| 意味 | 例文 |
analysis of sampleの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1431件
To disclose a method for exhibiting the specimen of a liquid sample to a mass analyzer as an object of MS analysis.例文帳に追加
液体試料の被検体をMS被検体として質量分析計に提示する方法を開示する。 - 特許庁
To provide an analysis method of a sample which may include a target compound or a group of target compounds.例文帳に追加
標的化合物又は標的化合物の集団を含みうる試料の分析の為の方法に関する。 - 特許庁
To provide an electron spin analyzer for analysis of a spin state distribution of a sample surface with high accuracy.例文帳に追加
試料表面のスピン状態分布を高精度に分析するための電子スピン分析器を提供する。 - 特許庁
To provide a microchannel element capable of performing high-throughput analysis, even for a trace amount of sample.例文帳に追加
微量な試料であってもハイスループットに分析を行うことができるマイクロ流路素子を提供すること。 - 特許庁
To perform highly accurate analyses by avoiding effects of sample container contamination to analysis accuracy in an automatic analysis apparatus which, for analysis, uses samples fractionated to sample containers to be cleaned and repeatedly used.例文帳に追加
洗浄して繰り返し使用する試料容器に分取した試料を分析に使用する自動分析装置において、試料容器の汚染による分析精度への影響を回避して精度の高い分析を実現する。 - 特許庁
Thus, since the diffraction grating G101 is disposed inside an organic sample analysis chip, it is not necessary to disperse the analysis light of a predetermined wavelength from white light before flooding the organic sample analysis chip.例文帳に追加
このように、生体試料分析チップの内部に回折格子G101を配置することによって、生体試料分析チップに投光する前に、白色光から所定波長の分析光を分光する必要がない。 - 特許庁
There are disclosed a method and an apparatus for forming a sample of an object, extracting the sample from the object and allowing the sample subjected to a microanalysis including a surface analysis and an electron transmittance analysis in a vacuum chamber.例文帳に追加
物体のサンプルを形成し、物体からサンプルを抽出し、真空チャンバーにおいて表面分析及び電子透過度分析を含むマイクロ分析をこのサンプルに受けさせるための方法及び装置が開示される。 - 特許庁
To perform the analysis with high precision at a plurality of places approaching the surface of a sample by preventing the adhesion of primary ions to the peripheral region of the analyzing region on the surface of the sample when secondary ion mass analysis is performed.例文帳に追加
二次イオン質量分析を行なう際に、試料面における分析領域の周辺部位への一次イオンの付着を防止し、試料面の近接する複数箇所における高精度の分析を行なう。 - 特許庁
An adjusting sample 18 is mounted on an exchanger 7 of a primary X-ray filter 6 and is located simply near the position of sample surface at analysis.例文帳に追加
調整試料18を1次X線フィルター6の交換機7に取り付け、簡単に分析時の試料表面位置の近傍に位置させる。 - 特許庁
This system for sample analysis contains a radiation source, matching for guiding a converged beam of X-rays toward the surface of the sample.例文帳に追加
サンプルの分析用の装置は、サンプルの表面に向かってX線の収束ビームを案内するべく適合された放射源を含んでいる。 - 特許庁
To provide a glow discharge analysis apparatus having a function for displaying analysis results for indicating a separated state of layers of a sample and a component ratio of each layer grasped instantly, and an analysis result display method of the glow discharge analysis apparatus.例文帳に追加
試料の層分離状態と、その層ごとの成分比率を一目で把握することができる分析結果の表示機能を有するグロー放電分析装置およびグロー放電分析装置の分析結果表示方法を提供する。 - 特許庁
To provide an antistatic method that causes less contamination of a surface of a sample in an ion beam analysis method for analyzing a sample in its depth direction while removing the surface of the sample by radiating a primary ion beam onto the surface of the sample.例文帳に追加
試料表面に一次イオンビームを照射して試料表面を除去しつつ、試料の深さ方向の分析を行うイオンビーム分析方法において、試料表面の汚染が少ない帯電防止方法を提供する。 - 特許庁
