「control testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a full-point test system for a display device screen comprising means for improving test efficiency by automating a full-point test of the display device screen to be used for a control monitoring system for a plant or the like without watching work by a testing person.例文帳に追加

プラントなどの制御監視システムで使用する表示装置画面の全点試験を、試験者の目視作業を要することなく自動化し、試験効率を高める手段を備えた表示装置画面の全点試験方式を提供する。 - 特許庁

A circuit testing device 2A, a bump forming device 2C, an IC chip bonding device 2D, a cutting device 2E, and a control device 1 that controls the above devices are provided to a system 100 which manufactures a semiconductor part that the IC chips are mounted three-dimensionally.例文帳に追加

ＩＣチップが三次元実装されてなる半導体部品を製造するシステム１００に、回路試験装置２Ａ、バンプ形成装置２Ｃ、ＩＣチップ接合装置２Ｄ、切断装置２Ｅ、およびこれらの装置を制御する制御装置１を設ける。 - 特許庁

The control panel is started in a general monitoring mode when a power supply switch is on without operation of a registration mode switch, and assigns functions of switch and indicator lamp necessary for maintenance inspection or testing to a plurality of switches and indicator lamps provided on an operation display panel.例文帳に追加

登録モードスイッチを操作せずに電源スイッチを投入した時に通常監視モードで立ち上がり、操作表示パネルに設けた複数のスイッチおよび表示灯に、保守点検や試験に必要なスイッチ及び表示灯の機能を割り当てられる。 - 特許庁

The control apparatus 2 includes: test condition setting means for setting the test condition; execution instructing means for instructing the semiconductor testing apparatus 1 to execute the test; and a capture section 20 serving as test data collecting means for collecting first data obtained by the test.例文帳に追加

制御装置２は、試験条件を設定する試験条件設定手段と試験の実行指示を行う実行指示手段と試験によって得られた第１のデータを収集する試験データ収集手段としてのキャプチャ部２０とを備える。 - 特許庁

The device for testing the semiconductor which simultaneously measures a plurality of testing object devices includes: a system control unit which performs measurement, using a plurality of already inspected devices of which the results of measurement are known beforehand, while shifting the inspected devices in a plurality to be objects of measurement; and an execution result verifying means which verifies whether the results of measurement of the same already inspected devices are identical and outputs the results of verification.例文帳に追加

複数の被試験対象デバイスを同時に測定する半導体試験装置において、測定結果が予め分かっている複数の検査済みデバイスを用いて、測定対象となる複数の検査済みデバイスをずらして測定を行うシステム制御部と、同一の検査済みデバイスの測定結果が同じであるか否かを検証し検証結果を出力する実行結果検証手段とを備える。 - 特許庁

After receiving image information by a FAX transmission and reception 84 through a communication 83, a CPU 70 controls an image forming control portion 80 so as to form a testing image on a photosensitive drum and also performs information processing which informs that the image is not formed and suspension processing that suspends image forming, when an ADC sensor 27 detects that the testing image is not formed.例文帳に追加

ＦＡＸ送受信部８４により通信回線８３を介して画像情報を受信した後に、ＣＰＵ７０は、感光体ドラムに試験画像が形成されるように画像形成制御部８０を制御し、ＡＤＣセンサ２７によって試験画像が形成されないことが検出された場合に、画像が形成されないことを報知する報知処理、及び画像の形成を中止する中止処理を実行する。 - 特許庁

The testing method comprises the means of outputting a 1st test control signal from a tester to the IC chip; conducting test by each IC chip using an asynchronized method; outputting a 2nd result request signal from the voltmeter to the IC chip, after outputting the 1st control signal and following a prescribed time interval; and making all the chips to respond synchronously when the 2nd control signals are received.例文帳に追加

その方法は、集積回路チップに対してテスタ側で第１の試験制御信号を送出し、各集積回路チップによって試験を非同期化された方法で実行させ、前記第１の制御信号の送出に続く所定の時間間隔の後、集積回路チップへ第２の結果要求制御信号をテスタ側で送出し、前記第２の制御信号を受信すると、すべてのチップを同期して応答させる手段を含む。 - 特許庁

