「Unit testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

In the coating device provided with an unwinding unit of the web, an infield unit, one or more coating units, an outfield unit and a winding unit for the web and for coating the moving web, one or more devices for testing to grasp and examine the coating state on the web are provided.例文帳に追加

ウェブの巻出しユニットと、インフィールドユニットと、１つ又は複数のコーティングユニットと、アウトフィールドユニットと、ウェブの巻取りユニットとを備え、移動するウェブにコーティングを施すコーティング装置において、ウェブのコーティング状態を把握検査する装置を１つ又は複数備えることを特徴とするコーティング装置。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device allowing a test in a relation where generation of a test pattern is synchronized with operation of each receiving unit in the set and change of the operating condition of the hard resource possessed by the semiconductor testing device to be executed.例文帳に追加

半導体試験装置が備えるハード資源（ハードリソース）の動作条件を設定変更するときに、試験パターンの発生と各受信ユニットとの動作を同期した関係で試験実施可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

A relative-distance calculation unit 82 calculates a 3D coordinate of a first and a second testing body specifying positions Qm, Bn from a relative position between the coordinate conversion marks Pi, Ai and the first and the second testing body specifying positions Qm, Bn, and calculates a relative distance L between the first and the second testing body specifying positions.例文帳に追加

相対距離演算部８２は、座標変換用マークＰｉ，Ａｉと第１及び第２の試験体特定位置Ｑｍ，Ｂｎとの相対位置から第１及び第２の試験体特定位置Ｑｍ，Ｂｎの３次元座標を算出し、第１及び第２の試験体特定位置間の相対距離Ｌを演算する。 - 特許庁

When a stub program is replaced by an actual program, a test case generation unit 14 generates test case information (2f) for testing the replaced program according to stub information stored in a stub information storage unit 23, and stores the generated test case information in a test case storage unit 22.例文帳に追加

テストケース生成部１４は、スタブ情報記憶部２３に記憶されたスタブ情報に従い、スタブプログラムが実際のプログラムに置き換わった際に、置き換わったプログラムをテストするためのテストケース情報（２ｆ）を生成し、テストケース記憶部２２に格納する。 - 特許庁

To solve the problem that in testing an application running asynchronously to a unit test tool by use of the unit test tool, the application cannot be accurately tested since the application is tested by the unit test tool asynchronously with completion of the application.例文帳に追加

単体テストツールを用いて単体テストツールとは非同期で動作するアプリケーションのテストを行う場合、単体テストツールでテストの合否を判断するタイミングとアプリケーションの動作完了のタイミングが一致しないため、正しく合否判定ができないこと。 - 特許庁

Moreover, the driver board 32 of each test unit 3 performs a test specific to the driver board with respect to the burn-in board 4 connected via the motherboard 33, according to the instruction for starting testing the control unit 2, and outputs the test result to the control unit 2.例文帳に追加

また、各テストユニット３のドライバボード３２は、そのドライバボード固有の試験を、制御装置２のテスト開始の指示に応じて、マザーボード３３を介して接続したバーンインボード４に対して行い、試験結果を制御装置２に出力する。 - 特許庁

To provide a salt damage testing method for an ventilating air filter unit, allowing objective salt damage test at any site in a short time, and to provide its device.例文帳に追加

任意の場所において短時間で客観的な塩害試験を行うことができる換気用エアフィルタユニットの塩害試験方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a substrate for testing, capable of displaying an execution state by supplying power source to a magnetic disk unit and executing a function injection program.例文帳に追加

磁気ディスク装置に電源を供給して機能注入プログラムを実行させ、実行状態の表示をすることができる試験用基板を提供する。 - 特許庁

The testing apparatus includes a TS input/output substrate 12, a serial input/output substrate 13 and an arithmetic unit (PC 14).例文帳に追加

本発明に係る試験装置は、ＴＳ入出力基板１２と、シリアル入出力基板１３と、演算部（ＰＣ１４）とを備える試験装置である。 - 特許庁

The testing device 2 contains a unit 23 for assignment in which assignment to physical address of memory is stored in readable, for the environmental model variable.例文帳に追加

テスト装置２は環境モデル変数の、メモリの物理アドレスに対する割り当てが読み出し可能に格納されている割り当てのためのユニット２３を含んでいる。 - 特許庁

To provide a tire uniformity machine that prevents a testing machine body from getting bigger and increases accessibility to and visibility of a measurement unit for maintenance etc.例文帳に追加

試験機本体の大型化を回避すると共にメンテナンス時等における計測部へのアクセス性や視認性を高められるタイヤユニフォーミティマシンを提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for coating and an apparatus for developing to avoid disadvantageous layout, with narrow occupying area when a substrate testing unit is assembled.例文帳に追加

