「break test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide a battery with high safety at external break test without damaging the battery's performance.例文帳に追加

電池性能を損なわずして、外部破壊試験などにおける安全性が高められた電池を提供する。 - 特許庁

To provide a debug support system for a semiconductor integrated circuit test program with a parameter change point as a break point.例文帳に追加

パラメータの変更点をブレークポイントとする半導体集積回路試験プログラムのデバッグ支援装置を提供する。 - 特許庁

After the third race in Australia, Schumacher cut short his break between races and carried out a test run in Italy. 例文帳に追加

オーストラリアでの第３戦の後，シューマッハ選手はレース間の休日を返上し，イタリアでテスト走行を行った。 - 浜島書店 Catch a Wave

A load at break in deformation of the glass substrate 1 is measured, using the obtained flexural strength test device.例文帳に追加

得られた抗折強度試験装置を使用して、ガラス基板１の変形における破断点荷重を測定する。 - 特許庁

A user break controller (UBC) is used to test whether or not functions are executed by a CPU in a normal order.例文帳に追加

ユーザブレークコントローラ（ＵＢＣ）を用いてＣＰＵが実行する関数の実行順が正常であるか否かを検査する。 - 特許庁

After a water receiving container 2 is filled with test object solution, a pressing rod 10 is pushed therein from the outside to break a preparation container diaphragm 4.例文帳に追加

受水容器２に被試験液が満たされた後，外部から押し込み棒１０を押して調整液容器隔膜４を破る。 - 特許庁

(III): The elongation at break of a test specimen composed of the resin composition as measured according to JIS K7127 is 30 to 70%.例文帳に追加

（ＩＩＩ）樹脂組成物からなる試験片をＪＩＳＫ７１２７に準拠して測定した破壊点伸び率が３０〜７０％である。 - 特許庁

Experimental changes to Gentoo core packages such as sys-apps/baselayoutor sys-libs/glibc have the potential to break the system and render it unbootable; with user-mode Linux we can test these changes without having to worry about breaking the live system.例文帳に追加

sys-apps/baselayoutやsys-libs/glibcの様な、Gentooコアパッケージに対する変更は、システムを停止させたり、起動不能にしてしまう恐れがあります。 - Gentoo Linux

The expandable composition for packing showing a heat droop length of ≤14 mm in a heat drooping test and no break in an impact test is molded into an expandable member 1 for packing having a predetermined shape.例文帳に追加

熱タレ性試験における熱タレ長さが１４ｍｍ以下であり、衝撃性試験における破損がない充填用発泡組成物を、所定形状の充填用発泡部材１に成形する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, in which an internal circuit will not produce errors in operation and will not break down, even if the external potential exceeds the threshold potential in a test mode.例文帳に追加

テストモード時に外部電位がしきい値電位を超えた場合でも内部回路が誤動作したり破壊されることがない半導体装置を提供する。 - 特許庁

In a method for producing the coating film, a protective film is laminated on one side of a lengthy polymer film at least 100°C in Tg, 110 N or below in load at break in a tensile test, and 10% or below in elongation at break (tensile strain at break), and a paint film is formed on the other side of the polymer film.例文帳に追加

Ｔｇが１００℃以上であり、引張試験における破断点荷重が１１０Ｎ以下、かつ破断伸度（引張破壊ひずみ）が１０％以下である長尺の高分子フィルムの片面に保護テープをラミネートし、その後その反対面に塗膜を形成することを特徴とするコーティングフィルムの製造方法。 - 特許庁

Hence, in order to assure a testing accuracy by intimately contacting the glass sample with the heating element during the test, the elasticity of the heating element should be 50 to 500 MPa and the time required for the glass sample to break down after heating should be 7 seconds or less during the test.例文帳に追加

このため、試験中に、ガラス試料と発熱体を密着させて試験精度を確保するため、発熱体の弾性率を５０〜５００ＭＰａとし、ガラス試料が加熱後破壊するまでの時間を７秒以下にして試験する。 - 特許庁

To provide a technology with which testing to break off concrete pieces can be performed more accurately than before by hitting a test piece to cause damage and a technology for easily generating cracks in the test piece in advance.例文帳に追加