To a semiconductor tester 10 for general use constituted with test signal generation means 52, 53, 54 and 55, a data supply means, a data reading means, judging means and a control means 11, a special control signal generation means 12 and an interface means 13 for testing a semiconductor integrated circuit 16 incorporated BIST circuits 31 to 35 are provided.例文帳に追加

試験信号発生手段５２，５３，５４，５５、データ供給手段、データ読出手段、判定手段及び制御手段１１から構成される汎用的な半導体試験装置１０に対してＢＩＳＴ回路３１〜３５を内蔵した半導体集積回路１６を試験するための専用の制御信号発生手段１２及びインターフェイス手段１３を別個設けた。 - 特許庁

A system for testing the active matrix array including a plurality of transistors includes: an injecting element operative to apply a driving voltage to the selected transistors of the array; a readout circuit having amplifiers operative to selectively detect output signals; and a control circuit operative to control the injecting element and the readout circuit.例文帳に追加

複数のトランジスタを含むアクティブマトリクスアレイをテストするシステムであり、アレイの選択されたトランジスタに駆動電圧を印加する働きをする注入素子と、出力信号を選択的に検出する働きをする増幅器を有する読み出し回路と、前記注入素子及び前記読み出し回路を制御する働きをする制御回路と、を含む。 - 特許庁

The system detects states of overcurrent protective means 132a, 132b, ... by a read back device 135 and transmits the states to a control terminal unit 3, stops the testing if the read back device detects interruption of power supplies 133a, 133b, ... by the overcurrent protective means 132a, 132b, ..., and displays a position of a power supply interrupted by the control terminal unit 3.例文帳に追加

リードバック装置１３５により過電流保護手段１３２ａ，１３２ｂ，・・・の状態を検出して制御端末装置３に送信し、リードバック装置が過電流保護手段１３２ａ，１３２ｂ，・・・による電源１３３ａ，１３３ｂ，・・・の遮断を検出したとき試験を停止し、制御端末装置３に遮断された電源の位置を表示する。 - 特許庁

To provide a method for testing communication transmission line which can efficiently execute a test or test control while reliably preventing the malfunction of an information processor connected to an active communication transmission line being a communication path to be tested, and to provide a test controlling method.例文帳に追加

被試験通信路である現用中の通信伝送路に接続されている情報処理装置の誤動作を確実に防止して、効率よく試験または試験制御を実行できる通信伝送路の試験方法及び試験制御方法を提供する。 - 特許庁

The apparatus for measuring exhaust gas particles is provided with a gas extracting device 36 capable of testing an internal combustion engine 16 in a transient state and certifying it, and includes a partial-flow dilution tunnel 38, mass flow rate sub controllers 80 and 60, and an air flow control device 110 for transient dilution.例文帳に追加

過渡的状態下で内燃機関１６を試験し、証明できるガス抽出装置３６が提供され、部分流ダイリューショントンネル３８、主および従質量流量コントローラ８０、６０、および過渡的希釈用空気流制御装置１１０を含む。 - 特許庁

The hot-cold shock testing device includes first control means for stopping at least one of the refrigerator, the first heater and the second heater to start a test interruption before starting the next hot-cold cycle operation after the end of the high temperature exposure state.例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置は、高温さらし状態が終了した後、次の冷熱サイクル動作を開始する前に、冷凍機、第１加熱器および第２加熱器のうちの少なくとも１つを停止させて試験の中断を開始する第１制御手段を備える。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus 100 sets a storage position to which data is allocated with a control section 101, stores a signal from a DUT 200 in data storage sections 108a, 108b and 108c, and sets the constraints on readout of registers 109a, 109b and 109c according to this signal.例文帳に追加

半導体試験装置１００は、制御部１０１によりデータが割り当てられる格納位置を設定し、ＤＵＴ２００からの信号をデータ格納部１０８ａ，１０８ｂ，１０８ｃに格納し、これに応じて、レジスタ１０９ａ，１０９ｂ，１０９ｃの読み出しの制限を設定する。 - 特許庁

When testing the console 2, a computer unit 28 of the control device 3 reads a test display command DT from a database 24 to transmit the same to the console 2 via a conversion unit 30, and also reads an exact test video signal DTE to supply the same to a comparison means 40.例文帳に追加

