「control testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

A testing device 900 tests a communication control apparatus 10 that functions as a network address and port translating apparatus for translating a network address and a port number of a communication device.例文帳に追加

試験装置９００は、通信装置のネットワークアドレス及びポート番号を変換するネットワークアドレスポート変換装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

This threshold value testing circuit provided for a threshold value voltage of an I/O circuit in the semiconductor device is provided with a sampling/holding circuit and a sampling control circuit.例文帳に追加

半導体装置においてＩ／Ｏ回路の閾値電圧の試験用に設けられる閾値試験回路は、サンプル／ホールド回路およびサンプリング制御回路を備えて構成される。 - 特許庁

To provide a genetic testing device capable of performing a plurality of inspections requiring mutually different temperature control at the same time with high accuracy.例文帳に追加

本発明の課題は、互いに異なる温度制御が必要な複数の検査を並列に精度よく行うことができる遺伝子検査装置を提供することにある。 - 特許庁

The control device is configured to receive a plurality of replacement coefficients judged by comparing the real value with the known value from the testing device via the data interface.例文帳に追加

制御装置は、実際の値と既知の値とを比較することにより判定された複数の置換係数を試験装置からデータインタフェースを介して受信するように構成される。 - 特許庁

To provide a nuclear power plant control system and a nuclear power plant inspection method which can carry out a testing while operating a nuclear power plant.例文帳に追加

原子力発電プラントの運転中に試験を実施することができる原子力発電プラント制御システムおよび原子力発電プラント検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a material testing machine eliminated in the setting a gain prior to a test in a material testing machine having a motor as a drive source, automatically optimized in gain accompanied by the advance of the test and capable of performing more accurate control even if there is noise in the detection value of a control quantity and processing such as filtering or the like is applied.例文帳に追加

モータを駆動源とする材料試験機において、試験に先立ってゲインを設定する必要がなく、かつ、そのゲインを試験の進行に伴って自動的に最適化され、なおかつ、制御量の検出値にノイズがあったり、フィルタなどの処理が施されていても、より正確な制御を行うことのできる材料試験機を提供する。 - 特許庁

An interface control circuit 102 of the inspection module 100 is controlled by setting a value of a state control flag 121 by an LSI inspection device 130 when inspected, the testing data is output to the inspection-objective LSI, and a result data output in response to the testing data is read in from the inspection-objective LSI.例文帳に追加

検査時には、ＬＳＩ検査装置１３０が状態制御フラグ１２１の値を設定することによって、検査モジュール１００のインターフェース制御回路１０２が制御され、テスト用データの検査対象ＬＳＩへの出力、前記検査対象ＬＳＩから前記テスト用データに応じて出力される結果データの読み込みが行われる。 - 特許庁

A test signal RRT for testing the redundant memory cell in the direction of a line, a control signal XF generated by the test signal RRT, a test signal CRT for testing the redundant memory cell in the direction of a column, and a control signal YFD generated by the test signal CRT are provided to an output buffer 100A.例文帳に追加

行方向の冗長メモリセルを試験するための試験信号ＲＲＴとこの試験信号ＲＲＴによって生成される制御信号ＸＦ、及び列方向の冗長メモリセルを試験するための試験信号ＣＲＴとこの試験信号ＣＲＴによって生成される制御信号ＹＦＤが、出力バッファ１００Ａに与えられる。 - 特許庁

The semiconductor device has constitutively a high-voltage applying function for applying a high voltage from the outside in order to write data in its memory means, and a testing function used for testing the semiconductor device to be able to control the testing function and the high-voltage applying function by a common input terminal to both the functions.例文帳に追加

上記目的を達成するために、本発明による半導体装置は、記憶手段にデータの書き込みを行う為に外部から高い電圧を印加する高電圧印加機能と、当該半導体装置のテスティングを行うために使用するテスト機能を有し、該テスト機能と前記高電圧印加機能とを共通の入力端子より制御できるように構成することを特徴とする。 - 特許庁