To provide a disk for liquid sample analysis which prevents adhesion on the disk surface of a liquid sample or leak thereof, and has excellent workability at the sample injection time.例文帳に追加
液体試料のディスク面への付着や漏洩を防止することができ、試料注入時の作業性も良好な液体試料分析用ディスクを提供する。 - 特許庁
To provide a firm sticking fixing procedure between a sample substrate and a block-shaped sample capable of enduring sufficiently a strong electrostatic attractive force at an AP analysis time, in a preparation method of the sample for atom probe analysis.例文帳に追加
本発明の課題は、アトムプローブ分析用試料の作製方法において、AP分析時の強い静電引力に十分耐えることができる試料基板とブロック状試料との強固な接着固定手法を提示することにある。 - 特許庁
An analysis flag of "uninspected" is set for the remaining tests for the same sample.例文帳に追加
それ以降の同サンプル中の残りのテストについては、「未検査」の分析状態フラグが立てられる。 - 特許庁
To provide a micro-syringe free from elution of a metallic component, and useful for trace sample analysis.例文帳に追加
金属分の溶出がなく、微少試料分析に際して有用なマイクロシリンジを提供すること。 - 特許庁
DISCRIMINATION METHOD FOR DIAMETER OF SAMPLE MASK IN X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS AND X-RAY FLUORESCENCE ANALYZER例文帳に追加
蛍光X線分析における試料マスク径の判別方法および蛍光X線分析装置 - 特許庁
To display the thickness of a thin film formed on a sample as a map image in a face analysis.例文帳に追加
面分析において、試料上に形成された薄膜の膜厚をマップ画像表示する。 - 特許庁
The disclosed system and method are employed during sampling and/or analysis of a gas sample.例文帳に追加
開示されたシステムおよび方法は、ガスサンプルのサンプリングおよび/または分析中に使用される。 - 特許庁
The user is authenticated based on an analysis of a first biometric sample received from the user.例文帳に追加
ユーザから受け取った第1のバイオメトリックサンプルの分析に基づいて、そのユーザが承認される。 - 特許庁
TIME-OF-FLIGHT TYPE MASS SPECTROMETER AND SOLID SAMPLE IMPURITY ANALYSIS DEVICE EQUIPPED WITH IT例文帳に追加
飛行時間型質量分析装置および該装置を備えた固形試料不純物分析装置 - 特許庁
A sample is ionized softly by a sonic spray ion source 3 in the case of elementary analysis.例文帳に追加
元素分析を行う場合は、試料はソニックスプレイイオン源3によってソフトにイオン化される。 - 特許庁
SAMPLE FOR SECONDARY ION MASS ANALYSIS, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND SECONDARY ION MASS ANALYZING METHOD例文帳に追加
二次イオン質量分析用試料及びその作製方法、並びに二次イオン質量分析方法。 - 特許庁
NUCLIDE SEPARATION METHOD OF RADIOACTIVE WASTE, NUCLIDE SAMPLE PRODUCTION METHOD, AND URANIUM ANALYSIS METHOD例文帳に追加
放射性廃棄物の核種分離方法、核種試料作製方法、およびウラニウム分析方法 - 特許庁
ANALYSIS SYSTEM FOR ANALYZING BIOLOGICAL SAMPLE, METHOD OF PROCESSING DATA, AND COMPUTER PROGRAM PRODUCT例文帳に追加
生物学的試料を分析するための分析システム、データ処理方法およびコンピュータプログラム製品 - 特許庁
To make performable analysis rapidly and accurately by storing appropriate analysis conditions for every kind of sample and selecting and setting them.例文帳に追加
蛍光X線分析において、適切な分析条件の設定を容易にし、迅速で正確な分析ができる装置を提供する。 - 特許庁
In an electrolyte measurement part B of the biochemical automatic analysis device, a second sample table 6 is arranged adjacent to a first sample table 1.例文帳に追加
生化学自動分析装置の電解質測定部Bは、第1試料テーブル1に隣接して第2試料テーブル6が配設されている。 - 特許庁
A sample is installed on this fine groove structural substrate and irradiated with the laser to perform the ionization of the sample and mass analysis.例文帳に追加
この微細溝構造基板に、試料を設置し、レーザーを照射することにより該試料のイオン化を行い、質量分析を行う。 - 特許庁
To prevent, in an automatic analyzer constituted by a plurality of analysis units, a phenomenon, wherein an abnormality processing operation occurs and the processing capability is thereby reduced in an analysis unit, after the analysis of a sample is requested, when the abnormality processing operation, such as discharge of a suction sample is added, when an abnormality in quantitative suction of the sample is recognized in a specific analysis unit.例文帳に追加
