポーツクラブで同製品を試験導入した後，グンゼは2017年にその肌着を販売したいと考えている。 - 浜島書店 Catch a Wave

He reflected awhile, rubbing his nose and cheeks, then skirted to the left, stepping gingerly and testing the footing for each step. 例文帳に追加

鼻と頬をこすりながらしばし考え、左に迂回し、慎重に慎重に、1歩ずつ足場を確かめながら歩を進めた。 - Jack London『火を起こす』

The inlet conveyor receives a tire (102) and centers the tire (102) so that its rotational axis (154) is located at predetermined distance from the rotational axis (156) of the testing station (12), and a conveyor (100a) transports the tire (102) to the testing station (12).例文帳に追加

この取入コンベアはタイヤ（１０２）を受容し、タイヤ（１０２）の回転軸線（１５４）が試験ステーション（１２）の回転軸線（１５６）から所定距離に位置するようにタイヤ（１０２）を中心合わせし、コンベア（１００ａ）はタイヤを試験ステーション（１２）に搬送する。 - 特許庁

The intake conveyor receives a tire 102 and centers the tire 102 to position a rotational axis 154 of the tire 102 at prescribed distance from a rotational axis 156 of the testing station 12, and a conveyor 100a conveys the tire to the testing station 12.例文帳に追加

この取入コンベアはタイヤ（１０２）を受容し、タイヤ（１０２）の回転軸線（１５４）が試験ステーション（１２）の回転軸線（１５６）から所定距離に位置するようにタイヤ（１０２）を中心合わせし、コンベア（１００ａ）はタイヤを試験ステーション（１２）に搬送する。 - 特許庁

Testing food material A is material A is dished out by a moderate weight according to the amounts of food ingested in the morning, noon and evening for the past several weeks of each subject as a tested subject, and testing food C for three days, that is, nine times in total is prepared.例文帳に追加

試験用食品素材（Ａ）を、検査の対象となる被験者１人１人の過去数週間の朝昼晩の摂食量に基づいて、適度な重量に取り分けると共に、３日分・計９回の試験用食品（Ｃ）を作る。 - 特許庁

To obtain a tray conveyance device capable of moving and stopping a testing tray at a comparatively high speed, capable of shortening the index time of the test, and capable of improving the reliability of the test, a testing device and a test method.例文帳に追加

試験用トレイを比較的高速で移動および停止させることが可能であり、試験のインデックスタイムの短縮を図ることができ、且つ試験の信頼性を向上させることができるトレイ搬送装置、試験装置および試験方法を提供すること。 - 特許庁

The investigation objective portion 21 under the environmental condition same to the testing object 10 is photographed by an infrared camera, in the timing when a temperature difference between a sound part and a damaged part obtained from a detection result of a temperature sensor in the testing object 10 comes to a prescribed value or more.例文帳に追加

試験体１０の温度センサの検出結果から得られる健全部と損傷部の温度差が所定値以上になった時期に、赤外線カメラによって、その試験体１０と同じ環境条件の調査対象部位２１が撮影される。 - 特許庁

Also, the signal wiring can be switched without mechanical switching operations, by employing a low-pass filter circuit 110 connected to a DC testing signal wiring 103 as a switching circuit, and by employing a high-pass filter circuit 111 that is connected to a function testing signal wiring 104 as a switching circuit.例文帳に追加

また、切り替え回路としてDCテスト用信号配線103に接続されたローパスフィルター回路110、ファンクションテスト用信号配線104に接続されたハイパスフィルター回路111を用いることで、機械的なスイッチ動作無しで信号配線を切り替えることができる。 - 特許庁

To ensure high creepage-insulation resistance between a fixed contact and a movable contact and prevent malfunction of a testing circuit caused by pollution by arc gas in current cut-off operation in an electrical leakage testing switch mounted on a mold type zero-phase inverter.例文帳に追加

モールド形零相変流器に搭載装備した漏電テストスイッチについて、その固定接点／可動接点間に高い沿面絶縁抵抗を確保し、電流しゃ断動作時のアークガスによる汚損が原因でテスト回路が誤動作するのを防ぐ。 - 特許庁

The controller 11 controls also the one information out of the information about the testing condition and a result of the IC testing device 150, and the simulation condition and the result of the simulator 14, based on the other information out of them.例文帳に追加

更に、管理装置１１は、ＩＣ試験装置１５０の試験条件及び結果に関する情報と、マイクロプログラムシミュレータ１４のシミュレーション条件及び結果に関する情報のうちの一方の情報に基づいて、他方の情報を管理する。 - 特許庁