The testing device for testing the encoder wherein the output shaft is rotated corresponding to rotation of the input shaft via the power transmission device includes a control part for controlling rotation of the input shaft, and detecting the error between the rotation position of the input shaft and the rotation position of the output shaft.例文帳に追加

入力軸の回転に応じて出力軸が動力伝達装置を介して回転するエンコーダを試験する試験装置が、入力軸の回転を制御するとともに、入力軸の回転位置と出力軸の回転位置との誤差を検出する制御部を備える。 - 特許庁

A dip switch 15 is provided on the control panel of a testing device 1 for testing a telephone switchboard 2, and a speaking time detecting part 11a detects the setting state of the dip switch 15, set by a person in charge of test and obtains 'speaking time' on a telephone line 2a on the basis of the detected result.例文帳に追加

電話交換機２を試験する試験装置１の操作パネルにディップスイッチ１５を設け、通話時間検出部１１ａが、試験担当者により設定されたディップスイッチ１５の設定状態を検出し、検出結果に基づいて、電話回線２ａにおける「通話時間」を求める。 - 特許庁

This device further comprises a test control device which is operated by an artificial operation to energize the testing means 25 and operates the elevator body 2 to the position where the fire detector 24 is opposed to the testing means 25 and operated thereby to tentatively operate the fire detector 24.例文帳に追加

そして、人為操作により動作して試験手段２５を付勢し、かつ火災検出器２４に試験手段２５が対向し火災検出器２４が動作する位置に昇降体２を運転して、火災検出器２４を試験的に作動させる試験用制御装置を設ける。 - 特許庁

Accordingly, in the functional inspection of the fire detector 24, the elevating body 2 is raised and lowered by the operation of the test control device to oppose the testing means 25 to the fire detector 24, whereby the fire detector 24 can be tested by the operation of the testing means to facilitate the functional inspection work.例文帳に追加

これによって、火災検出器２４の機能点検時に試験用制御装置の動作により、昇降体２が昇降して火災検出器２４に試験手段２５が対向し、試験手段の動作によって火災検出器２４を試験でき、機能点検作業を容易化する。 - 特許庁

To provide a testing device of a controller, which considers dynamic characteristics of a vehicle without modifying timing in accordance with a vehicle type even when testing an operational state of an electronic control system provided with an electronic controller having a plurality of functions that differ for each vehicle type.例文帳に追加

車種ごとに異なる複数の機能を有する電子制御装置を有する電子制御システムの動作状態を試験する場合であっても、車種によってタイミングを修正することなく、車両の動的特性を考慮した制御装置の試験装置を提供する。 - 特許庁

The device for inspecting solder material is equipped with a storage unit 14 where teacher data that a print processing time required for performing print processing by the use of a testing solder material is correlated with deterioration data on the testing solder material in the print processing time are previously stored, and a control unit 13.例文帳に追加

半田材検査装置は、試験用半田材を用いて印刷処理を実行したときの印刷処理時間と、上記印刷処理時間における試験用半田材の劣化度データとを対応付けた教師データを予め記憶した記憶部１４と、制御部１３とを備える。 - 特許庁

By the memory 3 of 2nd specification, a chip select signal CS of a 2nd activation control signal is activated at the effective timing, and the read or the write is executed by catching the testing address given to the partially shared address bus while operating by using the aforementioned testing clock as reference.例文帳に追加

第２の仕様のメモリ３は、第２の活性化制御信号チップセレクト信号ＣＳが有効のタイミングにおいて活性化され、前記と同じテスト用クロックを基準に動作して、一部共有のアドレスバスに与えられたテスト用アドレスをとらえてリードまたはライトを実行する。 - 特許庁

To make it possible to conduct testing of a real unit effectively, even if an I/O substrate is not mounted on the real unit in a digital protection control apparatus which performs protection, supervision and control of a power system.例文帳に追加

電力系統の保護および監視・制御を行うディジタル保護制御装置において、実装置に入出力基板が搭載されていない場合であっても、実装置に対する試験等の効果的な実施を可能とすること。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device wherein a control means which is substantially equivalent to a control signal to be stored in a WCS memory which controls the generation of a test pattern provided at an ALPG is provided outside the WCS memory.例文帳に追加