制御装置３のコンピュータ・ユニット２８は、コンソール２の検査時に、データベース２４から検査表示コマンドＤＴを読み出し、変換ユニット３０を介してコンソール２に送信し、また的確検査ビデオ信号ＤＴＥを読み出して、比較手段４０に供給する。 - 特許庁

In the testing apparatus for the temperature characteristic of the electronic component, the characteristic of the electronic component is tested in a state that the electronic component is maintained at a prescribed temperature, the electronic component is brought into contact with a temperature control unit which is maintained at the prescribed temperature, and the temperature of the electronic component is controlled.例文帳に追加

電子部品を所定温度に維持した状態で該電子部品の特性を試験する電子部品の温度特性試験装置において、前記電子部品を所定温度に維持された温度調節ユニットに接触させ、該電子部品の温度を制御する。 - 特許庁

A bending deflection shape measuring device incorporated into the three-point bending testing device includes a movable noncontact displacement gage 4, its sending device 5, a sending amount control device 6, a sending amount measuring device 7, a data recording device 8 and a data analyzer 9.例文帳に追加

３点曲げ試験装置に組み込まれた曲げたわみ形状測定装置であり、移動可能な非接触変位計４と、その送り装置５と、送り量制御装置６と、送り量測定装置７と、データ収録装置８と、データ解析装置９からなる。 - 特許庁

The semiconductor memory device having a function of masking a high-order or a low-order bit of all the bits of write data during a normal operation includes a mask control circuit for masking all the bits of the write data during a testing operation.例文帳に追加

書き込みデータの全ビットのうち上位ビット或いは下位ビットのいずれかを通常動作時にマスク可能な機能を有する半導体記憶装置は、テスト動作中は書き込みデータの全ビットをマスク可能にするマスク制御回路を含むことを特徴とする。 - 特許庁

To accurately confirm, in an operation terminal, configuration information of a server system, as to a configuration management testing method and program by the operation terminal of the server system provided with a plurality of partitions and server system control parts.例文帳に追加

本発明は複数のパーティションとサーバシステム管理部を備えたサーバシステムの操作端末による構成管理試験方法及びプログラムに関し，サーバシステムの構成情報を設定した場合に操作端末において正確に確認することができることを目的とする。 - 特許庁

The synchronous semiconductor integrated circuit device receiving an external clock signal ext.CLK in a testing operation mode executes a writing operation and a reading operation under the control of an internal clock regulator 200 for generating an internal clock signal int.CLK having a high frequency.例文帳に追加

同期型半導体記憶装置１０００は、テスト動作モードにおいて、外部クロック信号ｅｘｔ．ＣＬＫを受けて、周波数の高い内部クロック信号ｉｎｔ．ＣＬＫを生成する内部クロック調整回路２００に制御されて、書込み動作および読出動作を行う。 - 特許庁

To provide a material testing machine capable of performing control for holding the plastic strain amplitude of a test piece to required magnitude under automatic operation and capable of reducing the load of an operation and eliminating the possibility to perform the test error caused by an artificial mistake.例文帳に追加

試験片の塑性歪み振幅を所要の大きさに維持する制御を自動運転のもとに行うことができ、オペレータの負担の軽減並びに人為的ミスに起因する誤った試験の行う可能性をなくすことのできる材料試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a device for testing a semiconductor that facilitates verification as to whether control and measurement of unintended DUT are executed mistakenly, out of the DUTs in a plurality subjected to simultaneous measurement, in the case when the DUTs are subjected to the simultaneous measurement.例文帳に追加

複数のＤＵＴを同時測定している場合、同時測定している複数のＤＵＴのうち、誤って意図しないＤＵＴに対しての制御および測定を行っていないかを容易に検証することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

When the testing device 100 transmits the signal to be measured, a mobile terminal RLC control part 109 notifies an RLC part 152 of the transmission stop of a signaling signal, and on the basis of the notice, the RLC part 152 stops transmitting the signaling signal and transmits only the signal to be measured.例文帳に追加