To provide a testing device and a test method capable of testing whether a prepreg does not slide and can be easily removed or not, when the surface of the sheet-shaped prepreg has proper tackiness and is stuck onto a die with an automatic laminating device.例文帳に追加

シート状のプリプレグの表面が適度な粘着性を有していて、自動積層装置で金型上に貼り付けられた際に、滑らず、かつ、容易に剥がせるものであるかどうかを、簡便に試験できる試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a serial signal generating apparatus for generating a series signal capable of testing a receiving device in an actual operation frequency, and to provide a device-testing apparatus capable of performing efficiently various tests of the receiving device by using the series signal.例文帳に追加

受信デバイスの実動作周波数での試験を可能とするシリアル信号を生成するシリアル信号生成装置、及び当該シリアル信号を用いて受信デバイスの多種多様な試験を効率的に行うことができるデバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

To perform an electric characteristics inspection using a testing land even when a wiring board is downsized in a surface mount semiconductor device having the testing land on the undersurface of the wiring board on which a semiconductor chip is mounted.例文帳に追加

半導体チップが搭載された配線基板の下面にテスト用ランドを備えた面実装型半導体装置において、配線基板を小型化した場合でも、テスト用ランドを使った電気特性検査を精度よく行うことができるようにする。 - 特許庁

To provide a testing device supplying a test signal that is made to maintain an optional phase state by performing phase synchronization of a pseudo response signal and a transmission leakage signal with a reference signal of an R/W (Reader/Writer) when testing the R/W of an RFID (Radio Frequency Identification).例文帳に追加

ＲＦＩＤのＲ／Ｗを試験する場合に、擬似的な応答信号及び送信リーク信号をＲ／Ｗの基準信号と位相同期させ、任意の位相状態に維持させた試験信号を供給できる試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an impact testing device capable of applying a reproducible impact force to a test object, and acquiring an accurate test result, concerning the impact testing device for performing an impact test of the test object or the like in the state where an electronic component is loaded on a substrate.例文帳に追加

電子部品を基板に搭載した状態の被試験物等の衝撃試験を行う衝撃試験装置に関し、被試験物に再現性のある衝撃力を加えることができ、正確な試験結果が得られる衝撃試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor device capable of preventing lead-free solder from being attached to a contact terminal of a socket for test, when testing a semiconductor device having an external connection terminal soldered with lead-free solder by the socket for test.例文帳に追加

鉛フリー半田でめっきされた外部接続端子を有する半導体装置をテスト用ソケットにより検査する際に、テスト用ソケットの接触端子に鉛フリー半田が付着するのを防ぐことができる半導体装置の検査方法を得る。 - 特許庁

Pulsated testing lights with plural wavelengths are made incident from a wavelength-variable OTDR testing device 11 to an optical fiber 19 before branched as a branched optical line, to detect the reflected light from optical fibers 21 after being branch connected via a branching element 20.例文帳に追加

波長可変であるＯＴＤＲ試験装置１１から複数の波長のパルス状の試験光を分岐光線路の分岐前光ファイバ１９に入射し、分岐素子２０を介して接続された分岐後光ファイバ２１からの反射光を検出する。 - 特許庁

To obtain a primer for DNA amplification to be mounted on a microreactor for genetic testing and to provide an apparatus for genetic testing, which quickly detects an amplification product by properly changing a probe to be hybridized with an amplification product DNA.例文帳に追加

遺伝子検査用マイクロリアクタに搭載するＤＮＡ増幅用プライマー、増幅産物のＤＮＡとハイブリダイズするプローブを適宜変更することにより、迅速に増幅産物の検出を行うことのできる遺伝子検査装置を提供する。 - 特許庁

Since compressed air controlled in a prescribed temperature state is supplied in a testing space 2 from a nozzle 63 by using this work placing surface temperature control mechanism 5, an ambient temperature in the testing space becomes a uniform temperature state without nonuniformity.例文帳に追加

また、このワーク載置面温度制御機構５を利用して所定温度状態に制御された圧縮空気がノズル６３から試験空間２内に供給されるので、試験空間内の雰囲気温度はむらの無い均一な温度状態になる。 - 特許庁

To provide an IC device-testing method and an IC device-testing system for inexpensively applying a laser beam different targets of a semiconductor IC device (DUT) to be inspected simultaneously in parallel, speedily successively without requiring any rematching in a microscope.例文帳に追加

検査対象の半導体ＩＣデバイス（ＤＵＴ）の互いに異なるターゲットを同時並行的にまたは高速逐次的に顕微鏡の再整合を要することなく低コストでレーザ光照射するＩＣデバイス試験方法・システムを提供する。 - 特許庁