ＡＬＰＧが備える試験パターンの発生を制御するＷＣＳメモリに格納すべき制御信号と、実質的に等価な制御手段を、当該ＷＣＳメモリ外に備えるＡＬＰＧとする半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

Generally, when internal control over financial reporting is ineffective due to material weaknesses, for the purpose of the Financial Statement Audit, the external auditor cannot apply sampling testing where he/she relies on Internal Control in accordance with the Audit Standards. 例文帳に追加

一般に、財務報告に係る内部統制に開示すべき重要な不備があり有効でない場合、財務諸表監査において、監査基準の定める内部統制に依拠した通常の試査による監査は実施できないと考えられる。 - 金融庁

To provide an information processing device capable of testing in what form relay control of electronic data such as electronic mails is performed after modification when modifying relay control rules used for deciding whether or not the electronic data is relayed to an external network.例文帳に追加

電子メール等の電子データを外部ネットワークに中継する／しないを決定する際に用いる中継制御ルールの変更を行う際に、変更後にどのような形での電子データの中継制御が行われるかをテストする。 - 特許庁

An IC 21 is so structured that pull-up resistors are connected to a plurality of external signal terminals 22 via FETs (field effect transistors) in a testing level setting section 25 to enable control of the turning on/off of the FETs from the outside via a test control section 26.例文帳に追加

ＩＣ２１を、複数の外部信号端子２２に対し、テスト用レベル設定部２５においてプルアップ抵抗をＦＥＴを介して接続し、ＦＥＴのオンオフを、テスト制御部２６を介して外部より制御可能に構成する。 - 特許庁

The testing circuit is arranged so that the data for selecting the test mode is fed from a tester 35 to a BISI control circuit 50 provided in a BIST circuit 40, and from the control circuit 50, the result of selecting the test mode is emitted synchronously with the test clock tck.例文帳に追加

テスタ３５から、テストモード選択用のデータをＢＩＳＴ回路４０内のＢＩＳＩ制御回路５０に入力すれば、この制御回路５０から、テストクロックｔｃｋに同期してテストモード選択結果が出力される。 - 特許庁

A pin electronics 17 of this semiconductor testing device 1 includes a sub-driver control circuit 20, a main driver MDR1, a sub-driver SDR1, a comparator COMP1, a control transistor STR1, a switch SW1, a resistance R1 and a resistance R2.例文帳に追加

半導体試験装置１のピンエレクトロニクス１７には、サブドライバ制御回路２０、メインドライバＭＤＲ１、サブドライバＳＤＲ１、コンパレータＣＯＭＰ１、制御トランジスタＳＴＲ１、スイッチＳＷ１、抵抗Ｒ１、及び抵抗Ｒ２が設けられる。 - 特許庁

Generally, when internal control over financial reporting is ineffective due to material weaknesses, for the purpose of the Financial Statement Audit, the external auditor cannot apply sampling testing where he/she relies on Internal Control in accordance with the Audit Standards. 例文帳に追加

一般に、財務報告に係る内部統制に重要な欠陥があり有効でない場合、財務諸表監査において、監査基準の定める内部統制に依拠した通常の試査による監査は実施できないと考えられる。 - 金融庁

To enable an automatic test of a semiconductor device by connecting a controller for performing conveyance control of a semiconductor device to be tested and sequence control according to a predetermined test procedure to a semiconductor testing apparatus through a simple interface.例文帳に追加

被試験対象の半導体デバイスの搬送制御と所定試験手順に従ったシーケンス制御とを行うコントローラを、半導体試験装置に簡易なインターフェイスで接続し、半導体デバイスの自動試験を行えるようにする。 - 特許庁

A control signal outputted to command a test from communication equipment arranged at the receiving point side of the communication path to be tested is received and decoded by an installation type testing device, and a control instruction corresponding to the control signal is transmitted to a communication controller arranged at a transmitting side.例文帳に追加

被試験通信路の受信ポイント側に配置された通信機から試験を指令するために発出された制御信号は、設置型試験装置により受信解読され、その制御信号に対応する制御命令が送信側に配置された通信制御装置に伝達される。 - 特許庁