被測定用信号の伝送の際、移動端末ＲＬＣ制御部１０９は、ＲＬＣ部１５２にシグナリング信号の送信停止を通知し、ＲＬＣ部１５２は、この通知に基づいてシグナリング信号の送信を停止し、被測定用信号のみを送信する。 - 特許庁

The start testing apparatus is constituted in such a way that a starter model part which simulates a starter characteristic in advance is installed at a controller used to control the dynamometer and that the engine is started by the output signal of the starter model part until the detected shaft torque characteristic of the engine is inverted and finishes the start.例文帳に追加

ダイナモメータを制御する制御装置に予めスタータ特性を模擬したスタータモデル部を設け、検出されたエンジンの軸トルク極性が反転し、始動完了までスタータモデル部の出力信号によって始動するように構成したものである。 - 特許庁

The system is configured such that a stocker controller and a PLC are connected in series with a conveyance controller comprising a main control device, a collected data display device, a data recording device, and a request data display device, and a test program for testing a PLC program is connected thereto.例文帳に追加

主制御装置、収集データ表示装置、データ記録装置及び要求データ表示装置からなる搬送コントローラに、ストッカー制御装置とＰＬＣとを直列的に接続し、これにＰＬＣプログラムのテストを行うテストプログラムを接続して構成する。 - 特許庁

The testing device 4 of power transmission mechanism 5 comprises:the motor 2 connected to the transmission mechanism 5; the simulator 3 for calculating the actual indicated torque of the real internal combustion engine; the motor control means 6 for controlling the output of the motor 2, based on the indicated torque.例文帳に追加

動力伝達機構５の試験装置４であって、動力伝達機構５に接続されるモーター２と、実機の内燃機関の図示トルクを算出するシミュレーター３と、図示トルクに基づいて、モーター２の出力を制御するモーター制御手段６と、を備える。 - 特許庁

The measurement is carried out quickly, easily, inexpensively and precisely in the measuring apparatus storing a sample piece containing an enzyme acting on the specified component in the blood, and storing the testing tool with the hemocyte separation part connected by a capillary, by conducting the reaction control, the detection and the computation.例文帳に追加

血液中の特定成分に作用する酵素を含有する試験片と血球分離可能部が毛細管で連結された試験用具を収納してなる測定装置に反応制御、検出、演算を行わせることによって迅速、簡便、安価に精度良く測定行う。 - 特許庁

To conduct testing of a resist pattern formed by an aligner to correct parameters of the aligner on a real-time basis, and to unequivocally discriminate a variance of parameters of the aligner on the basis of the test result to control the parameters of the aligner in high accuracy.例文帳に追加

露光装置を用いて形成されたレジストパターンの検査を高速に行い、露光装置のパラメータの補正をリアルタイムで行うことを可能にすると共に、検査結果をもとに露光装置のパラメータ変動を一義的に判別し、露光装置のパラメータ管理を高精度に行うことを可能にする。 - 特許庁

To provide a traveling state system capable of virtually verifying and testing the effects of variations in electrical load caused by the actuation of accessories such as air conditioners and car audios mounted to vehicles to the travel control of a vehicle while the vehicle is traveling without having to actually mount the accessories.例文帳に追加

車両に搭載されるエアコンやカーオーディオなどの付属装置を実装することなく、それらの付属装置を作動することで生じる車両走行中の電気負荷変動による車両走行制御への影響を仮想的に検証試験できる走行状態システムを提供する。 - 特許庁

The reproduction object testing device 10 includes a measured motor 15 which is the motor corresponding to a motor 4 of the electric vehicle to be tested, and a synchronization control unit for controlling a rotation of the measured motor 15 according to rotational position information from a reference position of the motor 4.例文帳に追加

再現対象試験装置１０は試験対象電動車両のモータ４に対応するモータを被測定モータ１５とし、モータ４の基準位置からの回転位置情報に応じて被測定モータ１５を回転制御する同期制御部を有することを特徴とする。 - 特許庁

In order to simplify the testing apparatus and to reduce its design costs, the fixation part 16 of a linear motor 12 is arranged on the base, its moving part 17 is arranged on the reciprocating slider, and the linear motor can be used for a related separate CNC control operation with reference to all the three methods.例文帳に追加