打撃による損傷を加えることでコンクリート片をはく落させる実験を従来よりも正確に行うことが可能な技術であって、供試体に予め設けるひび割れを容易に発生させることが可能な技術を提供する。 - 特許庁

In the transparent film 10, the break starting load of the back layer 14 in a scratch test is at least 50 mN, and the friction coefficient of the back layer 14 is 0.4 or below.例文帳に追加

透明フィルム１０は、スクラッチ試験における背面層１４の破壊開始荷重が５０ｍＮ以上であり、かつ背面層１４の摩擦係数が０．４以下である。 - 特許庁

To provide a design and a test method that break a linear relationship between a fault detection range or testability and costs of testing or producing a design.例文帳に追加

欠陥検出範囲又はテスト可能性と、設計のテスト又は製造に関するコストとの間の線形的な関係を打ち破る、設計及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

At least parts of the core bases of the catheter and the guide wire have tensile strength of 1000 MPa or more under the strain of 2% in a tensile test and a break elongation of 4% or more.例文帳に追加

カテーテル、ガイドワイヤーにあってはコア基部の少なくとも一部が引張り試験における引張り強度が２％ひずみ時１０００ＭＰａ以上、および、破断伸び４％以上とする。 - 特許庁

With this configuration, the break of the torsion bars is tested with the test circuit by using the first and the second drawing out wirings formed for drawing out the coil.例文帳に追加

かかる構成によれば、コイルの引き出しのために形成される第１および第２の引き出し配線を利用して、上記検査回路によりトーションバーの破断を検査することができる。 - 特許庁

Further, the substrate for embroidering exhibiting 10-90 g range thread-pulling out force is suitable and also that having ≤40 % elongation at break in a tensile test is suitable.例文帳に追加

さらに、該刺繍用基材は、糸引き抜き力が１０〜９０ｇの範囲であるものが好適であり、また、引張試験における切断時伸び率が４０％以下であるものが好適である。 - 特許庁

In this way, since a high voltage test can be performed by increasing the power supply voltage VCC of the terminal 2, it is no longer necessary to apply a voltage higher than necessary to the terminal 1 for setting the test mode and break of a gate oxide film of a buffer 3 or the like due to the high voltage can be prevented.例文帳に追加

これにより、端子２の電源電圧ＶＣＣを上昇させて高電圧試験をすることができるので、端子１に必要以上の高電圧を印加して試験モードを設定する必要がなくなり、高電圧によるバッファ３等のゲート酸化膜の破壊を防止できる。 - 特許庁

The ratio (r value=ΔD/(ΔD+ΔEl)) obtained from the elongation ΔEl in a tube axis direction when performing tension test by the load of 80% of tensile break stress and the shrinking percentage ΔD is ≥0.28.例文帳に追加

引張破断応力の８０％の荷重で引張試験したときの管軸方向の伸びΔＥｌと外径の縮み率ΔＤより求めた比（ｒ値＝ΔＤ／（ΔＤ＋ΔＥｌ））は０．２８以上である。 - 特許庁

A parameter monitoring part 6 compares a change parameter value with a set parameter value of the input terminal of the change target and outputs a stop detection signal informing the test program control part 4 about detection of the break point when coincidence of the set parameter value set as the break point with the change parameter value is detected.例文帳に追加

パラメータ監視部6は、変更パラメータ数値と、変更対象の入力端子の設定パラメータ数値とを比較し、ブレークポイントとして設定された設定パラメータ数値が変更パラメータ数値とが一致したことを検出した場合、試験プログラム制御部4に対して、ブレークポイントの検出を通知する停止検出信号を出力する。 - 特許庁

A redundant block break signal generation circuit 60 selects one of addresses being provided externally according to a test instruction in a redundant block break mode and generates a redundant block break signal PREDOFF as a test mode address MRAIB.例文帳に追加