In a pin electronics part 100 of this semiconductor testing device, when a control part 150 performs OFF-control of the semiconductor relay 130 at a time other than a test time of the DUT 180, ON-control of a relay 140 for direct current measurement is performed simultaneously even when the direct current measurement is not performed.例文帳に追加

半導体試験装置のピンエレクトロニクス部１００では、ＤＵＴ１８０の試験時以外において、制御部１５０が半導体リレー１３０をＯＦＦ制御すると、同時に直流測定を行っていない場合においても直流測定用リレー１４０をＯＮ制御しておく。 - 特許庁

To provide a quality control testing method of crack-resistant concrete for readily estimating the presence of additives (agent) mixed into the drying shrinkage crack-resistant concrete which os carried into a concrete-placing site, and the approximate mixing amount.例文帳に追加

コンクリート打設現場に搬入された乾燥収縮ひび割れ抑制コンクリートに対する添加材（剤）混入の有無、おおむねの混入量の推定を簡易に行えるようにする。 - 特許庁

To provide a power system testing apparatus which can reduce response delays and highly accurately controlling the speed of a dynamometer, a power part on the absorption side, and to provide a control method thereof.例文帳に追加

応答遅れを抑制し、吸収側の動力部であるダイナモメータの速度を高精度に制御することができる、動力系の試験装置及びその制御方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device having a unit power supply automatic control function automatically measuring the ripple voltage of each unit power supply and checking whether the ripple voltage is within an allowable limit or not.例文帳に追加

自動的に各ユニット電源のリップル電圧を測定してリップル電圧が許容範囲にあるかをチェックするユニット電源自動管理機能を備えた半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The testing device 1 comprises: a travel face, on which the tyre 10 of a test object can travel, on an outer peripheral surface 2o thereof; and a cylindrical drum 2 supported in a manner allowing drive and control of rotation.例文帳に追加

テスト対象のタイヤ１０が走行しうる走行面を外周面２ｏに有し、かつ回転駆動及び制動が可能に支持された、円筒形状のドラム２を具える。 - 特許庁

When the testing of the one-chip microcomputer 1 is completed, the tested result which was written in the EEPROM 13 is erased, and a control program to be executed by the CPU 11 is written there.例文帳に追加

１チップ・マイクロコンピュータ１のテストがすべて終了すると、ＥＥＰＲＯＭ１３に書き込まれていたテスト結果が消去され、そこにＣＰＵ１１が実行する制御プログラムが書き込まれる。 - 特許庁

The moderate and low-speed input and output circuits are more flexible, for example, having preset, enable, and clear as control line inputs, and can support JTAG boundary testing.例文帳に追加

中低速入力および出力回路は、例えば制御ライン入力としてプリセット、イネーブルおよびクリアを有してより柔軟であり、ＪＴＡＧバウンダリ・テストを支援することができる。 - 特許庁

When the control mode is to be changed, the feedback and target value signals maintain complete continuity, thus completely eradicating anxiety where the material- testing machine generates shock.例文帳に追加

制御モードの切換に際してフィードバック信号と目標値信号とが共に完全な連続性を維持することから、材料試験機がショックを発生するおそれが完全に払拭されている。 - 特許庁

The voltage regulator circuit, capable of regulating voltages at a plurality of voltage sources has a testing control unit, a multiplexer, a comparator and a BIST (built-in self test) unit.例文帳に追加

電圧調整回路として、試験制御装置とマルチプレクサとコンパレーターとＢＩＳＴ装置とを備える、複数の電圧源の電圧を調整できる電圧調整回路を用いる。 - 特許庁

To provide a vibration testing system for facilitating control of response amplitude of the maximum displacement amount and the maximum acceleration of a test object to a target value, and a method for controlling the same.例文帳に追加

被試験体の最大変位量や最大加速度の応答振幅を目標値に制御することを容易にすることができる振動試験装置及びその制御方法を提供する。 - 特許庁

The low- or moderate-speed input and output circuits are more flexible, for example, they have preset, enable and clear signals for control line input and are able to support JTAG boundary testing.例文帳に追加