そのような試験装置の単純化及び設計費の軽減のために、リニアモーター１２の固定部分１６は土台の上に配置され、可動部分１７は往復スライダに配置され、関連した別個のCNC制御は３つ全ての方法に対してリニアモーターが使用可能となるようにする。 - 特許庁

The power portion and the control portion of the intelligent power module are stacked mutually in a lead frame configuration after a wire bonding and also stacked mutually in a semiconductor package configuration using a locking method after a molding, trimming/forming and an electrical characteristic testing.例文帳に追加

インテリジェントパワーモジュールパッケージの電力部とコントロール部とはワイヤボンディングが完了したリードフレーム形で互いにスタックしたり、モールディングを行ってトリミング／フォーミング及び電気的な特性検査を完了した状態の半導体パッケージ状にしてロックキング手段を利用して互いにスタックしたりする。 - 特許庁

A control circuit 391 controls peripheral circuits such as a column decoder 290 so that input/output of data for testing specific operation of a plurality of memory cells included in a memory cell array 320 is performed when receiving a L level test mode signal TM and a H level test mode signal TM.例文帳に追加

制御回路３９１は、Ｌレベルのテストモード信号ＴＭおよびＨレベルのテストモード信号ＴＭを受けると、メモリセルアレイ３２０に含まれる複数のメモリセルに特殊動作をテストするためのデータの入出力を行なうようにコラムデコーダ２９０等の周辺回路を制御する。 - 特許庁

To create basic data for product development, stock control and the like by recording and totaling kinds of cosmetics, number of times, time, dates etc., on which a customer tests at the cosmetics tester counter displaying various kinds of cosmetics used while the customer is testing the cosmetics.例文帳に追加

顧客が化粧品を試す際に用いられる種々の化粧品が配列されている化粧品テスターカウンタにおいて、顧客が試す化粧品の種類、回数、時間、日時等をホストコンピュータに記録し、それらを集計して、商品開発、在庫管理等の基礎データとする。 - 特許庁

Then each component that is taken out of the tray Tr is subjected to image recognition based on the imaging of the component, recognition camera 34, and the control means of a component-testing apparatus 1 is composed so that the operation of a head 23 and the like are controlled for transferring the component to a fixed position of the table 32 based on the recognition result.例文帳に追加

そして、トレイＴｒから取出した各部品を部品認識カメラ３４の撮像に基づき画像認識し、この認識結果に基づいてテーブル３２の定められた位置に部品を移載すべくヘッド２３等の動作を制御するように部品試験装置１の制御手段を構成した。 - 特許庁

To realize cost reduction, application to various kinds of LSI testing devices, facilitation of application to various kinds of LSIs to be measured, facilitation of device quality control, improvement of LSI design quality, inexpensive LSI design evaluation, facilitation of development to an analytical system, and standardization of a test analytical system.例文帳に追加

コストの低廉化、多種ＬＳＩ試験装置ヘの適用化、被測定ＬＳＩ多品種への適用の容易化、装置品質管理の容易化、ＬＳＩ設計品質の向上、安価なＬＳＩ設計評価、解析システムヘの展開の容易化、テスト解析システムの標準化を図る。 - 特許庁

In this material testing machine 100, a changing speed of a stress or strain in a specimen is detected by a load cell 105 or an extensometer 106, and a pulse number P is determined based on a value of a deviation ΔV between a set target changing speed and a detected actual changing speed to control a rotating speed of a motor 1.例文帳に追加

材料試験機１００は、供試体の応力または歪みの変化速度をロードセル１０５や伸び計１０６により検出し、設定された目標変化速度と検出した実変化速度との偏差ΔＶの値によりパルス数Ｐを決定して、モータ１の回転速度を制御する。 - 特許庁

A test coil 12 for testing the performance of a main coil 11 is mounted near the main coil 11 in advance, a test signal is transmitted to the test coil 12, and a test control part 33A determines the quality by measuring a detection level of the main circuit receiving the test signal.例文帳に追加