基板検査ユニットを組み込むにあたって占有面積が狭く、不利なレイアウトを避けることができる塗布装置及び現像装置を提供すること。 - 特許庁

The encoder is rotated by a motor at a prescribed rate, and an A-phase signal and a B-phase signal are input to a measuring unit 36 of a system for testing the encoder.例文帳に追加

モータによってエンコーダを所定の速度で回転させ、Ａ相信号及びＢ相信号をエンコーダ検査装置の計測ユニット３６に取り込む。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of resuming a sequence for connection of each unit without using information stored in a memory.例文帳に追加

各ユニットを接続するシーケンスを再開するときに、メモリに記憶された情報を使用することなく、シーケンスを再開できる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

CONTROL ROD DRIVE, TESTING METHOD AND DEVICE OF CONTROL ROD DRIVE, INSPECTION DEVICE OF CONTROL ROD DRIVE, STORAGE METHOD AND APPARATUS OF CONTROL ROD DRIVE, AND TORQUE TRANSPORT UNIT例文帳に追加

制御棒駆動装置、その試験方法及びその試験装置、その点検装置、その保管方法及びその保管装置、並びにトルク伝達装置 - 特許庁

This electronic component testing device 10 has a detecting unit 18 for taking out the signal from a terminal 16 of a semi-conductor device 14 mounted on a printed circuit board 12.例文帳に追加

電子部品試験装置１０は、プリント基板１２に実装された半導体装置１４の端子１６から信号を取り出す検出ユニット１８を有する。 - 特許庁

A testing device 900 tests a communication control unit 10 functioning as an authentication device for authenticating a user by acquiring the authentication information of the user.例文帳に追加

試験装置９００は、ユーザの認証情報を取得してユーザを認証する認証装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

A testing device 900 tests a communication control unit 10 functioning as a switching device of a layer 7 for relaying communication data based on information on the layer 7.例文帳に追加

試験装置９００は、レイヤ７の情報に基づいて通信データを中継するレイヤ７スイッチ装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

A testing apparatus 900 tests a communication control unit 10 functioning as a grammar checking device for checking grammar in a script included in communication data.例文帳に追加

試験装置９００は、通信データに含まれるスクリプトの文法をチェックする文法チェック装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

A testing device 900 tests a communication control unit 10 functioning as a filtering device for filtering data transmitted from a terminal to a server.例文帳に追加

試験装置９００は、端末からサーバへ送信されるデータをフィルタリングするフィルタリング装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

Projects in NetBeans IDE 4.0 come with built-in support for generating, developing and running unit tests using JUnit,the de facto standard in Java code testing.例文帳に追加

NetBeans IDE 4.0 のプロジェクトには、Java コードテストの事実上の標準である JUnit を使用したユニットテストを生成、開発、実行するためのサポート機能が組み込まれています。 - NetBeans

A method for testing a semiconductor device comprises steps of contacting a probe needle 2 with the pad, wafer testing of an IC, and constituting the needle 2 of a tungsten alloy in which one or more metals selected from a group containing Y, La and Ce is added unit 0.1 to 1.0 wt.%.例文帳に追加

プローブ針２をパッドに接触させてＩＣのウエハテストを行なうに際し、プローブ針２をＹ，Ｌａ，Ｃｅを含むグループから選ばれた１つまたは２つ以上の金属を０.１〜１.０重量％添加したタングステン合金で構成する。 - 特許庁

Particularly, at least one head unit includes a sucking head 5 for sucking an electronic component E supplied from the component supplying section 22 and carries this component E to the area on the substrate P, and a testing device 6 for testing the substrate P.例文帳に追加

とくに、ヘッドユニットの少なくとも１つが、部品供給部２２から供給された電子部品Ｅを吸着し、電子部品Ｅを前記基板Ｐ上に搬送する吸着ヘッド５と、基板Ｐの検査を行う検査装置６とを有する。 - 特許庁

The vibration testing device includes: a servo control unit 4 for controlling the shaker 2; an excitation control unit 3 for controlling the servo control unit; a load sensor 11 for detecting a load applied from the shaker to the table; and a displacement sensor 5 and an acceleration sensor 6 for detecting the displacement of the table.例文帳に追加

加振機を制御するサーボ制御装置４と、このサーボ制御装置を制御する加振制御装置３と、テーブルに加振機から加えられる荷重を検出する荷重センサ１１と、テーブルの変位を検出する変位センサ５および加速度センサ６とを備える。 - 特許庁

In the case of carrying out a unit test of the memory chip 2, a test program which is written in programming language for an LSI tester for testing the memory chip 2 by a unit is converted to machine language executable by a CPU 4.例文帳に追加