中低速入力および出力回路は、例えば制御ライン入力としてプリセット、イネーブルおよびクリアを有してより柔軟であり、ＪＴＡＧバウンダリ・テストを支援することができる。 - 特許庁

When a test of a step S1 is started, a transmission protocol testing device in a step S2 transmits a control command for setting a test target device in an initial state and receives an executed response.例文帳に追加

ステップＳ１のテストを開始すると、ステップＳ２の伝送プロトコルテスト装置は、テスト対象機器を初期状態に設定する制御コマンドを送信し、実行済のレスポンスを受け取る。 - 特許庁

To provide a compact vehicle-testing device with simple structure where a measuring roller for placing a vehicle to be measured is connected to a hydraulic motor and the vehicle is tested by hydraulic control.例文帳に追加

被測定車両を載置する測定ローラを油圧モータに連結し、油圧制御により車両の試験を行うようにした、構造が簡単、かつ小型の車両の試験装置を提供する。 - 特許庁

This game machine is provided with a testing connector 47 capable of monitoring signals transmitted on a control board 31 which processes with detection signals and solenoid driving signals for electro-driven premium devices, etc.例文帳に追加

入賞検出信号や電動役物のソレノイド駆動信号等が伝送される遊技制御基板３１上において、伝送される信号をモニタ可能な試験用コネクタ４７を取付ける。 - 特許庁

The low or medium speed input and output circuit is more flexible, for example, having preset, enable, and clear as control line inputs, and can support JTAG boundary testing.例文帳に追加

中低速入力および出力回路は、例えば制御ライン入力としてプリセット、イネーブルおよびクリアを有してより柔軟であり、ＪＴＡＧバウンダリ・テストを支援することができる。 - 特許庁

A photosensor 5 is rotatably provided at a sample stand 4 in a light stability-testing apparatus, and a signal from the photosensor 5 is transmitted to a control section by a conductor being mounted to the photosensor 5.例文帳に追加

光安定性試験装置における試料台４に光センサー５を回転可能に設け、光センサー５からの信号を光センサー５に取り付けた導線により制御部に伝達する。 - 特許庁

The apparatus for testing the optical head device 106 controls one or more functions out of focusing servo control, tracking servo control and spindle servo control, using control circuits (a PCB mounted thereon a controller, a servo circuit, a digital circuit, etc.), of the optical disk drive apparatus 100 into which the device 106 to be tested is to be incorporated.例文帳に追加

光学ヘッド装置１０６を検査するための検査装置において、検査装置のフォーカスサーボ、トラッキングサーボ、スピンドルサーボのうちいずれか１つ以上の制御機能を、検査対象の光学ヘッド装置１０６が組み込まれる光ディスク駆動装置１００の制御回路（コントローラ、サーボ回路、デジタル回路などを実装したＰＣＢ）を使用して実現するように構成した。 - 特許庁

To provide a software testing device testing device, especially built-in software, in an environment using no actual machine, maintaining a conventional function by change of a control request or compliance with new control while checking a new function for improving quality of the software to be mounted , and extracting a differential point between an expectation value and a test output for facilitating debugging after a test.例文帳に追加

特に組み込みソフトウェアにおいて、実機を用いない環境でのソフトウェアテストを提供し、制御要求変更や新規制御対応による従来機能の保持と、新規機能の確認による実装対象となるソフトウェアの品質を向上し、更に期待値とテスト出力の差分点を抽出することにより、テスト後のデバッグを容易化するソフトウェアテスト装置を提供する。 - 特許庁

In testing an LED control section 26, analog switches 36 to 43 are switched on/off, and input/output operation functions of an input/output circuit 56 are invalidated, and a connection path from external terminals 4, 5 to the LED control section 26 is formed.例文帳に追加

ＬＥＤ制御部２６をテストする場合、アナログスイッチ３６〜４３のオンオフを切り換えるとともに、入出力回路５６の入出力動作機能を無効化し、外部端子４、５からＬＥＤ制御部２６までの接続経路を形成する。 - 特許庁