複数の分析ユニットで構成された自動分析装置において、特定の分析ユニットで試料の定量吸引異常を認識した場合は吸引試料の排出動作など異常処理動作が付加されるが、当該試料が分析依頼された以降の分析ユニットで同様な動作が発生し処理能力が低下する現象を防止する。 - 特許庁
The automatic analyzer 1 is provided with a control determination part 25 which determines an existence of abnormality in analysis result when a standard sample or a precision management sample is analyzed, and stops analysis operation of the precision management sample or the analyte when the analysis result is determined to be abnormal.例文帳に追加
自動分析装置1は、標準試料又は精度管理試料を分析した際、分析結果における異常の有無を判定し、分析結果が異常であると判定した場合に、精度管理試料又は検体の分析作業を停止させる制御判定部25を備えている。 - 特許庁
To execute drift correction correctly, even if a sample surface shape is changed by ion sputtering onto a sample at the time of analysis of the sample.例文帳に追加
試料分析時に試料がイオンスパッタされて、試料表面形状が変化しても、ドリフト補正が正しく行われる試料分析方法および電子線分析装置を提供すること。 - 特許庁
To provide a sample-cooling device capable of eliminating a phenomenon of frosting over a sample on an X-ray analysis apparatus on which a low-temperature gas spraying direction forms an acute angle relative to a sample rod.例文帳に追加
試料棒と低温ガス吹付方向とが鋭角になる場合があるX線分析装置において試料に霜が付着する現象を解消する試料冷却装置を提供する。 - 特許庁
To provide a sample analyzing container capable of preventing a sample from jumping out of the sample analyzing container to perform accurate quantitative analysis, and an analyzer using it.例文帳に追加
試料分析用容器から試料が飛び出ることを防止し、かつ、正確な定量分析をすることができる試料分析用容器とそれを用いた分析装置を提供する。 - 特許庁
To provide a measuring device capable of imaging a result of an analysis of light intensity and capable of overlapping and comparing an image of the result of the analysis with an image of a sample.例文帳に追加
光強度の解析結果のイメージングを行うことができるとともに、これら解析結果のイメージと試料の画像との重ね合わせや比較も可能にした測定装置を提供する。 - 特許庁
To provide a mechanism capable of measuring the thickness of a thin film sample with an accuracy of subnanometer order and capable of measuring the analysis of various measuring results of a thin film, taking into consideration the thickness of the thin film sample.例文帳に追加
薄膜試料厚さをサブナノメートルオーダーの精度で測定することを可能とし、薄膜の各種測定結果の解析を、試料厚さを考慮して測定できる機構を提供する。 - 特許庁
To provide a sample container and an evolved gas analysis method capable of tightly sealing and carrying a sample and performing accurate evolved gas analysis under a desired atmosphere at a low cost.例文帳に追加
試料を密封して持ち運び、所望の雰囲気の下で正確な発生ガス分析を低コストで行うことができる試料容器および発生ガス分析方法を提供する。 - 特許庁
Further, since the projection 2d does not project from the major side 2b of the analysis plate 2, the sample 1 can be mounted stably on the stage 11, by sandwiching the analysis plate 2 between the sample 1 and the stage 11.例文帳に追加
更に、凸部2dが解析用プレート2の主面2bよりも突出していないため、解析用プレート2を間に挟んで試料1をステージ11上に安定して搭載できる。 - 特許庁
The automatic analyzer includes sample disks for installing the samples which have a more than double concentric ring structure, and a control mechanism for controlling, when installation of a new sample into each sample disk is detected during the analysis operation, to activate the sample disk of the side on which the new sample has been installed and to perform the analysis.例文帳に追加
試料を架設するサンプルディスクが2重以上の同心円構造であり、分析動作中に、それぞれのサンプルディスクに新たな試料が設置されたことを、検知した場合は、当該新たな試料が設置されたサンプルディスク側を駆動して分析を実行するように制御する制御機構を備えた自動分析装置。 - 特許庁
The spectrochemical analysis device for analyzing the state of the interface between materials receiving friction makes a first sample rub with a second thin-film-like sample, and radiates light to the interface between the first sample and second sample from the rear surface of the second sample, thereby performing the spectrochemical analysis.例文帳に追加