メモリチップ２の単体検査を実施する場合、まずＬＳＩテスタ用のプログラム言語で記述されたメモリチップ２を単体で検査するためのテストプログラムを、ＣＰＵ４によって実行可能な機械語データに変換する。 - 特許庁

In this semiconductor testing device, the test condition of the receiving unit is set and changed in a timing relation where the generating time of the test pattern is synchronized with the timing of changing operation of each receiving unit for changing the test condition.例文帳に追加

試験パターンの発生タイミングと、試験条件の変更が行われる各受信ユニットの変更動作のタイミングとが同期したタイミング関係で受信ユニットの試験条件を設定変更する、半導体試験装置。 - 特許庁

Operation information that records operation data generated by an operation unit 3a of a target device 3 and a temporary stopping instruction waiting for completion of operation of a machine unit 3b is stored in a storage means 1a of a testing device 1.例文帳に追加

試験装置１の記憶手段１ａには、予め、対象装置３の操作部３ａが生成する操作データと、機械部３ｂの動作終了を待つ一時停止指令と、を記録した操作情報が記憶される。 - 特許庁

In the semiconductor testing device for storing pieces of pattern data of predetermined channel numbers and bits for controlling jumps of patterns at different addresses of a pattern memory, and testing DUTs, the testing device includes a mask control unit which masks the bits for controlling jumps read out from the pattern memory, when only the pieces of pattern data of predetermined channel numbers are used and no pattern jumps are performed.例文帳に追加

所定チャンネル数のパターンデータとパターンのジャンプを制御するビットをパターンメモリの異なるアドレスに記憶させてＤＵＴの試験をする半導体試験装置において、所定チャンネル数のパターンデータのみを使用してパターンのジャンプを行わない場合に、パターンメモリから読み出されたジャンプを制御するビットをマスクするマスク制御部を設ける。 - 特許庁

There are provided a plurality of programmable distribution type testing units 12, individually communicating with a related device in a plurality of devices; networks 24, 36 for transmitting information among the plurality of distribution type testing units 12; and a system monitoring unit 16 for communicating with a plurality of programmable distribution type testing units 12 via the networks 24, 36.例文帳に追加

複数のデバイスの内の関連するデバイスと個別に通信を行う複数のプログラム可能な分散形試験ユニット１２と、複数の分散形試験ユニット１２の間で情報を伝達させるネットワーク２４，３６と、このネットワーク２４，３６を通して複数のプログラム可能な分散形試験ユニット１２と通信を行うシステムモニタユニット１６とを備える。 - 特許庁

To rapidly test a high-speed memory such as a DDR memory or the like by rapidly testing the memory by using a simply, low cost constitution memory-testing unit.例文帳に追加

本発明はメモリ試験方法及び装置並びに記憶媒体に関し、簡単、且つ、安価な構成のメモリ試験装置を用いてメモリの試験を高速に行うことができ、ＤＤＲ型のメモリ等の高速メモリの試験も高速に行うことを可能とすることを目的とする。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for entirely testing a semiconductor device or a semiconductor wafer capable of constituting a low cost testing unit, easily executing a test and easily confirming a decision result of a non-defective product or a defective product at any time.例文帳に追加

テスト装置を安価に構成することができ、かつ容易にテストを実施することができ、良品、不良品の判定結果をいつでも容易に確認することができる半導体デバイスまたは半導体ウェハ一括のテスト装置及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR EVALUATING POWER SUPPLY, METHOD FOR SUPPLYING POWER, TESTING DEVICE EMPLOYING THE SAME, POWER UNIT WITH EMULATION FUNCTION AND METHOD FOR EMULATING POWER SUPPLY ENVIRONMENT例文帳に追加

電源の評価方法、電源評価装置、電源の供給方法、それらを用いた試験装置、エミュレート機能付きの電源装置、電源環境のエミュレート方法 - 特許庁

The method further comprises the steps of calling a subroutine (S2), and calculating an air force to be applied to the test model at next testing position and a deflecting amount of a supporting unit at this position from the air force.例文帳に追加

そして、サブルーチンが呼び出され（Ｓ２）、次の試験位置で試験模型に加わる空気力、この空気力から当該位置での支持装置の撓み量を算出する。 - 特許庁

A testing apparatus 900 tests a communication control unit 10 functioning as the communication monitoring device for appropriately monitoring communication data transmitted and received by a specified terminal.例文帳に追加

試験装置９００は、特定の端末が送受信する通信データを適切に監視する通信監視装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

To provide a testing system for branch light ray line or the like capable of ensuring the dynamic range of a test at a low system cost and dis pensing with the temperature regulation of light branching and coupling unit.例文帳に追加