主コイル１１の性能を試験するための試験用コイル１２を主コイル１１の近傍に予め配置し、試験用コイル１２に試験用信号を送り、これを受信した主回路の検知レベルを測定することによって試験制御部３３Ａが良否判定を行う。 - 特許庁

The spectrophotometer transmits a large number of spectral data outputs from photo-sites having different filters which are simultaneously illuminated with reflected light from color testing target areas which are sequentially illuminated with the restricted number of LEDs, provides information on broad-band spectra, and enables color control.例文帳に追加

更にこの分光光度計は、制限された数のＬＥＤによって順次照射された色テストターゲット領域からの反射光によって同時に照射される、異なるフィルタを備える光サイトから多数のスペクトルデータ出力を送出し、広域スペクトル情報を提供し、カラーコントロールを可能にする。 - 特許庁

"Invention" means any manner of new manufacture the subject of letters patent and grant of privilege within section 6 of the Statute of Monopolies and any new method or process of testing applicable to the improvement or control of manufacture; and includes an alleged invention:例文帳に追加

「発明」とは，独占法第6条の範囲に該当する特許証及び特権付与の対象である何らかの種類の新規な製造物，及び製造物の改良若しくは管理に実施可能な何らかの新規な試験方式又は試験方法をいい，発明と主張されるものを含む。 - 特許庁

When testing a memory 200 embedded in an information processing system 1, a memory control device 100 sets a second operation condition stricter than a first operation condition for an operating operation, and tests the memory on the second operation condition.例文帳に追加

メモリ制御装置１００は、情報処理システム１に組み込まれたメモリ２００の試験を行う場合に、運用動作時の動作条件である第一動作条件よりも厳しい動作条件である第二動作条件に設定を切り替え、切り替えられた第二動作条件でメモリを試験する。 - 特許庁

To provide a piezoelectric transformer drive circuit for protecting a piezoelectric transformer from a short-circuitted state caused between a load and ground potential for some reason or a state of low load impedance during time-division light control and preventing incorrect judgement even if load impedance is high at the time of start, load opening, and high load impedance while limiting current testing specification is satisfied.例文帳に追加

時分割調光時に負荷が何らか理由でグランド電位と短絡された状態や負荷インピーダンスが低い状態に圧電トランスを保護し、限流試験規格を満足し、起動時、負荷オープン時、負荷インピーダンスが高い場合に誤判定をしない圧電トランス駆動回路を提供する。 - 特許庁

When a hold switch is in an on-state, a play key 11 is turned on, a power source Vdd of a microcomputer is turned on by linking, after an initial setting period elapses, as it is confirmed that the play key is turned off by testing the play key 11, after the prescribed period Tw, a control output 1A of the microcomputer is about to be started.例文帳に追加

ホールドスイッチがオンである場合、プレイキー１１がオンになると、連動してマイコン電源Ｖｄｄがオンし、初期設定期間経過後にはプレイキー検査をすると、すでにプレイキー１１はオフとなっているので、所定期間Ｔｗ待って、マイコン制御出力１Ａを立ち上げようとする。 - 特許庁

This tester, used for testing the position indicator 100 for the control rod drive mechanism comprising a plurality of reed switches 201 provided at prescribed spaces, is equipped with a position indicator placing stand 300 for placing thereon the position indicator 100 in an operation checking test for the position indicator 100.例文帳に追加

所定間隔を置いて設けられた複数のリードスイッチ２０１を有する制御棒駆動機構用位置指示装置１００を試験する本発明の試験装置は、位置指示装置１００の動作確認試験時に、位置指示装置１００を設置する位置指示装置設置架台３００を備える。 - 特許庁

By an operation PC, condition values of a plurality of testing conditions for evaluation test against the virtual vehicle composed of the simulator and a frame car which is the actual machine are set in the simulator (S200), and the value of the control parameter for controlling actuation of the virtual vehicle is set in an ECU of the frame car (S202).例文帳に追加

オペレーションＰＣは、シミュレータと実機部であるフレームカーとからなる仮想車両に対する評価試験用の複数の試験条件の条件値をシミュレータに設定し（Ｓ２００）、仮想車両の作動を制御するための制御パラメータの値をフレームカーのＥＣＵに設定する（Ｓ２０２）。 - 特許庁