また、摩擦を受けている材料の間の界面の状態を分析する本発明の分光分析装置は、第1の試料と薄膜状の第2の試料とを摩擦しつつ、第2の試料の背面から、第1の試料と第2の試料との界面に対して光を照射して分光分析を行う。 - 特許庁
To enable sample preparation capable of shortening a time for preparing a micro-sample, having high reliability at the EDX analysis time, and having a clean processing surface competent for high power observation, concerning a sample preparation device enabling analysis or observation of a micro-region by extracting a fine sample from a parent sample by utilizing FIB.例文帳に追加
FIBを利用して母試料から微細試料を摘出して微小領域の分析や観察を可能にする試料作製装置において、微小試料を作製する時間を短縮でき、EDX分析時に高い信頼性を有し、高倍率の観察に耐えられる清浄な加工面を有する試料作製を可能とする。 - 特許庁
In this analysis method for determining composition ratio of elements constituting the solid sample using the results of element analysis, laser is applied to the solid sample containing light elements to generate ablation, and the generated gasified substance is introduced into an element analysis device by carrier gas to perform element analysis.例文帳に追加
軽元素を含有する固体試料にレーザを照射してアブレーションを生ぜしめ、生じたガス化物をキャリアガスにより元素分析装置に誘導して元素分析を行い、元素分析の結果を用いて固体試料を構成する元素の組成比を決定する分析方法。 - 特許庁
To provide a sample analyzer capable of managing whether a consumable component to be used is fit to the sample analyzer or not, suppressing decline of analysis accuracy, and maintaining the analysis accuracy.例文帳に追加
使用される消耗部品が試料分析装置に適合したものであるか否かを管理し、分析精度の低下を抑制し、かつ、分析精度を維持することが可能な試料分析装置を提供する。 - 特許庁
Ozone gas treatment or ozone gas treatment and irradiation with ultraviolet rays are applied to the sample for surface analysis, before the analysis of carbon to remove carbon compounds adhering to the surface of the sample.例文帳に追加
炭素分析前に、表面分析用試料にオゾンガス処理、あるいはオゾンガス処理と紫外線照射を加えることにより、表面分析用試料の表面に付着した炭素化合物を除去する。 - 特許庁
To provide a sample for infrared absorption spectrum analysis capable of sharply obtaining an infrared absorption peak when a fine sample is subjected to infrared absorption spectrum analysis and reducing the concerns of losing the infrared absorption peak.例文帳に追加
微小サンプルを赤外吸収スペクトル分析する際に赤外吸収ピークを鮮明に得ることが可能で紛失のおそれの少ない赤外吸収スペクトル分析用サンプルを提供する。 - 特許庁
To provide a heating device capable of shortening a time required for thermal analysis, and executing thermal analysis corresponding to a temperature of a polymer sample.例文帳に追加
熱分析に要する時間を短縮することができるとともに、高分子試料の温度に応じた熱分析を実施することができる加熱装置を提供する。 - 特許庁
To measure a limb movement and a body movement of a sample animal (for example, racehorse) and to provide a limping diagnostic system using a limb movement analysis by means of a computer graphics analysis.例文帳に追加
供試動物(例えば競走馬)の足動と体動を測定し、コンピュータ画像解析により足動解析を利用した跛行診断システムを提供する。 - 特許庁
To provide a sample analysis device equipped with a focusing ion beam machining/observation apparatus capable of carrying out superb cross-section observation of a sample in a short time.例文帳に追加
短時間で良好な試料の断面観察を行うことが可能な収束イオンビーム加工観察装置を備える試料解析装置を提供する。 - 特許庁
To provide a method of determining whether a test sample develops nonspecific turbidity or not in a clinical analysis using the test sample of biological origin.例文帳に追加
生体由来の被検試料を用いた臨床分析において、当該試料が非特異的混濁を生じるか否かを判別する方法を提供する。 - 特許庁
An analysis means 13 calculates a resonance frequency of the sample 1 to calculate a vertical elastic coefficient of the sample 1 based on the resonance frequency.例文帳に追加
解析手段13が、試料1の共振周波数を求め、その共振周波数に基づいて試料1の縦弾性係数を求めるようになっている。 - 特許庁
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