システムコストが安く、試験のダイナミックレンジを確保することが可能で、光分岐結合器の温度調節が不要な分岐光線路試験システム等を提供する。 - 特許庁

The fretting corrosion testing apparatus 1 includes a base 12; a first fixture 87; a second fixture 90; a driving part 14; a load sensor 59; and a control unit 20.例文帳に追加

フレッチング腐食試験装置１はベース１２と第１の固定具８７と第２の固定具９０と駆動部１４と荷重センサ５９と制御装置２０を備えている。 - 特許庁

Thus, air for testing is injected while monitoring an air pressure inside the air pipe 1A by using the test jig and the test adjustment of this heat sensing unit 1C is performed.例文帳に追加

これにより、試験治具を用いて空気管１Ａ内の空気圧を監視しながら試験用の空気を注入し、熱感知ユニット１Ｃの試験調整ができる。 - 特許庁

While unit testing is one of the fundimental rules in XP, you don't have to switch to XP to benefit from PHPUnit. 例文帳に追加

ユニットテストと呼ばれるこういったコンポーネント毎のテストは XP の基本原則のひとつですが、だからといってPHPUnit を利用するために XP を実行しないといけない訳ではありません。 - PEAR

To make it possible to conduct testing of a real unit effectively, even if an I/O substrate is not mounted on the real unit in a digital protection control apparatus which performs protection, supervision and control of a power system.例文帳に追加

電力系統の保護および監視・制御を行うディジタル保護制御装置において、実装置に入出力基板が搭載されていない場合であっても、実装置に対する試験等の効果的な実施を可能とすること。 - 特許庁

In a state, in which the unit 17 is inserted into the tube 5a and the base end of the unit 17 is connected to the conductor 13, a testing voltage is applied to the conductor 13.例文帳に追加

そして、この電極ユニット１７を常温収縮チューブ５ａに挿入すると共に、この電極ユニット１７の基端部を上記課電用導体１３に接続した状態で、この課電用導体１３に試験用電圧を印加する。 - 特許庁

To provide a dynamic load-testing device for eliminating the need for incorporating a spindle unit into the machine and exchanging a work and for testing the dynamic load of a rotor extremely easily and economically, and at the same time performing the dynamic load test while a load is being applied for a long time.例文帳に追加

主軸ユニットの本機への組み込みやワークの交換が不要で、非常に容易に、かつ経済的に回転体の動的負荷試験を行うことができるとともに、長期間負荷を加えた状態で動的負荷試験をすることも可能な動的負荷試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide semiconductor device testing equipment capable of supporting even a thin wafer without flexural deformation thereof, and which eliminates the need for moving a probe needle in contact with a back surface electrode of the wafer even when a semiconductor element to be tested is shifted; a testing method using the same; and a coaxial probe needle unit used for the same.例文帳に追加

薄いウエハでも撓みなく支持でき、測定される半導体素子が切り替わった場合でも、ウエハの裏面電極と接触するプローブ針を移動させる必要のない半導体測定装置及び測定方法並びに同軸プローブ針ユニットを提供すること。 - 特許庁

To control temperature of a cooling liquid in an engine to desired temperature faster than conventionally, for an engine cooling liquid control unit which sends out a cooling liquid to an engine to be tested, by controlling the temperature of the cooling liquid and a testing system on an engine stand for testing engine on the stand.例文帳に追加

本発明は、冷却液の温度を制御して試験対象のエンジンに送り出すエンジン冷却液制御装置、およびエンジンの台上試験を行なうエンジン台上試験システムに関し、エンジンの冷却液温度を従来よりも高速に所望の温度に制御する。 - 特許庁

To provide a system and method for measuring wind tunnel internal phase pair distance, capable of quantitatively conducting proximity decision of a plurality of mutual testing bodies with high accuracy, while contactlessly measuring a relative distance of the testing bodies used for internal test of a wind tunnel measurement unit in a short time.例文帳に追加

風洞測定部内試験に用いられる複数の試験体の相対距離を非接触かつ短時間で計測しつつ、試験体同士の近接判定を高精度かつ定量的に行うことができる風洞内相対距離計測システム及び風洞内相対距離計測方法を提供する。 - 特許庁

In addition, when the data value exceeds the testing threshold, as compared with the local protecting threshold that the local protection of the load device 60 acts, and the controller for testing 50 makes the feeding from the electric power unit 20, and the load device 30 to the local protection of the device for driving load device 60 interrupted.例文帳に追加

そして、試験用コントローラ５０は、負荷駆動装置６０のローカル保護が動作するローカル保護用しきい値よりも小さい試験用しきい値を上記のデータ値が超えたとき、電源装置２０および負荷装置３０から負荷駆動装置６０への給電を遮断させる。 - 特許庁