複数個のメモリセルより構成されるメインメモリセルブロック内のメモリセル中の欠陥セルを救済するために余分のメモリセルで代替する冗長メモリセルブロックを有する半導体メモリ装置において、メインメモリセルブロック及び冗長メモリセルブロックをテストするノーマルモードテストと、欠陥セルを代替した冗長メモリセルブロックを選択的に遮断してテストする冗長遮断モードテストを採用して、ノーマルモードテスト結果示される不良メモリセルの位置が、冗長遮断モードテストを通じて、メインメモリブロックで発生したものか、あるいは冗長メモリセルブロックで発生したものかを容易に判別する。 - 特許庁

Even if peeling which is not serious enough to break the signal terminal of the semiconductor chip 2 occurs to the interface between the sealing resin 6 and circuit board 3, the test wiring line 8 disposed at an outer edge of the interface is broken.例文帳に追加

封止樹脂６−回路基板３間の界面において、半導体チップ２の信号端子を断線しない程度の剥離が発生した場合でも、前記界面の外縁に位置するテスト配線８は断線する。 - 特許庁

To provide an epoxy resin composition which is not accompanied by a viscosity increase having a bad effect on the ability to pass the processes, has a good adhesion to reinforced fibers and shows an excellent impact resistance when applied to a FRP, a prepreg and a golf shaft which does not break in an air cannon practical hitting test using this prepreg.例文帳に追加

工程通過性に悪影響を与える粘度上昇を伴わず、強化繊維との接着性が良好で、ＦＲＰとしたとき優れた耐衝撃性をしめすエポキシ樹脂組成物及びプリプレグを得る。 - 特許庁

A plate-like test-piece 1 in the end part of which a notch 6 is formed is set to a side bend testing machine and, by making it break by imparting in-plane tension and bending, and strain, a strain gradient and strain concentration in the broken part are measured.例文帳に追加

板端部に切欠き６が形成された板状試験片１をサイドベンド試験機にセットし、板面内の引張および曲げを与えて破断させ、破断部のひずみとひずみ勾配とひずみ集中とを測定する。 - 特許庁

There is executed a ground fault test on the ground fault direction relays 210_1-210_3 by opening at least one of the first-third switches 11_1-11_3 of the surge absorber 10 to break the balance of anti-ground electrostatic capacity of power distribution lines 102_1-102_3.例文帳に追加

サージアブソーバ１０の第１乃至第３のスイッチ１１_1〜１１_3の少なくとも１つを開いて配電線１０２_1〜１０２_3の対地静電容量のバランスを崩すことにより、地絡方向継電器２１０_1〜２１０_3の地絡試験を行う。 - 特許庁

The testing system executes a ground fault test on the plurality of ground fault direction relays 135_1-135_3 by opening at least one of the first-third switches 11_1-11_3 to break the balance of anti-ground electrostatic capacity of the plurality of power distribution lines 102_1-102_3.例文帳に追加

第１乃至第３のスイッチ１１_1〜１１_3の少なくとも１つを開いて複数の配電線１０２_1〜１０２_3の対地静電容量のバランスを崩すことにより、複数の地絡方向継電器１３５_1〜１３５_3の地絡試験を行う。 - 特許庁

A state transition means 13, once detecting the transition of an operation state of an arbitrary processor, from a normal run state to a test run state owing to establishment of a break condition or other factors, makes the system state change according to the operating state of the processor.例文帳に追加

状態遷移手段１３は、ブレーク条件の成立やその他の要因で任意のプロセッサの動作状態が通常走行状態から試験走行状態に変化したことを検出すると、プロセッサの動作状態に応じてシステム状態を遷移させる。 - 特許庁

To provide a transparent conductive film having superior pen-input durability used for a touch panel is, where its transparent conductive thin film will not break, even in a friction test of 100 thousand times under the load of 4.9 N by using especially a pen made of polyacetal (tip shape of 0.8 mmR) in particular.例文帳に追加

タッチパネルに用いた際のペン入力耐久性に優れ、特にポリアセタール製ペン（先端形状：０．８ｍｍＲ）を使用し、４．９Ｎの荷重で１０万回の摺動試験でも透明導電性薄膜が破壊されない、透明導電性フィルムを提供する。 - 特許庁

To perform electrical inspections, such as a continuity test continuously and with high inspection accuracy, even for wirings which are about to break by deficit or the like.例文帳に追加

欠損等により断線しかかっている配線に対しても、連続的にかつ検査精度良く導通試験などの電気検査を実施することが可能な電子部品実装用フィルムキャリアテープの電気検査装置および電子部品実装用フィルムキャリアテープの電気検査方法を提供する。 - 特許庁

This monofilament is provided by consisting of a composition obtained by incorporating 0.3-20 wt.% ionomer resin based on the polyamide, and showing ≥50,000 number of reciprocated abrasions at break by a flex abrasion characteristic test measured in accordance with the standard of the JIS L-1095-9.10.2B.例文帳に追加

ポリアミドに対しアイオノマー樹脂を０．３〜２０重量％含有させた組成物からなるモノフイラメントであって、ＪＩＳ Ｌ−１０９５−９．１０．２Ｂの規定に準じて測定した屈曲摩耗特性試験での破断時の往復摩回数が５００００回以上である抄紙織物用ポリアミドモノフィラメント。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, in which a semiconductor chip is flip-chip connected to a mounting substrate, the amount of warpage of the mounting substrate is reduced, and there is no break of a solder bump, etc. connecting the semiconductor chip with the mounting substrate or cracks, etc. of the mounting substrate at a temperature cycle test.例文帳に追加

搭載用基板に半導体チップをフリップチップ接続した半導体装置で、搭載用基板の反り量が低減され、且つ温度サイクル試験で半導体チップと搭載用基板とを接続する半田バンプ等の破壊や、搭載用基板のクラック等の発生がない半導体装置を提供する。 - 特許庁

The biaxially oriented polyester film for concurrent deep drawing and transfer includes a copolymerized polyester containing an isophthalic acid unit, wherein the average value of longitudinal and lateral elongations at break of the film in a tensile test at 100°C is ≥250%, and the average roughness (Ra) of the film surface is in the range of 0.10 to 0.50 μm.例文帳に追加

イソフタル酸単位を含む共重合ポリエステルからなるフィルムであり、１００℃での引張試験における破断時伸び率のフィルム縦横の平均値が２５０％以上であり、フィルム表面の平均粗さ（Ｒａ）が０．１０〜０．５０μｍの範囲であることを特徴とする深絞り成型同時転写用二軸延伸ポリエテルフィルム。 - 特許庁

This device comprises a restricted portion 35 for making air inflow contract and an expanded portion 37 for making the contracted air flow flow out toward the test piece, and the expansion angle of a wall surface 39 at the expanded portion 37 is an angle such that the flow out flow does not break away from the wall surface 39.例文帳に追加

流入した気体流れを縮流させる絞り部３５と、縮流された気体流れを供試体に向けて流出させる拡大部３７と、を備え、拡大部３７における壁面３９の拡大角度は、流出する気体流れが壁面３９から剥離しない角度であることを特徴とする。 - 特許庁

The electric and electronic component is constituted by forming a resin film at least on a part of a metal base material and the resin film is a polymer resin film having an elongation at break of 20% or above in a tensile test or a polymer resin film with a number average molecular weight of 15,000 or above.例文帳に追加

金属基材上少なくとも一部に樹脂皮膜を形成しており、前記樹脂皮膜が引張り試験において破断するまでの伸び率が２０％以上を有する高分子樹脂皮膜、または、数平均分子量15000以上の高分子樹脂皮膜であることを特徴とする電気電子部品用材料。 - 特許庁

The in vivo indwelling object is formed by using a composition containing a polymer which is solid at room temperature and not to be decomposed in vivo and an additive, whose Young's modulus by a tensile test is ≥100MPa, elongation at yield is ≤20% and elongation at break is ≥40%.例文帳に追加

室温で固体であって生体内で分解しない高分子と、添加剤とを含有し、引張試験によるヤング率が１００ＭＰａ以上であり、降伏点における伸びが２０％以下であり、さらに破断点における伸びが４０％以上である組成物を用いて形成される生体内留置物。 - 特許庁